1、表 面 結(jié) 構(gòu),天馬行空官方博客： ；QQ:1318241189；QQ群：175569632,表面粗糙度符號、代號及其注法,表面粗糙度符號、代號 1、圖樣上所標(biāo)注的表面粗糙度符號、代號是該表面完工后的要求。 2、有關(guān)表面粗糙度的各項(xiàng)規(guī)定應(yīng)按功能要求給定。若僅需要加工(采用去除材料的方法或不去除材料的方法)但對表面粗糙度的其它規(guī)定沒有要求時，允許只注表面粗糙度符號。 3、圖樣上表示零件表面粗糙度的符號見表1。,天馬行空官方博客： ；QQ:1318241189；QQ群：175569632,4、當(dāng)要求在表面粗糙度參數(shù)的所有實(shí)測值中不得超過規(guī)定值時，應(yīng)在圖樣上標(biāo)注表面粗糙度參數(shù)的最大值或最小值。 5、

2、表面粗糙度高度參數(shù)輪廓算術(shù)平均偏差Ra，值的標(biāo)注見表2，Ra在代號中用數(shù)值表示(單位為微米)，參數(shù)值前可不標(biāo)注參數(shù)代號。,6、表面粗糙度高度參數(shù)輪廓微觀不平度十點(diǎn)高度Rz、輪廓最大高度Ry值(單位為微米)的標(biāo)注見表，參數(shù)值前需標(biāo)注出相應(yīng)的參數(shù)代號。,7、取樣長度應(yīng)標(biāo)注在符號長邊的橫線下面，見圖1。 若按GBl061089第61條中表1、表2的有關(guān)規(guī)定選用對應(yīng)的取樣長度時，在圖樣上可省略取樣長度標(biāo)注 8、如該表面的粗糙度要求由指定的加工方法獲得時，可用文字標(biāo)注在符號長邊的橫線上面，見圖3。,10、鍍(涂)覆或其它表面處理的要求(表示方法或標(biāo)記按GBT13911和GB 4054的規(guī)定)可以注寫在符

3、號長邊的橫線上面，也可以在技術(shù)要求中說明。 a) 需要表示鍍(涂)覆或其它表面處理后的表面粗糙度值時，其標(biāo)注方法見圖4a。 b）需要表示鍍(涂)覆前的表面粗糙度值時，應(yīng)另加說明，見圖4b。 若同時要求表示鍍(涂)覆前及鍍(涂)覆后的表面粗糙度值時，標(biāo)注方法如圖4c。 11、需要控制表面加工紋理方向時，可在符號的右邊加注加工紋理方向符號，見圖5。,常見的加工紋 理方向符號,表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值,1、評定表面粗糙度的參數(shù)及其數(shù)值系列 a 表面粗糙度參數(shù)從下列三項(xiàng)中選?。?輪廓算術(shù)平均偏差Ra 微觀不平度十點(diǎn)高度Rz 輪廓最大高度Ry 2、在高度特性參數(shù)常用的參數(shù)值范圍內(nèi)( Ra 為0.025 6

4、.3 m，Rz為0.125 m) 優(yōu)先選用Ra 3、輪廓算術(shù)平均偏差(Ra)的數(shù)值規(guī)定于表1。,4、微觀不平度十點(diǎn)高度(Rz)和輪廓最大高度(Ry)的數(shù)值規(guī)定于表2。,6、附加的評定參數(shù)輪廓微觀不平度的平均間距(Sm )和輪廓的單峰平均間距(S)的數(shù)值規(guī)定于表3；輪廓支承長度率(tp)的數(shù)值規(guī)定于表4。,7、選用輪廓支承長度率參數(shù)時必須同時給出輪廓水平截距C值。它可用微米或及，的百分?jǐn)?shù)表示。 百分?jǐn)?shù)系列如下：Ry的5、10、15、20、25、30、40、50、60、70、80、90。 8、輪廓的單峰(谷)S的最小間距規(guī)定為取樣長度l 的1。輪廓峰(谷、單峰、單谷)的最小高度規(guī)定為輪廓最大高度

