ICS43.010.10

T36

中華人民共和國汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

QC/TXXXX—202X

道路車輛帶寬至10GHz屏蔽平衡電纜

Roadvehiclese—Shieldedbalancedcablewithaspecifiedbandwidthupto10GHz

（征求意見稿）

QC/TXXXXX—202X

前??言

本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起

草。

本文件的附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E和附錄F是資料性附錄。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。

本文件由國家工業(yè)和信息化部提出。

本文件由全國汽車標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。

本文件起草單位：上海福爾欣線纜有限公司、長沙汽車電器研究所、成都福斯汽車電線有限公司等

本文件主要起草人：

本文件為首次發(fā)布。

IV

QC/TXXXX—202X

道路車輛帶寬至10GHz屏蔽平衡電纜

1范圍

本文件規(guī)定了道路車輛用模擬信號帶寬最高至10GHz單對屏蔽平衡電纜的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)

則、包裝和標(biāo)記。

本文件適用于額定電壓為AC30V/DC60V及以下的道路車輛電路系統(tǒng)用電纜，傳輸特性差分信號，

標(biāo)稱差模特性阻抗100Ω，應(yīng)用于以太網(wǎng)信道，速率最高至25Gbit/s。

這種電纜也可應(yīng)用于道路車輛的其它網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，如ECU系統(tǒng)間的PCIe，顯示系統(tǒng)間的GMSL和PDF-link

等，但這些應(yīng)用不在本文件范圍之內(nèi)，額外的具體信息由供需雙方協(xié)商確定。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅所注日期的版本適用于本文

件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T25085.1-202X道路車輛汽車電纜第1部分：術(shù)語和設(shè)計(jì)指南

GB/T25085.2-202X道路車輛汽車電纜第2部分：試驗(yàn)方法

GB/T25085.3-2020道路車輛汽車電纜第3部分：30V交流.或60V直流單芯銅導(dǎo)體電纜尺寸

和要求

GB/T31723.404金屬通信電纜試驗(yàn)方法第4-4部分：電磁兼容屏蔽的屏蔽衰減，測量3GHz

及以下的屏蔽衰減as的試驗(yàn)方法（IEC62153-4-4，IDT）

GB/T31723.409金屬通信電纜試驗(yàn)方法第4-9部分：電磁兼容性屏蔽平衡電纜的耦合衰減，

三同軸法（IEC62153-4-9，IDT）

QC/T414-2016汽車用電線（電纜）的顏色規(guī)定和型號編制方法

IEC61156-1:2007+AMD1:2009CSV統(tǒng)一版本用于數(shù)字通信的多芯和對稱雙絞/四芯電纜第1部

分通用規(guī)范（Multicoreandsymmetricalpair/quadcablesfordigitalcommunications—Part

1—Genericspecification）

IECTR61156-1-2用于數(shù)字通信的多芯和對稱線對/四芯電纜第1-2部分：電氣傳輸特性和測

試方法對稱線對/星組電纜（Multicoreandsymmetricalpair/quadcablesfordigital

communications—Part1-2:Electricaltransmissioncharacteristicsandtestmethodsof—

Symmetricalpair/quadcables）

3術(shù)語和定義

GB/T25085.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。

3.1

不平衡衰減unbalanceattenuations

不平衡衰減是平衡電纜差模和共模信號之間相互轉(zhuǎn)換的剩余電平值，單位為分貝（dB）。不同不平

衡衰減的定義：

——橫向轉(zhuǎn)換損耗（TCL），Scd11：共模（c）近端（1）輸出，差模（d）近端（1）輸入；

1

QC/TXXXXX—202X

——縱向轉(zhuǎn)換損耗（LCL），Sdc11：差模（d）近端（1）輸出，共模（c）近端（1）輸入；

——橫向轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)移損耗（TCTL），Scd21：共模（c）遠(yuǎn)端（2）輸出，差模（d）近端（1）輸入；

