1、HAST(Highly Accelerated Temperature andHumidity Stress Test測試技術(shù)規(guī)范 V1.2擬制：審核：批準：日期： 2019-11-12歷史版本記錄版本時間起草/修改人內(nèi)容描述審核人批準人V1.02019-11-12首次發(fā)布V1.12019-12-071、第3章標題勘誤2、“適用范圍”和2.2節(jié) “電壓拉偏”區(qū)分uHAST和 bHASTV1.22020-04-142.2電壓拉偏，輸入輸出管 腳的處理方式刷新適用范圍:該試驗檢查芯片長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗 證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝(塑料

2、封裝)，帶偏置(bHAST)和不帶偏置 (uHAST)的測試。簡介：該試驗通過溫度、濕度、大氣壓力加速條件，評估非密封封裝器件在上電狀態(tài)下，在高 溫、高壓、潮濕環(huán)境中的可靠性。它采用了嚴格的溫度，濕度，大氣壓、電壓條件，該條件 會加速水分滲透到材料內(nèi)部與金屬導(dǎo)體之間的電化學(xué)反應(yīng)。引用文件：下列文件中的條款通過本規(guī)范的引用而成為本規(guī)范的條款。凡是注日期的引用文件，其 隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本規(guī)范，然而，鼓勵根據(jù)本規(guī) 范達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新 版本適用于本規(guī)范。序號參考標準說明1JESD22-A110EHAST

3、測試標準2JESD47I可靠性總體標準3HAST測試流程HAST測試條件溫度、濕度、氣壓、測試時間HAST試驗條件如下表所示:1 eniprature, |dr bulbRelativeHmuidiK1 |%|Temperature1JwHhulk：Vapor Pressure2M1打間叫Duration1 linursl1蝴285 -5124.7230(333)96+27-01102K5i5105.222(I7.7264通常選擇HAST-96,即：130、85%RH、230KPa大氣壓，96hour測試時間。測試過程中，建議調(diào)試階段監(jiān)控芯片殼溫、功耗數(shù)據(jù)推算芯片結(jié)溫，要保證結(jié)溫不能過 高，并

4、在測試過程中定期記錄。結(jié)溫推算方法參考HTOL測試技術(shù)規(guī)范。如果殼溫與環(huán)溫差值或者功耗滿足下表三種關(guān)系時，特別是當殼溫與環(huán)溫差值超過10時，需考慮周期性的電壓拉偏策略。321mild rqHurdirg.Crilcria for chwsing continuous or Qdical bi鴨/ find whether cir ncl to report the .amount by which the die temptratijic ex-c-ccds the rhanibcr iimbienl Icmpcraturc, ure sumaiarizEdl i.n ibe fbllnwin

5、g table:dTjaCycliail Hlhs?Report 9澗?“ T 口 5 七 nr Power peDU T 注意測試起始時間是從環(huán)境條件達到規(guī)定條件后開始計算;結(jié)束時間為開始降溫降壓操 作的時間點。電壓拉偏uHAST測試不帶電壓拉偏，不需要關(guān)注該節(jié)；bHAST需要帶電壓拉偏，遵循以下原則：(1)所有電源上電，電壓：最大推薦操作范圍電壓(Maximum Recommended OperatingConditions)(2)芯片功耗最小(數(shù)字部分不翻轉(zhuǎn)、輸入晶振短接、其他降功耗方法)；(3)輸入管腳在輸入電壓允許范圍內(nèi)拉高。(4)其他管腳，如時鐘端、復(fù)位端、輸出管腳在輸出范圍內(nèi)隨機

6、拉高或者拉低；樣本量h由防 一 Qu油1k前依n 1第歸抽叫帆岷”好I*川:州H立齪StnessRtf.AbbvCoiidE6oiit如 LN、/ SS ptT lolHuntHni lAcrqilMSL Rrecorwlilionm Must be pn jimr聞II AS pnC. AC,slIJLIAS 1H-SD22-Al 13rcPrr appnpi:叱 MSL level per J-STD-DZVEfectriwil Tcsl (op1ioniltHigh Icmpcrature Scoragt1JLD22-A 105 & AII3LLI.LI5D * 高溫、高壓、濕度控制試驗箱一一溫度、濕度、氣壓強度范圍可控，測試時間可控。失效判據(jù) ATE功能篩片有功能失效、性能異常。HAST測試注意事項測試過程要求每天記錄電源電壓、電流、環(huán)境溫度、殼溫(推算結(jié)溫)等關(guān)鍵數(shù)據(jù)。注意芯片內(nèi)部模擬電路是否有上電默認開啟的模塊，這樣的模塊會導(dǎo)致靜態(tài)電流太大， 引起其他機制的失效。調(diào)試過程注意