1、第6章 光纜通信工程的測試,一、測試的內(nèi)容 二、需測試的工序 三、測試的儀表 四、測試的項(xiàng)目 五、光纜線路工程測試,一、測試的內(nèi)容,光纖的衰減和衰減分布情況； 光纖損耗； 光纖的接頭損耗； 光纖的長度、障礙點(diǎn)的位置； 光纜護(hù)層對(duì)地絕緣; 接地電阻。,二、需測試的工序,光纜通信工程的工程測試和維護(hù)測試有 光纜敷設(shè)前的單盤檢驗(yàn)測試 光纜接續(xù)的光纖接頭損耗測試 工程完工時(shí)的中繼段光纖衰減的測試 通信光纜線路障礙測試,三、測試的儀表,光源、光衰減器、光功率計(jì)； 光時(shí)域反射儀（OTDR）； 光損耗測試儀； 光纖尋障儀、光纖顯微鏡、光萬用表、光回?fù)p測試儀、光纖電話、光纖識(shí)別器、光纖端面檢測儀 ; 地阻儀。

2、,（一）、光 衰 減 器,光衰減器是對(duì)光信號(hào)進(jìn)行衰減的器件。 光衰減器有兩種類型，即可變光衰減器和固定光衰減器。 衰減光功率的方法有：反射一部分光，吸收一部分光，在空間遮擋一部分光，用偏振片選擇光的偏振面等。,光衰減器性能指標(biāo),光衰減器性能指標(biāo)（深圳市新彭博科技發(fā)展有限責(zé)任公司）： 固定衰減值：1、2、3、5、10、15、20dB或任意 回波損耗：50dB（PC）、60dB（APC） 工作波長：1310nm或1550nm 衰減范圍：0-30dB,（二）、常 用 光 源,光纖通信測量中使用的光源有三種：穩(wěn)定光源、白色光源（即寬譜線光源）及可見光源。,采用了先進(jìn)的自動(dòng)光功率控制 （APC）技術(shù)，保

3、證了輸出光功率有極高的穩(wěn)定性，達(dá)到了0.1dB/h的穩(wěn)定度。 特點(diǎn)：輸出功率穩(wěn)定度高 輸出波長穩(wěn)定 使用簡便，可靠性高,通測CT-51xL系列激光光源,技術(shù)指標(biāo),（三）、光 功 率 計(jì),光功率計(jì)是用來測量光功率大小、線路損耗、系統(tǒng)富裕度及接收機(jī)靈敏度等的儀表。 根據(jù)可接收光功率大小的不同，可分成高光平型（測量范圍為1040dBm）、中光平型（范圍為055dBm）和低光平型（范圍為：090dBm）三類； 根據(jù)光波長的不同，可分為長波長型（范圍為1.01.7m）、短波長型（范圍為0.41.1m）和全波長型（范圍為0.71.6m）三類；,光功率計(jì)一般都由顯示器（又稱指示器，屬于主機(jī)部分）和檢測器（探

4、頭）兩大部分組成 。,光功率計(jì)的原理,型號(hào)： LPM-3Ta 測量波長 (nm)：850/1300/1310/1490/1550/1625 連接器：FC/SC/ST 自動(dòng)關(guān)機(jī)：具備（可調(diào)整） 外接電源：可選 顯示精度(dB)：0.01 測量范圍(dbm)：-70-+10,光維LPM系列光功率計(jì)技術(shù)參數(shù),按光功率計(jì)上“”，選擇1310nm，按“dBm”選擇屏幕上出現(xiàn)dBm將原接處 （或則ODF）的尾纖取下連接至光功率計(jì)，等待光功率穩(wěn)定后，讀出測試值。一般在-10dBm到-25dBm之間。,注意：一定要注意光纖的清潔。,光功率計(jì)的使用,（四）、光纖識(shí)別器,它是一個(gè)很靈敏的光電探測器。當(dāng)你將一根光纖

