1、標(biāo)題：貼片電容承認(rèn)檢驗(yàn)規(guī)格書(shū)Title: Chip capacitor specification and inspection standard一、目的：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貼片電容（Chip Capacitor）的檢驗(yàn)方法要求和可接受程度，確保檢驗(yàn)員按照正確的方法檢驗(yàn)樣品以及為IQC制定QI（來(lái)料檢驗(yàn)規(guī)范）提供參考依據(jù)。 二、適用范圍：適用于連接器產(chǎn)品使用的所有貼片陶瓷電容(普通陶瓷電容和高壓陶瓷電容)。三、檢驗(yàn)流程：1、 進(jìn)行測(cè)量和實(shí)驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作。2、 委派經(jīng)培訓(xùn)合格的檢驗(yàn)人員進(jìn)行測(cè)量和實(shí)驗(yàn)工作。3、 配備合適且經(jīng)過(guò)校對(duì)合格的檢驗(yàn)儀器和相關(guān)的工具和夾具。4、準(zhǔn)備所需要的文件、資料(如圖紙、規(guī)格

2、書(shū)、數(shù)據(jù)記錄表格等等)，理解清楚后方可進(jìn)行檢驗(yàn)工作。四、一般規(guī)格：1、 功能要求：零件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)和尺寸按照相應(yīng)的零件圖紙；2、 存儲(chǔ)環(huán)境：密封包裝，溫度40以下，相對(duì)濕度：75%以下；3、 測(cè)試環(huán)境：室內(nèi)溫度：20至30，相對(duì)濕度：20-70%。五、 內(nèi)容：1、相關(guān)證明及文件：1.1、檢查COC內(nèi)容及出貨報(bào)告與RR單以及供應(yīng)商提供的規(guī)格承認(rèn)書(shū)。(Specification Acknowledgment/data Sheet)。1.2、根據(jù)圖紙檢查該物料是否有ROHS要求，如有，則需要查詢?cè)摴?yīng)商是否有ROHS協(xié)議或相關(guān)的分析報(bào)告;如沒(méi)有則需要供應(yīng)商提供。1.3、檢查有無(wú)可焊性測(cè)試報(bào)告，如無(wú)，

3、則要求供應(yīng)商提供(此項(xiàng)針對(duì)新供應(yīng)商，但如有需要，現(xiàn)有供應(yīng)商也應(yīng)重新提供)。2、外觀要求：2.1、檢查來(lái)料電容的包裝方式。2.2、樣品電容的外形及顏色應(yīng)與圖紙所描述的相一致；電容本體無(wú)磨損，破裂，變形等不良現(xiàn)象；電容的電極（用于焊接的端子）應(yīng)無(wú)氧化，臟污，斷裂等不良現(xiàn)象。2.3、樣品電容的材質(zhì)應(yīng)與圖紙所描述的相一致。3、尺寸檢驗(yàn)：尺寸及其公差均按圖紙要求進(jìn)行測(cè)量。4、相關(guān)特性參數(shù)測(cè)試：4.1、供應(yīng)商提供的規(guī)格承認(rèn)書(shū)和出檢驗(yàn)貨報(bào)告的檢查：4.1.1、檢查供應(yīng)商提供的規(guī)格承認(rèn)書(shū)(電氣參數(shù))是否滿足圖紙要求；4.1.2、檢查供應(yīng)商提供的相關(guān)測(cè)試報(bào)告(出貨報(bào)告)中的相關(guān)技術(shù)參數(shù)是否和圖紙一致；4.1.3

4、、檢查供應(yīng)商提供的測(cè)試條件是否滿足圖紙要求。4.2、常溫下電容量和DF值的測(cè)試：4.2.1、使用精密LCR萬(wàn)用表（型號(hào):E4980A或相近精度的儀器型號(hào)）測(cè)試樣品電容量及DF值,記錄數(shù)據(jù)；4.2.2、檢查記錄數(shù)據(jù)是否符合圖紙要求(看其電容量是否在容許誤差范圍內(nèi)以及DF值是否在其規(guī)定范圍內(nèi))；4.2.3、記錄并標(biāo)志異常樣品及相應(yīng)數(shù)據(jù)。4.3、常溫下絕緣電阻的測(cè)試： 4.3.1、用LCR萬(wàn)用表（型號(hào):E4980A或相近精度的儀器型號(hào)）測(cè)試其絕緣電阻值并記錄數(shù)據(jù)； 4.3.2、檢查記錄的數(shù)據(jù)是否符合圖紙要求； 4.3.3、記錄并標(biāo)記異常樣品及相應(yīng)數(shù)據(jù)。4.4、常溫下耐壓值的測(cè)試（本項(xiàng)測(cè)試只針對(duì)高壓電

5、容，低壓電容可以不測(cè)試此項(xiàng)）： 4.4.1、測(cè)試前測(cè)試電容的初始阻值，DF值和絕緣電阻； 4.4.2、用耐壓測(cè)試儀測(cè)試其耐壓值(耐壓值的大小和測(cè)試條件參考圖紙)，記錄測(cè)試情況測(cè)試方法：用耐壓機(jī)(型號(hào):19053或相近精度的儀器型號(hào))的探針接觸電容兩端施以電壓； 4.4.3、試驗(yàn)后電容外觀無(wú)損傷，燒毀現(xiàn)象且電氣特性也沒(méi)有破壞，即其電容量，DF值和絕緣電阻在圖紙規(guī)定的范圍內(nèi)； 4.4.4、記錄并標(biāo)記異常樣品及相應(yīng)數(shù)據(jù)。4.5、可焊性測(cè)試：對(duì)貼片電容的引腳進(jìn)行浸純錫或無(wú)鉛錫試驗(yàn)(浸錫溫度:245+/-5,浸錫時(shí)間:3+/-1s)試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)95%以上均勻平滑上錫，且外觀無(wú)可見(jiàn)損傷，同時(shí)其電氣功能正常。

