1、超聲波探傷儀使用說明、HS620數(shù)字式超聲波探傷儀簡介.51.1本機特點61. 2豐要技術(shù)參數(shù)81.3儀器主要部件名稱1 01.44建盤簡介1 2151侖2 4二HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀的基本操作172 1開機172.2常熱功能狀態(tài)的調(diào)節(jié)182.2.1 通道詵擇192.2.2 閘門的調(diào)節(jié)192.2.3 波BM232.2.4 增益調(diào)節(jié)（dB調(diào)節(jié)）242.2.5 檢測范圍（脈沖位移）的調(diào)節(jié)262.2.6 零調(diào)節(jié)272.2.7 脈沖移位調(diào)節(jié)292.2.8 聲速測定一292.2.9 “抑制”調(diào)節(jié)332.2.10 掃杳基線的調(diào)節(jié)34三儀器校準(zhǔn)3531詵擇HS620型探傷儀的接收系統(tǒng)狀態(tài).353.2

2、調(diào)校功能363.2.1 直g頭363.2.2 斜探頭橫波自動校準(zhǔn)46四探傷應(yīng)用634.1 焊縫功能（話用干斜探頭）634.1.1 焊絳參數(shù)設(shè)詈63412_焊縫圖的缺陷昨位分析664.2 測厚功能（適用于直探頭）684.3 性能校驗功能694.4 聲響報警的應(yīng)用734.5 縱向裂紋高度測量的應(yīng)用744.6 包絡(luò)功能774.7 存儲波形數(shù)據(jù)794.7.1 存入子功能794.7.2 讀出子功能814.7.3 刪除子功能824.7.4 通道清零子功能834.8 頻帶詵擇功能844.9 匹配阻抗854.10 重復(fù)頻率854.11 通訊打印功能864.11.1 通訊功能864.11.2 打印輸出874.1

3、2 靜態(tài)讀數(shù)（凍結(jié)狀態(tài)下讀數(shù)）894.13 探傷狀態(tài)與參數(shù)的顯示方式的重新設(shè)置894.13.1 探傷狀態(tài)和參數(shù)的顯示方式904.13.2 探傷狀態(tài)和參數(shù)的重新設(shè)詈90五充電器的使用說明98六儀器的安全使用保養(yǎng)與維護.100附件一：通用探傷報表104附件二：HS620數(shù)探儀選配打印機說明.105HS620數(shù)字式超聲波探傷儀簡介51.1本機特點 手持式結(jié)構(gòu)，美觀、牢固、密封性能好，具超強的抗干擾能力。 全數(shù)字，真彩顯示器，根據(jù)環(huán)境選擇背景色、亮度可自由設(shè)定，領(lǐng)潮國內(nèi)應(yīng)用技術(shù)。 高質(zhì)量的電路系統(tǒng)，性能穩(wěn)定可靠。 超高速采樣，使回波顯示更保真、定位更準(zhǔn)確。 高精度定量、定位、解決遠(yuǎn)距離定位誤差 實時全

4、檢波，正、負(fù)檢波和射頻波顯示。 優(yōu)良的寬頻帶放大器，且自動校正。具有良好的近場分辨能力。 簡潔、強勁的操作功能，中文提示，對話操作，實用易學(xué)。 焊縫剖口示意圖，更直觀顯示缺陷位置，輔助定性。 集超聲檢測、測厚雙重功能于一機 檢測范圍無級調(diào)節(jié)功能。 閘門定位報警，雙閘門失波報警功能，適用于完成不同種類的探傷任務(wù)。7 動態(tài)缺陷包絡(luò)線描述。 波幅曲線按標(biāo)準(zhǔn)自動繪制。且可上下自由移動。 自動對探頭零點進(jìn)行校準(zhǔn)和斜探頭K值（折射角）測試。 靈活的雜波抑制調(diào)節(jié)功能。不影響增益、線性。 自動快速的靈敏度調(diào)節(jié)功能。提高檢測速度。 自動波峰跟蹤搜索功能。提高檢測精度。 有描述缺陷性質(zhì)的峰點軌跡包絡(luò)圖功能。 縱向