5、彎曲時(shí)，有些光會(huì)從纖芯中輻射出來。這些光就會(huì)被光纖識(shí)別器檢測到，技術(shù)人員根據(jù)這些光可以將多芯光纜或是接插板中的單根光纖從其他光纖中標(biāo)識(shí)出來。光纖識(shí)別器可以在不影響傳輸?shù)那闆r下檢測光的狀態(tài)及方向。為了使這項(xiàng)工作更為簡單，通常會(huì)在發(fā)送端將測試信號(hào)調(diào)制成270Hz、1000Hz或2000Hz并注入特定的光纖中。大多數(shù)的光纖識(shí)別器用于工作波長為1310nm或1550nm的單模光纖光纜，最好的光纖識(shí)別器是可以利用宏彎技術(shù)在線地識(shí)別光纜和測試光纜中的傳輸方向和功率。,（五）、故障定位器,此設(shè)備基于激光二極管可見光（紅光）源，當(dāng)光注入光纖時(shí)，若出現(xiàn)光纖斷裂、連接器故障、彎曲過度、熔接質(zhì)量差等類似的故障時(shí)，通

6、過發(fā)射到光纖的光就可以對(duì)光纖的故障進(jìn)行可視定位?？梢暪收隙ㄎ黄饕赃B續(xù)波（CW）或脈沖的模式發(fā)射。典型的頻率為1Hz或2Hz，但也可工作在kHz的范圍。通常的輸出功率為0dBm(1Mw)或更少，工作距離為2到5km，并支持所有的通用連接器。,（六）、光時(shí)域反射儀（OTDR）,光時(shí)域反射儀（OTDR）：測量光纖的插入損耗、反射損耗、光纖鏈路損耗、光纖長度、光纖故障點(diǎn)的位置及光功率沿路由長度的分布情況（即P-L曲線）等。,1、OTDR原理框圖,2、OTDR的用途,用OTDR可測量 測纖長和事件點(diǎn)的位置； 測光纖的衰減和衰減分布情況； 測光纖的接頭損耗； 光纖全回?fù)p的測量；,（1）背向散射：光纖自身反

7、射回的光信號(hào)。 （2）非反射事件：光纖中的熔接頭和微彎都會(huì)帶來損耗，但不會(huì)引起反射。 （3）反射事件：活動(dòng)連接器、機(jī)械接頭和光纖中的斷裂點(diǎn)都會(huì)引起損耗和反射幅度較大的事件。 （4）光纖末端：,3、基本術(shù)語,幾種光纖末端的識(shí)別示意圖,4、OTDR測試事件類型及顯示,5、OTDR的性能參數(shù) （1）、動(dòng)態(tài)范圍：, 定義：把初始背向散射電平與噪聲電平的差值（dB）定義為動(dòng)態(tài)范圍。 動(dòng)態(tài)范圍的作用：動(dòng)態(tài)范圍可決定最大測量長度 。 動(dòng)態(tài)范圍的表示方法：有峰-峰值（又稱峰值動(dòng)態(tài)范圍）和信噪比（SNR1）兩種表示方法。,動(dòng)態(tài)范圍大小決定儀器可測量光纖的最大長度。, 動(dòng)態(tài)范圍的應(yīng)用,初始背向散射電平與一定測量精

8、度下的可識(shí)別事件點(diǎn)電平的最大衰減差值被定義為測量范圍 。, 測量范圍與動(dòng)態(tài)范圍的關(guān)系,距離刻度是表示OTDR測量光纖的長度指標(biāo)，是OTDR的主要參數(shù)。, 距離刻度, 定義 由活動(dòng)連接器和機(jī)械接頭等特征點(diǎn)產(chǎn)生反射（菲涅爾反射）后，引起OTDR接收端飽和而帶來的一系列“盲點(diǎn)”稱為盲區(qū)。 衰減盲區(qū)： 事件盲區(qū)：,（2）盲區(qū),盲區(qū)：決定OTDR橫軸上事件的精確程度。 動(dòng)態(tài)范圍：決定OTDR縱軸上事件的損耗情況和可測光纖的最大距離。 影響動(dòng)態(tài)范圍和盲區(qū)的因素： a脈寬的影響 b平均時(shí)間對(duì)動(dòng)態(tài)范圍的影響 c反射對(duì)盲區(qū)的影響, 盲區(qū)和動(dòng)態(tài)范圍間的關(guān)系,平均時(shí)間對(duì)動(dòng)態(tài)范圍的影響,距離精度是指測試長度時(shí)儀表的準(zhǔn)

