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文檔簡(jiǎn)介
AEC-Q200簡(jiǎn)介AEC-Q200簡(jiǎn)介一、背景什么是AEC?AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil:汽車電子協(xié)會(huì)”的簡(jiǎn)稱??巳R斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子委員會(huì)(AEC),是主要汽車制造商與美國(guó)的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體,AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時(shí)采用,促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿,并推動(dòng)了汽車零件通用性的實(shí)施,為汽車零部件市場(chǎng)的快速成長(zhǎng)打下基礎(chǔ)。主要的汽車電子成員有:Autoliv,Continental,Delphi,JohnsonControls和Visteon。AEC-Q200認(rèn)證是什么?AEC-Q200:stresstestqualificationforpassivecomponents--被動(dòng)元件汽車級(jí)品質(zhì)認(rèn)證;汽車電子的過(guò)電壓保護(hù)存在更為嚴(yán)苛的電路條件,因此一般要求制造商通過(guò)ISO/TS16949的質(zhì)量體系認(rèn)證,相關(guān)的分立器件要求通過(guò)AECQ101認(rèn)證,被動(dòng)元件要求通過(guò)AECQ200認(rèn)證,是非常嚴(yán)苛的認(rèn)證規(guī)范。一般來(lái)說(shuō)12V的汽車電子系統(tǒng)使用5-6KW28V的TVS(瞬態(tài)抑制二極管),24V的汽車電子系統(tǒng)使用36V的TVS即可。AEC-Q200與TS的區(qū)別?TS16949是管理體系,AEC-Q200是是針對(duì)汽車上應(yīng)用的被動(dòng)元器件的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。一、背景什么是AEC?二、條款簡(jiǎn)要內(nèi)容1.1描述AECQ定義了無(wú)源電子器件的低應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證要求和參考測(cè)試條件。使用本標(biāo)準(zhǔn)并不是要解除供應(yīng)商自己內(nèi)部認(rèn)證項(xiàng)目的責(zé)任性。在本文中,其中的用戶被定義為所有按照規(guī)格書(shū)使用其認(rèn)證器件的用戶,用戶有責(zé)任去證實(shí)確認(rèn)所有的認(rèn)證數(shù)據(jù)與本文件相一致。1.1.1
應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試的定義:應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試定義為成功地完成本標(biāo)準(zhǔn)中定義的測(cè)試。每一種無(wú)源電子器件要求的低溫度范圍(大能力)以及各等級(jí)的典型運(yùn)用案例(指定應(yīng)用)列于下表:如果成功完成備注中的器件類型達(dá)到的低溫度等級(jí)的資格認(rèn)證,那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了該等級(jí)或更低等級(jí)的“AEC認(rèn)證”。對(duì)于低于上述低溫度的資格鑒定,將僅允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了較低等級(jí)的“AEC認(rèn)證”。等級(jí)溫度范圍無(wú)源器件類型典型的應(yīng)用案例最低最高最大能力(除非有特別指定和認(rèn)證)0-50°C+150°C扁平芯片陶瓷電阻器、X8R陶瓷電容器所有的汽車1-40°C+125°C網(wǎng)絡(luò)電容器、電阻器、電感、變壓器、熱敏電阻,共鳴器、晶體和變阻器,所有其它的陶瓷和鉭電容器大部分引擎2-40°C+105°C鋁電解電容器乘客倉(cāng)高熱點(diǎn)3-40°C+85°C薄膜電容器,鐵氧體,R/R-C網(wǎng)絡(luò)和可調(diào)電容器多數(shù)乘客倉(cāng)40°C+70°C/非汽車類1.1.2應(yīng)用承認(rèn):承認(rèn)被定義為用戶同意在他們的應(yīng)用及任何適用的補(bǔ)充文件和任何適用的用戶封裝規(guī)格中使用某零件,但用戶承認(rèn)的方式已經(jīng)超出了本文件的范圍.二、條款簡(jiǎn)要內(nèi)容1.1描述等級(jí)溫度范圍無(wú)源器件類型典型的應(yīng)2MLCC認(rèn)證要求及目的2.1AECQ
認(rèn)證規(guī)范的目的是保證MLCC滿足表1/表2測(cè)試項(xiàng)目的要求。表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方式NO注釋樣品數(shù)/批批次接受標(biāo)準(zhǔn)Pre-andPost-StressElectricalTest
應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試1G所有進(jìn)行認(rèn)證的產(chǎn)品都應(yīng)送去測(cè)試0HighTemperatureExposure
高溫存儲(chǔ)3DG77NoteB10TemperatureCycling
溫度循環(huán)4DG77NoteB10DestructivePhysicalAnalysis
破壞性物理分析5DG77NoteB10MoistureResistance
濕度抵抗6DG77NoteB10HumidityBias
偏高濕度7DG77NoteB10HighTemperatureOperatingLife
高溫工作壽命8DG77NoteB10ExternalVisual
外觀9NG所有提交認(rèn)證的產(chǎn)品0PhysicalDimensions
尺寸10NG3010ResistancetoSolvent
溶劑抵抗12DG510N:非破壞性測(cè)試,器件可用于組裝到板子上進(jìn)行其它測(cè)試或者可用于生產(chǎn);D:破壞性測(cè)試,器件不可重新用于認(rèn)證測(cè)試或生產(chǎn);S:只要求用于表面貼裝元件;G:允許通用數(shù)據(jù)2MLCC認(rèn)證要求及目的表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方式NO注釋樣品數(shù)/批批次接受標(biāo)準(zhǔn)MechanicalShock
機(jī)械沖擊13DG30NoteB10Vibration振動(dòng)14DG30NoteB10ResistancetoSolderHeat
抗焊接熱15DG3010ThermalShock熱沖擊16DG3010ESD靜電放電17D1510Solderability可焊性18D15每種條件10ElectricalCharacterization
電氣特性19NG30NoteA10Flammability可燃性20DPresentcertificateofcompliance提供合格證明書(shū)B(niǎo)oardFlex板彎曲21DS3010TerminalStrength(SMD)
端子強(qiáng)度(表面貼裝元件)22DS3010BeamLoad
射束負(fù)載(斷裂強(qiáng)度)23DG3010N:非破壞性測(cè)試,器件可用于組裝到板子上進(jìn)行其它測(cè)試或者可用于生產(chǎn);D:破壞性測(cè)試,器件不可重新用于認(rèn)證測(cè)試或生產(chǎn);S:只要求用于表面貼裝元件;G:允許通用數(shù)據(jù)2MLCC認(rèn)證要求及目的表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方式NO注釋樣品數(shù)/批批次接2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方式No.測(cè)試方法附加要求CPQIR對(duì)應(yīng)國(guó)標(biāo)Pre-andPost-StressElectricalTest