5、裂紋高度測量功能。 近場盲區(qū)小，可以進(jìn)行薄板及小徑管探傷。 可對腐蝕層和氧化層厚度進(jìn)行的精確測量。 高速USB2.RRS232兩種接口提供傳輸打印。實現(xiàn)超聲探傷儀計算機管理。予置50組探傷參數(shù)。分別為直探頭15個,斜探頭30個，小角度探頭5個?？纱鎯?000個探傷回波、曲線和數(shù)據(jù)1.2主要技術(shù)參數(shù)脈沖強度：600V阻抗匹配：200Q、500Q二檔可選工作方式：單晶探傷、雙晶探傷掃描范圍：零界面入射5500mm縱波采樣頻率/位數(shù)：150MHz/8bits檢波方式：全檢波、正、負(fù)檢波、射頻波顯示工作頻率：0.5MHz15MHz各頻段等效輸入噪聲：15%衰減器精度：v±1dB/12dB增益

6、調(diào)節(jié)：110dB(0.1dB、2dR6dB步進(jìn)，全自動調(diào)節(jié))聲速范圍：(10020000)m/s動態(tài)范圍：30dB垂直線性誤差：3%水平線性誤差：0.1%分辨力：40dB(5N14)靈敏度余量：60dBG200mm)2平底孔)數(shù)字抑制：(080)%不影響線性與增益電源、電壓：直流（DQ7.2V±10%交流（AQ220V±10%工作時間：連續(xù)工作5小時以上（鋰電池供電）環(huán)境溫度：（-1040）C（參考值）相對濕度：（2095）%RH外型尺寸：200x138x60（mm111.3 儀器主要部件名稱本儀器主要部件名稱如圖1-1所示。1 o圖1-1320x256像素的高分辨率顯示器

7、電源指示燈、報警指示燈觸摸鍵盤充電插座護手帶打印機及通訊插座Q9插座（發(fā)射）Q9插座（接收）提手USB通訊接口1.4 鍵盤簡介鍵盤是完成人機對話的媒介。本機鍵盤設(shè)有23個控制鍵，鍵位見圖1-2。使用者對探傷儀發(fā)出的所有控制指令，均通過鍵盤操作傳遞給探傷儀。23個控制鍵分為三大類：特殊鍵（1個），菜單功能選擇鍵（9個），功能熱鍵（11個）和方向控制鍵（2）。鍵盤操作過程中，探傷儀根據(jù)不同的狀態(tài)自動識別各鍵的不同含意，執(zhí)行操作人員的指令。各鍵的具體使用方法在以后的各章節(jié)中分批逐漸介紹。下面是各鍵的具體功能簡介。'2淞忌或確認(rèn)叵叵叵回®向3回庖回回第620伍國向£回、數(shù)字

8、式趣聲毆探傷儀1J1)付道)電源開/關(guān)鍵 包絡(luò)功能鍵增益熱鍵抑制熱鍵 波幅曲線功能 鍵聲響報警鍵波峰記憶鍵50組探傷參數(shù) 選擇鍵進(jìn)入/退出參 數(shù)列表顯示鍵調(diào)校類功能鍵閘門功能系統(tǒng)鍵 探頭零點自動校 準(zhǔn)熱鍵自動增益鍵輸出數(shù)據(jù)功能鍵存儲傷波數(shù)據(jù)鍵 波形凍結(jié)/輸入命 令、數(shù)據(jù)認(rèn)可鍵 顯示屏彩色切換 鍵關(guān)閉屏幕顯示，進(jìn) 入節(jié)電狀態(tài)左/下方向鍵子功能菜單/操J2I作功能鍵右/上方向鍵1.5 功能介紹儀器的功能及其邏輯關(guān)系調(diào)校閘門范圍呼移閘門移位閘門閘門讀數(shù)Y/W輸出范圍零偏聲速K值曲線AVG/DAC讀出刪除通訊打印制作稿整刪除清字波峰記憶報警色彩切換包絡(luò)增益自動增益抑制通道傷波存儲1 .調(diào)校功能：?范圍

9、：探傷范圍的調(diào)節(jié)?零偏：探頭入射零點的調(diào)節(jié)?聲速：材料聲速（020000）m/s連續(xù)調(diào)K值：斜探頭的折射角（K值）測量2 .閘門功能：?范圍/平移：（06000）mm掃查范圍的無級調(diào)節(jié)/脈沖平移調(diào)節(jié)?閘門操作：閘門移位/閘門寬度/閘門高度調(diào)節(jié)?閘門選擇：閘門A/B選擇?閘門讀數(shù)：選擇單閘門讀數(shù)/雙閘門讀數(shù)方式3 .曲線功能：?制作：制作AVG、DAC曲線及曲線延長?調(diào)整：調(diào)整已制作的曲線?刪除：刪除已制作的曲線?清零：將當(dāng)前通道的參數(shù)初始化4 .輸出功能：?讀出：顯示當(dāng)前讀出號的缺陷波形及數(shù)據(jù)?刪除：刪除當(dāng)前存貯號或連續(xù)存貯區(qū)間的缺陷波形及數(shù)據(jù)?通訊：將存儲的缺陷波形及數(shù)據(jù)傳送到計算機?打?。?/p>

