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文檔簡(jiǎn)介

1、品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 品質(zhì)部: 程善舟(Leo Cheng) 討 論 時(shí)間:2005年08月25日(18:30-20:30)cnshu 擁有龐大的管理資料庫 講義大綱 1.根本內(nèi)容紹(3-15)2.恆忻【品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)】介紹(16-77)cnshu 擁有龐大的管理資料庫品 質(zhì) 檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn) 意義: 產(chǎn)品品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的建立,為企業(yè)提供了以下說明:1. 減少合約之品質(zhì)糾紛2. 為對(duì)外品質(zhì)保證提供了依據(jù)3. 使品檢任務(wù)有據(jù)可依4. 使制造者明確品質(zhì)要求5. 其他品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)之參考依據(jù)cnshu 擁有龐大的管理資料庫品 質(zhì) 檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)之適度性 產(chǎn)品品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)首先要建立在買方認(rèn)同的基礎(chǔ)上,根據(jù)公司實(shí)際生產(chǎn)條件而定

2、,一個(gè)適度的品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn),應(yīng)有利於不斷提高公司生產(chǎn)技術(shù)程度和管理程度.即品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)略高於公司現(xiàn)行條件可達(dá)到的程度.但不宜過高,以免浪費(fèi)資源.同時(shí),所制訂的標(biāo)準(zhǔn)必須有客觀依據(jù),不可盲目臆斷,必要時(shí),可采取破壞性試驗(yàn)獲得標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù).cnshu 擁有龐大的管理資料庫品 質(zhì) 檢 驗(yàn) 標(biāo) 準(zhǔn)品質(zhì)允收標(biāo)準(zhǔn)定義: 所謂允收標(biāo)準(zhǔn): (AQL: Acceptable Quality Level)是客方認(rèn)定可以接受的不良品/率之品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn),供方的產(chǎn)品不良品/率低於此標(biāo)準(zhǔn)則允收,反之則拒收或退貨. cnshu 擁有龐大的管理資料庫根本名詞與符號(hào)批 凡具有一樣來源,且在一樣的條件下產(chǎn)生所得到一群一樣規(guī)格的產(chǎn)品,可為一批,亦可

3、給予一個(gè)名字叫 製造批 ,而一個(gè)製造批可分為幾個(gè)檢驗(yàn)批 ,但須防止將一個(gè)以上的製造批合併為 檢驗(yàn)批 。檢驗(yàn)批檢驗(yàn)批構(gòu)成之目的乃是便利抽樣計(jì)劃之進(jìn)行,依其 批量 大小照 抽樣計(jì)劃 抽出樣本加以檢驗(yàn),再按照抽樣檢驗(yàn)的原則來斷定這個(gè)檢驗(yàn)批能否允收批量批量是指每個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)製品單位的數(shù)量,其符號(hào)以 N 表示。樣本樣本是從檢驗(yàn)批中所抽取一個(gè)以上的單位製品所組成的,樣本中的各個(gè)樣品均須隨機(jī)且具代表性,而不考慮它的品質(zhì)好壞的情況抽出。樣本中所含的製品單位的數(shù)目稱樣本數(shù)或樣本大小,其符號(hào)以 n 表示。cnshu 擁有龐大的管理資料庫合格斷定數(shù) 斷定一批產(chǎn)品能否合格或不合格的基準(zhǔn)不良數(shù)謂之合格斷定數(shù),其符號(hào)以 C

4、 AC表示。(斷定批為合格時(shí),樣本內(nèi)容許含有之最高不良品個(gè)數(shù),以AC或C表示之。)不合格斷定數(shù)(斷定批為不合格時(shí),樣本內(nèi)所含之最少不良品個(gè)數(shù),以Re表示之。)缺點(diǎn)製品單位其品質(zhì)特性不符合契約所規(guī)定的規(guī)格、圖樣、購買說明書等的要求者謂之缺點(diǎn),其符號(hào)用 d 表示。缺點(diǎn)普通可分為:(1)嚴(yán)重缺點(diǎn)(Critical defect) 凡有危害製品的運(yùn)用者或攜帶者的生命或平安之缺點(diǎn)謂之嚴(yán)重缺點(diǎn)。(2)主要缺點(diǎn)(Major defect) 製品單位的運(yùn)用性能不能達(dá)到所期望之目的,或顯著的減低其實(shí)用性 質(zhì)的缺點(diǎn)謂之主要缺點(diǎn)。(3)次要缺點(diǎn)(Minor defect) 實(shí)際上不影響製品的運(yùn)用目的之缺點(diǎn)謂之次要缺

5、點(diǎn)。cnshu 擁有龐大的管理資料庫 抽樣檢驗(yàn)(Sampling lnspection)係由美國(guó)貝爾電話研討的H.F.Dodge及H.G.Romig所創(chuàng)始,是用少數(shù)樣本去判斷一批製品的良窳。抽樣檢驗(yàn)雖然並非絕對(duì)可靠,但近代統(tǒng)計(jì)學(xué)的發(fā)展已使抽樣理論與實(shí)用方法幾乎趨於完備,使此等方法具有高度的可靠性及經(jīng)濟(jì)價(jià)值。因此,抽樣檢驗(yàn)方法在今日工商業(yè)界,實(shí)成為不可短少的工具。抽樣檢驗(yàn)的由來cnshu 擁有龐大的管理資料庫抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃的分類計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、選別型、調(diào)整型計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、調(diào)整型cnshu 擁有龐大的管理資料庫三種抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃1.規(guī)準(zhǔn)型抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 此種抽樣計(jì)劃的精神在兼顧

6、買賣雙方之利益和損失即規(guī)定雙方的冒險(xiǎn)率及為一定之?dāng)?shù)字(普通取 =5%, =10%) 。2.選別型抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 通常在抽樣檢驗(yàn)時(shí)不合格批均斷定為退貨,但在選別型抽樣計(jì)劃中規(guī)定凡被判不合格批則全數(shù)剔選,且將不良品以良品補(bǔ)足而以允收,此種抽樣方式在長(zhǎng)期連續(xù)幾批抽驗(yàn)後,允收批的品質(zhì)將比原作業(yè)平質(zhì)為佳,如此可保證驗(yàn)收批的平均品質(zhì),僅適用於非破壞性檢驗(yàn)。3.調(diào)整型抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 調(diào)整型抽樣計(jì)劃規(guī)定,依過去檢驗(yàn)結(jié)果,假設(shè)送驗(yàn)批品質(zhì)良好即減少檢驗(yàn)樣本,反之則添加樣本或減少合格斷定數(shù)(加嚴(yán)檢驗(yàn)) 。此方法須有連續(xù)批送驗(yàn)時(shí)方可應(yīng)用。 (單獨(dú)批無法調(diào)整其檢驗(yàn)量)。 cnshu 擁有龐大的管理資料庫抽樣檢驗(yàn)的方式單次抽

