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文檔簡介

表5-5給出了故障處理的各個過程及其常用的方法。故障處理的過程及其方法故障定位過程常用方法其它方法排除外部設備故障替換法、儀表測試法、環(huán)回法告警性能分析法故障定位到單站環(huán)回法告警性能分析法故障定位到單板并最終排除替換法告警性能分析法、環(huán)回法、更改配置法、配置數(shù)據(jù)檢查法、經(jīng)驗處理法光傳輸常用儀表及測試光功率計光功率計主要測試指標：波長范圍：不同的半導體材料相應的光波長范圍不同，為了覆蓋較大的波長范圍，一個光功率計可以配備幾個不同的探測頭。光功率測量范圍：能測量到的光功率范圍，主要由光探測器的靈敏度和主機的動態(tài)范圍決定。穩(wěn)定光源穩(wěn)定光源的主要指標：輸出波長數(shù)目和輸出譜線范圍輸出波長穩(wěn)定性，包括短期穩(wěn)定度和長期穩(wěn)定度輸出光功率穩(wěn)定度，功率動態(tài)范圍和調(diào)節(jié)精度輸出波形和調(diào)制波形輸出接口類型光衰減器在測量前需要對信號進行精確衰減，避免儀器損壞或測量過載失真的場合使用。可分為固定衰減器和可變衰減器主要指標：衰減范圍、衰減精度、衰減重復性以及原始插入衰耗等光時域反射儀光時域反射儀簡稱OTDR,原理是利用光脈沖的瑞利散射進行測量的。OTDR的兩個主要參數(shù)是動態(tài)范圍和測量范圍動態(tài)范圍提供了儀器能測量光纖損耗最大值的信息，指出了測量給定的光纖損耗所需要的時間。測量范圍表征了OTDR鑒別光纖鏈路發(fā)生故障的能力，如接頭點、連接點、光纖斷裂點等。如圖所示測量曲線其中A點為光纖的輸入端，由耦合設備和光纖輸入端端面產(chǎn)生的反射信號，并且此處的光信號最強，B點有一突降，說明此處有一接頭或者存在其它的缺陷引起高損耗，C點突然有個上升，說明此處有光纖的斷裂面，引起反射，D點為光纖的終點，輸出端引起的反射。在這個曲線中，由于EB段和BC段是逐漸降低的近似直線，說明這兩段光纖是均勻的，而BC段曲線下降更平緩，，說明這段光纖的衰減系數(shù)比前段小，在CD段曲線不是直線，說明這段光纖軸向結構不均勻，損耗大。誤碼測試儀誤碼測試儀由三大部分組成：發(fā)碼發(fā)生器、誤碼檢測器和指示器發(fā)碼發(fā)生器可以產(chǎn)生測試所需的各種不同序列長度的偽隨機碼，接口電路可以實現(xiàn)輸出CMI\HDB3\NRZ碼等誤碼檢測器包括本地碼發(fā)生器，同步電路和誤碼檢測部分，將本地碼和接受碼進行比較，

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