9、確度（又叫一點(diǎn)分辨率）。 OTDR的距離精度與儀表的采樣間隔、時(shí)鐘精度、光纖折射率、光纜的成纜因素和儀表的測試誤差有關(guān)。,（3）距離精度,采樣間隔對(duì)測試的影響,分段設(shè)置折射率示意圖,（1）光纖類型不匹配 （2）增益現(xiàn)象 （3）盲區(qū)的影響消除 （4）幻峰（又叫鬼點(diǎn)）,6常見問題,偽增益現(xiàn)象及產(chǎn)生原因,用接入光纖消除盲區(qū)示意圖,用接入光纖測試第一個(gè)活動(dòng)連接器示意圖,游標(biāo)B確定示意圖,添加界標(biāo)示意圖,雙向測量示意圖,減測量顯示示意圖,四、測試的項(xiàng)目（一）光纖損耗的測量,衰減表明光纖對(duì)光能的傳輸損耗，對(duì)光纖通信系統(tǒng)的傳輸距離有決定性影響。 損耗： 衰減： 式中，L為被測光纖長度(km)，P1和P2分別

10、為輸入光功率和輸出光功率(mW或W)。 1550 nm : 0.2 0.3dB/Km 1310 nm : 0.35 0.5 dB/Km 850 nm : 2.3 3.4 dB/Km 光纖熔接點(diǎn)損耗：0.08dB/個(gè) 測量有剪斷法、插入損耗法和背向散射法,各類光纖的典型衰減常數(shù),1、剪斷法,剪斷法是一種測量精度最好的辦法，但是其缺點(diǎn)是要截?cái)喙饫w，有破壞性。,（1）在輸出端接光功率計(jì)，測出輸出光功率為P1（ dBm）； （2）在輸入端2米處剪斷光纖，接入光功率計(jì)，測出輸出光功率為P2（ dBm）； 即光纖損耗為：A=P1-P2（dB）,2、插入法,儀表：光損耗測試儀 與剪斷法原理類似，只不過用2米

11、長的參考光纖的輸出光功率代替輸入光功率，測試結(jié)果精確度較高，但受活動(dòng)連接器的連接效果影響較大，一般用在中繼段衰減的測試。,參考設(shè)置,測試設(shè)置,3、背向散射法,OTDR：光時(shí)域反射儀法 測量原理：主要根據(jù)瑞利散射和菲涅爾反射理論制成。,3、背向散射法 1） 優(yōu)點(diǎn),背向散射法與剪斷法，以及插人損耗法相比，突出的優(yōu)點(diǎn)是 1它是一種非破壞性的測量方法。 2它是一種單端口測量法，即測量只需在光纖的 一端進(jìn)行。 3它可以提供光纖損耗與長度關(guān)系的詳細(xì)信息。因此，可檢測光纖的物理缺陷或斷裂點(diǎn)位置，測量接頭損耗和位置，以及測量光纖長度等。,2）、 OTDR需設(shè)置的參數(shù),距離范圍：距離一般選被測纖長的1.5倍,使