7、樣方式: 從批量N中隨機(jī)抽取含n個(gè)之樣本,如發(fā)現(xiàn)樣本中有c個(gè)或c個(gè)以下不良品時(shí),則判斷該批產(chǎn)品為合格。這種只抽驗(yàn)一次就可判斷一批產(chǎn)品合格與否的檢驗(yàn)方式稱為單次檢驗(yàn)方式。雙次抽樣方式: 從批量N中隨機(jī)抽取第一次樣本n1件,其中不良品數(shù)為d1,則:d1c1時(shí),判斷該產(chǎn)品為合格d1r1時(shí),判斷該產(chǎn)品為不合格r1表拒收斷定數(shù)c1d1r1時(shí)作第二次抽樣第二次抽取樣本n2件,其中不良品數(shù)為d2,則:d1d2c2時(shí),判斷該產(chǎn)品為合格d1d2c2時(shí),判斷該產(chǎn)品為不合格r1c2或r1c2或是檢驗(yàn)方式不同而定多次抽樣檢驗(yàn)方式:cnshu 擁有龐大的管理資料庫抽樣檢驗(yàn)的方式單次、雙次、多次抽樣檢驗(yàn)之優(yōu)劣點(diǎn)比較: 項(xiàng)

8、目單次雙次多次對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)的保證幾乎一樣對(duì)供應(yīng)者心思上的影響 最差 中間 最好總檢驗(yàn)費(fèi)用 最少 中間 最多行政費(fèi)用含訓(xùn)練、人員、記錄及抽樣等 最少 中間 最多檢驗(yàn)負(fù)荷的變異性 不變 變動(dòng) 變動(dòng)對(duì)每批製品品質(zhì)估計(jì)之準(zhǔn)確性 最差 中間 最好對(duì)製程平均數(shù)估計(jì)之決策速度 最快 較慢 最慢對(duì)檢驗(yàn)人員及設(shè)備之運(yùn)用率 最正確 較差 較差cnshu 擁有龐大的管理資料庫MIL-STD-105E樣本代碼表電 性 採 用外 觀 採 用從左向右,樣本愈來愈大cnshu 擁有龐大的管理資料庫MIL-STD-105E抽樣方案表外觀電性從左向右,要求愈來愈嚴(yán)!MIL-STD-105E之轉(zhuǎn)換程序 正常檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí):當(dāng)

9、實(shí)行正常檢驗(yàn)時(shí),如原來檢驗(yàn)之連續(xù)2、3、4或5批中有2批被拒收,即可改用加嚴(yán)檢驗(yàn)。l 加嚴(yán)檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成正常檢驗(yàn)時(shí):當(dāng)實(shí)施加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí),如原來檢驗(yàn)之連續(xù)5批中被允收時(shí),即可開始改用正常檢驗(yàn)。l 正常檢驗(yàn)改用減量檢驗(yàn)時(shí):正常檢驗(yàn)之前10批,在正常檢驗(yàn)時(shí)均已被允收,而且這10批中其不良品或缺點(diǎn)之總數(shù),等於或小於抽樣表所列之?dāng)?shù)目者。l 減量檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成正常檢驗(yàn):當(dāng)施行減量檢驗(yàn)時(shí),如在原來檢驗(yàn)中有一批被拒收,及改為正常檢驗(yàn)。l 檢驗(yàn)的終止:在原來加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí),假設(shè)沒有允收的連續(xù)批數(shù),累積到5批,則本標(biāo)準(zhǔn)之允收程序即告終止。直到採取矯正措施後,才干恢復(fù)檢驗(yàn)。例 知N=150,允收水準(zhǔn)AQL=4.0不良率,普通檢驗(yàn)

10、水準(zhǔn)。求在多次、雙次、單次抽樣計(jì)劃下必須的平均抽樣檢驗(yàn)數(shù)量。& 查附表,得代字F。單次抽樣查出樣本大小n=20,允收數(shù)Ac=2,拒收數(shù)Rc=3雙次抽樣查出樣本大小n1=13,Ac1=0,Rc1=3;n2=13,Ac2=3,Rc2=4多次抽樣略最多七次cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 1.目的 2. 適用範(fàn)圍 3. 定義 4. 參考資料 5. 權(quán)責(zé)單位及職責(zé) 6. 作業(yè)內(nèi)容 7. 作業(yè)流程圖 8. 附件品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 1、目的 建立公司品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn),為相關(guān)單位、人員提供作業(yè)指南,確保產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)切實(shí)有效地執(zhí)行。2、適用範(fàn)圍2.1 本標(biāo)準(zhǔn)適用於公司內(nèi)一切物料、半廢品、廢品檢驗(yàn)。2.1.1當(dāng)客戶有

11、特別要求時(shí),則遵照客戶要求作業(yè); 當(dāng)客戶未作特別 要求時(shí),本標(biāo)準(zhǔn)即作為公司之通用 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。2.1.2 當(dāng)缺失無法用文字表達(dá)清楚時(shí),可製作界限樣本及參照?qǐng)?zhí)行。cnshu 擁有龐大的管理資料庫cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 3、定義3.1 嚴(yán)重缺點(diǎn): 凡是有危害制品運(yùn)用者或攜帶者的生命或平安之缺點(diǎn)。3.2 主要缺點(diǎn): 制品單位的運(yùn)用性能不能達(dá)到所期望之目的,或顯著的減低其實(shí)用性質(zhì)的缺點(diǎn)。3.3 次要缺點(diǎn): 不影響制品的運(yùn)用目的之缺點(diǎn),如: 視覺上存在瑕玼。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 4、參考資料4.1【檢驗(yàn)與測(cè)試作業(yè)程序】QP-QT-01。 4.2【不合格品控制造業(yè)程序】QP-QT-03。

