口罩無(wú)紡布抗靜電衰減性能測(cè)試技師（中級(jí)）考試試卷及答案一、填空題（每題1分，共10分）1.口罩無(wú)紡布抗靜電衰減性能測(cè)試常用標(biāo)準(zhǔn)代號(hào)是______2.靜電壓半衰期測(cè)試的常用充電電壓為_(kāi)_____kV3.試樣標(biāo)準(zhǔn)尺寸通常為_(kāi)_____cm×______cm4.高壓電源應(yīng)具備______功能防止擊穿試樣5.靜電壓衰減到初始值______的時(shí)間為半衰期6.測(cè)試環(huán)境相對(duì)濕度應(yīng)控制在______%±______%7.試樣預(yù)處理需在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下放置______小時(shí)8.抗靜電測(cè)試儀電極間距一般為_(kāi)_____mm9.靜電壓半衰期小于______秒判定為性能良好10.測(cè)試試樣數(shù)量至少為_(kāi)_____個(gè)二、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共20分）1.不屬于抗靜電測(cè)試儀器的是（）A.靜電壓測(cè)試儀B.高壓電源C.溫濕度計(jì)D.拉力試驗(yàn)機(jī)2.試樣充電時(shí)間一般為（）A.1sB.10sC.30sD.60s3.標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試環(huán)境溫度為（）A.20±2℃B.23±2℃C.25±2℃D.28±2℃4.導(dǎo)致半衰期變長(zhǎng)的因素是（）A.濕度偏高B.預(yù)處理不足C.充電電壓低D.電極間距小5.口罩抗靜電測(cè)試適用標(biāo)準(zhǔn)是（）A.GB/T12703.1B.GB/T19082C.GB/T2626D.GB/T186646.試樣測(cè)試時(shí)應(yīng)（）放置A.緊繃B.松弛C.折疊D.拉伸7.半衰期1.5s的抗靜電等級(jí)屬于（）A.1級(jí)B.2級(jí)C.3級(jí)D.4級(jí)8.測(cè)試儀校準(zhǔn)周期一般為（）A.3個(gè)月B.6個(gè)月C.1年D.2年9.試樣可重復(fù)使用嗎？（）A.可以B.不可以C.部分可以D.看情況10.表面電阻率越小，抗靜電性能（）A.越好B.越差C.無(wú)關(guān)D.不確定三、多項(xiàng)選擇題（每題2分，共20分）1.抗靜電測(cè)試影響因素包括（）A.溫濕度B.預(yù)處理時(shí)間C.充電電壓D.電極間距2.試樣預(yù)處理要求（）A.標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境B.≥24hC.平鋪D.無(wú)靜電接觸3.測(cè)試儀組成部分（）A.高壓發(fā)生器B.電壓表C.計(jì)時(shí)器D.試樣架4.常用抗靜電指標(biāo)（）A.半衰期B.表面電阻率C.體積電阻率D.摩擦電壓5.試樣準(zhǔn)備要求（）A.無(wú)褶皺B.無(wú)破損C.同批次D.不同部位取樣6.環(huán)境控制目的（）A.保證重復(fù)性B.避免干擾C.符合標(biāo)準(zhǔn)D.提高效率7.測(cè)試儀使用前檢查（）A.高壓正常B.電壓表校準(zhǔn)C.計(jì)時(shí)器準(zhǔn)確D.試樣架清潔8.測(cè)試無(wú)效情況（）A.濕度超70%B.預(yù)處理不足12hC.充電電壓不穩(wěn)D.電極間距偏差1mm9.抗靜電應(yīng)用場(chǎng)景（）A.醫(yī)用口罩B.