——縱向轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)移損耗（LCTL），Sdc21：差模（d）遠(yuǎn)端（2）輸出，共模（c）近端（1）輸入。

3.2

差模differentialmode

DM

信號在整個(gè)系統(tǒng)中與地面對稱傳播。

3.3

插入損耗（衰減）insertionloss（attenuation）

IL

傳輸線的信號功率損失，單位為dB/m。對于平衡系統(tǒng)，IL可根據(jù)S參數(shù)Sdd21或Sdd12計(jì)算。

3.4

傳播速度velocityofpropagation

波沿傳輸線的速度，表示為光速的百分比。

3.5

傳播延遲propagationdelay

信號頭從發(fā)送方傳輸?shù)浇邮辗剿璧臅r(shí)間。

3.6

共模commonmode

CM

信號沿參考地面?zhèn)鞑ァ?/p>

3.7

工作電容mutualcapacitance

平衡線對中兩根絕緣導(dǎo)線之間的電容，單位為皮法每米（pF/m）。

3.8

回波損耗returnloss

RL

以分貝（dB）表示的輸出信號功率與反射或返回信號功率的比值。對于平衡系統(tǒng)Sdd11或Sdd22。

3.9

門限gating

從時(shí)域（3.14）電纜測量數(shù)據(jù)中消除連接器和連接硬件特性影響的數(shù)學(xué)方法。

3.10

模擬信號analoguesignal

以非量化形式傳輸?shù)男畔ⅰ?/p>

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QC/TXXXX—202X

3.11

平衡電纜balancedcables

數(shù)據(jù)傳輸電纜的一種，由沿其長度方向具有均勻微分阻抗的兩個(gè)芯組成。平衡電纜的常見形式有雙

絞線、平行線對和雙引線電纜。

3.12

頻域frequencydomain

信號相對于頻率變化的表示。

3.13

去嵌入de-embedding

從頻域（3.12）電纜測量數(shù)據(jù)中消除連接器和連接硬件特性影響的數(shù)學(xué)方法。

3.14

時(shí)域timedomain

信號相對于時(shí)間變化的表示。

3.15

特性阻抗characteristicimpedance

單個(gè)波的電場和磁場強(qiáng)度之比，物理單位為歐姆（Ω）。主要特性阻抗類型：

——頻域（3.15）共模（3.9）特性阻抗（CICMF）；

——時(shí)域（3.17）共模（3.9）特性阻抗（CICMT）；

——頻域（3.15）差模（3.2）特性阻抗（CIDMF）；

——時(shí)域（3.17）差模（3.2）特性阻抗（CIDMT）。

3.16

阻抗impedance

Z

大小和角度分別為實(shí)部和虛部的復(fù)數(shù)物理電壓和電流的比。

4要求

4.1型號規(guī)格

電纜型號規(guī)格按QC/T414－201X進(jìn)行標(biāo)記。

4.2額定電壓

額定電壓由線芯的確定額定值為30V交流或60V直流。額定電壓應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。

4.3額定溫度

電纜溫度的額定值應(yīng)等于芯線和護(hù)套的最低額定值。電纜按3000h的持續(xù)工作時(shí)間選擇工作溫度。

對于溫度等級的詳細(xì)信息見GB/T25085.1。額定溫度應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。

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QC/TXXXXX—202X

4.4模擬帶寬

電纜測試的頻率應(yīng)最高至10GHz，向下兼容等效模擬信號帶寬分別最高至9GHz，4GHz，2GHz，1

GHz和0.6GHz的應(yīng)用。

注1：不同最高頻率下的允許最大插入損耗參見表1、和圖1。

注2：不同模擬信號帶寬的應(yīng)用參見附錄A。

4.5電纜結(jié)構(gòu)和尺寸

4.5.1總則

電纜的結(jié)構(gòu)和尺寸應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義，并經(jīng)供需雙方協(xié)商確定。數(shù)據(jù)表參考示例見附錄B。