12、曲線占滿屏的2/3為宜； 脈沖寬度：脈寬越大，功率越大，可測的距離越長，但分辨率變低。脈寬越窄，分辨率越高，測量也就越精確。即長距離用寬脈寬，短距離用窄脈寬； 選擇光纖的工作波長：與光纖實(shí)際工作波長一致； 設(shè)置光纖的折射率：與光纖實(shí)際的折射率一致，SM一般為1.45 1.48； （5）平均時(shí)間：,3）后向散射曲線,末端的菲涅爾反射脈沖,始端的菲涅爾反射脈沖,連接損耗,反射點(diǎn),噪聲,A=VA-VB dB =A / LAB dB/Km,4）、經(jīng)驗(yàn)與技巧,(1)光纖質(zhì)量的簡單判別： 正常情況：單盤或幾盤光纜斜率基本一致； 某段衰減較大：該一段斜率較大； 光纖質(zhì)量嚴(yán)重劣化：曲線為不規(guī)則形狀，斜率起伏較

13、大，彎曲或呈弧狀。 (2)波長的選擇和單雙向測試： 1550波長測試距離更遠(yuǎn)，1550nm比1310nm光纖對(duì)彎曲更敏感，1550nm比1310nm單位長度衰減更小、1310nm比1550nm測的熔接或連接器損耗更高。在實(shí)際的光纜維護(hù)工作中一般對(duì)兩種波長都進(jìn)行測試、比較。對(duì)于正增益現(xiàn)象和超過距離線路均須進(jìn)行雙向測試分析計(jì)算，才能獲得良好的測試結(jié)論。,(3)接頭清潔： 光纖活接頭接入OTDR前，必須認(rèn)真清洗，包括OTDR的輸出接頭和被測活接頭，否則插入損耗太大、測量不可靠、曲線多噪音甚至使測量不能進(jìn)行，它還可能損壞OTDR。避免用酒精以外的其它清洗劑或折射率匹配液，因?yàn)樗鼈兛墒构饫w連接器內(nèi)粘合劑

14、溶解。 (4)折射率與散射系數(shù)的校正：就光纖長度測量而言，折射系數(shù)每0.01的偏差會(huì)引起7m/km之多的誤差，對(duì)于較長的光線段，應(yīng)采用光纜制造商提供的折射率值。,(5)鬼影的識(shí)別與處理： 在OTDR曲線上的尖峰有時(shí)是由于離入射端較近且強(qiáng)的反射引起的回音，這種尖峰被稱之為鬼影。 識(shí)別鬼影：曲線上鬼影處未引起明顯損耗；沿曲線鬼影與始端的距離是強(qiáng)反射事件與始端距離的倍數(shù)，成對(duì)稱狀。消除鬼影：選擇短脈沖寬度、在強(qiáng)反射前端(如OTDR輸出端)中增加衰減。若引起鬼影的事件位于光纖終結(jié)，可“打小彎”以衰減反射回始端的光。 (6)正增益現(xiàn)象處理： 在OTDR曲線上可能會(huì)產(chǎn)生正增益現(xiàn)象。正增益是由于在熔接點(diǎn)之后

15、的光纖比熔接點(diǎn)之前的光纖產(chǎn)生更多的后向散光而形成的。事實(shí)上，光纖在這一熔接點(diǎn)上是熔接損耗的。常出現(xiàn)在不同模場直徑或不同后向散射系數(shù)的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個(gè)方向測量并對(duì)結(jié)果取平均作為該熔接損耗。在實(shí)際的光纜維護(hù)中，也可采用0.08dB即為合格的簡單原則。,(7)附加光纖的使用： 附加光纖是一段用于連接OTDR與待測光纖、長3002000m的光纖，其主要作用為：前端盲區(qū)處理和終端連接器插入測量。 一般來說，OTDR與待測光纖間的連接器引起的盲區(qū)最大。在光纖實(shí)際測量中，在OTDR與待測光纖間加接一段過渡光纖，使前端盲區(qū)落在過渡光纖內(nèi)，而待測光纖始端落在OTDR曲線的線性穩(wěn)定區(qū)。光纖系統(tǒng)始