10、打印探傷報告5 .包絡(luò)功能：對缺陷回波進(jìn)行波峰軌跡描繪，輔助對缺陷定性判斷。6 .增益/自動增益功能：手動調(diào)節(jié)儀器靈敏度/自動定高調(diào)節(jié)儀器靈敏度。7 .波峰記憶：對閘門內(nèi)動態(tài)回波進(jìn)行最高回波的捕捉，并保留在屏幕上。8 .色彩切換：對屏幕顯示色彩（前景、背景）進(jìn)行切換。9 .報警：閘門內(nèi)的缺陷回波高于閘門/曲線高度時，儀器發(fā)出聲響提示10 .存儲：將屏幕上的回波及其相應(yīng)的數(shù)據(jù)存儲在儀器存貯器中。11 .抑制：調(diào)節(jié)抑制雜波比例。12 .通道：通道切換選擇1 15二HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀的基本操作2. 1開機HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀采用直流供電方式，儀器內(nèi)置鋰電池。按的鍵兩秒鐘，直到電

11、源指示燈亮。儀器首先出現(xiàn)漢威注冊商標(biāo)，然后進(jìn)行儀器自檢，顯示如下畫面：23盤SB臺匕目匕i-dnwEi儀器自檢鍵OK存儲OK綜合性O(shè)K電池狀態(tài)自圖2-1-1儀器自檢通過后，進(jìn)入開機動態(tài)界面，見圖2-1-2?；夭@不區(qū)1斜/表口 1抑制OOK/ 4 - = - - - - & -串串增益0 1-二-130. 口dB-+0.08= - 66. T“ 59. £- -4 29,9 1。.號一0.010.020.030 040.050.0-1基嚏血額相顯示工作7T或電池狀福范 圍5. OOjuh/D閘門移位14. 5 麗聞 門A閘門讀數(shù)T將作選展區(qū)圖27-2說明：在縱波直探頭的情況下

12、。鼻聲程（S）即聲波從工件表面至缺陷的垂直距離。，沒有顯示。在橫波斜探頭的情況下。、表示聲程（S）葉表示水平距離（L）指的是探頭入射點至缺陷的水平距離。*表示垂直深度（H）o指的是入射點至缺陷的垂直距離。喇叭及參數(shù)鎖定圖標(biāo)在此圖上沒有顯示，在后面的章節(jié)中詳細(xì)介紹。按任何熱鍵或者子功能菜單鍵時，相應(yīng)的區(qū)域出現(xiàn)反顯，表示當(dāng)前操作狀態(tài)。2.2常規(guī)功能狀態(tài)的調(diào)節(jié)2.2.1 通道選擇本儀器予置了50組探傷參數(shù)，即50個通道。分別為直探頭15個，斜探頭30個，小角度5個。探傷人員可根據(jù)需要修改各通道的參數(shù)。按通道鍵對通道進(jìn)行選擇，此時顯示屏上顯示通道區(qū)出現(xiàn)反顯。連續(xù)按此鍵可選擇不同的檢測任務(wù)。如圖所示。直

13、探頭口1抑制00%懵益7i30.OdB±0.0128,5204060SO100rji范圉101OOmm/D閘門移位25.9所閘門A閘門讀數(shù)圖2-2-12.2.2 閘門的調(diào)節(jié)數(shù)字式探傷儀的最突出的特點是能夠把所有的有關(guān)反射波的信息用數(shù)字量顯示在屏幕上。讀數(shù)時儀器處理計算閘門內(nèi)的回波，并顯示最高回波的所有數(shù)據(jù)（包括聲程、水平距離和垂直距離）。因此探傷過程中需使用閘門套住缺陷回波，儀器才能顯示探傷所需要的數(shù)據(jù)。2.2.2.1閘門選擇和閘門讀數(shù)方式本儀器是雙閘門工作方式，分為A閘門和B閘門。閘門讀數(shù)方式有兩種，即單閘門讀數(shù)方式和雙閘門讀數(shù)方式。用戶可以選擇任意閘門作為當(dāng)前使用閘門，下面將要介