12、4.3【MIL -STD-105E抽樣計(jì)劃】WI-QT-021。4.4 品質(zhì)記錄總覽表。4.5 產(chǎn)品規(guī)格書、零組件承認(rèn)書、SIP、SOP。5、權(quán)責(zé)單位及職責(zé)5.1 品質(zhì)單位制定本標(biāo)準(zhǔn)。5.2 品質(zhì)主管核準(zhǔn)及督導(dǎo)執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)。 5.3 文管單位進(jìn)行編號(hào)、受控發(fā)行本標(biāo)準(zhǔn)。5.4 檢驗(yàn)單位負(fù)責(zé)執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 6、作業(yè)內(nèi)容 作業(yè)內(nèi)容 6.1抽樣檢驗(yàn)及斷定 6.1.1 進(jìn)料檢驗(yàn)及斷定外觀:采用MIL-STD-105E LEVELAQL0.65%單次抽樣計(jì)劃之 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及斷定尺寸:采用MIL-STD-105E LEVEL S-3 AQL0.25%單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)

13、行檢驗(yàn)及斷定電性:采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 AQL0.25%單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢驗(yàn)及斷定破壞性試驗(yàn):采用10 pcs /批進(jìn)行抽樣檢驗(yàn),Ac=0 cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 6.1.2 製程檢驗(yàn)及斷定.外觀:100%全檢 Ac=0 Re=1 執(zhí)行.尺寸:采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 AQL0.25%單次抽樣計(jì)劃之標(biāo) 準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及斷定電性:依【廢品測(cè)試項(xiàng)目及抽樣標(biāo)準(zhǔn)】WI-EA-238 進(jìn)行抽樣檢驗(yàn), Ac=0 Re=1 進(jìn)行斷定 6.1.3 出貨檢驗(yàn)及斷定

14、外觀:采用MIL-STD-105E LEVEL Ac=0 Re=1單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及斷定尺寸:采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 Ac=0 Re=1單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及斷定電性:采用MIL-STD-105E LEVEL S-4 Ac=0 Re=1單次抽樣計(jì)劃之標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及斷定破壞性試驗(yàn):采用5 pcs /批,Ac=0 Re=1進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)及斷定品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 6.2 檢驗(yàn)狀態(tài)標(biāo)示 檢驗(yàn)前、中、後須作好狀態(tài)標(biāo)示及隔離平安放置。6.3 檢驗(yàn)記錄填6.3.1 檢驗(yàn)人員按照相關(guān)文件進(jìn)行外觀、尺寸、電性、

15、破壞性試驗(yàn) 等檢 驗(yàn)或進(jìn)行實(shí)際裝配後,須將檢驗(yàn)結(jié)果填寫在相應(yīng)表單上(參閱【檢驗(yàn)與測(cè)試作業(yè)程序】QP-QT-01)。 外觀檢驗(yàn)時(shí),在表單之外觀檢查項(xiàng)目欄中填寫檢驗(yàn)內(nèi)容和數(shù)量 尺寸電性破壞性試驗(yàn)等檢測(cè)時(shí),假設(shè)無不良各任選10pcs測(cè)試數(shù)據(jù)填寫在表單之相應(yīng)欄位中,當(dāng)有不良且不良個(gè)數(shù)小于或等于10pcs時(shí),將不良數(shù)據(jù)全數(shù)填于表單之相應(yīng)欄位中,當(dāng)不良個(gè)數(shù)大10pcs時(shí),則選10pcs數(shù)值偏向較大的填于表單之相應(yīng)欄位中,并在表單之相應(yīng)項(xiàng)目欄中填寫不良內(nèi)容和數(shù)量 cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 6.4 檢驗(yàn)記錄簽核 檢驗(yàn)記錄在填寫完成后交上級(jí)主管簽核,在檢驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)

16、有異常狀況 時(shí),其簽核須參照【不合格品控制造業(yè)程序】QP-QT-03執(zhí)行。6.5 檢驗(yàn)記錄管理 檢驗(yàn)記錄須作好標(biāo)識(shí)、儲(chǔ)存、保護(hù),并在超過保管期限進(jìn)行處理,檢驗(yàn)記錄之保管期限參照品質(zhì)記錄總覽表。6.6 不良斷定標(biāo)6.6.1 原物料方面(詳見附件一)6.6.2 半廢品及廢品方面(詳見附件二) 7、作業(yè)流程圖 : 無品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8、附件 :8.1 不良斷定標(biāo)準(zhǔn)之附件一: 原物料方面8.1.1磁棒 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣物理性能不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形等嚴(yán)重不良。 主要缺點(diǎn):.1外表有

17、影響產(chǎn)品生產(chǎn)、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)或附雜質(zhì);.2崩口:6或以下的超過0.3 mm;6以上的超過0.5 mm;.3崩口深度:6或以下的超過0.2 mm;6以上的超過0.3 mm;.4崩口個(gè)數(shù)超過1個(gè), 非兩端面有崩口。 次要缺點(diǎn):.1磁棒外表有斑痕髒污等外觀不良。 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8.1.2 RH磁芯嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣、物理性能不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數(shù)不符、孔堵塞等嚴(yán)重不良。主要缺點(diǎn):.1外表有影響產(chǎn)

18、品生產(chǎn)、裝配燒結(jié)不良點(diǎn)、沙孔或附雜質(zhì);.2崩口尺寸超過1.0 mm,或線孔處崩口延至外邊緣;.3崩口深度超過0.5mm;.4崩口個(gè)數(shù)超過1個(gè)。次要缺點(diǎn):.1外表斑痕髒污等外觀不良。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8.1.3 磁環(huán)嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣、物理性能不合格;.2塗層附著性不合格;.3規(guī)格尺寸不合格;.4斷裂、裂縫、破損、變形、露鐵芯、涂裝翻翹等嚴(yán)重不良;.5涂裝顏色不符合要求。 主要缺點(diǎn):.1未塗裝品有影響產(chǎn)品生產(chǎn)、裝配之燒結(jié)