16、端連接器插入損耗可通過OTDR加一段過渡光纖來測量。如要測量首、尾兩端連接器的插入損耗，可在每端都加一過渡光纖。,（二）、光纖長度的測量,1、傳輸脈沖時(shí)延法 設(shè)光脈沖經(jīng)長度為L(m)，平均折射率為n的光纖傳輸后，其傳輸時(shí)延Dt為 DtnL/c (s) 式中，c為真空中光速（3108m/s），此式可改寫為 LcDt/n (m),2、反射脈沖時(shí)延法 光纖長度便可由下式求得 Lc2t/2n,背向散射法不僅可以測量損耗系數(shù)，還可利用光在光纖中傳輸?shù)臅r(shí)間來確定光纖的長度L。顯然， 式中，c為光速，n1為光纖的纖芯折射率，t為光脈沖發(fā)出到返回的時(shí)間。 ,（三）、偏振模色散的測試,G652、G655單模光纖

17、，一般均應(yīng)按設(shè)計(jì)要求測量中繼段偏振模色散（PMD）。 PMD系數(shù)（XPMD）應(yīng)符合設(shè)計(jì)規(guī)定值或參照附錄B。測量值應(yīng)記入中繼段測試記錄。,單模光纖衰減系數(shù)及偏振模色散系數(shù)指標(biāo),G.655單模光纖,（四）、光纜線路對(duì)地絕緣測試,光纜線路對(duì)地絕緣，應(yīng)在監(jiān)測接頭標(biāo)石的引出線測量金屬護(hù)層的對(duì)地絕緣，測量儀表一般采用高阻計(jì)。若測值較低時(shí)應(yīng)采用500伏兆歐表進(jìn)行校驗(yàn)。 光纜線路對(duì)地絕緣電阻值應(yīng)符合相應(yīng)的規(guī)定，測量值應(yīng)記入中繼段測試記錄。,光纜線路對(duì)地絕緣測試,測絕緣電阻的方法 檢查 接線 搖表測試 讀數(shù) 先放電再拆線,（五）接地電阻的測試,接地電阻的測試方法 調(diào)0 打接地棒 選量程。接線 搖表，測試 讀數(shù)

18、注意事項(xiàng),五、光纜線路工程測試,光纜單盤檢驗(yàn)測試 光纖接頭損耗現(xiàn)場監(jiān)測 中繼段光纖衰減的測試 通信光纜線路障礙測試,（一）、光纜敷設(shè)前的單盤檢驗(yàn)測試,測試的光特性參數(shù): 單盤光纜衰減、單盤光纜長度、單盤光纜背向曲線 測試的電特性參數(shù): 單盤絕緣特性、單盤耐壓特性 測試儀表 OTDR、高阻計(jì) 測試指標(biāo) 定貨合同的規(guī)定或設(shè)計(jì)要求,單盤檢驗(yàn)測試,光纜現(xiàn)場檢驗(yàn)應(yīng)測試光纖衰減常數(shù)和光纖長度。 一般使用光時(shí)域反射儀（OTDR）測試光纖衰減，檢查后向散射曲線，并測試光纖長度。 光纜金屬護(hù)套對(duì)地絕緣電阻應(yīng)符合出廠標(biāo)準(zhǔn)，一般應(yīng)大于10000兆歐公里。 注意：單盤光纜檢驗(yàn)完畢，應(yīng)恢復(fù)光纜端頭密封包裝及光纜盤包裝。

19、,單盤檢驗(yàn)測試,光纜長度的復(fù)測 （1 ）抽樣為100 。 （2 ）按廠家標(biāo)明的光纖折射率系數(shù)用光時(shí)域反射儀（OTDR） 進(jìn)行測量 。 （3 ）按廠家標(biāo)明的光纖與光纜的長度換算系數(shù)計(jì)算出單盤光纜長度 。 （4 ）光纜長度要求廠家出廠長度只允許正偏,光纜單盤損耗測量,（1 ）現(xiàn)場損耗測量的特點(diǎn)和要求 測量設(shè)備要求儀表化。 光源應(yīng)是單一波長性質(zhì)的，應(yīng)選擇滿足0.85 ，1.3 或1.55m 不同波長要求的光源。 測量儀表應(yīng)經(jīng)過校準(zhǔn)，當(dāng)幾部儀表同時(shí)測量時(shí)應(yīng)注意統(tǒng)調(diào)。 測量方法OTDR法； 測量精度偏差要求不超過表4-1中的規(guī)定。 測試人員應(yīng)經(jīng)過訓(xùn)練并有較高的素質(zhì) 。,光纖后向散射信號(hào)曲線觀察,對(duì)信號(hào)曲