14、紹閘門的起始位置、寬度、高度調(diào)節(jié)都是針對當(dāng)前使用閘門而言。操作步驟：1顯示方式選擇按回鍵，進(jìn)入掃查狀態(tài)，儀器默認(rèn)的是“單閘門讀數(shù)方式”。用戶想選擇“雙閘門讀數(shù)方式”，按舸門讀數(shù)卅應(yīng)的鍵即可。其閘門讀數(shù)方式如圖所示。1 42 6<2 ISO 5、4L9437.5G 4£ 6Q 130 5縱波蜜槌失 單閘門速醺方式縱波置尼頭 雙閘門遺散疔式橫波陶快取 單閘n演溜 萬之橫渡斜探頭 雙閘門讀教 方式圖2-2-22閘門選擇按回鍵后就進(jìn)入了掃查狀態(tài)，如圖所示。按而牝?qū)?yīng)的鍵，此時閘門欄反顯，初始值為A閘門，再按一次對應(yīng)的鍵切換為B閘門，如圖所示2.2.2.2閘門起始閘門起始是對當(dāng)前使用閘門

15、的起始位置進(jìn)行調(diào)節(jié)。用戶可根據(jù)需要將閘門平行移動到想要的位置來鎖定你所感興趣的回波。操作如下：按起始相對應(yīng)的A鍵進(jìn)入此功能，此時該欄反顯，如圖。再按鍵進(jìn)行調(diào)節(jié)。例如，當(dāng)前的使用閘門位置在回波顯示區(qū)的最左端，當(dāng)要使閘門移到最右端，按住鍵，直到閘門移到目標(biāo)位置。門閘門讀效A圖2-2-4區(qū)的讀數(shù)為xxx.x注意：為了回波顯示區(qū)簡單明了，用戶可以將某一閘門移出回波顯示區(qū)，此時數(shù)據(jù)顯示的形式。如圖所示。、蘇X郭裁，K#XXX.X,XXJC.X縱波直僚吳:鳴料卷否單閘門讀數(shù)單用門遴放方式方尤圖Z-Z-32.2.2.3 閘門寬度按閘門移位對應(yīng)的鍵，就進(jìn)入了閘門寬度調(diào)節(jié)，此時寬度欄出現(xiàn)反顯，如圖所示。再按二五

16、百鍵可改變閘門的寬度。范 圍1口. QClnin/D閘門寬度24.2 nun圖2-2-62.2.2.4 閘門高度閘門高度指的是閘門相對于回波顯示區(qū)滿幅的百分比。按閘門寬度相對應(yīng)的鍵，就進(jìn)入了閘門高度調(diào)節(jié)，此時高度欄反顯，如圖2-2-7所示，再按3(5鍵可改變閘門的高度。范 圍ClQniiii/D閘門高度40 %門閘門讀數(shù)圖2-2-72.2.3波峰記憶波峰記憶是儀器自動以閘門內(nèi)最高動態(tài)回波進(jìn)行記錄，并保留在屏幕上。在實際探傷中，這有助于最大缺陷回波的捕捉。操作：1 .用閘門鎖定將要搜索的回波。2 .按圜鍵，進(jìn)入波峰搜索狀態(tài)，并且在回波顯示區(qū)的右上端顯示出“波峰記憶”字樣。當(dāng)您移動探頭時，如有一個

17、比前面顯示回波更高的新波出現(xiàn)時，儀器立即捕捉住此高波作為當(dāng)前最高顯示波。3 .按圖鍵，退出搜索狀態(tài)。2.2.4增益調(diào)節(jié)(dB調(diào)節(jié))在探傷工作中，利用衰減器可控制儀器的靈敏度，測量信號的相對高度，用以判斷缺陷的大小，或測量材料的衰減等。衰減器除了上述作靈敏度控制外，它的主要用途是測量反射波幅度的相對大小，用分貝表示。本機型的系統(tǒng)靈敏度由基準(zhǔn)dB讀數(shù)和偏差dB讀數(shù)兩部分組成?？傆嗔繛?10dB。2.2.4.1 手動增益調(diào)節(jié)操作：按回鍵選擇調(diào)節(jié)步進(jìn)值。按第一次，增益顯示區(qū)基準(zhǔn)dB值反顯，此時，增益的右上方出現(xiàn)0.1的字樣，表示當(dāng)前以0.1dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值。如圖2-2-8(a)所示。按第二次，