5、Ry 的10。對 Ra、Rz 和 Ry 參數(shù)亦適用。 取樣長度的數(shù)值和選用 1、取樣長度(l)的數(shù)值從表5給出的系列中選取。 2、一般情況下，在測量Ra、Rz和Ry時推薦按表6和表7選用對應(yīng)的取樣長度值，此時取樣長度值的標(biāo)注在圖樣上或技術(shù)文件中可省略。當(dāng)有特殊要求時應(yīng)給出相應(yīng)的取樣長度值，并在圖樣上或技術(shù)文件 中注出。,4、微觀不平度十點(diǎn)高度(Rz)和輪廓最大高度(Ry)的數(shù)值規(guī)定于表2。,4、微觀不平度十點(diǎn)高度(Rz)和輪廓最大高度(Ry)的數(shù)值規(guī)定于表2。,產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法 表面結(jié)構(gòu)的術(shù)語、定義及參數(shù)（GB/T3505 2000）,1 范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用輪廓法確定表面結(jié)構(gòu)(

6、粗糙度、波紋度和原始輪廓)的術(shù)語、定義和參數(shù)。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和文件以及科技出版物等。 2 引用標(biāo)準(zhǔn) 下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，適用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。,3 術(shù)語定義 3.1 一般術(shù)語 3.1.1 輪廓濾波器 把輪廓分成長波和短波成分的濾波器。 注：在測量粗糙度、波紋度和原始輪廓的儀器中使用3種濾波器(見圖1)。它們的傳輸特性相同， 截止波長不同。 3.1.1,1 s 濾波器 確定存在于表面上的粗糙度與比它更短的波的成分之間相交界限的濾波器(見圖1)。 3.1.1. 2 c

7、 濾波器 確定粗糙度與波紋度成分之間相交界限的濾波器(見圖1)。 3.1.1.3 f 濾波器 確定存在于表面上的波紋度與比它更長的波的成分之間相交界限的濾波器(見圖1 )。,3.1.2 坐標(biāo)系 確定表面結(jié)構(gòu)參數(shù)的坐標(biāo)體系。 注：通常采用一個直角坐標(biāo)體系，其軸線形成一右旋笛卡爾坐標(biāo)系，X軸與中線方向一致，Y軸 也處于實(shí)際表面上，而Z軸則在從材料到周圍介質(zhì)的外延方向上。 3.1.3 實(shí)際表面 物體與周圍介質(zhì)分離的表面。 3.1.4 表面輪廓 平面與實(shí)際表面相交所得的輪廓(見圖2)。 注：實(shí)際上，通常采用一條名義上與實(shí)際表面平行和在個適當(dāng)方向的法線來選擇一個 平面。,3.1.5 原始輪廓 在應(yīng)用短波

8、長濾波器s 之后的總的輪廓。 注：原始輪廓是評定原始輪廓參數(shù)的基礎(chǔ)。 3.1.6 粗糙度輪廓 粗糙度輪廓是對原始輪廓采用c 濾波器抑制長波成分以后形成的輪廓。這是故意修 正的輪廓(見圖1） 注：1 粗糙度輪廓的傳輸頻帶是由AJ和Ac輪廓濾波器來限定的。 2 粗糙度輪廓是評定粗糙度輪廓參數(shù)的基礎(chǔ)。 3 c 和s 之間的關(guān)系本標(biāo)準(zhǔn)不做規(guī)定。 3.1.7 波紋度輪廓 波紋度輪廓是對原始輪廓連續(xù)應(yīng)用f 和c 兩個濾波器以后形成的輪廓成分，采用 f 濾波器抑制長波成分，而采用c 濾波器抑制短波成分。這是故意修正的輪廓。 注：l 在運(yùn)用分離波紋度輪廓的f 濾波器以前，應(yīng)首選通過最小二乘法的最佳擬合 從總輪

9、廓中提取標(biāo)稱的形狀。對于圓的標(biāo)稱形式，建議將半徑也包含在最小 二乘的優(yōu)化計算中，而不是保持固定的標(biāo)稱值。這個分離波紋度輪廓的過程 限定了理想的波紋度運(yùn)算操作。 2 波紋度輪廓的傳輸頻帶是由f 和c 輪廓濾波器來限定的。 3 波紋度輪廓是評定波紋度輪廓參數(shù)的基礎(chǔ)。,3.1.8 中線 具有幾何輪廓形狀并劃分輪廓的基準(zhǔn)線。 3.1.8.1 粗糙度輪廓中線 mean line for the roughness profile 用輪廓濾波器c 抑制了長波輪廓成分相對應(yīng)的中線。 3.1.8.2 波紋度輪廓中線 mean line for the waviness profile 用輪廓濾波器f 抑制了長