應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試1UserSpec.用戶規(guī)格需在25±5°C進(jìn)行測(cè)試,除了適用的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和表2中的附加要求指定之外。指定限制范圍內(nèi)指定限制范圍內(nèi)指定限制范圍內(nèi)電性能HighTemperatureExposure
(Storage)高溫存儲(chǔ)3MIL-STD-202Method108不通電,在大額定溫度下放置器件1000小時(shí)。試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。初始限制初始限制>=初始限制高溫試驗(yàn)TemperatureCycling溫度循環(huán)4JESD22MethodJA-1041000個(gè)循環(huán)(-55°C到+125°C);試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。每個(gè)溫度的停留時(shí)間不超過(guò)30分鐘,轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過(guò)1分鐘。Change<=+/-x%初始限制>=初始限制溫度循環(huán)
高低溫沖擊?DestructivePhysicalAnalysis
破壞性物理分析5EIA-469只適用于表面貼裝陶瓷。不需要進(jìn)行電氣測(cè)試。根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試DPAMoistureResistance濕度抵抗6MIL-STD-202Method106每循環(huán)24h(25℃~≥90RH~25℃~≥90RH),步驟7a和7b可以不做,試驗(yàn)后24±2h內(nèi)測(cè)量(適用于薄膜電容)Change<=+/-x%>=aV:<=b%;cVto<dV:<=e%;dto<fV:<=g%>=初始限制循環(huán)濕熱BiasedHumidity偏高濕度7MIL-STD-202Method103在溫度85°C,濕度85%的條件下放置1000小時(shí)。
指定條件:額定電壓和1.3~1.5倍電壓。試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。Change<=+/-x%<a%*初始值>=初始限制加速穩(wěn)態(tài)濕熱
(潮濕負(fù)荷)OperationalLife工作壽命8MIL-STD-202Method108條件D(1000h)穩(wěn)定狀態(tài)TA=125°,試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,在大額定溫度和額定電壓下放置器件。Change<=+/-x%<a%*初始值>=初始限制耐久性ExternalVisual外觀9MIL-STD-883Method2009檢查器件結(jié)構(gòu),標(biāo)識(shí)和工藝質(zhì)量,不要求電氣測(cè)試。根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試外觀PhysicalDimension尺寸10JESD22MethodJB-100按適用的器件規(guī)格驗(yàn)證物理尺寸。注意:用戶和供應(yīng)商規(guī)格,不要求電氣測(cè)試。根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試尺寸ResistancetoSolvents
溶劑抵抗12MIL-STD-202Method215注意:適用于被標(biāo)識(shí)和/或涂層的器件。增加水洗清洗劑-OKEM清洗劑(6%濃度的Oakite清洗劑(表面活性劑及堿的混合物,包括苛性鈉、硅酸鹽及磷酸鹽))或其它相同的溶劑。初始限制初始限制初始限制溶劑抵抗2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方式No.測(cè)試方法附加要求CPQIR對(duì)應(yīng)國(guó)標(biāo)MechanicalShock機(jī)械沖擊13MIL-STD-202Method213XYZ三個(gè)方向沖擊,半正弦脈沖,持續(xù)時(shí)間0.5ms,峰值加速度1500g,初始限制初始限制初始限制機(jī)械沖擊Vibration振動(dòng)14MIL-STD-202Method204測(cè)試頻率從10-2000赫茲,5g/s的力20分鐘,三個(gè)方向每個(gè)方向12個(gè)循環(huán)。初始限制初始限制初始限制振動(dòng)ResistancetoSolderingHeat
抗焊接熱15MIL-STD-202Method210260±5℃,時(shí)間10±1s,浸入深度1.27mmChange<=+/-x%初始限制初始限制耐焊接熱ESD靜電放電17AEC-Q200-002OrISO/DIS10605/初始限制初始限制初始限制ESDSolderability可焊性18J-STD-002水蒸*h,(助焊劑:松香+異丙醇)255±5oC,深度為0.10mm,停留時(shí)間5s+0.5s/-0根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試可焊性ElectricalCharacterization
電氣特性19UserSpec.用戶規(guī)格按批次和樣品數(shù)量要求進(jìn)行參數(shù)試驗(yàn),總結(jié)列出室溫下及低,高工作溫度下器件的小值,大值,平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。至少要測(cè)量低溫度/室溫/高溫度下的參數(shù)CP,DF,IR。見(jiàn)參數(shù)表格中的建議。初始限制
Change<=+/-x%
初始限制
無(wú)要求初始限制
耐電壓:25%的額定電壓電性能BoardFlex板彎曲21AEC-Q200-005只適用于MLCC,至少60秒的支撐時(shí)間初始限制(>=xmm在電氣不良點(diǎn)記錄撓度)彎曲TerminalStrength(SMD)
端子強(qiáng)度(表面貼裝元件)22AEC-Q200-006施加平行于瓷體的推力(17.7N/1.8Kg),端頭不脫落、瓷體無(wú)損傷不斷裂初始限制初始限制初始限制附著力BeamLoadTest
射束負(fù)載(斷裂強(qiáng)度)23AEC-Q200-003施加垂直于瓷體的壓力,瓷體無(wú)損傷不斷裂
0603andgreater:xN;0402andless:yN
根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試瓷體強(qiáng)度注意:預(yù)前應(yīng)力電氣測(cè)試也作為電氣特性。1000小時(shí)試驗(yàn)過(guò)程中需要在250和500小時(shí)進(jìn)行間隔測(cè)量2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方2MLCC認(rèn)證要求及目的2.2優(yōu)先要求:當(dāng)該標(biāo)準(zhǔn)中的要求與其他文件相沖突時(shí),可采用以下優(yōu)先順序:1.采購(gòu)訂單;2.用戶的個(gè)別器件規(guī)格;3.本文件標(biāo)準(zhǔn);4.本標(biāo)準(zhǔn)的參考文件(Military/EIA軍用級(jí)/電子工業(yè)、Industrial工業(yè)級(jí)等);5.供應(yīng)商的數(shù)據(jù)規(guī)格對(duì)于被認(rèn)為合格認(rèn)證器件,采購(gòu)訂單和/或個(gè)別器件規(guī)格不能放棄或者免除本文件的要求。2.3滿足認(rèn)證和重新認(rèn)證要求的通用數(shù)據(jù)的使用:通用數(shù)據(jù)(可通過(guò)范圍“4個(gè)角”獲得(例如大值/溫度極值/被評(píng)估的電壓等))是供應(yīng)商可以使用的每個(gè)認(rèn)證系列產(chǎn)品的特殊數(shù)據(jù)的替代品。供應(yīng)商需要對(duì)給出的器件家族的四個(gè)角的構(gòu)成進(jìn)行定義(例如:電容器要求的中/低/高C值,高/低值等和對(duì)用戶的聯(lián)系作為認(rèn)證報(bào)告的一部分,這些角需要考慮不同的材料(例如:帶有幾種不同介電質(zhì)的X7R電容器,厚度,層數(shù),粉末的K值等),代表系列規(guī)格完成認(rèn)證則可聲明產(chǎn)品系列通過(guò)AECQ200認(rèn)證。