18、此時增益的右上方出現(xiàn)2.0的字樣，表示當(dāng)前以2.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值，如圖2-2-8(b),按第三次，此時增益的右上方出現(xiàn)6.0的字樣，表示當(dāng)前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值。如圖2-2-8(c)所示。按第四次時，增益顯示區(qū)的偏差dB值反顯，此時增益的右上方出現(xiàn)0.1的字樣，表示當(dāng)前以0.1dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)偏差dB值。如圖2-2-8(d)所示。按動鍵盤增益鍵，此時增益的右上方出現(xiàn)6.0的字樣，增益顯示區(qū)的偏差dB值反顯，表示當(dāng)前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)偏差dB值。如圖2-2-8(e)所示。按巨)&鍵調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值或偏差dB值。例如：當(dāng)前的基準(zhǔn)dB值為80dB,如果以0.1dB的步進(jìn)

19、值增大基準(zhǔn)dB的值到110dB,調(diào)節(jié)回鍵，使反顯出現(xiàn)在基準(zhǔn)dB欄，增益的右上方出現(xiàn)0.1的字樣，再調(diào)節(jié)鍵不放，可產(chǎn)生連續(xù)增益調(diào)節(jié)。直到110dBo斜/表01WS01斜/表斜/表口1斜/表口1S4/S01抑制00%抑制00X抑制00%抑制00%搟!100%抑制0DK增益61增益20增益S'0增益口,1增益NQ增益九。30,OdB：丁.一田加.口，汪30.OdB30*OdB10,0±0.0+00二門口.二：|口±0.0|基建0IdB調(diào)節(jié)基睢超2.OdB調(diào)節(jié)基準(zhǔn)&Boar調(diào)節(jié)偏差面0.IdB調(diào)節(jié)偏差如S.OdB調(diào)節(jié)偏差亞6.OdB調(diào)節(jié)Cd)圖2-2-62.2.4.

20、2自動增益調(diào)節(jié)操作：移動閘門鎖定回波。選擇是調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB或偏差dBo按回鍵，儀器自動進(jìn)行增益調(diào)節(jié)，使閘門內(nèi)的最大回波波幅調(diào)節(jié)到縱坐標(biāo)的80%左右高度。并且在回波顯示區(qū)的右上角有“自動增益”的字樣提示。調(diào)節(jié)完成后“自動增益”的字樣消失。2.2.5 檢測范圍（脈沖位移）的調(diào)節(jié)檢測人員根據(jù)被檢測工件的厚度合適的調(diào)節(jié)檢測范圍，范圍調(diào)節(jié)不會改變回波之間的相對位mm置和幅度，本儀器調(diào)節(jié)的范圍為（06000）（鋼縱波）。操作如下：按園鍵進(jìn)入調(diào)校功能菜單。此時范曲欄反顯。如圖零偏0.00 us聲速324 口心K值2 00在按回回鍵進(jìn)行范圍調(diào)節(jié)。范圍值實時顯示，表示每格的對應(yīng)的實際距離（儀器波形顯示區(qū)分為十格。

21、當(dāng)檢測范圍為200mm時）每小格的值為20mm）。例如：將當(dāng)前橫坐標(biāo)的每小格距離為20mm調(diào)節(jié)到40mm）按住運I鍵不放，直到范圍數(shù)據(jù)連續(xù)變換到40mm。2.2.6 零點調(diào)節(jié)零點調(diào)節(jié)指的是探頭零點的調(diào)節(jié)。為了準(zhǔn)確的對工件缺陷定位，我們必須調(diào)節(jié)探頭的零點,通俗的說也就是探頭的壓電晶片到工件表面的距離（包括探頭保護膜的厚度和耦合劑的厚度）在本儀器中用時間（以s微妙）來表示探頭零點的距離。操作：按畫進(jìn)入功能菜單，再按零偏相對應(yīng)的鍵，此時，該欄反顯，如圖2-2-9所示。零偏0 00 us聲速3240 山K值2.00圖2-2-9按回叵鍵來調(diào)節(jié)零偏的大小。且零偏的時間值實時顯示。例如：當(dāng)前的零偏值是0.0

22、0“s時，要使零偏的值調(diào)節(jié)到0.561!So就按住引鍵，直到數(shù)據(jù)顯示為0.56“s為止。注意：探頭的零點一旦校準(zhǔn)好后，就不能改變，否則會影響數(shù)據(jù)精度。如果真的要改變的話，會有一個滾動信息提示“已校準(zhǔn)，是否要改變零偏？”按回鍵后，再進(jìn)行改變。按其他的鍵返回即不改變。2.2.7脈沖移位調(diào)節(jié)調(diào)節(jié)儀器的脈沖移位，不會改變回波的相對位置和幅度。最大可調(diào)節(jié)位移距離不小于3500mm（鋼縱波）。操作：按回進(jìn)入功能菜單，再按平移相對應(yīng)的鍵，此時，該欄反顯，如圖所示。范圍20.00mm/D平移0.00 ns聲速3240 «/K值2.00圖2-2-10按3它鍵來調(diào)節(jié)平移量的大小。且平移的時間值實時顯示。

