中獲得及時的可靠性評價信息仍然除非用若干臺設備置于現(xiàn)場使用直至用壞忠實記錄故障信息后才有可能確切地評價其可靠性。當系統(tǒng)規(guī)模龐大、在難以進行試驗時，目前我們認為電子裝備期的典型失效分布符合“浴盆曲線，可以劃分為三段：早期失效段、恒定（隨機或偶然）1.2.1。早期失段也稱早故障階段期失效現(xiàn)產(chǎn)品較早時期品裝配成即和設計缺產(chǎn)生例如原材陷引起絕緣不，焊接缺引起虛焊元器件的檢驗、工藝檢驗、不同級別的環(huán)境應力篩選等嚴格的措施加以和排除。針對電子裝備期失效分布的三個階段，人們在設計制造和使用裝備時便有針對地采水平。通過這些措施，可以改變產(chǎn)品的分布曲線的形狀，可參閱圖1.2.2。圖1.2.2示意了兩組產(chǎn)品失效率分布曲線圖中表明產(chǎn)品B的可靠性水平比產(chǎn)品A的BBBBB比方案和計劃，經(jīng)定購方認可；重點型號裝備的驗證試驗方案還需報上級機關批準，由有產(chǎn)品的性能試驗應在樣機制造出來后即進行試驗的缺陷應成為改進措施的直接依試驗條件和步驟方法都要盡可能模擬產(chǎn)品的剖面和任務剖面使試驗實性。試驗的目的是在使用環(huán)境下才能發(fā)生的問題故障和缺陷。如果試驗只能一部分問(1)試驗真實性不高的原因可能是忽視了某些應力如接插件作靜態(tài)試驗時忽略了振(3)模擬剖面的試驗，希望試驗得到的可靠性與使用中的可靠性相一致。然而模擬的方案、決策風險、試驗條件、試驗程序、在周期的計劃等。絕大多數(shù)電子裝備的失效都稱為故障，以故障原因?qū)ζ溥M行分解可以參閱圖2.1.1。從圖、致命缺陷是指對設備的使用、維修、保管等人員會造成危害或不安全的缺陷，或、定量篩選是要求篩選的結果與產(chǎn)品的可靠性目標和成本閾值建立定量關系的篩選。定度取決于篩選的應力把引入的潛在缺陷加速發(fā)展成為故障的能力和所用的檢測儀表把這些DR=DIN—=DIN(1— DR——殘留缺陷密度，平均個/DRG，然后通2.3.2。TutTE(25℃)，其篩SS的表達式為： R＝Tu－TE＝Tu－25λD λD R=Tu－TLTuTLVNe=2.71828λD=[－ln(1-SS)]/ λDSSNSS=1－exp[－0.000727(G)0863 λD=[－Ln(1－SS)]/ λD按式(2-3-8)2-3-4。2-3-4掃頻振動篩選度和故障率3.6.3經(jīng)典的老煉工藝與常規(guī)的恒溫篩選對產(chǎn)品的缺陷有一定的作用，但其篩選度和因而可能會影響產(chǎn)品的使用，有必要改用定量環(huán)境應力篩選方法。如果采用常溫考機的辦法作為產(chǎn)品出廠的依據(jù)在幾百小時內(nèi)不了一個缺陷也力篩選對產(chǎn)品結構件的影響，應創(chuàng)造條件采用隨機振動方式。4.2..1.1般要經(jīng)過100小時以內(nèi)的工作才能，從而被排除。PPM表示，一般生產(chǎn)廠要在說明書中表示。這是定量篩選4.2.1.2缺陷見表2-4-1。據(jù)統(tǒng)計，溫度應力可篩選出80％的缺陷，振動應力可篩選出20％左右的缺篩選的缺陷比例，反映了缺陷的分布情況，可作參考。篩選都不可能代替高一裝配等級上的篩選。而任何高一級的篩選雖然可以代替低一級的篩（（（4個～550250～500500～1000貨幣單位。障后，能否準確定位和消除,就要取決于檢測及其能力。當選擇在較高組裝等級進行篩2-4-32-4-4列出了各種測試系統(tǒng)的檢測效率范圍，GJB299《電子設備可靠性預計手冊》規(guī)定質(zhì)量等級，當產(chǎn)品選定某個等GJB/Z34《電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指南》的附錄A的相應表中查得不同質(zhì)量等級、不同使用環(huán)境的各種電子元器件的缺陷率數(shù)據(jù)（以PPM表示。進口元器件問題較復雜，我們不可能查得每一個國家每一種元器件的缺陷率，只能參考MIL－HDBK－217E查出質(zhì)量等級，然后從GJB/Z34中查出進口元器件的缺DPDPF和在現(xiàn)場使用中發(fā)現(xiàn)的缺陷DPUDP=DPF+DPUPPM表示。