19、不良、外表沙孔或附雜質(zhì);.2崩口 未塗裝品外外表崩口尺寸: T30或以下規(guī)格超過0.5 mm,T30至T50規(guī)格超 過0.8 mm,T50至T90規(guī)格超過1.2mm,T90或以上規(guī)格超過1.5mm;.3崩口 未塗裝品內(nèi)外表崩口尺寸:T50或以下規(guī)格超過1.0 mm,T50至T90規(guī)格超過1.5mm,T90或以上規(guī)格超過2.0mm; cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .4未塗裝品崩口深度超過0.5mm;.5未塗裝品崩口個(gè)數(shù)超過1個(gè);.6已塗裝品有影響產(chǎn)品生產(chǎn)、裝配之外表脫漆、毛刺等塗裝不良;.7已塗裝

20、品外表有凹痕: T50或以下規(guī)格超過1.2 mm,T50至T90規(guī)格超過2.0mm,T90或以上規(guī)格超過2.5mm;.8已塗裝品凹痕深度超過0.3mm;.9已塗裝品凹痕個(gè)數(shù)超過1個(gè);.10磁環(huán)塗裝品經(jīng)過含浸試驗(yàn)后達(dá)不到要求。 次要缺點(diǎn):.1已塗裝品同一批來料色澤不一;.2外表有斑痕髒污等外觀不良。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8.1.4 DR、SCH、BF、BL磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣、物理性能不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3斷裂、裂縫、破損、變形、缺腳、反腳、腳鬆等嚴(yán)重

21、不良; 主要缺點(diǎn):.1外表有影響產(chǎn)品生產(chǎn)、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)、沙孔或附雜質(zhì);.2崩口 外外表: 6或以下的超過0.8 mm;6以上的超過1.2 mm;內(nèi)外表: 6或以下的超過1.0 mm;6以上的超過1.5 mm;.3崩口深度:6或以下的超過0.3 mm;6以上的超過0.5mm;.4崩口個(gè)數(shù)超過1個(gè);.5 磁芯外表凹痕(塗裝良好): 6或以下的超過1.0 mm;6以上的超過1.5 mm;.6磁芯外表凹痕深度(塗裝良好):6或以下的超過0.3 mm;6以上的超過0.5mm;cnshu 擁有龐大的管理資

22、料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .7外表凹痕個(gè)數(shù)超過 1個(gè);.8針腳或貼片氧化發(fā)黑或上錫不良、針腳基部嚴(yán)重彎曲等; .9引腳封膠面低於接腳口平面,或6(或以下的)有孔徑、深度超過0.3mm之氣孔,或6以上的有孔徑、深度超過0.5mm之氣孔; .10附針腳的磁芯針腳拉力達(dá)不到資料承認(rèn)書要求; .11可焊性達(dá)不到資料承認(rèn)書要求 ; .12 DR涂裝品外表成毛刺,雜質(zhì) ; .13涂層不均勻,掉漆 ; .14接腳處少膠(膠低於接腳處平面) ;.15接腳處多膠(膠高度大於本身引腳線徑).8.1

23、.4.3 次要缺點(diǎn):.1磁芯有髒污或引腳鍍層有黑點(diǎn),有色斑,引腳彎曲等外觀不良。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8.1.5.磁套嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣.,物理性能不合格: .2規(guī)格尺寸不合格:.3斷裂,裂縫,破損,變形等嚴(yán)重不良:.主要缺點(diǎn):.1外表有影響產(chǎn)品生產(chǎn),裝配之燒結(jié)不良點(diǎn),沙孔或附雜質(zhì);.2崩口: 外外表: 10或以下的超過0.3 mm;10以上的超過0.4 mm; 內(nèi)外表: 10或以下的超過0.4 mm;10以上的超過0.5 mm.3崩口深度超過0.2mm; .4崩

24、口個(gè)數(shù)超過1個(gè);.5已塗裝品外表有凹痕: 外外表: 10或以下的超過0.4 mm;10以上的超過0.5 mm; 內(nèi)外表: 10或以下的超過0.5 mm;10以上的超過0.8 mm ;.6已塗裝品凹痕深度超過0.3mm; cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .7已塗裝品凹痕個(gè)數(shù)超過1個(gè);.次要缺點(diǎn);.1磁套有髒污或有色斑等外觀不良.8.1.6 SD等鍍銀品 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣、物理性能不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3斷裂、裂縫、破損、變形等嚴(yán)重不良;8.1.6.

25、2 主要缺點(diǎn):.1外表有影響產(chǎn)品生產(chǎn)、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)、沙孔或附雜質(zhì);.2崩口: 外外表: 6或以下的超過0.3 mm;6以上的超過0.5 mm;內(nèi)外表: 6或以下的超過0.5 mm;6以上的超過0.8 mm;.3崩口深度:6或以下的超過0.2 mm;6以上的超過0.3 mm;.4總崩口個(gè)數(shù)超過1個(gè);品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .5銀面平整度不良 (產(chǎn)品焊錫點(diǎn)或面離開程度面的最大距離大於0.10mm);.6銀面擴(kuò)散超過電極分隔區(qū)之1/4;.7銀面偏移至中心電極分隔區(qū): 超過電極分隔區(qū)之1/5;.8

26、銀面偏離中心電極分隔區(qū):超過電極分隔區(qū)之1/5;.9銀面垂流:超越其所在位置厚度之1/2;.10銀面剝落磨損和發(fā)黑等超過其所在面凸處接觸面積的10%;.11銀面焊錫後未達(dá)95%可靠上錫。.12磁芯本體電鍍面方向錯(cuò)誤 次要缺點(diǎn):.1來料附髒污或鍍銀面有小黑點(diǎn)小色斑等外觀不良。8.1.7 SC、ST磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣、物理性能不合格; 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .2規(guī)格尺寸不合格;.3斷裂、裂縫、變形、生銹、接觸面帶刺、涂裝脫落等嚴(yán)重不良。 主要缺點(diǎn):

