-.z無損檢測(cè)超聲波試題(UT)一、是非題1.1受迫振動(dòng)的頻率等于策劃力的頻率?！?.2波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播?！痢矐?yīng)該是機(jī)械波〕1.3由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率?！?.4由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波長(zhǎng)等于振幅。×1.5傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高?！?.6材料組織不均勻會(huì)影響聲速，所以對(duì)鑄鐵材料超聲波探傷和測(cè)厚必須注意這一問題?！?.7一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大?！?.8由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K≥l.5的探頭探測(cè)單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢?！?.9超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)?！?.10超聲波的頻率越高，傳播速度越快?！?.11介質(zhì)能傳播橫波和外表波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量?！?.12頻率一樣的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。×1.13既然水波能在水面?zhèn)鞑?，則超聲外表波也能沿液體外表傳播?！?.14因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度?！?.15如材質(zhì)一樣，細(xì)鋼棒(直徑<λ=與鋼鍛件中的聲速一樣?！痢睠細(xì)鋼棒＝〔E/ρ〕?〕1.16在同種固體材料中，縱、橫渡聲速之比為常數(shù)?！?.17水的溫度升高時(shí)，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加?！?.18幾乎所有的液體〔水除外〕，其聲速都隨溫度的升高而減小。√1.19波的疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播。×1.20介質(zhì)中形成駐波時(shí)，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長(zhǎng)?！痢矐?yīng)是λ/4；相鄰兩節(jié)點(diǎn)或波腹間的距離為λ/2〕1.21具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn)。√1.22材料中應(yīng)力會(huì)影響超聲波傳播速度，在拉應(yīng)力時(shí)聲速減小，在壓應(yīng)力時(shí)聲速增大，根據(jù)這一特性，可用超聲波測(cè)量材料的應(yīng)力。√1.23材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大?！痢渤煞幢取?.24平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。×1.25平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量與反射能量之和?！?.26超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)?！?.27對(duì)同一材料而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多?！?.28界面上入射聲束的折射角等于反射角?！?.29當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波形轉(zhuǎn)換?！?.30在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣。√〔Z＝ρ·C〕1.31聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對(duì)材料的聲阻抗無任何影響?！?.32超聲波垂直入射到平界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1。√1.33超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓?！?.34超聲波垂直入射到Z2>Zl的界面時(shí)，聲壓透過率大于1，說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用?！?.35超聲波垂直入射到異質(zhì)界時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等?！?.36超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低?！?.37當(dāng)鋼中的氣隙〔如裂紋〕厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加?！獭猜晧悍瓷渎室搽S頻率增加而增加〕1.38超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于折射角?！?.39超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角。1.40超聲波以10o角入射至水／鋼界面時(shí)，反射角等于10o?！?.41超聲波入射至鋼／水界面時(shí)，第一臨界角約為14.5o。×〔水/鋼界面時(shí)，aⅠ＝14.5o；鋼/水界面不存在第一臨界角一說，因?yàn)闄M波不在水中傳播〕1.42第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。×1.43如果有機(jī)玻璃／鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃／鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者?！痢蹭X的縱波速度>鋼的縱波速度，鋁的橫波速度<鋼的橫波速度〕1.44只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。√1.45橫波斜入射至鋼，空氣界面時(shí)，入射角在30o左右時(shí)，橫波聲壓反射率最低?！?.46超聲波入射到C1<C2的凹曲面時(shí)，其透過波發(fā)散?！痢簿劢埂?.47超聲波入射到C1>C2的凸曲面時(shí)，其透過波集聚?！?.48以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃／水界面為凹曲面?！痢菜劢固筋^就是利用平面波入射到C1>C2的凸曲面上〕1.49介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重?！痢渤煞幢取?.50聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小。×〔衰減大，因?yàn)榫劢固筋^有涉及發(fā)散波〕1.51超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用。×1.52超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。×〔不存在擴(kuò)散衰減〕2.1超聲波頻率越高，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度也就越大?！獭矀€(gè)人感覺答案有錯(cuò)，沒有前提無法比照〕2.2對(duì)同一個(gè)直探頭來說，在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)長(zhǎng)度大。×2.3聚焦探頭的焦距應(yīng)小于近場(chǎng)長(zhǎng)度?！?.4探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越小?！?.5超聲波探傷的實(shí)際聲場(chǎng)中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)?！?.6聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。√2.7超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng)，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)?！?.8因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減，所以檢測(cè)應(yīng)盡可能在其近場(chǎng)區(qū)進(jìn)展?！?.9因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)有多個(gè)聲壓變?yōu)榱愕狞c(diǎn)，所以探傷時(shí)近場(chǎng)區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢?！?.10如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。×2.11面積一樣，頻率一樣的圓晶片和方晶片，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)?！?.12面積一樣，頻率一樣的到晶片和方晶片，其聲束指向角亦一樣。×2.13超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好?！?.14聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束?！?.15聲波輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高?！痢步鼒?chǎng)區(qū)軸線上的聲壓不一定最高〕2.16探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度?！痢矐?yīng)是提高頻率〕2.17超聲場(chǎng)中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的?！痢步鼒?chǎng)區(qū)與遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)各橫截面上聲壓分布不同〕2.18在超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離增加而改變?！?.19斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積?！?.20頻率和晶片尺寸一樣時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好?！?.21圓晶片斜探頭的上指向角小于下指向角?！?.22如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小。√2.23200mm處Φ4長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mm處Φ2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低?！?.24球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔一樣?！?.25同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小?！?.26軸類工件外圓徑向探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面一樣。