ICS19.100J04中華人民共和國國家標準GB/T15822.1-2005/ISO9934-1:2001代替GB/T15822-1995無損檢測磁粉檢測第1部分:總則Non-destructivetesting-Magneticparticletesting-Part1:Generalprinciples(ISO9934-1:2001.IDT)2005-09-19發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T15822.1-2005/ISO9934-1：2001三前言范圍2規(guī)范性引用文件3術語和定義A人員資格鑒定與認證5安全與環(huán)境要求6檢測規(guī)程7表面準備8磁化·…………一般要求8.2化驗證8.3磁化技術9檢測介質(zhì)9.1介質(zhì)的性能與選擇9.2檢測介質(zhì)的檢驗9.3檢測介質(zhì)的施加10觀察條件………10.1彩色介質(zhì)10.2熒光介質(zhì)11綜合性能檢驗顯示的記錄與解釋13退磁14清洗檢測報告·……1511附錄A（資料性附錄）各種磁化技術中達到規(guī)定切向場強所需電流的計算示例12

GB/T15822.1-2005/ISO9934-1:2001GB/T15822《無損檢測磁粉檢測》分為3個部分：-第1部分：總則；第2部分：檢測介質(zhì)；-第3部分：設備。本部分為GB/T15822的第1部分，等同采用ISO9934-1:2001《無損檢測磁粉檢測第1部分：總則》(英文版)。本部分等同翻譯ISO9934-1:2001.為便于使用，本部分做了下列編輯性修改：“本歐洲標準"和"本標準"一詞改為"本部分"或"GB/T15822的本部分”用小數(shù)點"."代替作為小數(shù)點的運號","：C）刪除國際標準的前言；使用GB/T1.1-2000規(guī)定的引導語本部分代替GB/T15822—1995《磁粉探傷方法》.因為國際上的發(fā)展原標準在技術上已過時本部分與GB/T15822—1995相比主要變化如下：修修改了范圍(1995年版的第1章;本版的第1章)；增加了安全與環(huán)境要求(見第5章)；增加了對檢測規(guī)程的要求(見第6章)調(diào)整了表面準備的內(nèi)容(1995年版的9.2.1;本版的第7章)；修改了磁化的內(nèi)容(1995年版的第5章、9.1和9.2.2；本版的第8章)：修改了檢測介質(zhì)的內(nèi)容(1995年版的第6章、9.2.3、附錄A和附錄B;本版的第9章)：調(diào)整了觀察條件的內(nèi)容(1995年版的9.2.4:本版的第10章)；調(diào)調(diào)整了綜合性能檢驗的內(nèi)容(1995年版的第7章；本版的第11章)調(diào)整了顯示的記錄與解釋的內(nèi)容(1995年版的9.3、第10章和第11章：本版的第12章)：調(diào)整了退磁的內(nèi)容(1995年版的9.2.5：本版的第13章）：增加了檢測后清洗的內(nèi)容(見第14章)；增加了檢測報告的內(nèi)容（見第15章）：增加了資料性附錄"各種磁化技術中達到規(guī)定切向場強所需電流的計算示例"(見附錄A）本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出，本部分由全國無損檢測標準化技術委員會(SAC/TC56)歸口本部分起草單位：上海鍋爐廠有限公司、上海材料研究所、蘇州美柯達探傷器材有限公司、上海宇光無損檢測設備制造有限公司。本部分主要起草人：閻建芳、張佩銘、金宇飛、它中玉、郭猛。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：GB/T15822-1995.

GB/T15822.1-2005/ISO9934-1:2001無損檢測磁粉檢測第1部分：總則范圍GB/T15822的本部分規(guī)定了鐵磁性材料磁粉檢測總則。磁粉檢測主要用于檢測表面開口的不連續(xù)(尤其是裂紋),也能檢測近表面的不連續(xù)，但其靈敏度隨深度而迅速降低。本部分規(guī)定了被檢工件的表面準備、磁化技術、檢測介質(zhì)的要求與施加、以及結果的記錄與解釋。驗收準則未作規(guī)定。對于特殊項目的磁粉檢測,由產(chǎn)品標準規(guī)定附加要求。本部分不適用于剩磁法。2范性引用文件下列文件中的條款通過（B/T15822的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。無損檢測GB/T5097滲透檢測和磁粉檢測觀察條件（GB/T5097-2004.1SO3059:2001，IDT）GB/T12604.5無損檢測術語磁粉檢測！GB/T15822.2無損檢測磁粉檢測第2部分：檢測介質(zhì)(GB/T15822.2—2005.1SO9934-2:2002,IDT)GB/T15822.3無損檢測粉檢測第3部分：設備(GB/T15822.3-2005.ISO9934-3：2002,IDT）無損檢測GB/T9445人員資格鑒定與認證(GB/T9445—2004.ISO9712:1999.IDT)無損檢測EN1330-1術語第1部分:通用術語表(Non-destructivetesting-TerminologyPartl:Listofgeneralterms）EN1330-2無損檢測術語專第2部分：無損檢測方法專用術語（Non-destructivetesting—Terminology-Part2：Termscommontonon-destructivetestingmethods)3術語和定義GB/T12604.5、EN1330-1和EN1330-2確立的術語和定義適用于GB/T15822的本部分磁粉檢測的實施由經(jīng)資格鑒定過的和有能力的人員承擔。為了提供該資格鑒定，推薦按（B/T9445或其他等效方式對人員進行認證1）該標準將在修訂GB/T12604.5—1990的基硼上發(fā)布。GB/T15822的本部分所引用的GB/T12604.5中的術語和定