半導(dǎo)體課件第六章概要_第1頁
半導(dǎo)體課件第六章概要_第2頁
半導(dǎo)體課件第六章概要_第3頁
半導(dǎo)體課件第六章概要_第4頁
半導(dǎo)體課件第六章概要_第5頁
已閱讀5頁,還剩30頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

第六章金屬—氧化物—半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)抱負MOS構(gòu)造基于以下假設(shè):〔1〕在氧化物中或在氧化物和半導(dǎo)體之間的界面上不存在電荷?!?〕金屬和半導(dǎo)體之間的功函數(shù)差為零,如繪于圖6-2b中的情形。〔由于假設(shè)〔1〕、〔2〕,在無偏壓時半導(dǎo)體能帶是平直的?!场?〕層是良好的絕緣體,能阻擋直流電流流過。因此,即使有外加電壓,外表空間電荷區(qū)也處于熱平衡狀態(tài),這使得整個外表空間電荷區(qū)中費米能級為常數(shù)。這些假設(shè)在以后將被取消而接近實際的MOS構(gòu)造。6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)半導(dǎo)體外表空間電荷區(qū):每個極板上的感應(yīng)電荷與電場之間滿足如下關(guān)系〔6-1〕式中=自由空間的電容率 =氧化物的相對介電常數(shù) =半導(dǎo)體外表的電場 =半導(dǎo)體相對介電常數(shù) =空間電荷區(qū)在半導(dǎo)體內(nèi)部的邊界亦即空間電荷區(qū)寬度。外加電壓為跨越氧化層的電壓和外表勢所分攤:

〔6-2〕6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)圖6-3加上電壓時MOS構(gòu)造內(nèi)的電位分布6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)依據(jù)所加?xùn)艠O的極性和大小,可能消失三種不同外表狀況:載流子積存、耗盡和反型

載流子積存:緊靠硅外表的多數(shù)載流子濃度大于體內(nèi)熱平衡多數(shù)載流子濃度時,稱為載流子積存現(xiàn)象。單位面積下的空間電荷6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)圖6-4幾種偏壓狀況的能帶和電荷分布6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)載流子耗盡單位面積下的總電荷為

式中為耗盡層寬度。

〔6-6〕〔6-7〕〔6-5〕6.1抱負MOS構(gòu)造的外表空間電荷區(qū)6.1.3反型和強反型條件載流子反型:載流子類型發(fā)生變化的現(xiàn)象或者說半導(dǎo)體的導(dǎo)電類型發(fā)生變化的現(xiàn)象。導(dǎo)出MOSFET反型和強反型條件反型條件:

強反型條件:式中為消失強反型時的外表勢?!?-17〕〔6-18〕6.2抱負MOS電容器6.2抱負MOS電容器系統(tǒng)單位面積的微分電容微分電容C與外加偏壓的關(guān)系稱為MOS系統(tǒng)的電容—電壓特性。

假設(shè)令〔6-22〕〔6-23〕〔6-24〕〔6-25〕6.2抱負MOS電容器則

=絕緣層單位面積上的電容,=半導(dǎo)體外表空間電荷區(qū)單位面積電容。

稱為系統(tǒng)的歸一化電容?!?-26〕〔6-28〕〔6-29〕6.2抱負MOS電容器將電容隨偏壓的變化分成幾個區(qū)域,變化大致狀況如圖6-7所示。

圖6-7P型半導(dǎo)體MOS的C-V特性解釋消失反型層以后的電容C與測量頻率有關(guān)的現(xiàn)象。答:所謂電容與測量頻率有關(guān),就是與交變信號電壓的頻率有關(guān)。在消失反型層以后,特殊是在接近強反型時,外表電荷由兩局部所組成:一局部是反型層中的電子電荷,它是由少子的增加引起的。另一局部是耗盡層中的電離受主電荷,它是由于多子空穴的喪失引起的。〔6-21〕外表電容為考慮是怎樣積存起來的。例如,當(dāng)MOS上的電壓增加時,反型層中的電子數(shù)目要增多。P型襯底中的電子是少子,由襯底流到外表的電子特別少,因此,反型層中電子數(shù)目的增多,主要依靠耗盡層中電子—空穴對的產(chǎn)生。在反型層中實現(xiàn)電子的積存是需要一個過程的。這個過程的弛豫時間由非平衡載流子的壽命所打算,一般比較長。同樣,當(dāng)MOS上的電壓減小時,反型層中的電子要削減。電子數(shù)目的削減主要依靠電子和空穴在耗盡層中的復(fù)合來實現(xiàn)。假設(shè)測量電容的信號頻率比較高,耗盡層中電子—空穴對的產(chǎn)生和復(fù)合過程跟不上信號的變化,那么,反型層中的電子電荷也就來不及轉(zhuǎn)變。于是,〔6-47〕這樣在高頻狀況下,隨著直流偏壓的增加,增大,電容C減小。當(dāng)外表形成了強反型層時,強反型層中的電子電荷隨直流偏壓的增加而e指數(shù)地增加,對直流偏置電場起屏蔽作用。于是,耗盡層寬度不再轉(zhuǎn)變,到達極大值。這時,MOS系統(tǒng)的電容C要到達微小值。在接近強反型區(qū),假設(shè)測量電容的信號頻率比較低,耗盡層中電子—空穴對的產(chǎn)生與復(fù)合過程能夠跟得上信號的變化,這時,反型層中的電子電荷的變化,屏蔽了信號電場,對外表電容的奉獻是主要的,而耗盡層的寬度和電荷根本上不變,因此在這種狀況下,外表電容由反型層中電子電荷的變化所打算