√2.27對(duì)空心圓柱體在孔探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低。×3.l超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)?！?.2增益l00dB就是信號(hào)強(qiáng)度放大100倍?！痢舱{(diào)節(jié)增益作用是改變接收放大器的放大倍數(shù)〕3.3與鋯鈦酸鉛相比，石英作為壓電材料性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)。×3.4與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高?！?.5使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)圍?！?.6點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高?！?.7雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)?！?.8B型顯示能夠展現(xiàn)工件缺陷的埋藏深度?！?.9C型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長(zhǎng)度和寬度，但不能展現(xiàn)深度?！?.10通用AVG曲線采用的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭?！?.11在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸?！?.12A3.13電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高，靈敏度高?！?.14多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀。×〔應(yīng)是交替工作〕3.15探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路?！痢餐诫娐酚址Q觸發(fā)電路〕3.16探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去鼓勵(lì)探頭晶片振動(dòng)?！?.17探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路?！痢矑呙桦娐酚址Q時(shí)基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條水平掃描時(shí)基線〕3.18探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。×〔改變阻尼是調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度，阻值越大，發(fā)射強(qiáng)度越強(qiáng)，發(fā)射聲能越多，分辨力越小。〕3.19調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)〞旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度?！獭矎亩篃晒馄辽匣夭ㄩg距大幅度地壓縮或擴(kuò)展〕3.20調(diào)節(jié)探傷儀“抑制〞旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)圍越大。×3.21調(diào)節(jié)探傷儀“延遲〞旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。×3.22不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不一樣。√3.23不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率才能一樣?！?.24壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大，則說明該晶片接收性能好。×〔壓電應(yīng)變常數(shù)d33大，發(fā)射性能好，發(fā)射靈敏度高〕3.25壓電晶片的壓電電壓常數(shù)〔g33〕大，剛說明該晶片接收性能好?！獭矂t接收靈敏度就高〕3.26探頭中壓電晶片反面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm，減少機(jī)械能損耗?！痢布游諌K是為了減小機(jī)械品質(zhì)因素，Qm小就表示損耗大，脈沖寬度小，分辨率高〕3.27工件外表比擬租糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜?！?.28斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失?！痢材康氖菫榱藴p少雜波〕3.29由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)展縱波探傷?！?.30雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大。×3.31有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大。√3.32利用IIW試塊上Φ50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致圍?！?.33當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2試塊上R5曲面時(shí)，熒光屏上的屢次反射回波是等距離的?！?.34中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是屢次回波總是等距離出現(xiàn)?！?.35與IIW試塊相比CSK-IA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力?！?.36調(diào)節(jié)探傷儀的“水平〞旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性?！痢舱{(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線上的回波一起左右移動(dòng)一段距離，但不改變回波間距，故也不會(huì)改變水平線性〕3.37測(cè)定儀器的“動(dòng)態(tài)圈〞時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制〞、“深度補(bǔ)償〞旋鈕置于“關(guān)〞的位置。√3.38盲區(qū)與始波寬度是同一概念。×〔盲區(qū)是指從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與儀器的阻塞時(shí)間和始脈沖寬度有關(guān)〕3.39測(cè)定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制〞旋鈕，使電噪聲電平≤l0%，再進(jìn)展測(cè)試。×3.40測(cè)定“始波寬度〞對(duì)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大?！痢察`敏度應(yīng)調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)“0〞點(diǎn)〕3.41為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。√3.42在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率?！?.43雙晶探頭主要用于近外表缺陷的探測(cè)。√3.44溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高對(duì)，折射角將變大?！?.45日前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀?！痢矐?yīng)是脈沖反射式測(cè)厚儀〕3.46在鋼中折射角為60。的斜探頭，用于探測(cè)鋁時(shí)，其折射角將變大?！痢残碧筋^在鋼中折射角為橫曲折射角，鋁的橫曲折射角比鋼的小〕3.47“發(fā)射脈沖寬度〞就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間?！?.48軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙外表對(duì)探傷的影響?！?.49脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型的?！痢泊┩甘教絺奶筋^發(fā)射的是連續(xù)波〕3.50聲束指向角較小且聲柬截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭?！?.1在液浸式檢測(cè)中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%?！?.2垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對(duì)反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重?！?.3超聲脈沖通過材料后，其中心頻率將變低?！?.4串列法探傷適用于檢查垂直于探測(cè)面的平面缺陷?！?.5“靈敏度〞意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好?！痢察`敏度太高雜波多〕4.6所謂“幻影回波〞，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。×〔原因是重復(fù)頻率過高〕4.7當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。×〔當(dāng)量法適用于面積小于截面的缺陷尺寸評(píng)定〕4.8半波高度法用來測(cè)量小于聲束截面的缺陷的尺寸?！?.9串列式雙探頭法探傷即為穿透法．×4.10厚焊縫采用串列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)?！痢采舷峦獗矶即嬖诿^(qū)〕4.11曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好?！?.12實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低?！痢部梢圆捎酶鼡Q探頭方法來鑒別探頭雜波〕4.13采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。√4.14只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度?！痢矞y(cè)長(zhǎng)法適用于面積大于聲束截面或長(zhǎng)度大于聲束截面直徑的缺陷的評(píng)定〕4.15絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大?！?.16當(dāng)工件存在較大的應(yīng)力時(shí)，將使超聲被的傳播速度及方向發(fā)生變化?！?.17超聲波傾斜入射至缺陷外表時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高。×5.1鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷?！痢策€可根據(jù)底波衰減情況來判定缺陷〕5.2當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷屢次反射波互相干預(yù)容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)〞。