標(biāo)準解讀
GB/T 15078-1994 是一項中國國家標(biāo)準,全稱為《貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法》。該標(biāo)準詳細規(guī)定了如何測量使用貴金屬制成的電觸點材料在接觸狀態(tài)下的電阻值,以確保電子元器件如繼電器、開關(guān)等在工作時能保持良好的導(dǎo)電性能和可靠性。以下是該標(biāo)準主要內(nèi)容的概述:
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適用范圍:本標(biāo)準適用于以金、銀、鉑及其合金為主要成分的電觸點材料,在一定條件下的接觸電阻測量。這些材料廣泛應(yīng)用于需要高可靠性和低電阻接觸的電氣連接中。
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術(shù)語定義:明確了“接觸電阻”、“觸點對”、“加載力”等關(guān)鍵術(shù)語的定義,為測量提供統(tǒng)一的語言基礎(chǔ)。
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測量原理:采用四線法(也稱作凱爾文法)進行測量,這種方法可以有效減小引線電阻對測量結(jié)果的影響,提高測量精度。通過在觸點間施加一定的電壓,測量流經(jīng)觸點的電流,根據(jù)歐姆定律計算接觸電阻。
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試驗條件:
- 環(huán)境條件:規(guī)定了測量時的環(huán)境溫度、濕度等要求,以減少外界因素對測量結(jié)果的干擾。
- 加載力:明確加載于觸點上的力的大小及施加方式,因為加載力直接影響觸點接觸的緊密度和電阻值。
- 電壓與電流:規(guī)定了用于測量的電壓范圍和測量電流,確保在安全范圍內(nèi)進行測試,同時避免因電流過大導(dǎo)致的觸點損傷。
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試驗設(shè)備:描述了用于接觸電阻測量的儀器設(shè)備應(yīng)滿足的要求,包括電壓源、電流計、負載電阻等,確保測量設(shè)備的準確性和穩(wěn)定性。
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測量步驟:詳細說明了從樣品準備到測量操作的具體流程,包括觸點對的安裝、加載力的施加、電壓的施加、電流的測量及接觸電阻的計算方法。
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數(shù)據(jù)處理與結(jié)果表示:規(guī)定了如何處理測量數(shù)據(jù),包括異常值的處理、多次測量結(jié)果的平均值計算,以及最終結(jié)果的表示形式。
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試驗報告:要求記錄所有相關(guān)的試驗條件、測量數(shù)據(jù)、使用的設(shè)備信息及任何可能影響結(jié)果的因素,以確保試驗的可追溯性和重復(fù)性。
此標(biāo)準旨在為貴金屬電觸點材料的生產(chǎn)商、用戶以及檢測機構(gòu)提供一個統(tǒng)一、準確的接觸電阻測量方法,保障產(chǎn)品質(zhì)量和性能評估的一致性。
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文檔簡介
UDC.669.21/.23:537.311.4百21中華人民共和國國家標(biāo)準GB/T15078-94貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法MeasuringmethodforcontactresistanceofDreciousmetalelectricallcontactmaterials1994-05-11發(fā)布1994-12-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準貴金屬電觸點材料接觸電阻的測量方法GB/T15078-94MeasuringmethodforcontactresistanceofDrectousmetalelectricalcontactmaterials1主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準規(guī)定了貴金屬及其合金電觸點材料接觸電阻的測量方法(靜態(tài)接觸)。本標(biāo)準適用于貴金屬及其合金電觸點材料接觸電阻的測量。其他金屬及合金電觸點材料亦可參照使用2引用標(biāo)準GB8170數(shù)值修約規(guī)則3術(shù)語和定義3.1靜態(tài)接觸staticcontact觸點相互靜止接觸、無連續(xù)性的離合動作。3.2收縮電阻constrictionresistance電流通過接觸面時,因電流線急劇收縮而產(chǎn)生的電阻增量。3.3膜電阻membraneresistance觸點表面膜所產(chǎn)生的電阻。3.4接觸電阻contactresistance電流通過觸點時在接觸處產(chǎn)生的電阻。它是收縮電阻與膜電阻之和。3.5體積電阻bulkresistance觸點材料自身的電阻。其數(shù)值與材料的電阻率和幾何尺寸有關(guān)。3.6探頭probe瀏量試樣接觸電阻的一種裝置。測量時直接與試樣的待測面接觸,與試樣接觸的探頭表面為參考面,參考面可以為不同的形狀。3.7開路電壓opencircuitvoltage深頭與試樣脫離接觸時,加在它們之間的穩(wěn)態(tài)電壓。方法原理4.1采用四端子電阻測量法測量接觸電阻。當(dāng)穩(wěn)定的電流7通過相互接觸的探頭和試樣時,在接觸處的兩邊將產(chǎn)生一個接觸電位差V.。只要準確測量出和V.即可計算出探頭與試樣之間的接阻電阻R5測量裝置測量裝置由接觸實驗機、接觸電流回
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