通用數(shù)據(jù)的來(lái)源應(yīng)該是供應(yīng)商經(jīng)鑒定過(guò)的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室(認(rèn)證項(xiàng)目均具有第三方資質(zhì)),它包括內(nèi)部供應(yīng)商認(rèn)證,用戶特殊認(rèn)證,以及供應(yīng)商過(guò)程監(jiān)控。提交的通用數(shù)據(jù)必須達(dá)到或超過(guò)表2中列出的測(cè)試條件。終端測(cè)試溫度必須達(dá)到差的溫度極端并滿足設(shè)計(jì)的產(chǎn)品壽命應(yīng)用。用戶有終權(quán)接受通用數(shù)據(jù)來(lái)代替測(cè)試數(shù)據(jù)(包括器件的溫度范圍)。2.3.1磨損可靠性測(cè)試(壽命測(cè)試)與壽命相關(guān)的材料和新技術(shù)無(wú)論何時(shí)被認(rèn)證,其機(jī)理都必須貼合實(shí)際應(yīng)用(數(shù)據(jù)、測(cè)試方法、計(jì)算和內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)在每種新器件的認(rèn)證上不需要論證和執(zhí)行,但應(yīng)滿足用戶的要求)。注意:由于該信息包含了供應(yīng)商的所有權(quán)信息,它可能會(huì)涉及機(jī)密性的協(xié)議。2MLCC認(rèn)證要求及目的2MLCC認(rèn)證要求及目的2.4測(cè)試樣品:2.4.1批次要求:批次要求在表格1中有說(shuō)明;2.4.2生產(chǎn)要求:所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理,有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸;2.4.3測(cè)試樣品的再利用:已經(jīng)用來(lái)做非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來(lái)做其他認(rèn)證測(cè)試,而做過(guò)破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用;2.4.4樣品數(shù)量要求:用于認(rèn)證測(cè)試的樣品數(shù)量與(或)提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的小樣品數(shù)量和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果供應(yīng)商選擇使用通用數(shù)據(jù)來(lái)認(rèn)證,則特殊的測(cè)試條件和結(jié)果必須報(bào)告?,F(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應(yīng)首先滿足這些要求和表1中2.3節(jié)的每個(gè)測(cè)試要求。這樣的通用數(shù)據(jù)必須是2年內(nèi)的。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求,就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。當(dāng)對(duì)大量的器件進(jìn)行應(yīng)力測(cè)試時(shí),禁止在可靠性測(cè)試中對(duì)產(chǎn)品使用夾具;2.4.5預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求:除非適用的測(cè)試的附加要求章節(jié)中有指定,預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后只在標(biāo)稱溫度(室溫)下進(jìn)行。在更高等級(jí)環(huán)境應(yīng)用的認(rèn)證,溫度特殊值必須設(shè)有差情況和應(yīng)用的設(shè)計(jì)產(chǎn)品壽命,即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)置溫度等級(jí)極端。例如,如果某供應(yīng)商設(shè)計(jì)一種器件,有意設(shè)置在工作溫度等級(jí)3環(huán)境(-40℃到+80℃),那么終端測(cè)試溫度極端僅需將其作為限定,供適用的應(yīng)力測(cè)試要求指定工作溫度極端下的電氣測(cè)試。針對(duì)更高工作溫度等級(jí)環(huán)境(等級(jí)1的-40℃到+125℃)應(yīng)用中的認(rèn)證,要測(cè)試至少一個(gè)批次能用到附加終端測(cè)試溫度極端的器件。所有的終端測(cè)試條件必須包括了給定產(chǎn)品系列的所有規(guī)格。2MLCC認(rèn)證要求及目的2MLCC認(rèn)證要求及目的2.5應(yīng)力測(cè)試失效后的定義:測(cè)試失效定義為器件不符合用戶個(gè)別的器件規(guī)格,應(yīng)力測(cè)試后的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表,其重要性依次定義在2.2節(jié)中。任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和用戶認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因,失效就算不上,但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。供應(yīng)商必須描述每個(gè)應(yīng)力測(cè)試的參數(shù)失效標(biāo)準(zhǔn)作為向用戶提交認(rèn)證數(shù)據(jù)的一部分以批準(zhǔn)。每種器件類型建議的參數(shù)清單應(yīng)包含在每種器件類型測(cè)試表格的后面。2.6通過(guò)認(rèn)證測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn):通過(guò)了表1和表2里所有指定相應(yīng)認(rèn)證測(cè)試,或通過(guò)進(jìn)行指定產(chǎn)品測(cè)試(使用規(guī)定的少抽樣數(shù)量時(shí),接受零失效)或者證明可接受的產(chǎn)品系列的通用數(shù)據(jù)(使用表1中指定的系列和總需求的批次和抽樣數(shù)量),根據(jù)規(guī)范認(rèn)證產(chǎn)品。根據(jù)本規(guī)范,通過(guò)表1所有測(cè)試的接受標(biāo)準(zhǔn)和表2中的條件來(lái)認(rèn)證。當(dāng)表1中給定的測(cè)試的任何失效數(shù)量超過(guò)此程序使用的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)時(shí),器件將不具有認(rèn)證資格,直到在8D或者其他用戶可接受格式中確定了失敗根源,實(shí)施了糾正措施并確認(rèn)有效??赡苄枰聵悠坊蛘邤?shù)據(jù)來(lái)驗(yàn)證糾正措施。本規(guī)范中沒(méi)有規(guī)定用戶需求的個(gè)別可靠性測(cè)試或條件,它應(yīng)在供應(yīng)商與用戶需求的測(cè)試間取得一致意見(jiàn),且不妨礙器件通過(guò)本規(guī)范中規(guī)定的應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試。2.7替代的測(cè)試要求:表1任何測(cè)試要求和表格2列舉的測(cè)試條件的偏差,供應(yīng)商必須提交數(shù)據(jù)舉證等給用戶進(jìn)行核準(zhǔn)。當(dāng)把認(rèn)證測(cè)試的結(jié)果提交用戶時(shí),應(yīng)清楚地報(bào)告這些偏差以獲得批準(zhǔn)。2MLCC認(rèn)證要求及目的3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.1新器件認(rèn)證:新器件認(rèn)證的應(yīng)力測(cè)試要求流程如表1所示,表2中描述了相關(guān)的測(cè)試條件。對(duì)于每個(gè)認(rèn)證,無(wú)論是待認(rèn)證器件的應(yīng)力測(cè)試結(jié)果還是可接受的通用數(shù)據(jù),供應(yīng)商都必須有這些所有的數(shù)據(jù)。復(fù)審也應(yīng)由同類規(guī)格系列的器件構(gòu)成,以確保在這個(gè)規(guī)格系列中沒(méi)有存在普遍的失效機(jī)理。無(wú)論何時(shí)認(rèn)為通用數(shù)據(jù)的可用性,都要得到供應(yīng)商的論證和用戶的核準(zhǔn)。