×〔超聲波脈沖相對(duì)于薄層較窄時(shí)，薄層兩側(cè)的各次反射波、透射波互不干預(yù)，當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)同理〕5.3厚鋼板探傷中，假設(shè)出現(xiàn)缺陷的屢次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大?！?.4較薄鋼板采用底波屢次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)〞，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大。×5.5復(fù)合鋼扳探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷。√5.6用板波法探測(cè)厚度5mm以下薄鋼板時(shí)，不僅能檢出部缺陷，同時(shí)能檢出外表缺陷?！?.7鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，不宜采用線聚焦探頭探測(cè)較短缺陷。√5.8采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時(shí)，聲透鏡的中心局部厚度應(yīng)為k／2的整數(shù)倍?！?.9鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次?！?.10鋼管水浸探傷時(shí)，水中參加適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性?！痢矠榱嗽鰪?qiáng)水對(duì)鋼管外表的潤(rùn)濕作用〕5.11鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。√5.12用斜探頭對(duì)大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大。√6.1對(duì)軸類鍛件探傷，一般來說以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果最正確?！?.2使用斜探頭對(duì)軸類鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí)，探頭應(yīng)采用正反兩個(gè)方向掃查?！?.3對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測(cè)是最正確的探傷方法?！?.4調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評(píng)定鍛件質(zhì)量等級(jí)?！痢矐?yīng)是根據(jù)缺陷回波情況評(píng)定質(zhì)量等級(jí)〕6.5鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。√6.6鍛件探傷時(shí)，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn)．則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件等級(jí)?！?.7鑄鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主?！?.1焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波輻一般很高?！?.2焊縫橫波探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮構(gòu)造反射，變型波等干擾同波的影響?！?.3采用雙探頭串列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置?！?.4焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小?！?.5焊縫橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說明橫渡可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層?！?.6當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測(cè)頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收?！?.7窄脈沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是能量集中，穿透力強(qiáng)，所以適合于奧氏體鋼焊縫檢測(cè)。×〔聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是聲束細(xì)，靈敏度高，信噪比高〕7.8一股不采用從堆焊層一側(cè)探測(cè)的方法檢測(cè)堆焊層缺陷?！?.9鋁焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的橫波專用斜探頭?！?.10裂縫探傷中，裂紋的回波比擬鋒利，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失?！炼?、選擇題1.1以下關(guān)于諧振動(dòng)的表達(dá)-哪一條是錯(cuò)誤的〔A〕A、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)。B、任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成C、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度最大，受力為零。1.2以下關(guān)于阻尼振動(dòng)的表達(dá)，哪一條是錯(cuò)誤的〔D〕A、阻尼使振動(dòng)物體的能量逐漸減小。B、阻尼使振動(dòng)物體的振幅逐漸減小。C、阻尼使振動(dòng)物體的運(yùn)動(dòng)速率逐漸減小。D、阻尼使振動(dòng)周期逐漸變長(zhǎng)．1.3超聲波是頻率超出入耳聽覺的彈性機(jī)械波，其頻率圍約為：〔A〕A、高于2萬赫芝B、1—10MHzC、高于200HzD、0.25～15MHz1.4在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率圍是：〔C〕A、10～25MHzB、l～10001KHzC、1～5MHzD大于20000MHz1.5機(jī)械波的波速取決于〔D〕A、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度B、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅C、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率D、彈性介質(zhì)的特性1.6在同種固體材料中，縱波聲速CL．橫渡聲速Cs,外表波聲速之間的關(guān)系是：〔C〕A、CR>Cs>CLB、Cs>CL>CRC、CL>Cs>CRD、以上都不對(duì)1.7在以下不同類型超聲波中，哪種渡的傳播速度隨頻率的不同而改變.〔B〕A、外表波B、板波C、疏密波〔縱波〕D、剪切波〔橫波〕1.8超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生〔D〕A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是1.9超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與〔D〕有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B介質(zhì)的密度C、超聲波波型D、以上全部1.10在同一固體材料中，縱、橫渡聲速之比，與材料的〔C〕有關(guān).A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部1.11質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向的波是〔B〕A、縱波B、橫波C、外表波D、蘭姆波1.12在流體中可傳插：〔A〕A、縱波B、橫波C、縱波、橫涉及外表波D、切變波1.13超聲縱波、橫波和外表波速度主要取決于：〔C〕A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上都不全面，須視具體情況而定1.14板波的速度主要取決于：〔D〕A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性和質(zhì)量D、以上都不全面，須視具體情況定1.15鋼中超聲波縱波聲速為590000cm/s，假設(shè)頻率為10MHz則其波長(zhǎng)為：〔C〕A、59mmB、5.9mmC、0.59mmD、2.36mm1.16下面哪種超聲波的波長(zhǎng)最短〔A〕A、水中傳播的2MHz縱波B、鋼中傳播的2.5MHz橫波C、鋼中傳播的5MHz縱波D、鋼中傳播的2MHz外表波1.17一般認(rèn)為外表波作用于物體的深度大約為〔C〕A、半個(gè)波長(zhǎng)B、一個(gè)波長(zhǎng)C、兩個(gè)波長(zhǎng)D、3.7個(gè)波長(zhǎng)1.18鋼中外表波的能量大約在距外表多深的距離會(huì)降低到原來的1/25?！睟〕A、五個(gè)波長(zhǎng)B、一個(gè)波長(zhǎng)C、1/10波長(zhǎng)D、0.5波長(zhǎng)1.19脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過程中的〔B〕A、散射特性B、反射特性C、透射特性D、擴(kuò)散特性1.20超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)有〔D〕A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)移動(dòng)B、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和振動(dòng)傳遞C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和能量傳播D、B和C1.21超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是〔B〕A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度B、聲能的傳播速度C、波長(zhǎng)和傳播時(shí)間的乘積D、以上都不是1.22假設(shè)頻率一定，以下哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長(zhǎng)最短：〔D〕A、剪切波B、壓縮波C、橫渡D、瑞利外表波〔外表波〕1.23材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波〔B〕A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射C、在傳播時(shí)的散射D、擴(kuò)散角大小1.24聲阻抗是：〔C〕A、超聲振動(dòng)的參數(shù)B、界面的參數(shù)C、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對(duì)1.25當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí)，其透射系數(shù)大于1，這意味著：〔D〕A、能量守恒定律在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對(duì)D、以上都不對(duì)1.26當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí)，其反射系數(shù)小于0，這意味著：〔B〕A、透射能量大于入射能量B、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180。