20、線的評(píng)價(jià)方法，根據(jù)以往的經(jīng)驗(yàn)可按下列方法評(píng)價(jià)、處理。 發(fā)現(xiàn)反射峰或不明顯的反射點(diǎn)，必須反復(fù)測量確認(rèn)故障性質(zhì)。 當(dāng)確認(rèn)光纖存在斷點(diǎn)或微傷時(shí)，必須處理后方可施工。 對(duì)于嚴(yán)重缺陷，如曲線“臺(tái)階”明顯、損耗增加較大則應(yīng)考慮排除。 對(duì)于“臺(tái)階”不明顯的一般缺陷，可視同“緩慢臺(tái)階”光纖，可以使用。,光纜護(hù)層的絕緣檢查,光纜護(hù)層的絕緣，是指通過對(duì)光纜金屬護(hù)層如鋁縱包層（LAP） 和鋼帶或鋼絲鎧裝層的對(duì)地絕緣的測量來檢查光纜外護(hù)層（PE） 是否完好。 （1 ）護(hù)層對(duì)地絕緣測量 絕緣電阻的測量 絕緣強(qiáng)度的測量 （2）護(hù)層對(duì)地絕緣的一般要求 指標(biāo)要求 護(hù)層對(duì)地絕緣測量的意義 光纜金屬護(hù)層對(duì)地絕緣對(duì)光纜使用的意義

21、單盤檢驗(yàn)測量護(hù)層絕緣的可能性,（二）、光纜接續(xù)的光纖接頭損耗測試,為控制光纖連接質(zhì)量，干線光纜施工要求在光纖熔接的同時(shí)采用OTDR進(jìn)行現(xiàn)場監(jiān)測。其優(yōu)點(diǎn)： 提高了光纖接頭的質(zhì)量。 使光纜實(shí)際盤長以及ODF架至接頭點(diǎn)距離更精確。 避免光纖出現(xiàn)錯(cuò)接。 OTDR現(xiàn)場監(jiān)測，可根據(jù)光纖類型、質(zhì)量、施工條件、及技術(shù)水平、操作習(xí)慣選擇監(jiān)測方式。,（二）、光纜接續(xù)的光纖接頭損耗測試,測試參數(shù): 光纖接頭損耗 測試儀表: OTDR 測試指標(biāo): 光纖熔接點(diǎn)損耗：0.08dB/個(gè)； 光纖活動(dòng)連接器損耗：=0.5dB/個(gè),1、遠(yuǎn)端監(jiān)測方式,將OTDR儀放在機(jī)房內(nèi)，對(duì)正在連接的光纜中光纖進(jìn)行連接損耗測試，測試人員通過電話

22、或其它通訊工具與接續(xù)人員溝通，以便接續(xù)人員隨時(shí)了解接續(xù)的質(zhì)量。這種方法只能測出光纖接續(xù)的單方向損耗，接續(xù)完畢或接至全程的1/2時(shí)，應(yīng)進(jìn)行返向損耗的測量（根據(jù)中繼段的長度和OTDR的測量動(dòng)態(tài)范圍決定），然后按OTDR雙向測量的數(shù)據(jù)，計(jì)算出各個(gè)接續(xù)的平均損耗。,2、近端監(jiān)測方式,OTDR儀始終設(shè)置在連接點(diǎn)前方一個(gè)盤長的距離處，這種方法通常用于干線施工。從防雷效果考慮，纜內(nèi)金屬元件在接頭盒內(nèi)斷開。這種測試方法也應(yīng)該進(jìn)行反向測試并計(jì)算出光纖接續(xù)的平均損耗。,3、遠(yuǎn)端環(huán)回雙向監(jiān)測方式,這種方法是將纜內(nèi)光纖在始端環(huán)接，即1# 同2 # 連接、3# 同4# 連接。測量時(shí)分別由1# 和2# 號(hào)測出接續(xù)的兩個(gè)方