10、波輪廓成分相對應(yīng)的中線。 3.1.8,3 原始輪廓中線 mean line for the primary profile 用標(biāo)稱形式的線穿過原始輪廓，按最小二乘法擬合所確定的中線 3.1.9 取樣長度 lp、lr、lw 用于判別被評定輪廓的不規(guī)則特征的X軸向上的長度。 注：評定長度粗糙度和波紋度輪廓的取樣長度 l r 和 l w 在數(shù)值上 分別與輪廓濾波器c 和 f 的標(biāo)志波長相等。原始輪廓的取 樣長度 l p 則與評定長度相等。 3.1.10 評定長度 ln 用于判別被評定輪廓的X軸方向上的長度。 注：評定長度包含一個或和幾個取樣長度。,3.2 幾何參數(shù)的術(shù)語 3.2.1 P 參數(shù) 從原始

11、輪廓上計算所得的參數(shù)。 3.2.2 R 參數(shù) 從粗糙度輪廓上計算所得的參數(shù)。 3.2,3 W 參數(shù) 從波紋度輪廓上計算所得的參數(shù)。 注：在第4章中定義的參數(shù)可從任何輪廓中算得，參數(shù)符號中的第一個大寫 字母表示被評定輪廓的類型。例如 Re 是從粗糙度輪廓中算得，而 Pt 是從原始輪廓中算得 3.2.4 輪廓峰 連接（輪廓和X軸）兩相鄰交點(diǎn)向外（從材料到周圍介質(zhì)）的輪廓部分。 3.2.5 輪廓谷 連接兩相鄰交點(diǎn)向內(nèi)（從周圍介質(zhì)到材料）的輪廓部分。 3.2.6 高度和間距辨別力 應(yīng)計入被評定輪廓的輪廓峰和輪廓谷的最小高度和最小間距。 注：輪廓峰和輪廓谷的最小高度通常用 Pz、Rz、Wz 或任一振幅參

12、數(shù)的百分 率來表示，最小間距則以取樣長度的百分率給出。,3.2.7 輪廓單元 輪廓峰和輪廓谷的組合（見圖3）。 注：在取樣長度始端或末端的評定輪廓的向外部分和向內(nèi)部分看做是一個輪廓峰或 一個輪廓谷。當(dāng)在若干個連續(xù)的取樣長度上確定若干個輪廓單元時，在每一個 取樣長度的始端或末端評定的峰和谷僅在每個取樣長度的始端計人一次。 3.2.8 縱坐標(biāo)值 Z(x) 被評定輪廓在任一位置距X軸的高度。 注：若縱坐標(biāo)位于X軸下方，該高度被視作負(fù)值，反之則為正值。,3.2.9 局部斜率 評定輪廓在某一位置xi 的斜率(見圖4)。 注：1 局部斜率和這些參數(shù) Pq、 Rq 、Wq 的數(shù)值主要視縱坐標(biāo)間距X而定。 2

13、 計算局部斜率的公式之一 式中 Zi ：為第 i 個輪廓點(diǎn)的高度， X 為相鄰兩輪廓點(diǎn)之間距。,3.2.10 輪廓峰高 Z p 輪廓最高點(diǎn)距X軸線的距離(見圖3)。 3.2.11 輪廓谷深 Z v X軸線與輪廓谷最低點(diǎn)之間的距離(見圖3) 3.2.12 輪廓單元的高度 Z t 一個輪廓單元的峰高和谷深之和(見圖3)。 3.2.13 輪廓單元的寬度 X s X軸線與輪廓單元相交線段的長度(見圖3)。 3.2.14 在水平位置 c 上輪廓的實(shí)體材料長度 c Ml(c) 在一個給定水平位置c上用一條平行于X 軸的線與輪廓單元相截所獲得的各段截線長度之和，見下圖。,4 表面輪廓參數(shù)定義 4.1 幅度參

14、數(shù)(峰和谷) 4.1.1 最大輪廓峰高 Pp、Rp、Wp 在一個取樣長度內(nèi)，最大的輪廓峰高 Zp (見圖6)。 4.1.2 最大輪廓谷深 maximum profile valley depth Pv、Rv、Wv 在一個取樣長度內(nèi)最大的輪廓谷深 Zv (見圖7)。,4.1.3 輪廓的最大高度 Pz、Rz、Wz 在一個取樣長度內(nèi)，最大輪廓峰高 Zp 和最大輪廓谷深 Zv 之和的高度(見圖8)。 注：在GBT 3505 1983中，Rz 符號曾用于指示、“不平度的十點(diǎn)高度”。在使用中的一些表面粗糙度測量儀5S大多是測量以前的Rz參數(shù)。因此，當(dāng)采用現(xiàn)行的技術(shù)文件和圖樣時必須小心慎重，因?yàn)橛貌煌愋偷?/p>