C、超聲波無法透入水中D、以上都不對(duì)1.27垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：〔C〕A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)1.28在液浸探傷中，哪種波會(huì)迅速衰減：〔C〕〔衰減系數(shù)與波速、密度成反比，頻率的平方成正比〕A、縱波B、橫波C、外表波D、切變波1.29超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生〔B〕A、只繞射，無反射B、既反射又繞射C、只反射無繞射D、以上都可能1.30在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí)，它的聲阻抗將是〔C〕A、一樣B、傳播橫波時(shí)大C、傳播縱波時(shí)大D、無法確定1.31超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波與透過波聲能的分配比例取決于〔C〕A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D、以上全部1.32在同一界面上，聲強(qiáng)透過率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是〔B〕A、T=r2B、T=1-r2C1.33在同一界面上聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過率T之間的關(guān)系是〔D〕A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全對(duì)1.34超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于〔B〕A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部1.35傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)〔D〕A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是1.36縱波垂直入射水浸法超聲波探傷，假設(shè)工件底面全反射，計(jì)算底面回波聲壓公式：〔〕T=4Z1Z2/(Z1+Z2)21.37一般地說，如果頻率一樣，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為〔B〕A、外表波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力一樣1.38不同振動(dòng)頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：〔A〕〔在同一介質(zhì)中，波速與頻率無關(guān)〕A、0.5MHz的縱波B、2.5MHz的橫波C、10MHz的爬波D、5MHz的外表波1.39在水／鋼界面上，水中入射角為17o，在鋼中傳播的主要振動(dòng)波型為〔C答案為什么不是B呢〕A、外表波B、橫波C、縱波D、B和C1.40當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15o射向鋼界面時(shí)，可能存在〔D〕A、反射縱波B、反射橫波C、折射縱波和折射橫渡D、以上都有1.41如果將用于鋼的K2探頭去探測(cè)鋁〔CFe=3.23km/s,CAl=3.10km/s)則K值會(huì)〔B〕。A、大于2B、小于2C、仍等于2D、還需其它參數(shù)才能確定1.42如果超聲縱波由水以20o入射到鋼界面，則在鋼中橫曲折射角為〔A〕。A、約48oB、約24oC、39oD以上都不對(duì)1.43第一臨界角是：〔C〕A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫渡等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近口0o時(shí)的折射角1.44第二臨界角是：〔B〕A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫波等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近90o對(duì)的折射角1.45要在工件中得到純橫波，探頭入射角α必須：〔C〕A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小于第二臨界角1.46一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能：〔A〕A、在工件中得到純橫波B、得到良好的聲束指C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦D、減少近場(chǎng)區(qū)的影響1.47縱波以20。入射角自水入射至鋼中，以下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的.〔D〕橫波不能在水中傳播1.48用入射角為52。的斜探頭探測(cè)方鋼，以下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的.〔D〕1.49直探頭縱波探測(cè)具有傾斜底面的鍛鋼件，以下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的.〔B〕1.50第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃(CL=2700m/s)，第二介質(zhì)為銅(CL=4700m/s;Cs=2300m/s),則第Ⅱ臨界角為〔B〕1.5l用4MHz鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對(duì)鋼試件進(jìn)展探測(cè)，假設(shè)要得到最正確透聲效果，其耦臺(tái)層厚度為〔甘油CL=1920m／s〕〔D〕A、1.45mmB、0.20mmC、0.7375mmD、0.24mm1.52用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對(duì)接焊縫中得到橫檢測(cè)，此時(shí)探頭聲束軸線相對(duì)于探測(cè)面的傾角圍為：〔B〕A、14.7o～27.7oB、62.3o～75.3oC、27.2o～56.7oD、不受限制1.53有一不銹鋼復(fù)合鋼板，不銹鋼復(fù)合層聲阻抗Z1，基體鋼板聲阻抗Z2，今從鋼板一側(cè)以2.5MHz直探頭直接接觸法探測(cè)，則界面上聲壓透射率公式為：〔C〕1.54由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱db數(shù)等于：〔A〕A、衰減系數(shù)與聲程的乘積B、衰減系數(shù)與深度的乘積C、e-μs〔μ為衰減系數(shù)，s為聲程〕D以上都不對(duì)1.55超聲波〔活塞波〕在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：〔D〕A、介質(zhì)對(duì)超聲波的吸收B、介質(zhì)對(duì)超聲波的散射C、聲束擴(kuò)散D、以上全部1.56斜探頭直接接觸法探測(cè)鋼板焊縫時(shí)，其橫波：〔D〕A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生1.57制作凹曲面的聚焦透鏡時(shí)，假設(shè)透鏡材料聲速為C1，第二透聲介質(zhì)聲速為C2，則兩者材料應(yīng)滿足如下關(guān)系：〔A〕A、C1>C2B、C1<C2C1.58當(dāng)聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時(shí)，透鏡焦距將：〔A〕A、增大B、不變C、減小D以上都不對(duì)1.59平面波在曲界面上透過情況，正確的圖是：〔B〕1.60以下關(guān)于板波性質(zhì)的表達(dá)，哪條是錯(cuò)誤的〔D〕A、按振動(dòng)方向分，板波可分為SH波和蘭姆波，探傷常用的是蘭姆波B、板渡聲速不僅與介質(zhì)特性有關(guān)，而且與板厚、頻率有關(guān)C、板波聲速包括相速度和群速度兩個(gè)參數(shù)D、實(shí)際探傷應(yīng)用時(shí)，只考慮相速度．無須考慮群速度1.61由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于〔B〕A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.62與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是(A)〔擴(kuò)散衰減只與波振面的形狀有關(guān)〕A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.63下面有關(guān)材料衰減的表達(dá)，哪句話是錯(cuò)誤的；〔D〕A、橫渡衰減比縱波嚴(yán)重B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大C、當(dāng)晶粒度大于波長(zhǎng)1/10時(shí)對(duì)探傷有顯著影響D、提高增益可完全克制衰減對(duì)探傷的影響2.1波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù)并且隨〔B〕A、頻率增加，晶片直徑減小而減小B、頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、頻率增加，晶片直徑減小而增大2.2晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測(cè)得其零幅射角為10o，該探頭探測(cè)頻率約為：〔D〕A、2.5MHzB、5MHzC、4MHzD、2MHz2.3直徑中12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是：〔C〕A、5.6°B、3.5°C、6.8°D、24.6°2.4Φ14mm，2.5MHz直探頭在鋼中近場(chǎng)區(qū)為：〔B〕A、27mmB、21mmC、38mmD、以上都不對(duì)2.5上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度約為：〔A〕A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不對(duì)2.6在非擴(kuò)散區(qū)大平底距聲源距離增大l倍，其回波減弱〔D〕A、6dbB、12dbC、3dbD、0db2.7利用球面波聲壓公式〔P=PoπD2／4λ〕得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是：〔D〕A、S≥2N近似正確B、S≥3N根本正確C、S≥6N正確D、以上都對(duì)2.8在超聲探頭遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)中：〔B〕A、聲束邊緣聲壓較大B、聲束中心聲壓最大C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣D、聲壓與聲束寬度成正比2.9活塞波聲場(chǎng)，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為〔A〕A、近場(chǎng)長(zhǎng)度B、未擴(kuò)散區(qū)C、主聲束D、超聲場(chǎng)2.10以下直探頭，在鋼中指向性最好的是〔C〕A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z2.11下面有關(guān)擴(kuò)散角的表達(dá)-哪一條是錯(cuò)誤的〔B〕A、用第一零輻射角表示B、為指向角的一半C、與指向角一樣D、是主聲束輻射錐角之半2.12超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度〔C〕A、