4.5.2單芯

4.5.2.1導(dǎo)體

4.5.2.1.1導(dǎo)體材料

應(yīng)采用GB/T25085.3規(guī)定的導(dǎo)體材料。經(jīng)供需雙方協(xié)商確定，允許使用其他導(dǎo)體材料，并在供應(yīng)

商數(shù)據(jù)表中定義。

4.5.2.1.2導(dǎo)體結(jié)構(gòu)

線芯的導(dǎo)體結(jié)構(gòu)見GB/T25085.3。

4.5.2.1.3導(dǎo)體直徑

如果可能采用GB/T25085.3中規(guī)定的導(dǎo)體直徑值。如果不同應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。

4.5.2.1.4橫截面積（CSA）

如果可能采用GB/T25085.3中規(guī)定的橫截面積。如果不同應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。

4.5.2.2介質(zhì)

4.5.2.2.1介質(zhì)材料

使用的介質(zhì)材料應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。對于標(biāo)準(zhǔn)損耗電纜，宜采用實(shí)心材料，以獲得更佳的機(jī)

械性能和環(huán)境性能；對于低損耗電纜可采用發(fā)泡或發(fā)泡/實(shí)心皮材料。材料耐熱性應(yīng)滿足額頂?shù)燃墱囟?/p>

的要求。

4.5.2.2.2介質(zhì)厚度

介質(zhì)最小厚度應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。介質(zhì)厚度單個(gè)值應(yīng)不小于要求的最小厚度。

4.5.2.2.3在制介質(zhì)線芯外徑

在制線芯介質(zhì)擠出過程必須進(jìn)行外徑監(jiān)測，單個(gè)值不得超出公差。要求的公差在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定

義。

4.5.2.3單個(gè)介質(zhì)線芯外徑

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QC/TXXXX—202X

單個(gè)介質(zhì)線芯外徑的最大和最小直徑取決于指定的阻抗，可能不符合GB/T25085.3的規(guī)定。如果不

同，應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義外徑。

4.5.2.4單芯顏色

單芯介質(zhì)表皮需要著色，要求按QC/T414。同一根線上不宜采用雙色。

2芯顏色組合優(yōu)先采用白+綠。采用其他顏色組合由供需雙方協(xié)商確定。

4.5.3平衡對

4.5.3.1結(jié)構(gòu)

由2根結(jié)構(gòu)和性能保持一致的介質(zhì)線芯形成平衡對。平衡對可以是：

——小節(jié)距雙絞線；

——大節(jié)距平行線；

——無節(jié)距平行線。

平衡對結(jié)構(gòu)應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義，并由供需雙方協(xié)商確定。

4.5.3.2節(jié)距

如果平衡對有節(jié)距，應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義節(jié)距。

4.5.3.3平衡對外徑

對于屏蔽電纜，平衡對外徑相當(dāng)于屏蔽內(nèi)徑，應(yīng)不大于2倍單個(gè)線芯最大外徑。

4.5.4屏蔽

4.5.4.1屏蔽結(jié)構(gòu)

屏蔽應(yīng)由多根金屬絲的編織物組成，。此外，允許使用金屬箔、單面或雙面金屬多層聚合物箔。金

屬箔應(yīng)位于電介質(zhì)和編織層之間。箔的金屬面必須與編織物電接觸。

4.5.4.2編織密度百分比

編織密度百分比應(yīng)不小于80%。護(hù)套厚度應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義，并由供需雙方協(xié)商確定。

4.5.4.3屏蔽外徑

屏蔽外徑引用護(hù)套內(nèi)徑。

4.5.5護(hù)套

4.5.5.1護(hù)套材料

護(hù)套材料應(yīng)為阻燃聚合物化合物或本質(zhì)上不易燃的聚合物。使用的材料應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。