15、儀器按不同的規(guī)定計算所取得結(jié)果之間的差別并不都是非常微小而可忽略。 1.4 輪廓單元的平均線高度 Pc、Rc、Wc 一個取樣長度內(nèi)輪廓單元高度 Zt 的平均值（見圖9）。 注：對參數(shù) Pc、Rc、Wc 需要辨別高度和間距。除非另有要求，省略標(biāo)注的間距分辨率應(yīng)分別按 Pz、Rz、Wz 取樣長度的10選取。省略標(biāo)注的間距分辨率應(yīng)按取樣長度的1選取。上述兩個條件都應(yīng)滿足。,4.1.5 輪廓的總高度 Pt、Rt、Wt 在評定長度內(nèi)最大輪廓峰高Zp和最大輪廓谷深Zv之和。 注：1 由于Pt、Rt、Wt 是根據(jù)評定長度而不是在取樣長度上定義的，以 下關(guān)系對任何輪廓來講都成立： Pt Pz、Rt Rz 、W

16、t Wz 2 在未規(guī)定的情況下， Pt 和 Pz 是相等的，此時建議采用Pt 。 4.2 幅度參數(shù)（縱坐標(biāo)平均值） 4.2.1 評定輪廓的算術(shù)平均偏差 Pa、Ra、Wa 在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值Z(x)絕對值的算術(shù)平均值。 依據(jù)不同的情況，式中 l = lp、lr、lw 。 4.2.2 評定輪廓的均方根偏差 Pq、Rq、 Wq 在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值Z(J)的均方根值。 依據(jù)不同情況，式中 l = lp、lr、lw 。,4.2.3 評定輪廓的偏斜度 Psk、Rsk、Wsk 在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值Z(x)三次方的平均值分別與Pq、Rq和 Wq的三次方的比值。 注：1 以上公式定義了Rsk，用

17、類似的方式定義戶Psk 和 Wsk 。 2 Psk、Rsk 和 Ws 是縱坐標(biāo)值概率密度函數(shù)的不對稱性的 測定。 3 這些參數(shù)受離散的峰或離散的谷的影響很大。 4.2.4 評定輪廓的陡度 Pku、Rku、Wku 在取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值 Z(x) 四次方的平均值分別與 Pq、Rq 或 Wq 的四次方的比值。 注：1 上式定義了Rku，用類似方式定義 Pku 和 Wku。 2 Pku 、 Rku 和 Wku 是縱坐標(biāo)值概率密度函數(shù)銳度的測定。,4.3 間距參數(shù) 4.3.1 輪廓單元的平均寬度 PSm、RSm，WSm 在一個取樣長度內(nèi)輪廓單元寬度X5的平均值(見圖10)。 注：對參數(shù) PSm、RSm、

18、WSm 需要辨別高度和間距。若未另外規(guī)定，省 略標(biāo)注的高度分辨力分別為Pz、10，省略標(biāo)注的間距分辨力為取樣 長度的1。上述兩個條件都應(yīng)滿足。,4.4 混合參數(shù) 4.4.1 評定輪廓的均方根斜率 Pq、 Rq 、 Wq 在取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)斜率 dZdX 的均方根值。 4.5 曲線和相關(guān)參數(shù) 所有曲線和相關(guān)參數(shù)均依據(jù)評定長度而不是在取樣長度上來定義，因?yàn)檫@ 樣可提供更穩(wěn)定的曲線和相關(guān)參數(shù)。 4.5.1 輪廓的支承長度率 Pmr(c)、 Rmr(c) 、 Wmr(c) 在給定水平位置C上輪廓的實(shí)體材料長度 Ml(c) 與評定長度的比率。 4.5.2 輪廓的支承長度率曲線 表示輪廓支承率隨水平位置而變的關(guān)系曲線(見圖11)。 注：這個曲線可理解為在一個評定長度內(nèi)，各個坐標(biāo)值 Z(x) 采樣累積的分布 概率函數(shù)。,4.5.3 輪廓截面高度差 Pc、 Rc、 Wc 給定支承比率的兩個水平截面之間的垂直距離。 注：以上公式定義了R，用類似方式定義只8f和U8c。 4.5.4 相對支承比