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度B、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度0.6倍C、約為近場(chǎng)長(zhǎng)度1.6倍D、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度3倍2.13遠(yuǎn)場(chǎng)圍的超聲波可視為〔C〕A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對(duì)2.14在探測(cè)條件一樣的情況下面積比為2的兩個(gè)平底孔，其反射波高相差〔A〕A、6dBB、12dBC、9dBD、3dB2.15在探測(cè)條件一樣的情況下，孔徑比為4兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差〔B〕A、6dBB、l2dBC、24dBD、8dB2.16在探測(cè)條件一樣的情況下，直徑比為2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面同波相差〔C〕A、12dBB、9dBC、6dBD、3dB；2.17外徑為D，徑為d的實(shí)心圓柱體，以一樣的靈敏度在壁和外圓探測(cè)，如忽略耦合差異，則底波高度比為〔D〕2.18同直徑的平底孔在球面波聲場(chǎng)中距聲源距離增大1倍則回波減弱：〔B〕A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.19同直徑的長(zhǎng)橫孔在球面波聲場(chǎng)中距離聲源距離增大1倍回波減弱〔答案是A，但是覺得應(yīng)該是D〕A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.20在球面波聲場(chǎng)中B平底距聲源距離增大1倍回波減弱：〔A〕A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.21對(duì)于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：〔D〕A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db2.22對(duì)于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：〔B〕A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db2.23比Φ3mm平底孔回波小7db的同聲程平底孔直徑是：〔B〕A、Φ1mmB、Φ2mmC、Φ4mmD、Φ0.5mm2.24比Φ3mm長(zhǎng)橫孔反射小7db的同聲程長(zhǎng)橫孔直徑是〔A〕A、Φ0.6mmB、Φ1mmC、Φ2mmD、Φ0.3mm2.25以下表達(dá)中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)〔C〕A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨高D、探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比高2.26以下表達(dá)中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)〔C〕A、聲束細(xì)，每次掃查探測(cè)區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測(cè)*一深度圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干預(yù)作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全會(huì)聚一點(diǎn)D、以上都是3.1A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：〔C〕A、缺陷的性質(zhì)和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)問D、以上都是3.2A型掃描顯示，“盲區(qū)〞是指：〔C〕A、近場(chǎng)區(qū)B、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間D、以上均是3.3A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：〔A〕A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時(shí)間3.4A型掃描顯示中，水平基線代表：〔C〕A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動(dòng)距離C、聲波傳播時(shí)間D、缺陷尺寸大小3.5脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做〔C〕A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路3.6脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做〔A〕A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)射電路3.7發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)〔A〕A、幾百伏到上千伏B、幾十伏C、幾伏D、1伏3.8發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫：〔A〕A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是3.9探頭上標(biāo)的2.5MHz是指：〔B〕A、重復(fù)頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對(duì)3.10影響儀器靈敏度的旋紐有：〔D〕A、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐B、衰減器和抑制C、深度補(bǔ)償D、以上都是3.11儀器水平線性的好壞直接影響：〔C〕A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C、缺陷的準(zhǔn)確定位D、以上都對(duì)3.12儀器的垂直線性好壞會(huì)影響：〔A〕A、缺陷的當(dāng)量比擬B、AVG曲線面板的使用C、缺陷的定位D、以上都對(duì)3.13接收電路中，放大器輸入端接收的同波電壓約有〔D〕A、幾百伏B、100V左右C、10V左右D、0.001～1V3.14同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為〔B〕A、l—2個(gè)B、數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)C、與工作頻率一樣D、以上都不對(duì)3.15調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制〞旋鈕會(huì)影響探傷儀的〔D〕A、垂直線性B、動(dòng)態(tài)圍C、靈敏度D、以上全部3.16放大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的圍叫做放放大器的〔B〕A、靈敏度圍B、線性圍C、分辨力圍D、選擇性圍3.17單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋骸睠〕A、近場(chǎng)干擾B、材質(zhì)衰減C、盲區(qū)D、折射3.18同步電路的同步脈沖控制是指：〔D〕A、發(fā)射電路在單位時(shí)間重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B、掃描電站每秒鐘重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時(shí)間向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)D、以上全部都是3.19表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有：〔B〕A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力C、動(dòng)態(tài)圍、頻帶寬度、探測(cè)寬度D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率3.20使儀器得到滿幅顯示時(shí)Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電壓為40mv，假設(shè)要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量.〔C〕A、74dBB、66dBC、60dBD、80dB3.21脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：〔C〕A、掃描長(zhǎng)度B、掃描速度C、單位時(shí)間重復(fù)掃描次數(shù)D、鋸齒波電壓幅度3.22壓電晶片的基頻是：〔A〕A、晶片厚度的函數(shù)B、施加的脈沖寬度的函數(shù)C、放大器放大特性的函數(shù)D、以上都不對(duì)3.23探頭的分辨力：〔B〕〔頻帶寬度大，則脈沖越窄，分辨力越好〕A、與探頭晶片直徑成正比B、與頻帶寬度成正比C、與脈沖重復(fù)頻率成正比D、以上都不對(duì)3.24當(dāng)鼓勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)：〔B〕A、儀器分辨力提高B、儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大C、聲波穿透力降低D對(duì)試驗(yàn)無影響3.25探頭晶片反面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致：〔D〕〔Qm值降低，盲區(qū)減小〕A、Qm值降低．靈敏度提高B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲區(qū)增大D、Qm值降低，分辨力提高3.26為了從換能器獲得最高靈敏度：〔C〕A、應(yīng)減小阻尼塊B、應(yīng)使用大直徑晶片C、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上鼓勵(lì)D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大3.27超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度：〔A〕A、取決于探頭高頻脈沖發(fā)生器和放大器B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機(jī)械阻尼D、隨分辨力提高而提高3.28換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：〔C〕A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場(chǎng)長(zhǎng)度增大D、指向性變鈍3.29一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì)：〔B〕A、影響缺陷的準(zhǔn)確定位B、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏撿D、以上都不對(duì)3.30晶片共振波長(zhǎng)是晶片厚度的〔A〕A、2倍B、1/2倍C、l倍D、4倍3.31PZT-4的頻率常數(shù)是2000m/s，2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為：〔A〕〔N＝t×f0〕A、0.8mmB、l.25mmC、1.6mmD、0.4mm3.