4.5.5.2護(hù)套厚度

按GB/T25085.1附錄A確定護(hù)套的厚度。

護(hù)套厚度應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義，并由供需雙方協(xié)商確定。

護(hù)套厚度的單個(gè)值應(yīng)不小于要求的最小厚度。

4.5.5.3在制護(hù)套電纜外徑

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QC/TXXXXX—202X

在制電纜護(hù)套擠出過程外徑必須監(jiān)測，單個(gè)值不得超出公差。要求的公差在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義。

4.5.6表面和標(biāo)記

電纜表面不應(yīng)有明顯裂紋、氣泡、雜質(zhì)和超過公差的凹凸。

電纜護(hù)套的顏色和標(biāo)識按QC/T414，優(yōu)先采用黑色。

4.5.7成品電纜

4.5.7.1電纜直徑

電纜外徑和護(hù)套內(nèi)徑應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義，并由供需雙方協(xié)商確定。

電纜外徑和護(hù)套內(nèi)徑單個(gè)值不大于最大值。

4.5.7.2電纜護(hù)套橢圓度

電纜護(hù)套橢圓度應(yīng)不大于10%。

注：由于機(jī)械變形，加工處理后電纜護(hù)套橢圓度可能會有所不同。

4.6電氣性能

4.6.1導(dǎo)體電阻

最大導(dǎo)體電阻的確定，見GB/T25085附錄A.5中的設(shè)計(jì)指南。導(dǎo)體電阻應(yīng)包括扭絞損耗。導(dǎo)體電

阻單個(gè)值不應(yīng)超出公差。

4.6.2介質(zhì)耐電壓

施加1kV交流的測試電壓后。30min內(nèi)不應(yīng)發(fā)生擊穿。

4.6.3介質(zhì)缺陷

在介質(zhì)的擠出過程中，所有線芯都應(yīng)進(jìn)行1kV交流在線絕緣缺陷測試，不應(yīng)發(fā)生擊穿。

4.6.4絕緣體積電阻率

線芯介質(zhì)的絕緣體積電阻率值應(yīng)不小于1×1011?mm。

4.6.5電氣連續(xù)性?

所有芯線導(dǎo)體和屏蔽應(yīng)連續(xù)。

4.6.6成品的耐電壓

在護(hù)套的末端施加1kV交流或直流的測試電壓3s，線芯之間和線芯對屏蔽之間不應(yīng)發(fā)生擊穿

4.6.7護(hù)套缺陷

在護(hù)套的擠出過程中，所有電纜都應(yīng)進(jìn)行3kV交流在線護(hù)套缺陷測試不應(yīng)發(fā)生擊穿。

4.6.8工作電容

線對間的工作電容應(yīng)在供應(yīng)商數(shù)據(jù)表中定義，并由供需雙方協(xié)商確定。

4.7機(jī)械性能

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QC/TXXXX—202X

4.7.1線芯剝離力

線芯的未受干擾部分應(yīng)能夠從導(dǎo)體中移除。該測試的要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.7.2護(hù)套剝離力

護(hù)套的未受干擾部分應(yīng)能夠從內(nèi)部芯中移除。護(hù)套剝離力的要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.7.3循環(huán)彎曲

柔韌性測試的要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.7.4柔韌性

柔韌性測試的要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.7.5護(hù)套耐磨

護(hù)套耐磨的要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.8環(huán)境性能

4.8.1介質(zhì)熱收縮

兩端的最大收縮量不得超過2mm。

4.8.2抗應(yīng)力開裂

該測試針對電纜中容易出現(xiàn)環(huán)境應(yīng)力開裂問題的材料（例如FEP和ETFE等）進(jìn)行。

經(jīng)抗應(yīng)力開裂試驗(yàn)后，不應(yīng)露導(dǎo)體。最終檢查耐電壓試驗(yàn)期間不得發(fā)生擊穿。

4.8.3長期熱老化

在溫度等級額定值下3000h的老化后，室溫卷繞試樣應(yīng)無裂紋跡象。在最終檢查的耐電壓不應(yīng)發(fā)