27、.1外表有影響產(chǎn)品生產(chǎn)、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)、沙孔或附雜質(zhì);.2崩口:外外表 尺寸超過0.5mm, 內(nèi)外表 尺寸超過0.8mm ;.3崩口深度超過0.3mm;.4磁芯崩口超過1個(gè);.5已塗裝品外表有凹痕: 外外表 尺寸超過0.8mm, 內(nèi)外表 尺寸超過1.0mm ;.6已塗裝品凹痕深度超過0.3mm;.7已塗裝品凹痕個(gè)數(shù)超過1個(gè);.8磁環(huán)塗裝品經(jīng)過含浸試驗(yàn)后達(dá)不到要求。.9涂裝位露鐵芯或涂層附有超過0.2mm異物或毛刺;.10涂裝位有( 0.5mm以上 )冒油

28、、起泡等。cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 次要缺點(diǎn):.1來料涂裝色澤不一;.2來料附髒污或色斑等外觀不良。8.1.8 TR磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1電氣、物理性能不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3斷裂、裂縫、破損、變形、毛邊等嚴(yán)重不良。 主要缺點(diǎn):.1外表有影響產(chǎn)品生產(chǎn)、裝配之繞結(jié)不良或附雜質(zhì);.2單個(gè)接觸面上崩口尺寸超過1.0mm;.3接觸面上總崩口尺寸超過1.5 mm,或崩口個(gè)數(shù)超過2個(gè);.4單個(gè)非接觸面上崩口尺寸超

29、過1.5 mm,或崩口個(gè)數(shù)超過1個(gè);.5非接觸面上總崩口尺寸超過2 mm,或單方向崩口個(gè)數(shù)超過2個(gè); 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .6崩口深度超過0.5mm;.7整個(gè)磁芯崩口個(gè)數(shù)超過4個(gè);.8磁芯內(nèi)外表有影響裝配或超過所在面25%之漆模。 次要缺點(diǎn):.1磁芯外表銹斑或其它有色斑痕髒污等外觀不良。8.1.9支架、基座、外殼等塑膠件 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1物理性能不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3斷裂、破損、刮傷、壓傷、變形、缺腳、毛邊、腳位不符等嚴(yán)重不良; 主要缺點(diǎn):

30、.1繞線區(qū)有凹痕、沙孔等;.2外表縮水尺寸超過0.1mm;縮水處超過三個(gè);水口尺寸大於0.2mm;掛線柱缺損等; .3針腳氧化發(fā)黑或針腳基部彎曲等;cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .4 BASE(支架,基座)的拉力達(dá)不資料承認(rèn)要求;.5 BASE(支架,基座)的可焊性不良(須上錫均勻、外表光潔、可靠上錫面積達(dá)90%以上等)。.6 SMD BASE可焊性檢測(cè)依WI-QT-0.3 次要缺點(diǎn);.1外表有毛刺或切口不平整等;.2外表有黑點(diǎn)斑痕髒污等外觀不良。8.

31、1.10繞組隔板嚴(yán)重缺點(diǎn):.1材質(zhì)不合格;.2規(guī)格尺寸不在合格;主要缺點(diǎn):.1缺角、周圍切割不平;品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 次要缺點(diǎn):.1外表有黑點(diǎn)斑痕髒污等外觀不良。8.1.11 漆包線(圓形) 嚴(yán)重缺點(diǎn).1性能:【針孔測(cè)試】WI-QT-017 【耐壓測(cè)試】WI-QT-018 、【卷繞試驗(yàn)】WI-QT-019、【可焊性檢測(cè)】WI-QT-016等不合格;.2規(guī)格尺寸不合格。 主要缺點(diǎn):.1顏色不符合要求,線軸破損;8

32、.線徑不均勻有凹痕或漆皮有粒子缺陷排線亂或線頭被卡死變色刮傷露底色;.3多股線絞合不良或陳列線排線錯(cuò)位等。 次要缺點(diǎn):.1線扭結(jié)或外表有麻皮黑點(diǎn)斑痕等有色斑痕;品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .2線皮上附灰塵髒污等外觀不良。8.1.12漆包線(扁平)嚴(yán)重缺點(diǎn):.1性能不合格.2規(guī)格尺寸不合格.主要缺點(diǎn):.1線徑不均或有毛刺及披鋒現(xiàn)象;.2線外表漆層不均勻有凹痕或漆皮有粒子缺點(diǎn).線圈不緊密,刮傷,露底色;.3顏色不符合要求;

33、.次要缺點(diǎn):.1線扭結(jié)或外表有麻皮黑點(diǎn)斑痕等有色斑痕;.2線圈外表附灰塵,髒污,有斑痕.8.1.13鍍錫線嚴(yán)重缺點(diǎn):品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .1性能尺寸不合格;主要缺點(diǎn):.1外表刮傷.露銅,焊錫脫落,氧化發(fā)黑,外表錫粒;.2線徑不均;.3焊錫性不良(檢測(cè)依資料承認(rèn)書). .次要缺點(diǎn):.1線扭結(jié)或外表有黑點(diǎn)斑痕等有色斑痕;.2線皮上附灰塵髒污等外觀不良。8.1.14絕緣膠帶 嚴(yán)重缺點(diǎn):

34、.1粘度試驗(yàn)不良;.2規(guī)格尺寸不合格;.3型號(hào)顏色等不符合要求; 主要缺點(diǎn):品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .1脫膠、膠層分別刮痕邊緣毛邊等不良。 次要缺點(diǎn):.1外表不平整色澤不一致有折皺灰塵污物等外觀不良。8.1.15套管 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1性能、規(guī)格尺寸不合格;.2型號(hào)顏色等不符合要求。 主要缺點(diǎn):.1有糊膠開裂刮痕或針孔切口斜或毛邊等不良。 次要缺點(diǎn):.1色澤不一致有折皺灰塵污物等外觀不良。8.1.15.