對(duì)于每個(gè)器件認(rèn)證,供應(yīng)商必須提供設(shè)計(jì)、建造和認(rèn)證的證書(shū)。3.2無(wú)鉛器件的認(rèn)證:當(dāng)使用到AEC-Q005無(wú)鉛要求指定的無(wú)鉛處理時(shí),需在附加要求中列出特殊質(zhì)量及可靠性問(wèn)題。無(wú)鉛過(guò)程中使用的材料包括端子鍍層及線路板的粘合(焊接)。這些新材料通常需要更高的線路板焊接溫度以使接合點(diǎn)的質(zhì)量及可靠性達(dá)到令人滿意的效果。這些“更高的溫度”很有可能對(duì)塑膠封裝器件的潮濕敏感度水平有反作用。因此,需要新的、更穩(wěn)定的鑄?;衔?。如果器件的無(wú)鉛過(guò)程要求改變封裝材料以提供足夠的穩(wěn)定性,那么供應(yīng)商應(yīng)參考本規(guī)范中規(guī)定的制程更改認(rèn)證測(cè)試要求。進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)前需要進(jìn)行預(yù)處理時(shí),應(yīng)按AEC-Q005所述的適用回流溫度進(jìn)行預(yù)處理。3.3器件的重新認(rèn)證:當(dāng)供應(yīng)商對(duì)產(chǎn)品或(和)制程作出了改變,從而影響了(或潛在影響)器件的外形、安裝、功能、質(zhì)量和(或)可靠性時(shí),該器件就需要重新認(rèn)證。3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.3.1制程改變通知:供應(yīng)商應(yīng)將所有預(yù)計(jì)的制程改變的方案提交給用戶,這個(gè)改變方案應(yīng)至少提前6個(gè)月提交。提交給用戶的信息少包括如下內(nèi)容:1)對(duì)用戶的好處(數(shù)值、時(shí)間和質(zhì)量);2)對(duì)于涉及改變的每個(gè)用戶的產(chǎn)品型號(hào),必須包括以下信息:a、供應(yīng)商的產(chǎn)品型號(hào);b、后一批未改變產(chǎn)品的預(yù)計(jì)日期;c、未改變產(chǎn)品的預(yù)計(jì)后的訂單日期和后的出貨日期;d、改變后第一批產(chǎn)品的計(jì)劃出貨日期及日期代碼;3)如果適用的話,包括材料,制程,外觀/電氣/機(jī)械特性,等級(jí),電路設(shè)計(jì),內(nèi)部器件布局和尺寸改變的詳細(xì)描述;4)支持提議更改的技術(shù)數(shù)據(jù)和基本原理;5)所有通過(guò)極端溫度后改變后可能會(huì)影響的重要電氣參數(shù)的電氣特性的比較(新和舊產(chǎn)品間)。中心值和偏差功能的改變應(yīng)作相應(yīng)說(shuō)明,即使它仍然保證符合規(guī)格限制要求。這是對(duì)具體終端應(yīng)用負(fù)面影響評(píng)估的需要;6)供應(yīng)商應(yīng)提交新的設(shè)計(jì)、建造和認(rèn)證的證書(shū)及本章節(jié)(第3.2.1章節(jié))的需求的信息,并附上影響附錄2改變信息,與先前提交的一樣。7)供應(yīng)商改變器件重新認(rèn)證測(cè)試的完整結(jié)果。項(xiàng)目1-5是背景資料,是在評(píng)估供應(yīng)上的更改和可靠性上的影響及供應(yīng)商和用戶達(dá)成可接受的資格計(jì)劃協(xié)議前所必需的。項(xiàng)目5、6和7必須在對(duì)用戶產(chǎn)品實(shí)施任何改變前提交,以獲取批準(zhǔn)。在沒(méi)有得到用戶的批準(zhǔn)前不可以實(shí)施任何改變。
3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.3.2需要重新認(rèn)證的改變:根據(jù)附錄1描述的,產(chǎn)品任何小的改變,都要進(jìn)行表格1和2-14中的適用的測(cè)試。表格3應(yīng)該作為一種指導(dǎo),用以決定哪種測(cè)試需要進(jìn)行,或可以用來(lái)作為特殊零件改變的認(rèn)證或者對(duì)于那些測(cè)試,是否相當(dāng)于通用數(shù)據(jù)來(lái)提交。此表是供應(yīng)商和用戶討論認(rèn)證需要進(jìn)行的基準(zhǔn)測(cè)試的擴(kuò)展集。供應(yīng)商有責(zé)任提交為什么不需要進(jìn)行這些測(cè)試的基本原理,或者是否測(cè)試可以用通用數(shù)據(jù)增補(bǔ)。原制程的原始測(cè)試數(shù)據(jù)(如有且適用的時(shí)候)可用作對(duì)比數(shù)據(jù)分析的基準(zhǔn)。至少,應(yīng)該在比較的基礎(chǔ)上進(jìn)行第19項(xiàng)的電氣性能測(cè)試。在實(shí)施重新認(rèn)證計(jì)劃前,供應(yīng)商和用戶之間應(yīng)達(dá)成進(jìn)行或者不進(jìn)行推薦的測(cè)試的協(xié)議。3.3.3通過(guò)重新認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn):每個(gè)用戶有責(zé)任復(fù)查數(shù)據(jù),更改通知和支持文件(在進(jìn)行的測(cè)試的結(jié)果基礎(chǔ)上確認(rèn)改變是否通過(guò)認(rèn)證)。2.6中所述的所有標(biāo)準(zhǔn)要求都適用。3.4用戶承認(rèn):一種改變不會(huì)影響器件的認(rèn)證情況,但是會(huì)影響其應(yīng)用時(shí)的性能。對(duì)于一些用戶的特別應(yīng)用將需要其對(duì)制程改變有單獨(dú)的授權(quán)許可,而許可方式則超出了本標(biāo)準(zhǔn)的范圍。
3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證表格3-陶瓷/鉭制程改變認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目選擇指南Test#FromTable2
表2的測(cè)試號(hào)345678910111213141516171819212223MATERIAL材料
BinderMaterial粘合材料
△△
△
△
DielectricChange電解質(zhì)改變△△△
△△
△△△△
△△
BC
△ElectrodeAttach電極連接△△
△
C△
BC△
ElectrodeMaterial電極材料△△△
△△
△△
△
△△
B
Encapsulation封裝
△
△△
△△
△
LeadMaterial引腳材料
△△
△△
△
△△
△B
PROCESS制程
Dicing切割△△
△△
△△
△△
△
CElectrodeApply電極施加C
C
CCC
BCC
FiringProfile加熱曲線
△△
△
△△
△
CLamination/PressTechnique
疊片/加工工藝
△
△
△△
B△
CPowderParticleSize
粉末顆粒尺寸
△
△
△
B△
Screening/Printing網(wǎng)印
C
C
C
BC
TerminationProcess端子制程△△△△△△△△△△△△△
△B△△
DESIGN設(shè)計(jì)
ElectrodeThickness電極厚度△△△
△
△
△△
△△
B
LayerThickness層厚△△△
△△
△△
△
△△
B
CLeadDiameter引腳直徑
△
△△△△△△
△
NumberofLayers層數(shù)
CC
CC
C
C
CC
BC
CTerminationArea端子面積△
△
△△
△
△△
TerminalInterface端子界面△△△△△△
△
△△△
B△△
MISCELLANEOUS其它選項(xiàng)
Mfg.SiteTransfer生產(chǎn)廠地轉(zhuǎn)移△△△△△△△△△△△△△△△△B△△CMaterialSuppliers材料供應(yīng)商△△△△△△
△△△△△△△△B△△CNew/ModifiedMfg.Equipment
新的/改變的生產(chǎn)設(shè)備
△
△△△
△A
△
△△B