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí)，應(yīng)使用：〔B〕A、硬保護(hù)膜直探頭B、軟保護(hù)膜直探頭C、大尺寸直探頭D、高頻直探頭3.33目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：〔C〕A、石英B鈦酸鋇C、鋯鈦酸鉛D硫酸鋰3.34聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：〔A〕A、探測(cè)近外表缺陷B、準(zhǔn)確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度C、準(zhǔn)確測(cè)定缺陷高度D、用于外表缺陷探傷3.35超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：〔C〕A、導(dǎo)電材料B磁致伸縮材料C、壓電材料D磁性材料3.36下面哪種材料最適宜做高溫探頭：〔D〕A、石英B、硫酸鋰C、鍺鈦酸鉛D、鈮酸鋰3.37下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：〔C〕A、石英B鋯鈦酸鉛C、偏鈮酸鉛D、鈦酸鋇3.38以下壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜〔B〕A、鈦酸鋇(CL=5470m/s)B、鈮酸鋰〔CL=7400mC、PZT〔CL=4400m/s〕D、鈦酸鉛(CL=4200m/S)3.39表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是〔C〕A、壓電電壓常數(shù)g33B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù)d33D、以上全部3.40以下關(guān)于爬波探頭的表達(dá)，哪一條是錯(cuò)誤的〔B〕A、爬波探頭的外形和構(gòu)造與橫渡斜探頭類似B、當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波(應(yīng)是以第一臨界角附近的角度)C、爬波用于探測(cè)表層缺陷D、爬波探測(cè)的深度圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)。3.41窄脈沖探頭和普通探頭相比〔D〕A、Q值較小B、靈敏度較低C、頻帶較寬D、以上全部3.42采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是〔C〕A、Zl>Z2B、C1<C2C、C1>C23.43探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是〔C〕A、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小C、有利消除耦合差異D、以上全部3.44以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)〔B〕A、檢測(cè)精度高，定位定量準(zhǔn)確B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存貯信號(hào)D、儀器有計(jì)算和自檢功能3.45以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)〔A〕A、探測(cè)圍大B、盲區(qū)小C、工件中近場(chǎng)長(zhǎng)度小D、雜波少3.46以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)〔D〕A、工作頻率B、晶片尺寸C、探測(cè)深度D、近場(chǎng)長(zhǎng)度3.47斜探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定的兒種方法中，哪種方法精度最高：〔A〕A、半圓試塊和橫孔法B、雙孔法C、直角邊法D、不一定，須視具體情況而定3.48超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為〔D〕A、檢測(cè)靈敏度B、時(shí)基線性C、垂直線性D、分辨力3.49用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫〔C〕A、晶體準(zhǔn)直器B、測(cè)角器C、參考試塊D、工件3.50對(duì)超聲探傷試塊材質(zhì)的根本要：〔D〕A、其聲速與被探工件聲速根本一致B、材料中沒有超過Φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是3.51CSK-IIA試塊上的Φl×6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場(chǎng)．其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與〔D〕一樣?！财降卓住⒍虣M孔、球孔孔徑一定時(shí)，聲壓變化隨距離變化一致〕A、k值孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C4.1采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度.〔D〕A、直探頭探傷法B、脈沖反射法C、斜探頭探傷法D、穿透法4.2超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比擬粗糙時(shí)，宜選用〔D〕A、較低頻探頭B、較粘的耦合劑C、軟保護(hù)膜探頭D、以上都對(duì)4.3超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是〔C〕A、曲面探傷時(shí)可減少耦合損失B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中D、以上全部4.4探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于〔D〕A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B、區(qū)分開相鄰的缺陷C、改善聲束指向性D、以上全部4.5工件外表形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點(diǎn)是正確的〔A〕A、平面效果最好B、凹曲面居中C、凸曲面效果最差D、以上全部4.6缺陷反射聲能的大小，取決于〔D〕A、缺陷的尺寸B、缺陷的類型C、缺陷的形狀和取向D、以上全部4.7聲波垂直入射到外表粗糙的缺陷時(shí)，缺陷外表粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是：〔C〕A、反射波高隨粗糙度的增大而增加B、無影響C、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、以上A和C都可能4.8如果聲波在耦合介質(zhì)中波長(zhǎng)為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為〔D〕A、λ/4的奇數(shù)倍B、λ/2整數(shù)倍C、小于λ/4且很薄D、以上B和C4.9外表波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表〔B〕A、缺陷深度B、缺陷至探頭前沿距離C、缺陷聲程D、以上都可以4.10探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度1：1調(diào)掃描，下面哪種說確.〔A〕A、缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值B、顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng)C、顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D、以上都正確4.11采用底波高度法〔F/B百分比法〕對(duì)缺陷定量時(shí)，下面哪種說確〔B〕?A、F/B一樣，缺陷當(dāng)量一樣B該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C、適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量D、適于對(duì)密集性缺陷的定量4.12在頻率一定和材料一樣情況下，橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是：〔C〕A、橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫渡探傷雜波少C、橫波波長(zhǎng)短〔靈敏度＝λ/2〕D、橫波指向性好4.13采用以下何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：〔A〕A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、l0MHz〔頻率越大，衰減越大，穿透能力就越小〕4.14在用5MHzΦl0晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，水層厚度為20mm，此時(shí)在鋼工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度還有：〔C〕〔N'＝N2－LC1/C2〕A、10.7mmB、1.4mmC、16.3mmD、以上都不對(duì)4.15使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果：〔B〕A、小于實(shí)際尺寸B、接近聲束寬度〔測(cè)長(zhǎng)法適用于面積大于聲束面或長(zhǎng)度大于聲束面直徑的缺陷〕C、稍大于實(shí)際尺寸D、等于晶片尺寸4.16棱邊再生波主要被用于測(cè)定：〔D〕A、缺陷的長(zhǎng)度B、缺陷的性質(zhì)C、缺陷的位置D、缺陷的高度4.17從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通過以下方法來進(jìn)展：〔D〕A、準(zhǔn)確對(duì)缺陷定位B、準(zhǔn)確測(cè)定缺陷形狀C、測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形D、以上方法須同時(shí)使用4.18單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波，它們可能是：〔B〕A、來自工件外表的雜波B、來自探頭的噪聲C、工件上近外表缺陷的回波D、耦合劑噪聲4.19確定脈沖在時(shí)基線上的位置應(yīng)根據(jù)：〔B〕A、脈沖波峰B、脈沖前沿C、脈沖后沿D、以上都可以4.20用實(shí)測(cè)折射角71°的探頭探測(cè)板厚為25mm的對(duì)接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y(cè)定圍是：〔D〕A、l00mmB、125mmC、l50mmD、200mm4.21用IIW2調(diào)整時(shí)間軸，當(dāng)探頭對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)，示波屏上的回波位置〔聲程調(diào)試〕應(yīng)在；〔B〕4.22能使K2斜探頭得到圖示深度l：1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為〔C〕〔d＝R/(1+K2〕?A、50mmB、60mmC、67mmD、40mm〔波圖水平刻度少個(gè)0，應(yīng)為30，90〕4.23在厚焊縫斜探頭探傷時(shí)，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線.〔B〕A、水平定能法B、深度定位法C、聲程定位法D、一次波法4.24在中薄板焊縫斜探頭探傷時(shí)，宜使用什么方法標(biāo)定儀器時(shí)基線.