已知缺陷率和質(zhì)量等級的元器件的質(zhì)量系數(shù)ПQ1和未知質(zhì)量等級的缺陷率元器件的系計算DPC=(ПQ2/ПQ1)×DPO=(ПQ2/ПQ1 DPC——要計算的缺陷率DPO——已知質(zhì)量等級元器件的總缺陷率ПQ1——已知質(zhì)量等級元器件的質(zhì)量系數(shù)，可從有關標準中查Dpuo——已知質(zhì)量等級元器件現(xiàn)場使用中發(fā)現(xiàn)的缺陷率，PPMJANTX進口晶體管的缺陷率。DP(JANTX)=(ПQ(JANTX)/ПQ(JAN) DPDPf和現(xiàn)率。ПE1。求取缺陷率所處環(huán)境相應的環(huán)境系數(shù)ПE2計算DPC=Dpf+(ПE2/ПE1 式中：DPC——要計算的缺陷率ПE2——要計算的缺陷率所在環(huán)境的環(huán)境系數(shù)，可從有關標準查得。60PPM286PPM； DPC=Dpf+(ПE2ПE1)×Dpu ПPT可編程工藝系數(shù)，除可編程序的只讀器外，其余為一把它們和已知的現(xiàn)場失效率數(shù)據(jù)一并代入式(2-4-3)C1×ПT×ПV×ПPTC2＋C3的值，并分別令其為K1、K2，式(2-4-3)簡化為： (2-4-3)求得的失效率數(shù)據(jù),就可導出缺陷率計算公式：DPU=λΡ×Τ／Ν(2-4-5)DPU——現(xiàn)場缺陷率Τ——現(xiàn)場工作總時間；Ν令K3=T/N，合并式(2-4-3)、(2-4-4)、(2-4-得 ПE——環(huán)境系數(shù)ПLK1、K2、K3——根據(jù)統(tǒng)計數(shù)據(jù)導出的常C－1N624087個，統(tǒng)計的工廠缺陷率Dpf為160PPM，現(xiàn)場總工作時間T為8580×106h，現(xiàn)場失效率為0.025×10- ПT=0.032 有 =ПQ×(2.3372+6.0492ПE)×10- 總缺陷率計算為 4.2.4.3根據(jù)某元器件的缺陷率和失效率求取另一失效率已知的元器件缺陷率 計算DPC=DPO×λ２/ DPO——已知的缺陷率，PPM；λ1λ2——要求解缺陷率的元器件的失效率DPC=(ПQ2/ПQ1 DPC——要計算的缺陷率，PPM；ПQ1DPU——已知的現(xiàn)場缺陷率，PPM；ПE1——已知缺陷率的元器件的環(huán)境系數(shù)；ПE2——要求取缺陷率的元器件的環(huán)境系數(shù)；DPfM0.00207×10-6；C-1160PPM。DPC=DPO×λ２/=503.2×10-6×(0.00207×10-6/0.5123×10-=(160+343.2)×10- DPC=(ПQ2/ПQ1)[13.87×(ПE2/ПE1)+6.46]10-3/h。假定裝備交付時故障率比規(guī)定的故障率λ010％是可接受的，且假定潛在缺陷造成的故障率λD10-3/hGJB/Z34提供的故障率與殘 DR——殘留在產(chǎn)品中的缺陷密度；MTBF2-4-5。2-4-5MTBF的關系Y=e DR——殘留缺陷密度據(jù)，其它參數(shù)的數(shù)據(jù)可參閱GJB/Z34。2-4-690%的篩選成品率下限值(λD/λ0=0.1-定量環(huán)境應力篩選一般選用溫度循環(huán)和隨機振動應力,對電子產(chǎn)品而言,一般都可以滿足GJB1032《電子產(chǎn)品環(huán)境篩選應力的量值以過產(chǎn)品的設計極限，能激發(fā)潛在缺陷又不損壞產(chǎn)品中完好的部)采用非加電檢測性能的篩選方案時，溫度循環(huán)的上下限溫度不高于和低于產(chǎn)品的高2-4-1。℃n速率遠低于試驗箱內(nèi)的空氣溫變平均速率，因此要根據(jù)試驗箱的能力盡量提高溫度變化速率。小時它與產(chǎn)品的復雜程度有關一般初始篩選和單元級的篩選采用10～20個循環(huán)，20～40個循環(huán)。0.04g2/Hz，把握不大的產(chǎn)品可根據(jù)通過測定摸清產(chǎn)品對振動的響應GJB1032GJB/Z3420～2000HZ，100～1000HZ。10min的隨機振動。30mi