23、例如：當(dāng)前的平移值是0.00us時，要使平移的值調(diào)節(jié)到0.56u0就按住鍵，直到數(shù)據(jù)顯示為0.56us為止。（本儀器中用時間（us微妙）來表示）。2.2.8聲速測定我們知道，材料聲速是探傷缺陷定位中非常重要的一個參數(shù)。聲速對于超聲波探傷中的定位精確度有著極其重要的作用，因此對于未知材料聲速的工件探傷時測定其聲速，是探傷前的重要準(zhǔn)備步驟，下面利用一塊厚度為50mm的未知聲速材料為例講述聲速測量方法。操作：同步法：利用同一個反射體上的一次和苔底波反射來進(jìn)行聲速測定。按回鍵進(jìn)入功能選擇狀態(tài)，按回鍵移動方塊光標(biāo)到調(diào)校欄，按回鍵，再按聲速相對應(yīng)的鍵，此時該欄反顯，儀器彈出提示：_請選聲速測試方式：同步法

24、國請輸入測試距離：50mm叵）將探頭放在實物試塊上，移動探頭找出最大反射波，觀察屏幕上回波，移動兩個閘門分別套住兩個回波后，按按回鍵T-50mn聲 速5940 m/s同 門閘門移位 Him范 圍IQ, UQiWD此時儀器自動開始調(diào)節(jié)聲速，直到兩次回波分別對齊50mm和100mm的位置，聲速測定完畢！注：如果實物聲速和儀器初始聲速差異太大，有可能回波不在屏幕內(nèi)，這時需要調(diào)整范圍，將波形先調(diào)整到屏幕內(nèi)，再移動閘門套住回波）分步法：如果被測實物試塊聲衰減較大，無法得到二次反射時可用分步法，利用兩個深度不同的反射體的底波來測定聲速。例如再制作一塊40mm實物試塊。進(jìn)入聲速測試，方法與上面相同，儀器出現(xiàn)

25、提示：請選聲速測試方式：同步法按它改為分步法®請輸入測試距離：50mm按巨）5改為10mm（兩個不同反射體之間的厚度差按G）將探頭先放在厚度40州的實物試塊上，找出反射回波后，用閘門套住，按回再將探頭放在厚度50州的實物試塊上，找出反 射回波后，用閘門套住，按®范圍10. OOjiui. D聲 速590 n/s閣J閘門移位 28. Smm2.2.9“抑制”調(diào)節(jié)此功能主要用來抑制雜波即噪音，以提高信噪比。本機型采用熱鍵方式直接控制抑制量的調(diào)節(jié)，并直接用數(shù)字顯示被抑制掉的百分比量值。通常抑制數(shù)據(jù)顯示區(qū)顯示的00%表示儀器處于無抑制狀態(tài)。如圖所示。隨著抑制顯示量的增加，“抑制”作

26、用已被加入，這時顯示的百分比數(shù)值以內(nèi)的雜波被濾掉，不予顯示，而大于百分比數(shù)值的回波則不被改變。因此使實際探傷中的信噪比被大大提高。操作：按回鍵，此時抑制欄反顯，如圖所示。按鍵，選擇抑制量，所顯示的百分?jǐn)?shù)即為抑制掉的雜波高度。大抑制量為80%。直探頭口 I抑制401增益030. OdB to.o注意：隨著 態(tài)范圍會變小，圖5“抑制”作用的加大，儀器的動因此使用抑制功能后，要及時恢復(fù)儀器的無抑制狀態(tài)（即抑制的百分?jǐn)?shù)為零）。三儀器校準(zhǔn)超聲波探傷儀必須與探頭緊密配合才能實現(xiàn)準(zhǔn)確的探傷目的。探傷儀的某些技術(shù)指標(biāo)，如:靈敏度余量、垂直線形、分辨力等，嚴(yán)格上講應(yīng)是儀器與探頭的綜合指標(biāo)。所以在探傷前，必須對所