〔A〕A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、二次被法4.25對(duì)圓柱形簡(jiǎn)體環(huán)縫探測(cè)時(shí)的缺陷定位應(yīng)：〔A〕〔當(dāng)采用橫波斜探頭檢測(cè)圓柱曲面時(shí)，假設(shè)沿軸向檢測(cè)，缺陷定位A、按平板對(duì)接焊縫方法B、作曲面定位修正與平面一樣；假設(shè)沿周向檢測(cè)，缺陷定位則與平面不同，作曲面修正〕C、使用特殊探頭D、視具體情況而定采用各種方法4.26在探測(cè)球形封頭上焊縫中的橫向缺陷時(shí)，缺陷定位應(yīng)：〔B〕A、按平板對(duì)接焊縫方法B、作曲面修正C、使用特殊探頭D、視具體情況決定是否采用曲面修正4.27在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，缺陷的實(shí)際深度比按平扳探傷時(shí)所得讀數(shù)：〔B〕A、大B、小C、一樣D、以上都可能4.28在筒身壁作曲面周向探傷，所得缺陷的實(shí)際深度比按平板探傷時(shí)的讀數(shù)〔A〕A、大B、小C、一樣D、以上都可艟4.29在筒身外壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平扳探傷時(shí)所得讀數(shù)〔A〕A、大B、小C、一樣D、以上都可能4.30在筒身壁作曲面周向探傷時(shí)，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時(shí)所得讀數(shù)〔B〕A、大B、小C、一樣D、以上都可能4.31為保證易于探出垂直于焊縫外表的平面型缺陷，凹曲面周向斜探頭探傷應(yīng)選用〔B〕A、小K值探頭B、大K值探頭C、較保護(hù)膜探頭D、高頻探頭4.32在鍛件直探頭探傷時(shí)可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：〔A〕A、側(cè)面反射波帶來干預(yù)B、探頭太大，無法移至邊緣C、頻率太高D、以上都不是4.33在斜探頭厚焊縫探傷時(shí)，為提高缺陷定位精度可采取措施是：〔D〕A、提高探頭聲束指向性B、校準(zhǔn)儀器掃描線性C、提高探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定精度D、以上都對(duì)4.34當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：〔A〕A、一定大B不一定大C、一定不大D等于當(dāng)量尺寸4.35當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：〔B〕A、一定小B、不—定小C、一定不小D、等于當(dāng)量尺寸4.36在超聲探傷時(shí)，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時(shí)，缺陷外表越平滑反射回波越：〔B〕〔缺陷波高與缺陷波的指向性有關(guān)，缺陷外表光滑與否，對(duì)反射指向性無影響〕D、大B、小C不影響D、不一定4.37當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時(shí)，在一定圍，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：〔B〕A、大B、小C、無影響D、不一定4.38焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高〔D〕A、探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出B、裂紋外表不光潔對(duì)回波強(qiáng)度影響越大C、雜波太多D、AB都對(duì)4.39厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測(cè)得一回波的傳播時(shí)間為l65μs假設(shè)縱波在鋁中聲速為6300m/S則此回波是〔C〕A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、遲到回波4.40直探頭縱波探傷時(shí)，工件上下外表不平行會(huì)產(chǎn)生：〔A〕A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波變寬D、底面回波變窄4.41直探頭探測(cè)厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，假設(shè)后者探測(cè)面粗糙，與前者耦合差為5db，材質(zhì)衰減均為0.01dB／mm〔雙程〕，今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的：〔C〕〔20lg100/*=5+0.01(400-100)+20lg100/400〕A、40%B、20%C、10%D、5%4.42厚度均為400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個(gè)鍛件，采用各自底面校正400／Φ2靈敏度進(jìn)展分別探測(cè)，現(xiàn)兩個(gè)鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均一樣，則：〔B〕A、兩個(gè)缺陷當(dāng)量一樣B、材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C、材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小D、以上都不對(duì)4.43在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在.〔D〕A、缺陷回波B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱D、AB都對(duì)4.4在直接接觸法直探頭探傷時(shí)，底波消失的原因是：〔D〕A、耦合不良B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存住與始脈沖不能分開的近外表缺陷D、以上都是4.45在直探頭探傷時(shí)，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：〔C〕A、與外表成較大角度的平面缺陷B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對(duì)D、AB都不對(duì)4.46影響直接接觸法耦合損耗的原因有：〔D〕A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長(zhǎng)及耦合介質(zhì)聲阻抗B、探頭接除面介質(zhì)聲阻抗C、工件被探測(cè)面材料聲阻抗D、以上都對(duì)4.47被檢工件晶粒粗大，通常會(huì)引起：〔D〕A、草狀回波增多B、信噪比下降C、底波次數(shù)減少D、以上全部4.48為減少凹面探傷時(shí)的耦合損耗，通常采用以下方法：〔D〕A、使用高聲阻抗耦合劑B、使用軟保護(hù)膜探頭C、使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D、以上都可以4.49在平整光潔外表上作直探頭探傷時(shí)宜使用硬保護(hù)膜探頭，因?yàn)檫@樣：〔B〕A、雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲B、脈沖窄，探測(cè)靈敏度高C、探頭與儀器匹配較好D、以上都對(duì)4.50應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：〔A〕A、作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具C、為檢出小于*一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個(gè)能準(zhǔn)確模擬*一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體4.51下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)：〔C〕A、平底孔B、平行于探測(cè)面且垂直于聲束的平底槽C、平行于探測(cè)面且垂直于聲束的橫通孔D、平行于探測(cè)面且垂直于聲束的V型缺口4.52測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：〔D〕A、聲束擴(kuò)散損失B、耦合損耗C、工件幾何形狀影響D、以上都是4.53沿細(xì)長(zhǎng)工件軸向探傷時(shí)，遲到波聲程△*的計(jì)算公式是：〔D〕4.54換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：(D應(yīng)選C吧)A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場(chǎng)區(qū)增大D、指向性變鈍4.55在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測(cè)定，這是因?yàn)椋骸睤〕A、只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B、只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有當(dāng)聲束垂直投射到工件缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)4.56考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒恰睤〕A、被檢工件厚度太大B、工件底面與探測(cè)面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗D、工件與試塊材質(zhì)，外表光潔度有差異4.57探測(cè)粗糙外表的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：〔C〕A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑D、以上都不是4.58超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于：〔A〕A、波長(zhǎng)的一半B、一個(gè)波長(zhǎng)C、四分之一波長(zhǎng)D、假設(shè)干個(gè)波長(zhǎng)4.59與探測(cè)面垂直的部平滑缺陷，最有效的探測(cè)方法是：〔C〕A、單斜探頭法B、單直探頭法C、雙斜探頭前后串列法D、分割式雙直探頭法4.60探測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以一樣靈敏度探測(cè)時(shí)，以下哪種底面回波最高?！睠〕A、與探測(cè)面平行的大平底面B、R200的凹圓柱底面C、R200的凹球底面D、R200的凸圓柱底面4.61鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波〞時(shí)，是由于〔B〕A、工件中有大面積傾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部4.62下面有關(guān)“幻象波〞的表達(dá)哪點(diǎn)是不正確的〔C〕A、幻象回波通常在鍛件探傷中出現(xiàn)B、幻象波會(huì)在掃描線上連續(xù)移動(dòng)C、夢(mèng)想波只可能出現(xiàn)在一次底波前D、降低復(fù)重頻率，可消除幻象波4.63下面有關(guān)61°反射波的說法，哪一點(diǎn)是錯(cuò)誤的.〔C〕A、產(chǎn)生61°反射時(shí)，縱波入射角與橫渡反射角之和為90°B、產(chǎn)生61°反射時(shí)，縱波入射角為61°橫波反射角為29°。C、產(chǎn)生6l°反射時(shí)，橫渡入射角為29。