C對(duì)于下面列出的改變,供應(yīng)商應(yīng)解釋為什么建議的測(cè)試不適用于給定的審議產(chǎn)品,強(qiáng)烈建議與用戶群合作。注意:字母或“△”表示相應(yīng)制程改變時(shí)應(yīng)考慮(不一定需要)的應(yīng)力測(cè)試功能A=只用于終端設(shè)備;B=需求的對(duì)比數(shù)據(jù)(未改變與改變后);C=只用于陶瓷;D=只用于鉭表格3-陶瓷/鉭制程改變認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目選擇指南Test#4.0認(rèn)證測(cè)試4.1通用測(cè)試:測(cè)試項(xiàng)目細(xì)則如表1所列。并不是所有測(cè)試都適用于一切器件,例如某些測(cè)試只適用于密封封裝器件,其他測(cè)試只適用于表面貼裝的大型罐裝器件等等(本教材截取的是MLCC試用項(xiàng)目)表1的注釋欄和表2的“附加要求”欄中指定了適用于特殊器件類型的測(cè)試。表2的“附加要求”欄中也提供了重點(diǎn)測(cè)試要求,取代了參考測(cè)試方法的那些要求。4.2器件特殊測(cè)試:對(duì)于所有待認(rèn)證特殊器件,必須進(jìn)行以下測(cè)試。通用數(shù)據(jù)不允許用在這些器件上。如果已經(jīng)存在的器件特殊數(shù)據(jù)則是可以接受的:1.ESD靜電放電---所有產(chǎn)品;2.電氣特性-供應(yīng)商必須證明器件能夠滿足用戶規(guī)格說(shuō)明的參數(shù)限制。數(shù)據(jù)必須取自通過(guò)了指定的溫度范圍的樣品至少三個(gè)批次;3.根據(jù)用戶與供應(yīng)商的經(jīng)驗(yàn)可能需要進(jìn)行其他測(cè)試。4.3數(shù)據(jù)呈交格式:數(shù)據(jù)摘要按附錄4要求呈交。如果用戶有需求,應(yīng)提交原始數(shù)據(jù)及柱狀圖。供應(yīng)商應(yīng)按照QS-9000的要求保存所有的數(shù)據(jù)及文件(如:不進(jìn)行試驗(yàn)的原由等等)4.0認(rèn)證測(cè)試附錄4附錄45.0部分AECQ200可靠性測(cè)試項(xiàng)目簡(jiǎn)介5.1溫度循環(huán)(JEDEC22A-104)試驗(yàn)條件:-55℃(30min)←→125℃(30min)/RAMP(15℃/min)/1000cycles
5.0部分AECQ200可靠性測(cè)試項(xiàng)目簡(jiǎn)介5.2濕度抵抗(MIL-STD-202-106):
(25℃←→65℃/90%R.H.*2cycle)/18h→-10℃/3h,每一cycle共24h,step7a&7b不通電
5.2濕度抵抗(MIL-STD-202-106):5.3溫度沖擊(MIL-STD-202-107):-40℃(15min)←→125℃(15min)/300cycles
5.3溫度沖擊(MIL-STD-202-107):THANKYOU!THANKYOU!AEC-Q200簡(jiǎn)介AEC-Q200簡(jiǎn)介一、背景什么是AEC?AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil:汽車電子協(xié)會(huì)”的簡(jiǎn)稱??巳R斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車電子委員會(huì)(AEC),是主要汽車制造商與美國(guó)的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認(rèn)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格化為目的的團(tuán)體,AEC建立了質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),由于符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時(shí)采用,促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿,并推動(dòng)了汽車零件通用性的實(shí)施,為汽車零部件市場(chǎng)的快速成長(zhǎng)打下基礎(chǔ)。主要的汽車電子成員有:Autoliv,Continental,Delphi,JohnsonControls和Visteon。AEC-Q200認(rèn)證是什么?AEC-Q200:stresstestqualificationforpassivecomponents--被動(dòng)元件汽車級(jí)品質(zhì)認(rèn)證;汽車電子的過(guò)電壓保護(hù)存在更為嚴(yán)苛的電路條件,因此一般要求制造商通過(guò)ISO/TS16949的質(zhì)量體系認(rèn)證,相關(guān)的分立器件要求通過(guò)AECQ101認(rèn)證,被動(dòng)元件要求通過(guò)AECQ200認(rèn)證,是非常嚴(yán)苛的認(rèn)證規(guī)范。一般來(lái)說(shuō)12V的汽車電子系統(tǒng)使用5-6KW28V的TVS(瞬態(tài)抑制二極管),24V的汽車電子系統(tǒng)使用36V的TVS即可。AEC-Q200與TS的區(qū)別?TS16949是管理體系,AEC-Q200是是針對(duì)汽車上應(yīng)用的被動(dòng)元器件的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。一、背景什么是AEC?二、條款簡(jiǎn)要內(nèi)容1.1描述AECQ定義了無(wú)源電子器件的低應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證要求和參考測(cè)試條件。使用本標(biāo)準(zhǔn)并不是要解除供應(yīng)商自己內(nèi)部認(rèn)證項(xiàng)目的責(zé)任性。在本文中,其中的用戶被定義為所有按照規(guī)格書(shū)使用其認(rèn)證器件的用戶,用戶有責(zé)任去證實(shí)確認(rèn)所有的認(rèn)證數(shù)據(jù)與本文件相一致。1.1.1
應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試的定義:應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試定義為成功地完成本標(biāo)準(zhǔn)中定義的測(cè)試。每一種無(wú)源電子器件要求的低溫度范圍(大能力)以及各等級(jí)的典型運(yùn)用案例(指定應(yīng)用)列于下表:如果成功完成備注中的器件類型達(dá)到的低溫度等級(jí)的資格認(rèn)證,那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了該等級(jí)或更低等級(jí)的“AEC認(rèn)證”。對(duì)于低于上述低溫度的資格鑒定,將僅允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了較低等級(jí)的“AEC認(rèn)證”。等級(jí)溫度范圍無(wú)源器件類型典型的應(yīng)用案例最低最高最大能力(除非有特別指定和認(rèn)證)0-50°C+150°C扁平芯片陶瓷電阻器、X8R陶瓷電容器所有的汽車1-40°C+125°C網(wǎng)絡(luò)電容器、電阻器、電感、變壓器、熱敏電阻,共鳴器、晶體和變阻器,所有其它的陶瓷和鉭電容器大部分引擎2-40°C+105°C鋁電解電容器乘客倉(cāng)高熱點(diǎn)3-40°C+85°C薄膜電容器,鐵氧體,R/R-C網(wǎng)絡(luò)和可調(diào)電容器多數(shù)乘客倉(cāng)40°C+70°C/非汽車類1.1.2應(yīng)用承認(rèn):承認(rèn)被定義為用戶同意在他們的應(yīng)用及任何適用的補(bǔ)充文件和任何適用的用戶封裝規(guī)格中使用某零件,但用戶承認(rèn)的方式已經(jīng)超出了本文件的范圍.二、條款簡(jiǎn)要內(nèi)容1.1描述等級(jí)溫度范圍無(wú)源器件類型典型的應(yīng)2MLCC認(rèn)證要求及目的2.1AECQ
認(rèn)證規(guī)范的目的是保證MLCC滿足表1/表2測(cè)試項(xiàng)目的要求。表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方式NO注釋樣品數(shù)/批批次接受標(biāo)準(zhǔn)Pre-andPost-StressElectricalTest
應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試1G所有進(jìn)行認(rèn)證的產(chǎn)品都應(yīng)送去測(cè)試0HighTemperatureExposure
高溫存儲(chǔ)3DG77NoteB10TemperatureCycling
溫度循環(huán)4DG77NoteB10DestructivePhysicalAnalysis
破壞性物理分析5DG77NoteB10MoistureResistance
濕度抵抗6DG77NoteB10HumidityBias
偏高濕度7DG77NoteB10HighTemperatureOperatingLife
