標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 44937.1-2025 集成電路 電磁發(fā)射測量 第1部分:通用條件和定義》是針對集成電路電磁發(fā)射測量領(lǐng)域制定的一份國家標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了進(jìn)行集成電路電磁發(fā)射測量時所需遵循的基本原則、術(shù)語定義以及測試環(huán)境等通用要求,旨在為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員和技術(shù)人員提供統(tǒng)一的參考依據(jù)。
在基本原則方面,標(biāo)準(zhǔn)強調(diào)了測試過程中應(yīng)保證被測設(shè)備處于正常工作狀態(tài),并且測試環(huán)境需符合特定要求以確保結(jié)果的有效性和可比性。此外,還對測試設(shè)備的選擇與校準(zhǔn)提出了明確指導(dǎo),指出所有使用的儀器都必須經(jīng)過定期校驗,以確保其準(zhǔn)確度滿足測試需求。
關(guān)于術(shù)語定義,此部分詳細(xì)列舉了與集成電路電磁發(fā)射測量相關(guān)的專業(yè)詞匯及其確切含義,包括但不限于“電磁發(fā)射”、“頻譜分析”、“屏蔽效能”等概念。通過統(tǒng)一這些關(guān)鍵術(shù)語的定義,有助于減少因理解偏差而引起的溝通障礙。
對于測試環(huán)境的具體要求,則涵蓋了從實驗室布局到背景噪聲控制等多個方面。例如,在實驗室布局上建議采用開放式或半封閉式設(shè)計;而在背景噪聲控制方面,則要求采取有效措施將外部干擾降至最低水平,從而提高測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于從事集成電路設(shè)計、制造及應(yīng)用等相關(guān)工作的企業(yè)和機(jī)構(gòu),為其開展電磁兼容性評估提供了科學(xué)依據(jù)。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 即將實施
- 暫未開始實施
- 2025-12-31 頒布
- 2026-07-01 實施
文檔簡介
ICS31200
CCSL.56
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T449371—2025/IEC61967-12018
.:
集成電路電磁發(fā)射測量
第1部分通用條件和定義
:
Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticemissions—
Part1Generalconditionsanddefinitions
:
IEC61967-12018IDT
(:,)
2025-12-31發(fā)布2026-07-01實施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T449371—2025/IEC61967-12018
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語和定義
3………………1
試驗條件
4…………………4
通則
4.1…………………4
環(huán)境條件
4.2……………5
試驗設(shè)備
5…………………5
通則
5.1…………………5
屏蔽
5.2…………………5
測量儀器
5.3RF…………………………5
頻率范圍
5.4……………6
前置放大器或衰減器
5.5………………6
系統(tǒng)增益
5.6……………7
其他部件
5.7……………7
試驗布置
6…………………7
通則
6.1…………………7
試驗電路板
6.2…………………………7
引腳負(fù)載
6.3IC…………………………7
電源要求試驗板電源
6.4———…………8
的特殊考慮
6.5IC………………………8
試驗程序
7…………………8
環(huán)境噪聲檢查
7.1RF…………………8
運行檢查
7.2……………9
具體程序
7.3……………9
試驗報告
8…………………9
通則
8.1…………………9
環(huán)境噪聲
8.2RF………………………9
器件的描述
8.3…………………………9
布置的描述
8.4…………………………9
軟件的描述
8.5…………………………9
數(shù)據(jù)表示
8.6……………9
Ⅰ
GB/T449371—2025/IEC61967-12018
.:
發(fā)射限值
8.7RF………………………10
結(jié)果說明
8.8……………10
附錄資料性試驗方法比較
A()…………11
附錄資料性計數(shù)器試驗代碼的流程圖
B()……………13
附錄資料性最壞情況應(yīng)用軟件的描述
C()……………14
附錄資料性通用試驗板的描述
D()……………………15
概述
D.1…………………15
板的描述機(jī)械方面
D.2———……………15
板的描述電氣方面
D.3———……………17
地平面
D.4………………17
封裝引腳
D.5……………17
過孔直徑
D.6……………17
過孔距離
D.7……………18
附加的元器件
D.8………………………18
電源去耦
D.9……………18
負(fù)載
D.10I/O…………………………18
參考文獻(xiàn)
……………………19
Ⅱ
GB/T449371—2025/IEC61967-12018
.:
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是集成電路電磁發(fā)射測量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下
GB/T44937《》1。GB/T44937
部分
:
第部分通用條件和定義
———1:;
第部分輻射發(fā)射測量小室和寬帶小室法
———2:TEMTEM;
第部分輻射發(fā)射測量表面掃描法
———3:;
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量直接耦合法
———4:1Ω/150Ω;