6、4.6、耐焊接熱實(shí)驗(yàn)：4.6.1、將電容在100-200溫度下預(yù)熱10-20分鐘然后浸錫（浸錫溫度：2655，時(shí)間：101S），最后將電容取出清洗干凈，室溫放置24H后，在10倍以上的顯微鏡下觀察，電容應(yīng)無(wú)機(jī)械損傷、開(kāi)裂，上錫率95%以上，電氣性能也正常。 4.6.2、過(guò)IR爐(2655峰值)一個(gè)循環(huán)后，電容置于室溫24H后再進(jìn)行測(cè)量。此時(shí)要求電容外觀無(wú)損傷、，燒毀現(xiàn)象，且其電氣功能也正常，DF值和絕緣電阻在圖紙規(guī)定的變化范圍內(nèi)。 4.6.3、烙鐵手工焊接：做試驗(yàn)前先測(cè)量初始容值后，用烙鐵（溫度：390-400）碰觸電容兩端的端子表面101 秒，然后檢查零件，表面應(yīng)無(wú)機(jī)械損傷。4.7、冷熱沖擊

7、：試驗(yàn)前測(cè)試貼片電容的初始容量，DF值和絕緣電阻，然后將電容放入冷熱沖擊箱中，溫度:電容型號(hào)：NPO、X7R、X5R設(shè)置-55 3,30分鐘（Y5V:-25,Z5U:+10）；再轉(zhuǎn)換至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件23分鐘；再轉(zhuǎn)換到電容型號(hào)：NPO、X7R、X5R設(shè)置125 3,30分鐘（Y5VZ5U:85）；再轉(zhuǎn)換至標(biāo)準(zhǔn)大氣條件23分鐘；轉(zhuǎn)換時(shí)間:最久5分鐘；暴露次數(shù):5次.物品應(yīng)置于標(biāo)準(zhǔn)大氣條件中241H后再進(jìn)行測(cè)量動(dòng)作。試驗(yàn)后電容外觀無(wú)損傷,燒毀現(xiàn)象,且其電容變化率(試驗(yàn)后電容值比試驗(yàn)前電容值),DF值和絕緣電阻在圖紙規(guī)定的變化范圍內(nèi)。4.8、耐熱負(fù)荷：做試驗(yàn)前先測(cè)量初始容值后，將電容放置于 1255烤箱

8、中 1000 H，取出后置放于室溫下1H后測(cè)量容值與試驗(yàn)前無(wú)明顯變化,零件表面應(yīng)無(wú)機(jī)械損傷、無(wú)短路、燒毀現(xiàn)象。4.9、耐濕負(fù)荷：將電容放入40+/-2相對(duì)濕度90-95%恒溫恒濕槽中,并施加額定電壓以O(shè)N/90分鐘,OFF/30分鐘的循環(huán)方式1000H后,置于室溫下24H此時(shí)電容外觀無(wú)損傷，燒毀現(xiàn)象，且其電容變化率(試驗(yàn)后電容值比試驗(yàn)前電容值)在規(guī)定的變化范圍內(nèi)。4.10、溫度系數(shù)測(cè)試：4.10.1、用LCR Meter測(cè)量樣品在常溫Tn下的容值Cn；4.10.2、將樣品裝好，放入高低溫試驗(yàn)設(shè)備中，將其溫度調(diào)節(jié)至0，并在該溫度下保持15分鐘,然后用LCR Meter測(cè)量各電容在該溫度下容值C1

9、并記錄相應(yīng)溫度T1；4.10.3、將樣品裝好，放入高低溫試驗(yàn)設(shè)備中，將其溫度調(diào)節(jié)至75,并在該溫度下保持15分鐘,然后用LCR Meter測(cè)量各電容在該溫度下容值(Ch)并記錄相應(yīng)溫度(Th)；4.10.4、計(jì)算電容低溫溫度系數(shù)(TC1)和高溫溫度系數(shù)(TCh): TC1=(Cn-C1)/(Cn/(Tn-T1)*100%; TCh=(Ch-Cn)/(Cn/(Th-Tn)*100% 檢查樣品TC是否符合圖紙要求。4.11、負(fù)荷壽命將電容放入125（NPO、X7R）或85（Y5V X5R）恒溫恒濕機(jī)中，接上直流額定電壓，以O(shè)N/90分鐘，OFF/30分鐘的循環(huán)方式1000H后，置于室溫下24H，此時(shí)電容外觀無(wú)損傷燒毀現(xiàn)象，且其電容變化率(試驗(yàn)后電容值比試驗(yàn)前電容值)在規(guī)定的變化范圍內(nèi)。六、測(cè)試順序： 測(cè)試或檢查項(xiàng)目測(cè)試群組ABCDEFGHIJ外觀檢查Examination of material11,61,6尺寸量測(cè)Measurement of dimension2容值測(cè)試Capacitance Test3，72,72,7耐壓測(cè)試Hi-Pot test4，83,83,8絕緣電阻測(cè)試Insulation resistance test 544耐焊接熱測(cè)試Hi-temperature test6可焊性測(cè)試Solderability test5冷熱沖擊The