高溫工作壽命8DG77NoteB10ExternalVisual
外觀9NG所有提交認(rèn)證的產(chǎn)品0PhysicalDimensions
尺寸10NG3010ResistancetoSolvent
溶劑抵抗12DG510N:非破壞性測(cè)試,器件可用于組裝到板子上進(jìn)行其它測(cè)試或者可用于生產(chǎn);D:破壞性測(cè)試,器件不可重新用于認(rèn)證測(cè)試或生產(chǎn);S:只要求用于表面貼裝元件;G:允許通用數(shù)據(jù)2MLCC認(rèn)證要求及目的表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方式NO注釋樣品數(shù)/批批次接受標(biāo)準(zhǔn)MechanicalShock
機(jī)械沖擊13DG30NoteB10Vibration振動(dòng)14DG30NoteB10ResistancetoSolderHeat
抗焊接熱15DG3010ThermalShock熱沖擊16DG3010ESD靜電放電17D1510Solderability可焊性18D15每種條件10ElectricalCharacterization
電氣特性19NG30NoteA10Flammability可燃性20DPresentcertificateofcompliance提供合格證明書(shū)B(niǎo)oardFlex板彎曲21DS3010TerminalStrength(SMD)
端子強(qiáng)度(表面貼裝元件)22DS3010BeamLoad
射束負(fù)載(斷裂強(qiáng)度)23DG3010N:非破壞性測(cè)試,器件可用于組裝到板子上進(jìn)行其它測(cè)試或者可用于生產(chǎn);D:破壞性測(cè)試,器件不可重新用于認(rèn)證測(cè)試或生產(chǎn);S:只要求用于表面貼裝元件;G:允許通用數(shù)據(jù)2MLCC認(rèn)證要求及目的表1-認(rèn)證測(cè)試樣品數(shù)量要求應(yīng)力方式NO注釋樣品數(shù)/批批次接2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方式No.測(cè)試方法附加要求CPQIR對(duì)應(yīng)國(guó)標(biāo)Pre-andPost-StressElectricalTest
應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試1UserSpec.用戶規(guī)格需在25±5°C進(jìn)行測(cè)試,除了適用的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和表2中的附加要求指定之外。指定限制范圍內(nèi)指定限制范圍內(nèi)指定限制范圍內(nèi)電性能HighTemperatureExposure
(Storage)高溫存儲(chǔ)3MIL-STD-202Method108不通電,在大額定溫度下放置器件1000小時(shí)。試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。初始限制初始限制>=初始限制高溫試驗(yàn)TemperatureCycling溫度循環(huán)4JESD22MethodJA-1041000個(gè)循環(huán)(-55°C到+125°C);試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。每個(gè)溫度的停留時(shí)間不超過(guò)30分鐘,轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過(guò)1分鐘。Change<=+/-x%初始限制>=初始限制溫度循環(huán)
高低溫沖擊?DestructivePhysicalAnalysis
破壞性物理分析5EIA-469只適用于表面貼裝陶瓷。不需要進(jìn)行電氣測(cè)試。根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試DPAMoistureResistance濕度抵抗6MIL-STD-202Method106每循環(huán)24h(25℃~≥90RH~25℃~≥90RH),步驟7a和7b可以不做,試驗(yàn)后24±2h內(nèi)測(cè)量(適用于薄膜電容)Change<=+/-x%>=aV:<=b%;cVto<dV:<=e%;dto<fV:<=g%>=初始限制循環(huán)濕熱BiasedHumidity偏高濕度7MIL-STD-202Method103在溫度85°C,濕度85%的條件下放置1000小時(shí)。
指定條件:額定電壓和1.3~1.5倍電壓。試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。Change<=+/-x%<a%*初始值>=初始限制加速穩(wěn)態(tài)濕熱
(潮濕負(fù)荷)OperationalLife工作壽命8MIL-STD-202Method108條件D(1000h)穩(wěn)定狀態(tài)TA=125°,試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試,在大額定溫度和額定電壓下放置器件。Change<=+/-x%<a%*初始值>=初始限制耐久性ExternalVisual外觀9MIL-STD-883Method2009檢查器件結(jié)構(gòu),標(biāo)識(shí)和工藝質(zhì)量,不要求電氣測(cè)試。根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試外觀PhysicalDimension尺寸10JESD22MethodJB-100按適用的器件規(guī)格驗(yàn)證物理尺寸。注意:用戶和供應(yīng)商規(guī)格,不要求電氣測(cè)試。根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試尺寸ResistancetoSolvents
溶劑抵抗12MIL-STD-202Method215注意:適用于被標(biāo)識(shí)和/或涂層的器件。增加水洗清洗劑-OKEM清洗劑(6%濃度的Oakite清洗劑(表面活性劑及堿的混合物,包括苛性鈉、硅酸鹽及磷酸鹽))或其它相同的溶劑。初始限制初始限制初始限制溶劑抵抗2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方式No.測(cè)試方法附加要求CPQIR對(duì)應(yīng)國(guó)標(biāo)MechanicalShock機(jī)械沖擊13MIL-STD-202Method213XYZ三個(gè)方向沖擊,半正弦脈沖,持續(xù)時(shí)間0.5ms,峰值加速度1500g,初始限制初始限制初始限制機(jī)械沖擊Vibration振動(dòng)14MIL-STD-202Method204測(cè)試頻率從10-2000赫茲,5g/s的力20分鐘,三個(gè)方向每個(gè)方向12個(gè)循環(huán)。初始限制初始限制初始限制振動(dòng)ResistancetoSolderingHeat
抗焊接熱15MIL-STD-202Method210260±5℃,時(shí)間10±1s,浸入深度1.27mmChange<=+/-x%初始限制初始限制耐焊接熱ESD靜電放電17AEC-Q200-002OrISO/DIS10605/初始限制初始限制初始限制ESDSolderability可焊性18J-STD-002水蒸*h,(助焊劑:松香+異丙醇)255±5oC,深度為0.10mm,停留時(shí)間5s+0.5s/-0根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試可焊性ElectricalCharacterization
電氣特性19UserSpec.用戶規(guī)格按批次和樣品數(shù)量要求進(jìn)行參數(shù)試驗(yàn),總結(jié)列出室溫下及低,高工作溫度下器件的小值,大值,平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。至少要測(cè)量低溫度/室溫/高溫度下的參數(shù)CP,DF,IR。見(jiàn)參數(shù)表格中的建議。初始限制
Change<=+/-x%
初始限制
無(wú)要求初始限制
耐電壓:25%的額定電壓電性能BoardFlex板彎曲21AEC-Q200-005只適用于MLCC,至少60秒的支撐時(shí)間初始限制(>=xmm在電氣不良點(diǎn)記錄撓度)彎曲TerminalStrength(SMD)