23、向的接續(xù)損耗，即時(shí)算出光纖接頭的平均損耗，以確定接續(xù)的質(zhì)量。,_至_接頭損耗測試記錄,熔 接 機(jī)： OTDR： 波 長： 折射率： 溫度：,接續(xù)人： 測試人： 監(jiān)理： 日期：,光纜線路工程竣工測試又稱光纜的中繼段測試，這是光纜線路施工過程中較為關(guān)鍵的一項(xiàng)工序?？⒐y試是從光電特性方面全面地測量、檢查線路的傳輸指標(biāo)。 竣工測試還應(yīng)包括光纜線路工程的竣工驗(yàn)收。,（三）、中繼段光纖衰減的測試,中繼段光纖衰減的測試,中繼段光纖線路衰減測量，應(yīng)在完成光纜成端后，采用OTDR測試儀在ODF架上測量光纖線路外線口的衰減值。 采用OTDR測試，應(yīng)采取雙方向測量取其平均值的方式。 測試數(shù)據(jù)應(yīng)包括：中繼段光纖線路

24、衰減（dB）、衰減系數(shù)（dB/Km）和光纖線路傳輸長度(Km)。測試結(jié)果及時(shí)記入中繼段測試記錄。光纖衰減系數(shù)應(yīng)符合設(shè)計(jì)規(guī)定,中繼段光纖后向散射曲線檢查,中繼段光纖后向散射曲線（即光纖軸向衰減系數(shù)均勻性）檢查，應(yīng)在光纖成端、溝坎加固等路面動(dòng)土項(xiàng)目全部完成后進(jìn)行。 光纖后向散射曲線應(yīng)均勻平滑，光纖波形及接頭“臺(tái)階”無異常。 光纖后向散射曲線檢查可與光纖線路衰減測試同時(shí)進(jìn)行。 OTDR打印光纖后向散射曲線應(yīng)清晰無誤，并應(yīng)收錄于中繼段測試記錄。,光纜中繼段竣工測試內(nèi)容,1中繼段光纖線路衰減系數(shù)（dB/Km）及傳輸長度（Km）； 2中繼段光纖線路后向散射曲線； 3中繼段光纖通道總衰減（dB）； 4中繼段

25、光纖偏振模色散系數(shù)（PS/）； 5直埋光纜線路對(duì)地絕緣電阻（MKm）。,光纖線路衰減及光纖通道總衰減的定義：,中繼段光纖線路衰減:采用OTDR通過尾纖(連接器插頭)或光纖耦合測得的光纖鏈衰減(dB)或衰減常數(shù)(dB/Km)。,光纖線路衰減的測試,中繼段光纖通道總衰減:采用光源、光功率計(jì)，通過光纖連接器測量S-R間的衰減值(dB)。 中繼段光纖通道總衰減，包括光纖線路損耗和兩端連接器的插入損耗。應(yīng)采用穩(wěn)定的光源和光功率計(jì)經(jīng)過連接器測量。一般可測量光纖通道任一方向（A-B或B-A）的總衰減（dB）。 中繼段光纖通道總衰減值應(yīng)符合設(shè)計(jì)規(guī)定。測量值應(yīng)記入中繼段測試記錄。,有插入法和后向散射法 核心網(wǎng)光