，縱波反射角為61°D、產(chǎn)生61°反射時(shí)，其聲程是恒定的4.64長(zhǎng)軸類鍛件從端面作軸向探測(cè)時(shí)，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是〔D〕A、三角反射波B、61°反射波C、輪廓回波D、遲到波4.65方形鍛件垂直法探傷時(shí)，熒光屏上出現(xiàn)一游動(dòng)缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是〔C〕A、平行且靠近探測(cè)面B、與聲束方向平行C、與探測(cè)面成較大角度D、平行且靠近底面4.66缺陷反射聲壓的大小取決于：〔D〕A、缺陷反射面大小B、缺陷性質(zhì)C、缺陷取向D、以上全部5.1鋼板缺陷的主要分布方向是：〔A〕A、平行于或根本平行于鋼板外表B、垂直于鋼板外表C、分布方向無傾向性D、以上都可能5.2鋼板超聲波探傷主要應(yīng)采用：〔A〕A、縱波直探頭B、外表波探頭C、順波直探頭D、聚焦探頭5.3下面關(guān)于鋼板探傷的表達(dá)，哪一條是正確的：〔A〕A、假設(shè)出現(xiàn)缺陷波的屢次反射，缺陷尺寸一定很大B、無底波時(shí)，說明鋼板無缺陷C、鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應(yīng)采用當(dāng)量法測(cè)定〔常用測(cè)長(zhǎng)法測(cè)定指示長(zhǎng)度和面積〕D、鋼板探傷應(yīng)盡量采用低頻率5.4鋼板厚為30mm，用水浸法探傷，當(dāng)水層厚度為l5mm時(shí)，則第三次底面回波顯示于〔B〕A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定5.5復(fù)合材料探傷，由于兩介質(zhì)聲阻抗不同，在界面處有回波出現(xiàn)，為了檢查復(fù)合層結(jié)合質(zhì)量，下面哪條表達(dá)是正確的：〔C〕A、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波小，不易檢查B、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波大，容易檢查C、兩介質(zhì)聲阻抗差異大，界面回波大，不易檢查D、兩介質(zhì)聲阻抗差異大，界面回波小，容易檢查5.6探測(cè)厚度為18mm的鋼板，在探傷波形上出現(xiàn)了“疊加效應(yīng)〞，問哪一種說法是正確的：〔B〕A、同大于20mm的厚鋼板一樣，按F1評(píng)價(jià)缺陷B、因?yàn)榘搴裥∮?0mm，按F2評(píng)價(jià)缺陷C、按最大缺陷回波評(píng)價(jià)缺陷D、必須降低靈敏度重新探傷5.7探測(cè)T=28mm的鋼板，熒光屏上出現(xiàn)“疊加效應(yīng)〞的波形，下面哪種評(píng)定缺陷的方法是正確的.〔A〕A、接缺陷第一次回波(Fl)評(píng)定缺陷B、按缺陷第二次回波(F2)評(píng)定缺陷C、按缺陷屢次回波中最大值評(píng)定缺陷D、以上都可以5.8下面有關(guān)“疊加效應(yīng)〞的表達(dá)中，哪點(diǎn)是正確的〔C〕A、疊加效應(yīng)是波型轉(zhuǎn)換時(shí)產(chǎn)生的現(xiàn)象B、疊加效應(yīng)是幻象波的一種C、疊加效應(yīng)是鋼板底波屢次反射時(shí)可看到的現(xiàn)象D、疊加效應(yīng)是探傷頻率過高而引起的5.9帶堆焊層工件中的缺陷有：〔D〕A、堆焊金屬中的缺陷B、堆焊層與母材間的脫層C、堆焊層下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋D、以上三種都有5.10用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗(yàn)鋼板時(shí)，聲束進(jìn)入工件后將〔B〕A、因折射而發(fā)散B、進(jìn)一步集聚C、保持原聚焦?fàn)顩rD、以上都能5.11無縫鋼管缺陷分布的方向有；〔D〕A、平行于鋼管軸線的徑向分布B、垂直于鋼管軸線的徑向分布C、平行于鋼管外表的層狀分布D、以上都可能5.12小口徑鋼管超探時(shí)探頭布置方向?yàn)椋骸睠〕A、使超聲沿周向射入工件以探測(cè)縱向缺陷B、使超聲沿軸向射入工件以探測(cè)橫向缺陷C、以上二者都有D、以上二者都沒有5.13小口徑無縫鋼管探傷中多用聚焦探頭，其主要目的是：〔A〕A、克制外表曲率引起超聲散焦B、提高探傷效率C、提高探傷靈敏度D、以上都對(duì)5.14鋼管原材料超探試樣中的參考反射體是：〔C〕A、橫孔B、平底孔C、槽D、豎孔5.15管材橫波接觸法探傷時(shí)，入射角的允許圍與哪一因素有關(guān)〔D〕A、探頭楔塊中的縱波聲速B、管材中的縱橫波聲速C、管子的規(guī)格D、以上全部5.16管材周向斜角探傷與板材斜角探傷顯著不同的地方是〔C〕A、外表入射角等于折射角B、外表入射角小于折射角C、外表入射角大于折射角D、以上都可能5.17管材水漫法探傷中，偏心距*與入射角α的關(guān)系是〔sina=*/R〕?！瞨R為管材的外半徑〕5.18管材自動(dòng)探傷設(shè)備中，探頭與管材相對(duì)運(yùn)動(dòng)的形式是〔D〕A、探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進(jìn)B、探頭靜止，管材螺旋前進(jìn)C、管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動(dòng)D、以上均可5.19下面有關(guān)鋼管水浸探傷的表達(dá)中，哪點(diǎn)是錯(cuò)誤的〔C〕A、使用水浸式縱波探頭B、探頭偏離管材中心線C、無缺陷時(shí)，熒光屏上只顯示始波和l～2次底波D、水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲程的1／25.20鋼管水浸聚焦法探傷中，下面有關(guān)點(diǎn)聚焦方法的表達(dá)中，哪條是錯(cuò)誤的.〔B〕A、對(duì)短缺陷有較高探測(cè)靈敏度B、聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡C、缺陷長(zhǎng)度到達(dá)一定尺寸后〔即超過焦距長(zhǎng)度時(shí)〕，回波幅度不隨長(zhǎng)度而變化D、探傷速度較慢5.21鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，下面有關(guān)線聚焦方式的表達(dá)中，哪條是正確的.〔D〕A、探傷速度輕快B、回波幅度隨缺陷長(zhǎng)度增大而增高C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型晶片D、以上全部5.22使用聚焦探頭對(duì)管材探傷，如聚焦點(diǎn)未調(diào)到與聲束中心線相垂直的管半徑上，且偏差較大距離，則會(huì)引起〔B〕A、盲區(qū)增大B、在管中折射發(fā)散C、多種波型傳播D、同波脈沖變寬6.1鍛件的鍛造過程包括：〔A〕A、加熱形變，成型和冷卻B、加熱，形變C、形變，成型D、以上都不全面6.2鍛件缺陷包括：〔D〕A、原材料缺陷B、鍛造缺陷C、熱處理缺陷D、以上都有6.3鍛件中的粗大晶?？赡芤穑骸睤〕A、底波降低或消失B、噪聲或雜波增大C、超聲嚴(yán)重衰減D、以上都有6.4鍛件中的白點(diǎn)是在鍛造過程中哪個(gè)階段形成：〔D〕A、加熱B、形變C、成型D、冷卻6.5軸類鍛件最主要探測(cè)方向是：〔B〕A、軸向直探頭探傷B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外圓面軸向探傷D、斜探頭外圓面周向探傷6.6餅類鍛件最主要探測(cè)方向是：〔A〕A、直探頭端面探傷B、直探頭翻面探傷C、斜探頭端面探傷D、斜探頭側(cè)面探傷6.7筒形鍛件最主要探測(cè)方向是：〔A〕A、直探頭端面和外圓面探傷B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外四面周向探傷D、以上都是6.8鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是：〔C〕A、與主軸線平行B、與鍛造方向一致C、與鍛件金屬流線一致D、與鍛件金屬流線垂直6.9超聲波經(jīng)液體進(jìn)入具有彎曲外表工件時(shí)，聲束在工件將會(huì)產(chǎn)生：〔C〕A、與液體中一樣的聲束傳播B、不受零件幾何形狀的影響C、凹圓弧面聲波將收斂，凸圓弧面聲波將發(fā)散D、與C的情況相反6.10鍛鋼件探測(cè)靈敏度的校正方式是：〔D〕A、沒有特定的方式B、采用底波方式C、采用試塊方式D、采用底波方式和試塊方式6.11以工件底面作為靈敏度校正基準(zhǔn)，可以：〔D〕A、不考慮探測(cè)面的耦合差補(bǔ)償B、不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償C、不必使用校正試塊D、以上都是6.12在使用2.5MHz直探頭做鍛件探傷時(shí)，如用400mm深底波調(diào)整Φ3mm平底孔靈敏度，底波調(diào)整后應(yīng)提高多少db探傷.〔晶片直徑D=14mm〕〔A〕A、36.5dbB、43.5dbC、50dbD、28.5db6.13在直探頭探傷，用2.5MHz探頭，調(diào)節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量度10。如果改用5MHz直探頭，儀器所有旋紐保持不變，則200mm底波出現(xiàn)在〔C〕A、刻度5處B、越出熒光屏外C、仍在刻度10處D、須視具體情況而定6.14化學(xué)成份一樣，厚度一樣，以下哪一類工件超聲波衰減最大〔D〕A、鋼板B、鋼管C、鍛鋼件D、鑄鋼件6.15通用AVG曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于：〔C〕A、不同的探測(cè)頻率B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型探傷儀D、以上都是6.16大型鑄件應(yīng)用超聲波探傷檢查的主要困難是：〔D〕A、組織不均勻B、晶粒非常粗C、外表非常粗糙D、以上都對(duì)6.17鍛鋼件大平底面與探測(cè)面不平行時(shí)，會(huì)產(chǎn)生：〔A〕A、無底面回波或底面回波降低B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測(cè)面的缺陷C、聲波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影響6.18利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點(diǎn)是：〔B〕A、校正方法簡(jiǎn)單B、對(duì)大于3N和小于3N的鍛件都適用C、可以克制探傷面形狀對(duì)靈敏度的影響D、不必考慮材質(zhì)差異6.19以下哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力：〔B〕A、用直徑較大的探頭進(jìn)展檢驗(yàn)B、在細(xì)化晶粒的熱處理后檢驗(yàn)C、將接觸法探傷改為液浸法探傷D、將縱波探傷改為橫波探傷6.20以下有關(guān)鍛件白點(diǎn)缺陷的表達(dá)，哪一條是錯(cuò)誤的〔A〕A、白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物B、白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點(diǎn)的回波清晰鋒利往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)D、一旦判斷是白點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格6.21在鍛件探傷中當(dāng)使用底面屢次回波計(jì)算衰減系數(shù)時(shí)應(yīng)注意一次底面回波聲〔C〕A、大于非擴(kuò)散區(qū)B、大于近場(chǎng)區(qū)C、大于3倍近場(chǎng)區(qū)D、無甚要求6.22鍛