端子強(qiáng)度(表面貼裝元件)22AEC-Q200-006施加平行于瓷體的推力(17.7N/1.8Kg),端頭不脫落、瓷體無(wú)損傷不斷裂初始限制初始限制初始限制附著力BeamLoadTest
射束負(fù)載(斷裂強(qiáng)度)23AEC-Q200-003施加垂直于瓷體的壓力,瓷體無(wú)損傷不斷裂
0603andgreater:xN;0402andless:yN
根據(jù)AEC-Q200–不需要電氣測(cè)試瓷體強(qiáng)度注意:預(yù)前應(yīng)力電氣測(cè)試也作為電氣特性。1000小時(shí)試驗(yàn)過(guò)程中需要在250和500小時(shí)進(jìn)行間隔測(cè)量2MLCC認(rèn)證要求及目的表2-鉭和陶瓷電容器參考方法應(yīng)力方2MLCC認(rèn)證要求及目的2.2優(yōu)先要求:當(dāng)該標(biāo)準(zhǔn)中的要求與其他文件相沖突時(shí),可采用以下優(yōu)先順序:1.采購(gòu)訂單;2.用戶的個(gè)別器件規(guī)格;3.本文件標(biāo)準(zhǔn);4.本標(biāo)準(zhǔn)的參考文件(Military/EIA軍用級(jí)/電子工業(yè)、Industrial工業(yè)級(jí)等);5.供應(yīng)商的數(shù)據(jù)規(guī)格對(duì)于被認(rèn)為合格認(rèn)證器件,采購(gòu)訂單和/或個(gè)別器件規(guī)格不能放棄或者免除本文件的要求。2.3滿足認(rèn)證和重新認(rèn)證要求的通用數(shù)據(jù)的使用:通用數(shù)據(jù)(可通過(guò)范圍“4個(gè)角”獲得(例如大值/溫度極值/被評(píng)估的電壓等))是供應(yīng)商可以使用的每個(gè)認(rèn)證系列產(chǎn)品的特殊數(shù)據(jù)的替代品。供應(yīng)商需要對(duì)給出的器件家族的四個(gè)角的構(gòu)成進(jìn)行定義(例如:電容器要求的中/低/高C值,高/低值等和對(duì)用戶的聯(lián)系作為認(rèn)證報(bào)告的一部分,這些角需要考慮不同的材料(例如:帶有幾種不同介電質(zhì)的X7R電容器,厚度,層數(shù),粉末的K值等),代表系列規(guī)格完成認(rèn)證則可聲明產(chǎn)品系列通過(guò)AECQ200認(rèn)證。通用數(shù)據(jù)的來(lái)源應(yīng)該是供應(yīng)商經(jīng)鑒定過(guò)的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室(認(rèn)證項(xiàng)目均具有第三方資質(zhì)),它包括內(nèi)部供應(yīng)商認(rèn)證,用戶特殊認(rèn)證,以及供應(yīng)商過(guò)程監(jiān)控。提交的通用數(shù)據(jù)必須達(dá)到或超過(guò)表2中列出的測(cè)試條件。終端測(cè)試溫度必須達(dá)到差的溫度極端并滿足設(shè)計(jì)的產(chǎn)品壽命應(yīng)用。用戶有終權(quán)接受通用數(shù)據(jù)來(lái)代替測(cè)試數(shù)據(jù)(包括器件的溫度范圍)。2.3.1磨損可靠性測(cè)試(壽命測(cè)試)與壽命相關(guān)的材料和新技術(shù)無(wú)論何時(shí)被認(rèn)證,其機(jī)理都必須貼合實(shí)際應(yīng)用(數(shù)據(jù)、測(cè)試方法、計(jì)算和內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)在每種新器件的認(rèn)證上不需要論證和執(zhí)行,但應(yīng)滿足用戶的要求)。注意:由于該信息包含了供應(yīng)商的所有權(quán)信息,它可能會(huì)涉及機(jī)密性的協(xié)議。2MLCC認(rèn)證要求及目的2MLCC認(rèn)證要求及目的2.4測(cè)試樣品:2.4.1批次要求:批次要求在表格1中有說(shuō)明;2.4.2生產(chǎn)要求:所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理,有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸;2.4.3測(cè)試樣品的再利用:已經(jīng)用來(lái)做非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來(lái)做其他認(rèn)證測(cè)試,而做過(guò)破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用;2.4.4樣品數(shù)量要求:用于認(rèn)證測(cè)試的樣品數(shù)量與(或)提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中指定的小樣品數(shù)量和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果供應(yīng)商選擇使用通用數(shù)據(jù)來(lái)認(rèn)證,則特殊的測(cè)試條件和結(jié)果必須報(bào)告。現(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應(yīng)首先滿足這些要求和表1中2.3節(jié)的每個(gè)測(cè)試要求。這樣的通用數(shù)據(jù)必須是2年內(nèi)的。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求,就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。當(dāng)對(duì)大量的器件進(jìn)行應(yīng)力測(cè)試時(shí),禁止在可靠性測(cè)試中對(duì)產(chǎn)品使用夾具;2.4.5預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求:除非適用的測(cè)試的附加要求章節(jié)中有指定,預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后只在標(biāo)稱溫度(室溫)下進(jìn)行。在更高等級(jí)環(huán)境應(yīng)用的認(rèn)證,溫度特殊值必須設(shè)有差情況和應(yīng)用的設(shè)計(jì)產(chǎn)品壽命,即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來(lái)設(shè)置溫度等級(jí)極端。例如,如果某供應(yīng)商設(shè)計(jì)一種器件,有意設(shè)置在工作溫度等級(jí)3環(huán)境(-40℃到+80℃),那么終端測(cè)試溫度極端僅需將其作為限定,供適用的應(yīng)力測(cè)試要求指定工作溫度極端下的電氣測(cè)試。針對(duì)更高工作溫度等級(jí)環(huán)境(等級(jí)1的-40℃到+125℃)應(yīng)用中的認(rèn)證,要測(cè)試至少一個(gè)批次能用到附加終端測(cè)試溫度極端的器件。所有的終端測(cè)試條件必須包括了給定產(chǎn)品系列的所有規(guī)格。2MLCC認(rèn)證要求及目的2MLCC認(rèn)證要求及目的2.5應(yīng)力測(cè)試失效后的定義:測(cè)試失效定義為器件不符合用戶個(gè)別的器件規(guī)格,應(yīng)力測(cè)試后的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表,其重要性依次定義在2.2節(jié)中。任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和用戶認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因,失效就算不上,但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。供應(yīng)商必須描述每個(gè)應(yīng)力測(cè)試的參數(shù)失效標(biāo)準(zhǔn)作為向用戶提交認(rèn)證數(shù)據(jù)的一部分以批準(zhǔn)。每種器件類型建議的參數(shù)清單應(yīng)包含在每種器件類型測(cè)試表格的后面。2.6通過(guò)認(rèn)證測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn):通過(guò)了表1和表2里所有指定相應(yīng)認(rèn)證測(cè)試,或通過(guò)進(jìn)行指定產(chǎn)品測(cè)試(使用規(guī)定的少抽樣數(shù)量時(shí),接受零失效)或者證明可接受的產(chǎn)品系列的通用數(shù)據(jù)(使用表1中指定的系列和總需求的批次和抽樣數(shù)量),根據(jù)規(guī)范認(rèn)證產(chǎn)品。