26、纜線路，應(yīng)采用插入法測量。從中繼段光纜線路衰減要求在帶已成端的連接插件狀態(tài)下進(jìn)行測量來說，插入法是唯一能夠反映帶連接插件線路衰減的方法。 后向散射法：OTDR儀都有盲區(qū)，使近端光纖連接器插入損耗、成端連接點(diǎn)接頭損耗無法反映在測量值中；同樣對(duì)成端的連接器尾纖的連接損耗由于離尾部太近也無法定量顯示。,測量方法,中繼段光纖線路衰減計(jì)算公式： L = iLi + Sn (dB) 式中：L-中繼段光纖線路衰減(dB)； i-單盤光纖衰減系數(shù)(dB/Km) Li-光纖敷設(shè)后實(shí)際長度(Km)； S-光纖平均接頭損耗(dB)； n-中繼段內(nèi)光纖接頭總數(shù)(個(gè))。 衰減常數(shù) L = L / L (dB) 式中：L

27、-中繼段光纖總長度(m)； L或L計(jì)算值驗(yàn)收時(shí)也可從測試記錄中找得,中繼段光纖線路衰減計(jì)算,中繼段通道總衰減計(jì)算,中繼段通道總衰減計(jì)算： = L + 2C (dB) 式中： -中繼光纖通道總衰減； L -中繼光纖線路總衰減； C -光纖連接器介入損耗,一般0.5dB。,（四）偏振模色散的測試,G652、G655單模光纖，一般均應(yīng)按設(shè)計(jì)要求測量中繼段偏振模色散（PMD）。 PMD系數(shù)（XPMD）應(yīng)符合設(shè)計(jì)規(guī)定值或參照附錄B。測量值應(yīng)記入中繼段測試記錄。,光纜線路工程驗(yàn)收測試項(xiàng)目內(nèi)容,_至_中繼段光纖線路衰減測試記錄中繼段長： Km 指標(biāo)： dB/Km OTDR: 折射率:,測試波長: 測試人：

28、監(jiān)理： 日期：,_至_中繼段光纖偏振模色散系數(shù)測試記錄 中繼段長： Km 測試儀表：,測試人： 監(jiān)理： 日期：,（五）光纜線路對(duì)地絕緣測試,光纜線路對(duì)地絕緣，應(yīng)在監(jiān)測接頭標(biāo)石的引出線測量金屬護(hù)層的對(duì)地絕緣，測量儀表一般采用高阻計(jì)。若測值較低時(shí)應(yīng)采用500伏兆歐表進(jìn)行校驗(yàn)。 光纜線路對(duì)地絕緣電阻值應(yīng)符合相應(yīng)的規(guī)定，測量值應(yīng)記入中繼段測試記錄。,_至_光纜線路對(duì)地絕緣測試記錄中繼段長： Km 天氣： 溫度： C,測試人： 監(jiān)理： 日期：,至 中繼段光纖后向散射曲線（附圖）（ nm波長）,通過對(duì)光纜線路的光電特性測試，可以了解光纜的工作狀態(tài)，掌握光纜線路實(shí)際運(yùn)行狀況，正確判斷可能發(fā)生障礙的位置和時(shí)間，為光纜線路提供可靠的技術(shù)資料。 主要維護(hù)測試項(xiàng)目：光纖衰耗、對(duì)地絕緣電阻、接地電阻,（六）、光纜線路維護(hù)測試,光纜線路維護(hù)技術(shù)指標(biāo)和測試周期,序,號(hào),項(xiàng),目,技,術(shù),指,標(biāo),維,護(hù),周,期,1,中繼段光纖通道后向散射信號(hào)曲,線檢查,竣工值,+0.1dB/km,（最,大變化量,5dB,）,主用光纖：按需,備用光纖：半年,（特殊情況適當(dāng)縮,短）,r,100,W,m,5,W,100,W,m,r,500,W,m,10,W,2,防護(hù)接地,裝,置地線電,阻,r,500,W,m,20,W,半年（雷雨季節(jié)前、,后各一次）,3,直埋接頭盒測電極間絕緣電阻,5M,W,金屬護(hù)套,2M,W,/,單盤,金屬