35、3.2印字的套管, 有字跡不明晰歪斜現(xiàn)象。8.1.16五金件 嚴(yán)重缺點(diǎn):品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .1型號(hào)材質(zhì)不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3剪切不良變形氧化發(fā)黑&生銹鍍層脫落或露底色等。 主要缺點(diǎn):.1可焊性不良;.2外表刮痕披鋒裂紋。 次要缺點(diǎn):.1外表不光潔色澤不一致有灰塵或污物等外觀不良。8.1.17包裝資料 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1型號(hào)材質(zhì)不合格;.2規(guī)格尺寸不合格;.3絲印不正確。

36、主要缺點(diǎn)品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .1變形、破損、皺折等;.2 絲印斷筆、不明晰、潮濕等。 次要缺點(diǎn):.1異物附著、灰塵污物及刻畫等現(xiàn)象。8.1.18 麥頭、標(biāo)簽、貼紙 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1 材質(zhì)、規(guī)格尺寸。 主要缺點(diǎn):.1顏色、內(nèi)容不符。 次要缺點(diǎn):.1 絲印斷筆、不明晰、異物灰塵污物附著。8.1.19化學(xué)品 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1 型號(hào)不符或已失效。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 主要缺點(diǎn):.1 包裝損壞或密封

37、不良好。 次要缺點(diǎn):.1 標(biāo)示不良(不明晰、損壞、不全)。8.1.20 焊料 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1 型號(hào)不符。 主要缺點(diǎn):.1本體中含異物或殘?jiān)^多。 次要缺點(diǎn):.1 外表異物、殘?jiān)街?。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8.2 不良斷定標(biāo)準(zhǔn)之附件二: 半廢品及廢品方面8.2.1 AP、APB、APU系列 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1 電氣、物理性能不符要求;.2 繞線方向錯(cuò); 固定圈數(shù)產(chǎn)品圈數(shù)錯(cuò);.3 產(chǎn)品進(jìn)出引線相碰(臥式產(chǎn)品漆包膜完好無缺除外)

38、,相位錯(cuò)。 主要缺點(diǎn):.1 機(jī)械尺寸(角度)不在規(guī)格內(nèi)..2 鐵芯、底座本體斷裂,裂縫;.3 鐵芯掉漆1處; .4 鐵芯外表有凹痕: T30或以下規(guī)格超過0.5 mm,T30至T50規(guī)格超過1.2 mm, T50至T90規(guī)格超過2.0mm,T90或以上規(guī)格超過2.5mm;.5 鐵芯凹痕深度超過0.3mm,或凹痕個(gè)數(shù)超過1處;.6 線傷、爆皮位於磁環(huán)內(nèi)圈進(jìn)出引腳上或匝間碰接處; 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .7 線傷、爆皮尺寸超本身線徑1半,并已氧化發(fā)黑;.8 產(chǎn)品2根相鄰繞線爆皮;8

39、.產(chǎn)品上有錫渣或錫珠;.10 冷焊、漏焊、焊錫不全;.11對(duì)點(diǎn)膠產(chǎn)品,出現(xiàn)膠少膠多,膠不干現(xiàn)象; .12 標(biāo)記顏色或標(biāo)簽內(nèi)容、位置、方向等不符合承認(rèn)書要求;.13加底座之產(chǎn)品,線圈未貼平底座,歪斜超過底座的尺寸範(fàn)圍;.14 繞腳高度超出引腳定位面;.15 錫位與承認(rèn)書要求不符;.16 引腳刮傷至露銅;.17 引腳漆包膜部份間隙有錫;.18引腳拉力強(qiáng)度不良(不能滿足資料承認(rèn)要求)。.19 AP臥式產(chǎn)品插入模具後出現(xiàn)一邊起翹.cnshu 擁有龐大

40、的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 次要缺點(diǎn).1 引腳不平行(插入量具後,量具面與磁芯面不貼);.2 剝漆粗糙、引腳氧化、發(fā)黑、黃斑、黑點(diǎn)、少錫、PIN歪斜;.3 線圈與磁芯間隙超過一根本身線;.4 單層繞線產(chǎn)品外圈線交叉或重疊;.5 多圈產(chǎn)品外圈交叉或引腳處交叉或引出線有壓痕現(xiàn)象; .6 引腳明顯長(zhǎng)短不一(產(chǎn)品SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí)) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 1.0mm以上,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/4或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.71.0mm之間,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/3

41、或 以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差為 0.6mm ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/2或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.6mm 以下,則引腳長(zhǎng)度差不需作控制;.7 繞線上或剝漆接口處漆皮剝鬆發(fā)黑嚴(yán)重;.8 繞腳圈數(shù)不符:0.25mm以下線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於2TS; 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 0.25mm0.45mm線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於1.5TS; 0.45mm以上線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於1TS;.9 繞腳方向錯(cuò)或留尾;.10 套管過長(zhǎng)或過短,明顯歪斜、偏離、毛邊或收縮不緊; .11 標(biāo)記不明晰、偏斜或易脫落; .12 包膠

42、帶圈數(shù)不正確,接口鬆脫,毛邊; .13 底座燙傷、變形.崩口;.14 立式多線並繞產(chǎn)品,引腳從外磁芯面至內(nèi)徑方向2/3處內(nèi)有開裂現(xiàn)象;臥式多線 并繞產(chǎn)品,引腳從磁芯底面至磁芯頂部方向2/3處內(nèi)有開裂現(xiàn)象,引腳端面開裂深度超過1mm;.15 繞線分布不良,引出線錯(cuò)位(兩引腳在同一平面上的投影須有重疊部分);.16 裝配不良(磁芯繞線與基座偏位或傾斜,引線按規(guī)定位置引出等)。8.2.2 DR、DRU系列 嚴(yán)重缺點(diǎn): cnshu 擁有龐大的管理資料庫品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .1 電氣、物理性能不符要求;.2 繞線

43、方向錯(cuò);斷線;.3 繞腳相位錯(cuò)。 主要缺點(diǎn):.1 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi);.2 磁芯斷裂、裂縫;.3 崩口: 6或以下的超過1.0 mm;6以上的超過1.5 mm;.4 崩口深度: 6或以下的超過0.3 mm;6以上的超過0.5mm;.5 總崩口個(gè)數(shù)超過2個(gè);.6 焊錫過深(引腳錫位超過CORE下擺的1/2);.7 漏焊、冷焊、起結(jié);.8 線傷、爆皮尺寸超本身線徑1半,并已氧化發(fā)黑; .9 裝配不良(如2DRUC的產(chǎn)品,組裝後會(huì)出現(xiàn)線圈與基座鬆脫

