標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 44937.5-2025 集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 第5部分:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 工作臺(tái)法拉第籠法》這一標(biāo)準(zhǔn)主要針對(duì)集成電路在正常工作條件下,通過導(dǎo)線或其他連接方式向外部環(huán)境傳播的電磁干擾進(jìn)行測(cè)量。該標(biāo)準(zhǔn)特別強(qiáng)調(diào)了使用工作臺(tái)法拉第籠作為測(cè)試手段的重要性,以確保能夠準(zhǔn)確地評(píng)估集成電路產(chǎn)生的傳導(dǎo)發(fā)射水平。
標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了測(cè)試環(huán)境的要求,包括但不限于法拉第籠的設(shè)計(jì)、尺寸以及材料選擇等方面,旨在提供一個(gè)屏蔽效果良好且穩(wěn)定的測(cè)試空間,從而減少外界電磁場(chǎng)對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。此外,還明確了測(cè)試設(shè)備的選擇與配置要求,比如頻譜分析儀等關(guān)鍵儀器的技術(shù)參數(shù),保證測(cè)試數(shù)據(jù)的有效性和可靠性。
對(duì)于被測(cè)集成電路樣品,標(biāo)準(zhǔn)也提出了具體的準(zhǔn)備步驟和條件設(shè)定,如電源電壓等級(jí)、負(fù)載情況等,這些都是為了模擬實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景下IC的工作狀態(tài),使得測(cè)試結(jié)果更加貼近真實(shí)情況。同時(shí),標(biāo)準(zhǔn)中還包含了詳細(xì)的測(cè)試流程指導(dǎo),從初步設(shè)置到最終讀數(shù)記錄,每一步驟都有明確的操作指南,幫助測(cè)試人員順利完成整個(gè)過程。
最后,該文件還討論了如何處理及分析收集到的數(shù)據(jù),包括背景噪聲扣除方法、重復(fù)性驗(yàn)證等環(huán)節(jié),確保最終得出的結(jié)論具有較高的可信度。通過遵循此標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的各項(xiàng)要求,可以有效提高集成電路產(chǎn)品在電磁兼容性方面的性能表現(xiàn),為后續(xù)設(shè)計(jì)優(yōu)化或質(zhì)量控制提供科學(xué)依據(jù)。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 即將實(shí)施
- 暫未開始實(shí)施
- 2025-12-31 頒布
- 2026-07-01 實(shí)施
下載本文檔
GB/T 44937.5-2025集成電路電磁發(fā)射測(cè)量第5部分:傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量工作臺(tái)法拉第籠法-免費(fèi)下載試讀頁文檔簡(jiǎn)介
ICS31200
CCSL.56
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T449375—2025
.
集成電路電磁發(fā)射測(cè)量第5部分
:
傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量工作臺(tái)法拉第籠法
Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—
Part5Measurementofconductedemissions—WorkbenchFaradaCaemethod
:yg
2025-12-31發(fā)布2026-07-01實(shí)施
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T449375—2025
.
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語和定義
3………………1
通則
4………………………1
測(cè)量原理
4.1……………1
布置原理
4.2……………2
工作臺(tái)方法
4.3…………………………2
試驗(yàn)條件
5…………………2
試驗(yàn)設(shè)備
6…………………2
試驗(yàn)布置
7…………………3
通則
7.1…………………3
屏蔽和環(huán)境場(chǎng)強(qiáng)
7.2……………………3
工作臺(tái)布置
7.3…………………………3
的連接
7.4PCB…………………………3
共模點(diǎn)
7.5………………4
發(fā)射限值
7.6……………4
工作臺(tái)法拉第籠具體實(shí)現(xiàn)
7.7———……………………4
試驗(yàn)
7.8PCB……………5
試驗(yàn)程序
8…………………5
試驗(yàn)報(bào)告
9…………………5
通則
9.1…………………5
發(fā)射判據(jù)
9.2……………5
發(fā)射電平
9.3……………6
附錄資料性共模阻抗
A()………………7
附錄規(guī)范性工作臺(tái)法拉第籠詳細(xì)規(guī)范
B()(WBFC)…………………8
機(jī)械參數(shù)
B.1……………8
網(wǎng)絡(luò)校準(zhǔn)
B.2150Ω……………………9
附錄資料性工作臺(tái)的使用
C()…………12
工作臺(tái)描述
C.1…………………………12
噪聲源描述
C.2…………………………12
附錄資料性限值推導(dǎo)
D()………………14
參考文獻(xiàn)
……………………15
Ⅰ
GB/T449375—2025
.
