標準解讀
《GB/T 13387-1992 電子材料晶片參考面長度測量方法》是一項由中國發(fā)布的國家標準,旨在規(guī)定電子材料領域內(nèi)晶片參考面長度的測量原則、程序和要求,以確保測量結(jié)果的準確性和可比性。該標準適用于半導體材料、集成電路基板等電子材料晶片參考面長度的測定。以下是該標準的主要內(nèi)容概述:
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范圍:明確了本標準適用的對象為電子材料晶片,特別是其參考面上的長度測量。參考面通常指晶片加工或特性評估中作為基準的平面。
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術語和定義:對涉及的術語進行了明確界定,如晶片、參考面、長度等基本概念,確保了在執(zhí)行測量時各方有統(tǒng)一的理解基礎。
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測量原理:介紹了采用光學、電子顯微鏡或其他合適手段進行長度測量的基本原理,這些方法需保證非接觸、高精度且不對晶片造成損傷。
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測量設備:詳細說明了用于測量的儀器設備應滿足的要求,包括但不限于分辨率、精度、重復性等技術指標,確保測量工具的可靠性。
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樣品制備與處理:規(guī)定了晶片在測量前的準備步驟,如清潔、固定等,以避免外部因素干擾測量結(jié)果。
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測量步驟:詳細闡述了測量過程中的具體操作步驟,包括如何定位參考點、選擇合適的測量區(qū)域、實施測量以及數(shù)據(jù)記錄等,確保測量流程的標準化。
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數(shù)據(jù)處理與誤差分析:提供了數(shù)據(jù)處理的方法,如平均值計算、異常值剔除及測量誤差的評估準則,幫助用戶正確分析測量結(jié)果并合理評估不確定性。
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質(zhì)量控制:強調(diào)了實施質(zhì)量控制的重要性,建議通過定期校準測量設備、比對實驗等方式來監(jiān)控和保證測量結(jié)果的準確性。
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安全與環(huán)境保護:簡要提及了在測量過程中應注意的安全措施和環(huán)境保護要求,確保操作人員安全及環(huán)境不受損害。
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文檔簡介
UDC669.782-172-415:531.71H21中華人民共和國國家標準GB/T133877—92電子材料晶片參考面長度測量方法Testmethodformeasuringflatlengthonslicesofelectronicmaterials1992-02-19發(fā)布1992-10-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標準電子材料晶片參考面長度測量方法GB/T13387-92Testmethodformeasuringflatlengthonslicesofelectronicmaterials主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了電子材料品片參考面長度的測量方法。本標準適用于測量各種直徑的硅拋光片、研磨片和切割片的參考面長度。i。也適用于測量砷化鏢、藍寶石和乳鏢石榴石等材料品片的參考面長度。2引用標準GB2828逐批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)3方法提要利用光學投影儀,把品片參考面投影到顯示屏上,使參考面一端與顯示屏上的基準點對準,記錄測微計讀數(shù)。然后調(diào)節(jié)載物臺,使參考面另一端與基準點對準,再次記錄測微計該數(shù)。兩次讀數(shù)之差即為晶片的參考面長度。4測量儀器4.1光學投影儀,由以下幾部分構(gòu)成4.1.1光學系統(tǒng),放大倍數(shù)為20倍。4.1.2載物臺.X軸行程應大于品片的參考面長度,Y軸行程為0~25mm,X軸測微計精度優(yōu)于2S:m4.1.3顯示屏,最小直徑為254mm?!?1.4輪廊板,由半透明材料制成,板上有兩條相互垂直的基準線相交于中央,在垂直基準線的中心上下,各有10個1mm間隔的刻度,
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