根據(jù)本規(guī)范,通過(guò)表1所有測(cè)試的接受標(biāo)準(zhǔn)和表2中的條件來(lái)認(rèn)證。當(dāng)表1中給定的測(cè)試的任何失效數(shù)量超過(guò)此程序使用的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)時(shí),器件將不具有認(rèn)證資格,直到在8D或者其他用戶可接受格式中確定了失敗根源,實(shí)施了糾正措施并確認(rèn)有效??赡苄枰聵悠坊蛘邤?shù)據(jù)來(lái)驗(yàn)證糾正措施。本規(guī)范中沒(méi)有規(guī)定用戶需求的個(gè)別可靠性測(cè)試或條件,它應(yīng)在供應(yīng)商與用戶需求的測(cè)試間取得一致意見(jiàn),且不妨礙器件通過(guò)本規(guī)范中規(guī)定的應(yīng)力認(rèn)證測(cè)試。2.7替代的測(cè)試要求:表1任何測(cè)試要求和表格2列舉的測(cè)試條件的偏差,供應(yīng)商必須提交數(shù)據(jù)舉證等給用戶進(jìn)行核準(zhǔn)。當(dāng)把認(rèn)證測(cè)試的結(jié)果提交用戶時(shí),應(yīng)清楚地報(bào)告這些偏差以獲得批準(zhǔn)。2MLCC認(rèn)證要求及目的3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.1新器件認(rèn)證:新器件認(rèn)證的應(yīng)力測(cè)試要求流程如表1所示,表2中描述了相關(guān)的測(cè)試條件。對(duì)于每個(gè)認(rèn)證,無(wú)論是待認(rèn)證器件的應(yīng)力測(cè)試結(jié)果還是可接受的通用數(shù)據(jù),供應(yīng)商都必須有這些所有的數(shù)據(jù)。復(fù)審也應(yīng)由同類規(guī)格系列的器件構(gòu)成,以確保在這個(gè)規(guī)格系列中沒(méi)有存在普遍的失效機(jī)理。無(wú)論何時(shí)認(rèn)為通用數(shù)據(jù)的可用性,都要得到供應(yīng)商的論證和用戶的核準(zhǔn)。對(duì)于每個(gè)器件認(rèn)證,供應(yīng)商必須提供設(shè)計(jì)、建造和認(rèn)證的證書(shū)。3.2無(wú)鉛器件的認(rèn)證:當(dāng)使用到AEC-Q005無(wú)鉛要求指定的無(wú)鉛處理時(shí),需在附加要求中列出特殊質(zhì)量及可靠性問(wèn)題。無(wú)鉛過(guò)程中使用的材料包括端子鍍層及線路板的粘合(焊接)。這些新材料通常需要更高的線路板焊接溫度以使接合點(diǎn)的質(zhì)量及可靠性達(dá)到令人滿意的效果。這些“更高的溫度”很有可能對(duì)塑膠封裝器件的潮濕敏感度水平有反作用。因此,需要新的、更穩(wěn)定的鑄?;衔铩H绻骷臒o(wú)鉛過(guò)程要求改變封裝材料以提供足夠的穩(wěn)定性,那么供應(yīng)商應(yīng)參考本規(guī)范中規(guī)定的制程更改認(rèn)證測(cè)試要求。進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)前需要進(jìn)行預(yù)處理時(shí),應(yīng)按AEC-Q005所述的適用回流溫度進(jìn)行預(yù)處理。3.3器件的重新認(rèn)證:當(dāng)供應(yīng)商對(duì)產(chǎn)品或(和)制程作出了改變,從而影響了(或潛在影響)器件的外形、安裝、功能、質(zhì)量和(或)可靠性時(shí),該器件就需要重新認(rèn)證。3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.3.1制程改變通知:供應(yīng)商應(yīng)將所有預(yù)計(jì)的制程改變的方案提交給用戶,這個(gè)改變方案應(yīng)至少提前6個(gè)月提交。提交給用戶的信息少包括如下內(nèi)容:1)對(duì)用戶的好處(數(shù)值、時(shí)間和質(zhì)量);2)對(duì)于涉及改變的每個(gè)用戶的產(chǎn)品型號(hào),必須包括以下信息:a、供應(yīng)商的產(chǎn)品型號(hào);b、后一批未改變產(chǎn)品的預(yù)計(jì)日期;c、未改變產(chǎn)品的預(yù)計(jì)后的訂單日期和后的出貨日期;d、改變后第一批產(chǎn)品的計(jì)劃出貨日期及日期代碼;3)如果適用的話,包括材料,制程,外觀/電氣/機(jī)械特性,等級(jí),電路設(shè)計(jì),內(nèi)部器件布局和尺寸改變的詳細(xì)描述;4)支持提議更改的技術(shù)數(shù)據(jù)和基本原理;5)所有通過(guò)極端溫度后改變后可能會(huì)影響的重要電氣參數(shù)的電氣特性的比較(新和舊產(chǎn)品間)。中心值和偏差功能的改變應(yīng)作相應(yīng)說(shuō)明,即使它仍然保證符合規(guī)格限制要求。這是對(duì)具體終端應(yīng)用負(fù)面影響評(píng)估的需要;6)供應(yīng)商應(yīng)提交新的設(shè)計(jì)、建造和認(rèn)證的證書(shū)及本章節(jié)(第3.2.1章節(jié))的需求的信息,并附上影響附錄2改變信息,與先前提交的一樣。7)供應(yīng)商改變器件重新認(rèn)證測(cè)試的完整結(jié)果。項(xiàng)目1-5是背景資料,是在評(píng)估供應(yīng)上的更改和可靠性上的影響及供應(yīng)商和用戶達(dá)成可接受的資格計(jì)劃協(xié)議前所必需的。項(xiàng)目5、6和7必須在對(duì)用戶產(chǎn)品實(shí)施任何改變前提交,以獲取批準(zhǔn)。在沒(méi)有得到用戶的批準(zhǔn)前不可以實(shí)施任何改變。
3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證3.3.2需要重新認(rèn)證的改變:根據(jù)附錄1描述的,產(chǎn)品任何小的改變,都要進(jìn)行表格1和2-14中的適用的測(cè)試。表格3應(yīng)該作為一種指導(dǎo),用以決定哪種測(cè)試需要進(jìn)行,或可以用來(lái)作為特殊零件改變的認(rèn)證或者對(duì)于那些測(cè)試,是否相當(dāng)于通用數(shù)據(jù)來(lái)提交。此表是供應(yīng)商和用戶討論認(rèn)證需要進(jìn)行的基準(zhǔn)測(cè)試的擴(kuò)展集。供應(yīng)商有責(zé)任提交為什么不需要進(jìn)行這些測(cè)試的基本原理,或者是否測(cè)試可以用通用數(shù)據(jù)增補(bǔ)。原制程的原始測(cè)試數(shù)據(jù)(如有且適用的時(shí)候)可用作對(duì)比數(shù)據(jù)分析的基準(zhǔn)。至少,應(yīng)該在比較的基礎(chǔ)上進(jìn)行第19項(xiàng)的電氣性能測(cè)試。在實(shí)施重新認(rèn)證計(jì)劃前,供應(yīng)商和用戶之間應(yīng)達(dá)成進(jìn)行或者不進(jìn)行推薦的測(cè)試的協(xié)議。3.3.3通過(guò)重新認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn):每個(gè)用戶有責(zé)任復(fù)查數(shù)據(jù),更改通知和支持文件(在進(jìn)行的測(cè)試的結(jié)果基礎(chǔ)上確認(rèn)改變是否通過(guò)認(rèn)證)。2.6中所述的所有標(biāo)準(zhǔn)要求都適用。3.4用戶承認(rèn):一種改變不會(huì)影響器件的認(rèn)證情況,但是會(huì)影響其應(yīng)用時(shí)的性能。對(duì)于一些用戶的特別應(yīng)用將需要其對(duì)制程改變有單獨(dú)的授權(quán)許可,而許可方式則超出了本標(biāo)準(zhǔn)的范圍。
3.0認(rèn)證和重新認(rèn)證表格3-陶瓷/鉭制程改變認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目選擇指南Test#FromTable2
表2的測(cè)試號(hào)345678910111213141516171819212223MATERIAL材料
BinderMaterial粘合材料
△△
△
△
DielectricChange電解質(zhì)改變△△
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