標準解讀

《GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附結(jié)構(gòu)的測試方法(掃描隧道顯微鏡)》是一項指導性技術(shù)文件，旨在為使用掃描隧道顯微鏡（STM）研究八辛氧基酞菁銅（CuPc(OOCT)8）分子在石墨表面上的吸附行為提供一套標準化的操作流程和技術(shù)指南。該標準詳細規(guī)定了實驗所需材料、儀器設備的選擇與準備步驟，包括但不限于樣品制備方法、STM操作條件設定以及數(shù)據(jù)采集和分析的具體要求。

對于樣品制備部分，標準明確了如何清潔石墨基底以確保其表面足夠干凈和平整，這對于獲得高質(zhì)量的STM圖像至關重要。同時，也給出了將目標分子均勻沉積到石墨表面的方法，保證了后續(xù)成像過程中能夠清晰地觀察到單個或少量分子的狀態(tài)及其排列方式。

關于STM參數(shù)設置方面，文檔提供了推薦使用的偏壓范圍、隧道電流值以及其他影響成像質(zhì)量的關鍵因素。通過調(diào)整這些參數(shù)，可以優(yōu)化圖像對比度，使研究人員能夠更準確地識別出不同類型的吸附構(gòu)型，并據(jù)此探討分子間相互作用力及電子性質(zhì)等科學問題。

此外，《GB/Z 26083-2010》還強調(diào)了數(shù)據(jù)分析的重要性，建議采用適當?shù)能浖ぞ邔κ占降臄?shù)據(jù)進行處理，比如利用高度輪廓線提取技術(shù)來量化分子間的距離，或者運用傅里葉變換等數(shù)學手段揭示周期性特征。這有助于深入理解八辛氧基酞菁銅分子在特定條件下是如何與石墨表面發(fā)生相互作用的。

此標準適用于從事相關領域研究的科學家和技術(shù)人員，為其開展實驗工作提供了有價值的參考依據(jù)。


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....

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  • 2011-01-10 頒布
  • 2011-10-01 實施
?正版授權(quán)
GB/Z 26083-2010八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附結(jié)構(gòu)的測試方法(掃描隧道顯微鏡)_第1頁
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GB/Z 26083-2010八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附結(jié)構(gòu)的測試方法(掃描隧道顯微鏡)-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS1704020

G04..

中華人民共和國國家標準化指導性技術(shù)文件

GB/Z26083—2010

八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附

結(jié)構(gòu)的測試方法

掃描隧道顯微鏡

()

DeterminationforCoerⅡoctaalkoxl-substitutedhthalocanine

pp()ypy

ongraphitesurface

scannintunnelinmicroscoe

(ggp)

2011-01-10發(fā)布2011-10-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/Z26083—2010

前言

本指導性技術(shù)文件由中國科學院提出

。

本指導性技術(shù)文件由全國納米技術(shù)標準化技術(shù)委員會納米材料分技術(shù)委員會

(SAC/TC279/

歸口

SC1)。

本指導性技術(shù)文件起草單位中國科學院化學研究所分子納米結(jié)構(gòu)與納米技術(shù)院重點實驗室國

:()、

家納米科學中心

。

本指導性技術(shù)文件主要起草人嚴會娟任玲玲雷圣賓萬立駿

:、、、。

Ⅰ

GB/Z26083—2010

八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附

結(jié)構(gòu)的測試方法

掃描隧道顯微鏡

()

1范圍

本指導性技術(shù)文件規(guī)定了利用掃描隧道顯微鏡檢測八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附結(jié)構(gòu)的原

理術(shù)語及定義探針和基底制備樣品制備測試條件測試步驟圖像分析以及結(jié)果表示等

、、、、、、。

本指導性技術(shù)文件適用于在常溫和個大氣壓環(huán)境條件下用掃描隧道顯微鏡測試

(10℃~35℃)1,

八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面的吸附結(jié)構(gòu)

。

注八辛氧基酞菁銅分子簡寫為化學結(jié)構(gòu)見圖

:[copper(Ⅱ)octaalkoxyl-substitutedphthalocyanine,CuPcOC8,2]

是酞菁類分子中的一種應用于光電等研究領域

,。

2術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本指導性技術(shù)文件

。

21

.

隧道效應tunnelingeffect

微觀粒子在動能小于勢壘高度時仍能穿透勢壘的現(xiàn)象是由微觀粒子波動性所確定的量子效應

,。

22

.

隧道電流tunnelingcurrent

將掃描探針和被研究的表面作為兩個電極當探針和樣品間隙達到納米尺度時在外加電場的作用

,,

下電子會穿過兩個電極間的勢壘流向另一電極而產(chǎn)生的電流隧道電流是電子波函數(shù)重疊的量度與

,。,

針尖和樣品間的距離以及平均功函數(shù)有關

。

23

.

掃描隧道顯微鏡scanningtunnelingmicroscopeSTM

,

根據(jù)量子力學中的隧道效應研制的顯微鏡通過探測掃描探針與樣品間的隧道電流來獲取樣品表

,

面的形貌及電子態(tài)密度信息

。

24

.

解理cleavage

晶體材料受到外部機械力作用時沿一定晶向或晶面有規(guī)則地裂開顯示出其穩(wěn)定的低指數(shù)表面的

,,

性質(zhì)

。

3原理

掃描隧道顯微鏡的基本原理是利用量子力學中的隧道效應進行工作有恒電流和恒高度兩種工作

,

模式當采用恒電流模式進行圖像掃描時可觀察樣品表面的形貌起伏

,,。

4測試條件

常溫和個大氣壓環(huán)境掃描高定向裂解石墨

(10℃~35℃)1,(HOPG,highlyorientatedpyrolytic

基底表面得到如圖所示的圖像則證明儀器

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