27、要使用的儀器和探頭進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)才能保證所探傷的結(jié)果是真實，可信的。HS620型的校準(zhǔn)是指距離校準(zhǔn)和K值測試。距離校準(zhǔn)從原理上講與常規(guī)探傷儀是一樣的。但充分發(fā)揮了數(shù)字式探傷儀的程序控制和數(shù)據(jù)處理能力，使其更為簡便。3.1選才HS620型探傷儀的接收系統(tǒng)狀態(tài)探傷儀的接收系統(tǒng)所處的狀態(tài)的不同組合適用于不同的檢測任務(wù)。對于特定的要求，選取某種狀態(tài)組合，將起優(yōu)化回波波形，改善信噪比，獲得較好的近場分辨力或最佳的靈敏度余量的作用。在儀器校準(zhǔn)前，可選擇最佳組合的接收系統(tǒng)，以提高儀器的校準(zhǔn)精度。工作方式選擇：本機設(shè)有自發(fā)自收和一發(fā)一收兩種工作方式，分別適用于單晶和雙晶探頭的使用，用戶可根據(jù)所使用的探頭來進(jìn)行設(shè)

28、置相應(yīng)的工作方式。圖標(biāo)正對應(yīng)單發(fā)單收，弋I對應(yīng)一發(fā)一收。操作：按叵1鍵，進(jìn)入?yún)?shù)列表。按w鍵，將箭頭光標(biāo)移動到士作方式桂,如圖*工作方式rp 按畫鍵，切換選擇所需的工作方式。 按回鍵返回探傷界面。3.2調(diào)校功能3.2.1 直探頭調(diào)校3.2.1.1 直探頭縱波入射零點自動校準(zhǔn)快捷調(diào)校模式（主要針對于CSK-IA試塊）對于縱波直探頭接觸法測量在常規(guī)探傷儀中一般來講沒有強調(diào)零偏控制，只要將始脈沖對準(zhǔn)顯示格柵的左邊線，任何零偏均忽略不計，這在大多數(shù)情況下是可以接受的。但對于具有保護膜或保護靴的接觸式探頭，由于保護元件中的時間延遲，可能有很大的零偏值，而影響距離的精確測定。為了方便用戶，同時也充分發(fā)揮數(shù)

29、字式探傷儀的程序控制和數(shù)據(jù)處理能力，由儀器自動實現(xiàn)自動校準(zhǔn)操作。由于CSK-IA試塊的使用相對較為普遍，我公司在HS620型的數(shù)字式超聲波探傷儀中專門添加了針對于使用CSK-IA試塊進(jìn)行調(diào)校的快捷調(diào)校模式，該調(diào)校模式使儀器調(diào)校過程更加簡單、快捷，下面先對此調(diào)校模式作詳細(xì)的介紹：下面以CSK-IA試塊為例，介紹直探頭縱波入射零點的自動校準(zhǔn)。25CSK-IA20準(zhǔn)備：首先將需使用的直探頭與儀器連接，平放CSKIA試塊并將探頭放置在試塊CSKIA上,探頭放置方式如圖。操作：按通道鍵，再按鍵，選擇任意直探頭通道，按叵鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表，光標(biāo)處于“試塊選擇.其它試塊”一欄，由于使用的測試試塊為CSKIA試塊

30、，所以按回鍵將試塊選擇欄改為“試塊選擇CSKIA”。按照所選探頭的相關(guān)參數(shù)依次輸入?yún)?shù)。例:按鍵將光標(biāo)移到索頭頻率樣按回鍵進(jìn)入數(shù)字輸入狀態(tài)，使用白鍵將數(shù)字輸入，再按0o依照上述步驟，將其它數(shù)據(jù)依次輸入。參數(shù)輸入完畢后按叵退出參數(shù)列表按回?zé)徭I，進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能，此時，回波顯示區(qū)的右上角顯示“自動校準(zhǔn)”的字樣。兩閘門自動鎖定在CSKIA試塊二次波（50mm）和四次波（100mm）位置）如圖所示。直探頭口1增益(0.1)22.adBO.OOm_59蛆胤凡范4 50. 6,。力 擎100.Q59 5K30.0L00.00¥”侑>費K 值0.00將探頭放置在CSKIA試塊上深度為25mm

31、位置，觀測屏幕上回波顯示位置，如有波形超出滿刻度，則按回鍵，此時波形會下降到滿刻度80%（該幅度可自行設(shè)定），當(dāng)屏幕上兩底面反射回波均出現(xiàn)在屏幕以內(nèi)后，按回鍵,儀器開始自動校準(zhǔn)，此時按住探頭不動，直至自動校準(zhǔn)完畢校準(zhǔn)完之后，滾動出一個提示信息?！白詣有?zhǔn)完畢！”，如圖所示。然后屏幕下方顯示“是否重校？”（按回鍵重校，其它鍵退出！）當(dāng)由于其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來的話，就會有相關(guān)的信息提示，如：“閘門未鎖定波，無法校準(zhǔn)！”3.2.1.2 直探頭入射點自動調(diào)?；静僮鞑襟E（使用非CSK-IA試塊調(diào)校時操作步驟）操作：1.按通道鍵，再按丘3m鍵，選擇任意直探頭通道，按畫鍵，進(jìn)入自動校準(zhǔn)功能，此時，回波