44、);品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .10 針腳易鬆動(dòng)或脫落(用繞線線徑做引腳的產(chǎn)品不需做拉力試驗(yàn)) 2mmCORE之引腳拉力1.0公斤; 2mm3mm CORE之引腳拉力1.5公斤; 3mm6mm CORE之引腳拉力6mm 以上CORE之引腳拉力 2.5公斤..11 標(biāo)記顏色或標(biāo)簽內(nèi)容、位置、方向等不符合承認(rèn)書要求;.12 套管材質(zhì)不良;.13 產(chǎn)品錫珠或錫渣附著。 次要缺點(diǎn):.1 接腳處氣孔大小超過0.5mm;氣孔處可看見鐵芯本體;.2 0.25mm以下線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於2TS; 0.25mm0.45mm線

45、徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於1.5TS; 0.45mm以上線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於1TS..3 繞腳方向錯(cuò)或留尾線頭;品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .4引腳明顯長(zhǎng)短不一(產(chǎn)品SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí)) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 1.0mm 以上,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/4或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/3或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差為 0.6mm ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/2或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.6mm 以下,則引腳長(zhǎng)度差不需作控制;.5 線圈陳列不均勻,線打折;.6 引腳氧

46、化、發(fā)黑、焊錫粗糙、黃斑、黑點(diǎn)、包漆過長(zhǎng);.7 套管過長(zhǎng)或過短,明顯歪斜、偏離、毛邊或收縮不緊;.8 引腳歪斜(插入冶具後產(chǎn)品定位點(diǎn)不能接觸對(duì)應(yīng)冶具面);.9 標(biāo)記不明晰、偏斜或易膠落;.10 線徑0.25mm之產(chǎn)品套管未包住磁芯端面處引出線;.11產(chǎn)品外表有異物附著.品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8.2.3 AK、AKU系列 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1 電氣、物理性能不符要求;.2 繞線方向錯(cuò); 圈數(shù)錯(cuò). 主要缺點(diǎn):.1 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi);.2 鐵芯斷裂或裂縫或線圈

47、鬆動(dòng);.3 單個(gè)崩口:6或以下的超過0.8 mm;6以上的超過1.5 mm;.4 多個(gè)崩口:6或以下的超過0.5 mm;6以上的超過1.0 mm;.5 崩口深度:6或以下的超過0.3 mm;6以上的超過0.5 mm;.6 崩口總個(gè)數(shù)超過2個(gè)。.7 錫珠、錫渣附著;.8 漏焊或焊錫不全; 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .9 產(chǎn)品線傷、爆皮尺寸:1.0mm或以下線傷、爆皮尺寸超過0.3mm,1.0mm以上線 傷、爆皮尺寸超過0.5mm;線傷超過2處或2處線傷相碰;.10 剝漆處漆包殘留或銅線剝傷; 8.

48、1 標(biāo)記顏色或標(biāo)簽內(nèi)容、位置、方向等不符合承認(rèn)書要求; .12 貼片類產(chǎn)品平整度尺寸超過0.1mm(特殊產(chǎn)品除外);.13 角度不符合要求; .14 引腳錫位不符合規(guī)格要求;.15 線圈兩端點(diǎn)膠太少(小於本身線徑的1/2); 次要缺點(diǎn):.1 線圈交叉重疊;.2 線圈間隙超過本身線徑的1/4;.3 線圈,磁芯端面或引腳上附膠或附異物;.4引腳明顯長(zhǎng)短不一(產(chǎn)品SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí)) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 1.0mm 以上,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差

49、的1/4或以內(nèi); 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/3或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差為 0.6mm ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/2或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.6mm 以下,則引腳長(zhǎng)度差不需作控制;.5 點(diǎn)膠不均勻,多膠(大於本身線徑的外側(cè));.6 引腳彎曲; 引腳鬆動(dòng);引腳明顯不平行;.7 線圈兩端顯露鐵芯目視明顯不均等;.8 剝漆處明顯凹凸不平;.9 引腳氧化、發(fā)黑、黃斑、黑點(diǎn);.10 套管明顯歪斜、偏離、毛邊或收縮不緊;

50、.11 標(biāo)記不明晰、偏斜或易脫落;.12 線圈末端一圈有凸起現(xiàn)象,使整個(gè)線圈不平整.8.2.4 AM系列嚴(yán)重缺點(diǎn):品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .1電氣、物理性能不符要求;.2 繞線方向錯(cuò)、圈數(shù)錯(cuò)。 主要缺點(diǎn):.1 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi);.2 單個(gè)崩口:崩口尺寸超過1.0 mm,或線孔處崩口延至外邊緣;.3 多個(gè)崩口:崩口尺寸超過0.5 mm;.4 外外表有2 個(gè)以上崩口;.5 崩口深度超過0.5mm;.6 總崩口個(gè)數(shù)超過3個(gè)。.7 點(diǎn)膠位置錯(cuò);

51、 次要缺點(diǎn):.1 引腳氧化、黑點(diǎn);.2 線傷尺寸超過本身線徑的一半,并已氧化發(fā)黑;.3 引腳彎曲;品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .4 多膠或少膠致線圈鬆動(dòng),零散膠附著;.5 底座明顯歪斜,異物附著、粗糙、毛邊;.6引腳明顯長(zhǎng)短不一(產(chǎn)品SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí)) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 1.0mm 以上,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/4或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/3或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差為 0.6mm ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/2

52、或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.6mm 以下,則引腳長(zhǎng)度差不需作控制;8.2.5 TR系列 嚴(yán)重缺點(diǎn):.1 電氣、物理性能不符要求;.2 斷線、配線錯(cuò)、圈數(shù)錯(cuò)、繞腳方向、相位錯(cuò)。 主要缺點(diǎn):.1 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi);品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .2 磁芯斷裂、裂縫、影響裝配之變形;.3 鐵芯配套錯(cuò)位面積超過相應(yīng)接觸面的5%;.4 單個(gè)接觸面上崩口尺寸超過1.0mm;.5 接觸面上總崩口尺寸超過1.5 mm,或崩口個(gè)數(shù)超過2個(gè);.6 單個(gè)非接觸面上崩口尺寸超過1.5 m

53、m,或崩口個(gè)數(shù)超過1個(gè);.7 非接觸面上總崩口尺寸超過2 mm,或單方向崩口個(gè)數(shù)超過2個(gè);.8 崩口深度超過0.5mm;.9 整個(gè)磁芯崩口個(gè)數(shù)超過4個(gè);.10 焊錫最高處接觸線圈;.11 底座、線圈燙傷、錫珠、錫渣附著;.12 漏焊或冷焊或針腳端面氧化發(fā)黑; .13 膠帶繞圈錯(cuò),隔離膠帶層未完全將線組隔離;.14 針腳露銅、平整度不符;.15 針腳上附油污、易鬆動(dòng)或脫落;品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .16 點(diǎn)膠位置錯(cuò);.17 產(chǎn)品烘烤后磁芯易鬆動(dòng);8.2.