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是集成電路電磁發(fā)射測(cè)量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下
GB/T44937《》5。GB/T44937
部分
:
第部分通用條件和定義
———1:;
第部分輻射發(fā)射測(cè)量小室和寬帶小室法
———2:TEMTEM;
第部分輻射發(fā)射測(cè)量表面掃描法
———3:;
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量直接耦合法
———4:1Ω/150Ω;
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量工作臺(tái)法拉第籠法
———5:;
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量磁場(chǎng)探頭法
———6:;
第部分輻射發(fā)射測(cè)量帶狀線法
———8:IC。
請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任
。。
本文件由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出
。
本文件由全國(guó)集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口
(SAC/TC599)。
本文件起草單位中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院北京智芯微電子科技有限公司中山大學(xué)天津先進(jìn)
:、、、
技術(shù)研究院廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司青島市產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)研究院北京國(guó)家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)
、、、
新中心有限公司北京郵電大學(xué)北京無線電計(jì)量測(cè)試研究所江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院江蘇省能源計(jì)量
、、、(
數(shù)據(jù)中心中國(guó)信息通信研究院博鼎實(shí)華北京技術(shù)有限公司中國(guó)汽車工程研究院股份有限公司
)、、()、、
中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可中心長(zhǎng)沙芯連心智慧系統(tǒng)有限責(zé)任公司中家院北京檢測(cè)認(rèn)證有限公司
、、()、
河北工業(yè)大學(xué)北京福測(cè)電子儀器有限公司蘇州菲利波電磁技術(shù)有限公司
、、。
本文件主要起草人崔強(qiáng)李志鵬方文嘯吳建飛王沛棟付君趙揚(yáng)朱賽梁吉明雷黎麗石丹
:、、、、、、、、、、、
孫美秋劉星汛周雷王紫任劉寶殿譚澤強(qiáng)劉佳李彥鵬徐新王蒙軍蘭德福崔培賓
、、、、、、、、、、、。
Ⅲ
GB/T449375—2025
.
引言
為規(guī)范集成電路電磁發(fā)射測(cè)量以及為集成電路制造商和檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供不同的電磁發(fā)射測(cè)量方
,
法集成電路電磁發(fā)射測(cè)量規(guī)定了集成電路電磁發(fā)射測(cè)量的通用條件定義和不同測(cè)
,GB/T44937《》、
量方法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求擬由個(gè)部分構(gòu)成
,9。
第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁發(fā)射測(cè)量的通用條件和定義
———1:。。
第部分通用條件和定義近場(chǎng)掃描數(shù)據(jù)交換格式目的在于規(guī)定近場(chǎng)掃描數(shù)據(jù)交換
———1-1:。
格式
。
第部分輻射發(fā)射測(cè)量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬帶
———2:TEMTEM。TEM
小室法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
TEM。
第部分輻射發(fā)射測(cè)量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———3:。。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量直接耦合法目的在于規(guī)定直接耦合法的
———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω
試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量直接耦合法應(yīng)用指南目的在于給出直
———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω
接耦合法應(yīng)用指導(dǎo)
。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量工作臺(tái)法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺(tái)法拉第籠法的試驗(yàn)程序
———5:。
和試驗(yàn)要求
。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量磁場(chǎng)探頭法目的在于規(guī)定磁場(chǎng)探頭法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———6:。。
第部分輻射發(fā)射測(cè)量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———8:IC。IC。
Ⅳ
GB/T449375—2025
.
集成電路電磁發(fā)射測(cè)量第5部分
:
傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量工作臺(tái)法拉第籠法
1范圍
本文件描述了安裝在標(biāo)準(zhǔn)化試驗(yàn)板或其最終應(yīng)用的印制電路板上的集成電路的傳導(dǎo)電
(PCB)(IC)
磁發(fā)射測(cè)量工作臺(tái)法拉第籠法
。
本文件適用于在物理尺寸小的試驗(yàn)板上使用的能執(zhí)行獨(dú)立功能的
“”IC。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
電工術(shù)語電路理論
GB/T2900.74
電工術(shù)語電磁兼容
GB/T4365
集成電路電磁發(fā)射測(cè)量第部分通用條件和定義
GB/T44937.1—20251:
3術(shù)語和定義
和界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件
GB/T2900.74、GB/T4365GB/T44937.1—2025。
4通則
41測(cè)量原理
.
工作臺(tái)方法源自見圖該文件中描述的方法假設(shè)電源電纜和信號(hào)電纜都
GB/T17626.6—2017,1。
與電纜尺寸的試驗(yàn)板相連電纜尺寸不大于λ例如時(shí)為這些連接電纜成為主要的
,/2,1GHz0.15m。
天線因此這些天線發(fā)射能產(chǎn)生射頻發(fā)射
,“”。
連接電纜應(yīng)具有供電通信和其他信號(hào)接口等功能且這些電纜通常與同一平面內(nèi)的其他電纜的幾
、,
何走向不同
。
每個(gè)端口的天線共模阻抗歸一化為
溫馨提示
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