工業(yè)防塵口罩C.日常口罩D.保暖口罩10.數(shù)據(jù)處理方法（）A.取平均B.剔除異常值C.保留原始數(shù)據(jù)D.四舍五入四、判斷題（每題2分，共20分）1.半衰期越短，抗靜電越好（）2.濕度越高，半衰期越長(zhǎng)（）3.預(yù)處理時(shí)間越長(zhǎng)，結(jié)果越準(zhǔn)（）4.高壓電源可直接接觸（）5.試樣可重復(fù)測(cè)試（）6.表面電阻率越小，性能越好（）7.試樣需折疊測(cè)試（）8.測(cè)試儀可自行校準(zhǔn)（）9.充電電壓越高，半衰期越短（）10.同批次試樣性能差異小（）五、簡(jiǎn)答題（每題5分，共20分）1.簡(jiǎn)述試樣預(yù)處理步驟及要求。2.靜電壓半衰期測(cè)試操作流程是什么？3.影響測(cè)試結(jié)果的主要環(huán)境因素及控制方法？4.抗靜電測(cè)試儀日常維護(hù)要點(diǎn)？六、討論題（每題5分，共10分）1.如何判斷測(cè)試數(shù)據(jù)有效性？異常數(shù)據(jù)如何處理？2.抗靜電性能與口罩防護(hù)效果的關(guān)系及生產(chǎn)優(yōu)化方法？---答案部分一、填空題答案1.GB/T12703.12.103.10×104.過(guò)流保護(hù)5.50%6.65±57.248.209.210.5二、單項(xiàng)選擇題答案1.D2.C3.B4.B5.A6.A7.A8.C9.B10.A三、多項(xiàng)選擇題答案1.ABCD2.ABCD3.ABCD4.ABCD5.ABCD6.ABC7.ABCD8.ABC9.ABC10.ABC四、判斷題答案1.√2.×3.×4.×5.×6.√7.×8.×9.×10.√五、簡(jiǎn)答題答案1.試樣預(yù)處理步驟及要求：①取試樣，避免靜電接觸；②置于23±2℃、65±5%RH環(huán)境；③平鋪無(wú)褶皺，預(yù)處理≥24h；④預(yù)處理后立即測(cè)試，防止環(huán)境干擾。目的是讓試樣達(dá)到靜電穩(wěn)定狀態(tài)，保證結(jié)果重復(fù)性。2.半衰期測(cè)試操作流程：①校準(zhǔn)儀器，預(yù)處理試樣；②試樣緊繃固定在試樣架；③設(shè)參數(shù)：10kV充電、30s、20mm間距；④充電30s后關(guān)閉高壓；⑤啟動(dòng)計(jì)時(shí)器，記錄電壓衰減至50%的時(shí)間；⑥5個(gè)試樣各測(cè)3次，取平均；⑦記錄環(huán)境及數(shù)據(jù)。3.主要環(huán)境因素及控制：因素：溫度、濕度（濕度高則半衰期短）?？刂疲孩贉y(cè)試前調(diào)至23±2℃、65±5%RH；②實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫濕度，避免人員干擾；③試樣預(yù)處理≥24h，確保熱濕平衡。4.測(cè)試儀維護(hù)要點(diǎn)：①清潔：無(wú)塵布擦表面及試樣架；②校準(zhǔn)：每年計(jì)量校準(zhǔn)，使用前檢查儀表；③存放：干燥通風(fēng)，無(wú)靜電干擾；④電源：用穩(wěn)壓電源；⑤檢查：高壓電纜、電極狀態(tài)，確保安全準(zhǔn)確。六、討論題答案1.數(shù)據(jù)有效性判斷及異常處理：有效性：環(huán)境符合標(biāo)準(zhǔn)、預(yù)處理到位、儀器校準(zhǔn)、操作正確。異常處理：①檢查操作失誤（如試樣未緊繃）；②剔除偏離平均值3倍標(biāo)準(zhǔn)差的異常值；③補(bǔ)充1-2個(gè)試樣測(cè)試；④若多次異常，檢查儀器或試樣批次，重新取樣。2.抗靜電與防護(hù)