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量工作臺法拉第籠法
———5:;
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量磁場探頭法
———6:;
第部分輻射發(fā)射測量帶狀線法
———8:IC。
本文件等同采用集成電路電磁發(fā)射測量第部分通用條件和定義
IEC61967-1:2018《1:》。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任
。。
本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本文件由全國集成電路標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC599)。
本文件起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院南京容向測試設(shè)備有限公司北京智芯微電子科技
:、、
有限公司北京國家新能源汽車技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司天津先進(jìn)技術(shù)
、、、
研究院廣州致遠(yuǎn)電子股份有限公司中山大學(xué)工業(yè)和信息化部電子第五研究所中國家用電器研究
、、、、
院中國汽車工程研究院股份有限公司中國科學(xué)院空間應(yīng)用工程與技術(shù)中心中國信息通信研究院
、、、、
天津大學(xué)中國合格評定國家認(rèn)可中心中家院北京檢測認(rèn)證有限公司長沙汽車電器檢測中心有限
、、()、
責(zé)任公司重慶賽力斯新能源汽車設(shè)計院有限公司深圳市立高通科技有限公司安波福電氣系統(tǒng)有限
、、、
公司奇瑞新能源汽車股份有限公司浙江宏禧科技有限公司廣州金升陽科技有限公司廣東源泉科技
、、、、
有限公司四川永貴科技有限公司蘇州瑞可達(dá)連接系統(tǒng)股份有限公司茵諾特斯科技重慶有限公司
、、、()。
本文件主要起草人崔強付君李齊邢立文張紅麗朱賽方文嘯葉暢徐蛟原義棟張艷艷
:、、、、、、、、、、、
李煥然康志能陳勇志邵鄂李曉智孫莉王紫任劉佳劉璟軒黃利周沛杜永億謝萱萱王飛
、、、、、、、、、、、、、、
鄭云尹向陽馮鳴向曉東方海峰黃發(fā)剛
、、、、、。
Ⅲ
GB/T449371—2025/IEC61967-12018
.:
引言
為規(guī)范集成電路電磁發(fā)射測量以及為集成電路制造商和檢測機(jī)構(gòu)提供不同的電磁發(fā)射測量方法
,,
集成電路電磁發(fā)射測量規(guī)定了集成電路電磁發(fā)射測量的通用條件定義和不同測量方
GB/T44937《》、
法的試驗程序和試驗要求擬由個部分構(gòu)成
,9。
第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁發(fā)射測量的通用條件和定義
———1:。。
第部分通用條件和定義近場掃描數(shù)據(jù)交換格式目的在于規(guī)定近場掃描數(shù)據(jù)交換
———1-1:。
格式
。
第部分輻射發(fā)射測量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬帶
———2:TEMTEM。TEM
小室法的試驗程序和試驗要求
TEM。
第部分輻射發(fā)射測量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗程序和試驗要求
———3:。。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量直接耦合法目的在于規(guī)定直接耦合法的
———4:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω
試驗程序和試驗要求
。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量直接耦合法應(yīng)用指南目的在于給出直
———4-1:1Ω/150Ω。1Ω/150Ω
接耦合法應(yīng)用指導(dǎo)
。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量工作臺法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺法拉第籠法的試驗程序
———5:。
和試驗要求
。
第部分傳導(dǎo)發(fā)射測量磁場探頭法目的在于規(guī)定磁場探頭法的試驗程序和試驗要求
———6:。。
第部分輻射發(fā)射測量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗程序和試驗要求
———8:IC。IC。
Ⅳ
GB/T449371—2025/IEC61967-12018
.:
集成電路電磁發(fā)射測量
第1部分通用條件和定義
:
1范圍
本文件提供了集成電路的傳導(dǎo)和輻射電磁發(fā)射測量的通用信息和定義同時也給出了試驗條件試
,、
驗設(shè)備試驗布置試驗程序和試驗報告內(nèi)容的描述附錄中給出了試驗方法的對照表以幫助選擇
、、。A,
適當(dāng)?shù)臏y量方法
。
本文件的目的是描述通用條件建立一個統(tǒng)一的測試環(huán)境以定量測量來自集成電路的射頻
,(IC)
騷擾本文件描述了影響試驗結(jié)果的關(guān)鍵參數(shù)若與本文件的描述有所偏離需在試驗報告中明
(RF)。。,
確注明測量結(jié)果能用于產(chǎn)品比較或其他用途
。。
通過對受控條件下產(chǎn)生的輻射射頻騷擾或傳導(dǎo)射頻發(fā)射的電壓和電流的測量獲得應(yīng)用過
IC,IC
程中可能產(chǎn)生的射頻騷擾信息
。
的每個部分規(guī)定了所適用的頻率范圍
IEC61967。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件
溫馨提示
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