生擊穿。

老化前后試樣附加傳輸特性測試的偏差要求由供需雙方協(xié)商確定。

4.8.4短期熱老化

在溫度等級額定值加25℃下240h的短期熱老化后，-25℃卷繞試樣應(yīng)無裂紋跡象，執(zhí)行耐電壓期間

不應(yīng)發(fā)生擊穿。

4.8.5熱過載

在溫度等級額定值加50℃下240h的熱過載后，室溫卷繞試樣應(yīng)無裂紋跡象，執(zhí)行耐電壓期間不應(yīng)

發(fā)生擊穿。

4.8.6高溫壓力

壓痕區(qū)域內(nèi)的厚度不應(yīng)小于其他兩個(gè)值的平均值的40%。

4.8.7護(hù)套熱收縮

護(hù)套熱收縮的要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

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QC/TXXXXX—202X

4.8.8低溫卷繞

經(jīng)低溫卷繞后試樣應(yīng)無開裂跡象。按照6.3.2在最終檢查的耐電壓期間不得發(fā)生擊穿。

4.8.9冷沖擊

重錘的質(zhì)量100g進(jìn)行測試。試樣應(yīng)無裂紋跡象。按照6.3.2在最終檢查的耐電壓期間不應(yīng)發(fā)生擊穿。

4.8.10溫度和濕度循環(huán)

試樣應(yīng)無開裂跡象。

4.8.11耐液體化學(xué)品

試樣應(yīng)無開裂跡象。其他要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.8.12護(hù)套標(biāo)記的耐久性

進(jìn)行該測試應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

經(jīng)護(hù)套耐久性試驗(yàn)后試樣上標(biāo)識應(yīng)可辨認(rèn)。

4.8.13耐臭氧

進(jìn)行該測試應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

經(jīng)受耐臭氧試驗(yàn)后護(hù)套目視檢查應(yīng)無裂紋。

4.8.14人工大氣老化

進(jìn)行該測試應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

經(jīng)受耐臭氧試驗(yàn)后護(hù)套目視檢查應(yīng)無裂紋。

4.8.15耐延燃

絕緣或護(hù)套材料的任何燃燒火焰應(yīng)在點(diǎn)火結(jié)束后的70s內(nèi)熄滅，并且試樣頂部至少50mm的絕緣和

護(hù)套應(yīng)保持未燃燒狀態(tài)。五個(gè)試樣均應(yīng)通過試驗(yàn)。

4.9傳輸性能

4.9.1傳播速度

4.9.1.1傳播相速度vp（f）

vp（f）應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.9.1.2傳播延遲

傳播延遲應(yīng)不大于5.5ns/m。

4.9.2特性阻抗（CI）

特性阻抗可以提供頻域特性阻抗(CIF)，也可以提供時(shí)域差模特性阻抗(CIT)，由供需雙方協(xié)商確定。

4.9.2.1頻域特性阻抗(CIF)

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QC/TXXXX—202X

頻域特性阻抗(CIT)測試展示了在樣品在模擬帶寬度上描述的電纜阻抗，應(yīng)盡可能靠近標(biāo)稱值，單

個(gè)值應(yīng)不得超出±3Ω。

4.9.2.2時(shí)域特性阻抗(CIT)

差模時(shí)域特性阻抗(CIT)測試展示了在樣品長度上描述的電纜阻抗，應(yīng)盡可能靠近標(biāo)稱值100Ω。

評估窗口中的任何單個(gè)值應(yīng)不得超出±3Ω。包括交付狀態(tài)的電纜和環(huán)境測試作用后的電纜。

4.9.3插入損耗（IL）

通過最大單個(gè)值對應(yīng)的頻率，可以確定電纜模擬頻率的上限

在0.01GHz到10GHz頻率范圍內(nèi)，交付狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)電纜和低損耗電纜在室溫下IL在應(yīng)不大于表1規(guī)