在形成強反型以后,隨變化很快,的數(shù)值很大。于是,MOS系統(tǒng)的電容C趨近,即隨著的增加,C經(jīng)過一個微小值,而后快速增大,最終趨近于。以上說明白MOS系統(tǒng)的C-V關(guān)系隨測量頻率變化的緣由?!?-50〕6.3溝道電導(dǎo)與閾值電壓6.3溝道電導(dǎo)與閾值電壓

一溝道電導(dǎo)式中為溝道中的電子濃度。為溝道寬度。

即為反型層中單位面積下的總的電子電荷溝道電導(dǎo)為

〔6-51〕〔6-52〕〔6-53〕6.3溝道電導(dǎo)與閾值電壓二閾值電壓:定義為形成強反型所需要的最小柵電壓。當(dāng)消失強反型時

溝道電荷受到偏壓掌握,這正是MOSFET工作的根底。閾值電壓:

第一項表示在形成強反型時,要用一局部電壓去支撐空間電荷;其次項表示要用一局部電壓為半導(dǎo)體外表供給到達強反型時所需要的外表勢。〔6-51〕〔6-54〕〔6-55〕6.4實際MOS的電容-電壓特性6.4實際MOS的電容—電壓特性

實際的MOS閾值電壓和C-V曲線平帶電壓閾值電壓

第一項為哪一項,為消退半導(dǎo)體和金屬的功函數(shù)差的影響,金屬電極相對于半導(dǎo)體所需要加的外加電壓;其次項是為了把絕緣層中正電荷發(fā)出的電力線全部吸引到金屬電極一側(cè)所需要加的外加電壓;第三項是支撐消失強反型時的體電荷所需要的外加電壓;第四項是開頭消失強反型層時,半導(dǎo)體外表所需的外表勢。〔6-65〕〔6-66〕6.5MOS場效應(yīng)晶體管6.5MOS場效應(yīng)晶體管

根本構(gòu)造和工作過程溝道長度為L,溝道寬度為Z圖6-15MOSFET的工作狀態(tài)和輸出特性:〔a〕低漏電壓時6.5MOS場效應(yīng)晶體管

根本構(gòu)造和工作過程圖6-15MOSFET的工作狀態(tài)和輸出特性:〔b〕開頭飽和6.5MOS場效應(yīng)晶體管

根本構(gòu)造和工作過程圖6-15MOSFET的工作狀態(tài)和輸出特性:〔c〕飽和之后6.5MOS場效應(yīng)晶體管

靜態(tài)特性線性區(qū)在下面的分析中,承受如下主要假設(shè):〔1〕無視源區(qū)和漏區(qū)體電阻和電極接觸電阻;〔2〕溝道內(nèi)摻雜均勻;〔3〕載流子在反型層內(nèi)的遷移率為常數(shù);〔4〕長溝道近似和漸近溝道近似,即假設(shè)垂直電場和水平電場是相互獨立的。圖6-16N溝道MOS晶體管6.5MOS場效應(yīng)晶體管線性區(qū)y處建立起電位V(y),因而感應(yīng)溝道電荷修正為〔6-67〕漂移電子電流

兩邊積分得〔6-70〕式稱為薩支唐〔C.T.Sah〕方程?!?-68〕〔6-69〕〔6-70〕6.5MOS場效應(yīng)晶體管

飽和區(qū)假設(shè)在L點發(fā)生夾斷,則把式〔6-73〕代入式〔6-70〕得

此式在開頭飽和時是有效的。超過這一點,漏極電流可看作是常數(shù)。全部拋物線頂點右邊的曲線沒有物理意義?!?-73〕〔6-74〕6.5MOS場效應(yīng)晶體管

截止區(qū):假設(shè)柵電壓小于閾值電壓,不會形成反型層。結(jié)果是,MOSFET象是背對背連接的兩個P-N結(jié)一樣,相互阻擋任何一方的電流流過。晶體管在這一工作區(qū)域與開路相像。6.6等效電路和頻率響應(yīng)6.6等效電路和頻率響應(yīng)

MOSFET等效電路中所涉及的小信號參數(shù)如下:1.線性導(dǎo)納對式〔6-70〕求導(dǎo)數(shù)

線性區(qū)的電阻,稱為開態(tài)電阻,或?qū)娮?,可用下式表?/p>

〔6-76〕〔6-75〕〔6-77〕6.6等效電路和頻率響應(yīng)

跨導(dǎo)

線性區(qū):對式〔6-70〕求導(dǎo)飽和區(qū):對式〔6-74〕求導(dǎo)

在假設(shè)為常數(shù)時,飽和區(qū)跨導(dǎo)的表示式和線性區(qū)導(dǎo)納的一樣提高gm的具體措施有:〔1〕增大載流子遷移率,選用體內(nèi)遷移率高的材料;〔2〕減小柵氧化層厚度,制作高質(zhì)量的盡可能薄的柵氧化層;〔3〕增大器件的寬長比;〔4〕減小器件的串聯(lián)電阻。〔6-79〕〔6-78〕〔6-80〕6.8場效應(yīng)晶體管的類型6.8場效應(yīng)晶體管的類型依據(jù)反型層類型的不同,MOSFET可分四種不同的根本類型N溝MOSFET:假設(shè)在零柵壓下溝道電導(dǎo)很小,柵極必需加上正向電壓才能形成N溝道,那么,這種器件就

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論