54、5.2.18 針腳易鬆動(dòng)或脫落: 引腳拉力強(qiáng)度不能滿足資料承認(rèn)要求;.19 標(biāo)記顏色或標(biāo)簽內(nèi)容、位置、方向等不符合承認(rèn)書要求. 次要缺點(diǎn):.1 支架底座邊緣切口不平整;.2 引腳焊錫粗糙、氧化發(fā)黑、黃點(diǎn)、黑點(diǎn);.3 膠帶粘貼不到位,合縫不整齊,毛邊,脫色;.4 線鬆、線打折或線圈陳列明顯不均勻;.5 點(diǎn)膠不均勻,多膠或少膠至易脫落或裂縫現(xiàn)象;.6 引腳彎曲或明顯不平行;.7 凡立水濃度不符合規(guī)格書要求,真空含浸后有氣泡產(chǎn)生;.8 異物附著;.

55、9 標(biāo)簽明顯偏斜、毛邊、粗糙或粘合不緊。品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 8.2.6 AS、BC、BS系列 嚴(yán)重缺點(diǎn): .1 電氣、物理性能不符要求;.2 斷線,繞線、繞腳方向錯(cuò)、圈數(shù)錯(cuò); 主要缺點(diǎn):.1 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi);.2 鐵芯本體斷裂,裂縫,脫落;.3 線傷超過本身線徑的一半,并已氧化發(fā)黑;線傷超過2處或線傷2處相碰;.4 BC產(chǎn)品鐵芯未貼平底座或線圈明顯偏離底座中心點(diǎn);.5 基座有破損現(xiàn)象;.6 T30或以下規(guī)格崩口尺寸超過0.5 mm,或崩口2處或以上;8.2.

56、6.2.7 冷焊、漏焊、焊錫缺乏(低於90%上錫面積),焊錫錫位高於底座底部1.0 mm;.8 線圈上有錫珠、錫渣附著;.9 標(biāo)記內(nèi)容、顏色、位置不符合承認(rèn)書要求;品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .10 SMD類型(如:BS系列)產(chǎn)品引腳平整度尺寸超過0.1mm;.11 針腳易鬆動(dòng)或脫落: 引腳拉力強(qiáng)度不能滿足資料承認(rèn)要求;.12 點(diǎn)膠或凡立水不均勻,或多或少現(xiàn)象(如弘電AS的產(chǎn)品). 次要缺點(diǎn):.1 線圈重疊、交叉;.2 引線入底座槽未垂直引出;.3 磁芯掉漆、披鋒;.4

57、 繞腳高腳(繞腳高於基座之定位面)、留尾線頭、交叉、重疊、線鬆,繞腳圈數(shù)不符: 0.25mm以下線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於2TS; 0.25mm0.45mm線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於1.5TS; 0.45mm以上線徑的產(chǎn)品繞腳圈數(shù)少於1TS;.5 引腳等焊錫面不光亮,、粗糙、發(fā)黃、氧化發(fā)黑; .6 基座外表燙傷高度大於1mm,起泡尺寸超過0.3 mm;.7引腳明顯長(zhǎng)短不一(產(chǎn)品SPEC中引腳長(zhǎng)度尺寸一致時(shí))品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 1.0mm 以上,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/4或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.71.0mm 之間,則引腳長(zhǎng)度差

58、須管控在其長(zhǎng)度公差的1/3或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差為 0.6mm ,則引腳長(zhǎng)度差須管控在其長(zhǎng)度公差的1/2或以內(nèi); 產(chǎn)品引腳長(zhǎng)度公差在 0.6mm 以下,則引腳長(zhǎng)度差不需作控制;.8 標(biāo)記不明晰、有氣泡或垂流邊側(cè)、易脫落;.9 異物附著或錫渣附著。8.2.7 SD、SDR、LQ等系列 嚴(yán)重缺點(diǎn): .1 電氣、物理性能不符要求;.2 斷線,繞線、繞腳方向、組合方向錯(cuò)。 主要缺點(diǎn):.1 機(jī)械尺寸不在規(guī)格內(nèi);.2 磁芯斷裂、裂痕;品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .3 冷焊、漏焊、焊錫缺乏(低

59、於90%上錫面積),;或焊錫最高處延伸至繞線區(qū);.4 線傷、爆皮尺寸超過本身徑的一半,并已氧化發(fā)黑;.5 單個(gè)崩口: 6或以下的超過1.0 mm;6以上的超過1.5 mm;.6 多個(gè)崩口: 6或以下的超過0.8 mm;6以上的超過1.2 mm ;.7 單面崩口個(gè)數(shù)超過2個(gè);.8 崩口深度:6或以下的超過0.3 mm;6以上的超過0.5mm;.9 崩口總個(gè)數(shù)超過3個(gè);.10 貼片面平整度超過0.1 mm(特殊以工程規(guī)定為準(zhǔn));.11 傾斜度超過0.3mm;.12 鍍銀品掉

60、銀兩處以上,側(cè)面銀垂流超過厚度的1/2,電極分隔區(qū)銀面擴(kuò)散超過分隔 區(qū)寬度的1/3;.13 白點(diǎn)方向錯(cuò);.14 標(biāo)記內(nèi)容、顏色、位置不符合承認(rèn)書要求;.15 線圈沒有點(diǎn)膠固定(SD43 & SD32除外,線徑小於或等於0.2mm之產(chǎn)品*只針對(duì)WURTH客戶的.); 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) .12. 線圈附錫珠,錫渣; .13 銀面翻翹. 次要缺點(diǎn):.1 線圈陳列不緊密、不均勻、線交叉;.2 引線未貼緊鍍銀面; .3 焊錫面發(fā)黃、氧化、發(fā)黑;.4 鍍銀面頂部接觸面上有

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