1、,電介質(zhì)材料的介電常數(shù)及損耗的頻率特性,一實驗?zāi)康亩嶒瀮x器三實驗原理四操作步驟五數(shù)據(jù)處理,一實驗?zāi)康?1熟練掌握MODELTH2816型寬頻LCR數(shù)字電橋的使用；2測量幾種介質(zhì)材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切（tan）與頻率的關(guān)系，從而了解它們的、tan的頻率特性。,二實驗儀器,TH2816型寬頻LCR數(shù)字電橋、樣品,三實驗原理,介電常數(shù)，又稱電容率，是電位移D與電場強(qiáng)度E之比=D/E，其單位為F/m，真空的介電常數(shù)F/m，而相對介電常數(shù)為同一尺寸的電容器中充入電介質(zhì)時的電容和不充入電介質(zhì)時真空下的電容之比。介電常數(shù)小的電介質(zhì)，其分子為非極性或弱極性結(jié)構(gòu)，介電常數(shù)大的電介質(zhì)，其分子為極性或強(qiáng)極

2、性結(jié)構(gòu)。在交變電場作用下，電介質(zhì)的介電常數(shù)為復(fù)數(shù)，復(fù)介電常數(shù)的實部與上述介電常數(shù)的意義是一致的，而虛部表示損耗。介質(zhì)的介電損耗是指由于導(dǎo)電或交變電場中極化弛豫過程在電介質(zhì)中引起的功率損耗。這一功率損耗是通過熱耗散把電場的電能消耗掉的結(jié)果。,電介質(zhì)的介電損耗一般用損耗角正切tan表示，并定義為：。在直流電場下，電介質(zhì)內(nèi)只有泄漏電流所產(chǎn)生的電導(dǎo)損耗；但在交變電場中，除電導(dǎo)損耗外還存在著各種形式的極化所產(chǎn)生的損耗，即松弛極化損耗。此時，復(fù)介電常數(shù)的虛部與實部的比值，即為介電損耗值，即，又稱介質(zhì)損耗因數(shù)。是電介質(zhì)的電位移D由于極化弛豫而落后電場E的一個相位角。由于介質(zhì)的各種極化機(jī)構(gòu)在不同的頻率范圍有不

3、同的響應(yīng)和不同頻率下產(chǎn)生不同的電導(dǎo)率，所以介質(zhì)的介電常數(shù)和介電損耗都是隨頻率的變化而變化。如不考慮邊緣效應(yīng)，平板試樣的電容量可用下式表示：,(1),式中s電極的面積，米2；d介質(zhì)的厚度，米；r介質(zhì)材料的相對介電常數(shù)。,將0的值代入（1）式，得到：,由此得,如果電極呈圓形，當(dāng)其直徑為D米時，介電常數(shù)的計算公式如下：,其所用單位d米，pF,D米。,四操作步驟,（1）接通電源，電橋開始自檢。自檢結(jié)束后，面板顯示：顯示A：C（電容）顯示B：D（即損耗tan）顯示C：F（顯示：1.00kHz）速度：慢（40msA/D積分時間）讀數(shù)：直讀等效：串聯(lián)偏置：OFF方式：連續(xù)量程：自動打?。篛FF（2）使用按鍵

4、顯示A、顯示B在LCR上選擇測試參數(shù)；如果需要測量的是電容C和損耗tan，則不需要另外選擇。等待儀器穩(wěn)定20分鐘后，對儀器進(jìn)行清“0”；,（3）將被測圓形陶瓷片接在測試夾具上，并將樣品由測試架引出的兩極接入LCR數(shù)字電橋。（4）選擇合適的等效方式：按“等效”鍵即可選擇串、并聯(lián)或自動等效方式（即將被測器件看作是串聯(lián)或并聯(lián)的等效方式），當(dāng)選擇“自動”時，儀器將自動選擇。（5）選擇不同的測量頻率，測出不同頻率下的電容C和損耗tg的值。（可設(shè)置的頻率范圍為：20Hz150kHz）（6）再分別將內(nèi)偏調(diào)到5V,10V重復(fù)測量。,五數(shù)據(jù)處理,由測量數(shù)據(jù)，進(jìn)行轉(zhuǎn)換:C；用origin軟件繪圖，繪出f和tgf關(guān)系曲線；對所得