32、顯示區(qū)的右上角顯示“自動校準(zhǔn)”的字樣。并且依次滾動出下面的相關(guān)校準(zhǔn)參數(shù)：請輸入材料聲速：5940m/s（1,請輸入起始距離：50mm按鍵改為100mm,S請輸入終止距離：200mm提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段2 .將探頭放置在CSK-IA試塊上厚度3 .此時屏幕上出現(xiàn)試塊的一次和二次回波，輕輕移動探頭找出最高回波，按回鍵，此時儀器將自動調(diào)節(jié)零偏直到一次波對齊100m雁置，且二次波對齊200m雁置后,儀器調(diào)準(zhǔn)結(jié)束，并自動彈出自動校準(zhǔn)完畢的提示。如下圖自劭儂'直探頭口1抑制00X噌益011I«23.3dB±0.0©100.0¥2000h一J自動校準(zhǔn)

33、完畢，范圍20-0mm/0霉偏0.56us聲速5940ni/sK值0.00圖3-2-2*注：校準(zhǔn)過后，探頭的入射零點和聲速將自動存入儀器中，若重新調(diào)?？稍侔匆淮位兀貜?fù)上述操作即可。已校準(zhǔn)過儀器重新調(diào)校的時候儀器會給出“已校準(zhǔn)過，是否重新調(diào)校？”按回重新開始調(diào)校過程，按其它鍵退出不重新調(diào)校！3.2.1.3直探頭AVG曲線制作本儀器中給用戶提供AVG曲線鑄鍛件探傷功能，用戶可根據(jù)探傷范圍制作出相應(yīng)長度的AVG曲線，作了曲線后，儀器能根據(jù)缺陷波和曲線之間的關(guān)系自動算出缺陷的當(dāng)量直徑即值。制作AVG曲線有多種方法，本機內(nèi)根據(jù)波形采樣對象的不同分為大平底采樣和平底孔采樣兩種方法大平底采樣：此方法可用于

34、缺少標(biāo)準(zhǔn)試塊或只有現(xiàn)場實物采樣時使用，只需找出試塊或?qū)嵨锏拇笃降追瓷浠夭ㄗ鳛椴蓸狱c即可制作AVG曲線。平底孔采樣：此方法適用于試塊齊全，有標(biāo)準(zhǔn)平底孔的用戶制作，以相同大小不同深度的平底孔來采樣制作。兩種方法除采樣對象不同外，其制作方法完全相同，下面以大平底采樣法為例講述直探頭AVG曲線的制用流程。準(zhǔn)備若干厚度不同的大平底試塊或?qū)嵨镌噳K。按回進(jìn)入曲線功能，按帶昨?qū)?yīng)的儀器下方出現(xiàn)提示：請選擇制作對象：大平底叵儀器提示：請使用閘門鎖定測試點！提示信息消失后進(jìn)入波形采樣階段。如圖請用閘門鎖定測試點，直探頭口1抑制00增益。" 21.9dB±0.04 50 060 5Z閘門移位 3

35、5. 2run調(diào)整 刪除 清零大平底試塊屏幕右上角顯示“測試點：01”并閃動，將探頭放在其中一個大平底試塊上，觀察其回波，按W鍵移動閘門套住一次回波，按1或1將波形調(diào)整到滿屏的80%高度，按差鎖定回波峰值，按回結(jié)束該點的采樣。此時屏幕右上角的提示變?yōu)椤皽y試點：02”并閃動，如圖按照上述方法，將探頭放依次放在每個試塊上找出大平底的最強反射并用閘門套住一次回波，按屋將波形調(diào)整到滿屏的80%高度，按慧鎖定回波峰值，按回結(jié)束該點的采樣。最后一點采樣完成后，再按一次叵儀器出現(xiàn)提示：確定完成曲線嗎？按回結(jié)束曲線制作，按其它任意鍵返回繼續(xù)制作曲線。確定結(jié)束后，將繪制出整條曲線。在制作曲線過程中若對上一個采樣點重新制作可按屏幕下方庭栓對應(yīng)的，刪除上一個記錄的采樣點重新采樣。曲線完成后將得到一個大平底曲線，在探傷過程中根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以在儀器中設(shè)置一條值曲線，