定的限值。

表1IL的限值要求

頻率IL的限值

fdB/m

GHz標(biāo)準(zhǔn)電纜低損耗電纜

0.01≤f＜100.192f+1.14f0.45+0.0707(f/7.5)6-0.03f0.50.123f+0.725f0.45+0.045(f/7.5)6–0.03f0.5

0.60.9980.627

11.3020.818

21.8991.194

42.8371.786

94.9133.100

注：溫度變化和機(jī)械、環(huán)境測試作用后的偏差由供需雙方協(xié)商確定。

IL限值的圖示見圖1。

圖1IL限值的圖示

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QC/TXXXXX—202X

4.9.4回波損耗（RL）

在0.01GHz到10GHz頻率范圍內(nèi)，交付狀態(tài)的電纜在室溫下RL應(yīng)不大于表2規(guī)定的限值。

表2RL限值要求

頻率

RL的限值

f

dB

GHz

0.01≤f＜0.122

0.1≤f＜0.322+8.6log10（100f）

0.3≤f＜0.60426

0.604≤f＜326-10log10（f/0.604）

3≤f＜4.419

4.4≤f＜7.619-20.9log10（f/4400）

7.6≤f＜1014

注:溫度變化和機(jī)械、環(huán)境測試作用后的偏差由供需雙方協(xié)商確定。

RL限值的圖示見圖2。

圖2RL限值的圖示

4.9.5不平衡衰減

在0.01GHz到10GHz頻率范圍內(nèi)，交付狀態(tài)的電纜在室溫下LCTL的限值應(yīng)不大小于20dB。

注1:機(jī)械和環(huán)境測試作用后的偏差由供需雙方協(xié)商確定。

LCTL限值的圖示見圖3。

10

QC/TXXXX—202X

圖3LCTL限值的圖示

4.9.6屏蔽衰減as

在0.03GHz到10GHz頻率范圍內(nèi)，交付狀態(tài)的電纜在室溫下as值應(yīng)不小于50dB的限值。

注:機(jī)械和環(huán)境測試作用后的偏差由供需雙方協(xié)商確定。

as限值的圖示見圖4。

圖4as限值的圖示

4.9.7耦合衰減ac

在0.03GHz到10HGz頻率范圍內(nèi)，交付狀態(tài)的電纜在室溫下ac值應(yīng)不小于表3的規(guī)定。

11

QC/TXXXXX—202X

表3ac的限值要求

頻率

a的限值

fc

dB

GHz

00.3≤f＜0.7575

0.75≤f＜7.555–20log10（f/7.5）

7.5≤f＜01055

注:機(jī)械和環(huán)境測試作用后的偏差由供需雙方協(xié)商確定。

ac限值的圖示見圖5。

圖5ac限值的圖示

4.9.8額定溫度等級最低和最高溫度下的傳輸性能

在額定溫度等級最低和最高溫度下傳輸特性的偏差要求由供需雙方協(xié)商確定。

4.9.9長期熱老化后的傳輸性能

老化前后試樣附加傳輸性能的偏差要求由供需雙方協(xié)商確定。

4.9.10動態(tài)機(jī)械作用后的傳輸性能

電纜動態(tài)作用后的傳輸性能要求應(yīng)由供需雙方協(xié)商確定。

4.9.11最小彎曲半徑

最小彎曲半徑評定要求由供需雙方協(xié)商確定。

5試驗(yàn)方法

12

QC/TXXXX—202X

5.1總則

除非另有規(guī)定，除在線檢測和出廠檢驗(yàn)外的所有試驗(yàn)樣品應(yīng)在（23±5）℃環(huán)境下存放至少16h。

5.2尺寸測試

5.2.1總則

除非另有規(guī)定，所有試驗(yàn)均按GB/T2508.2的5.1（單芯）或6.1（成品電纜）進(jìn)行。

5.2.2介質(zhì)線芯外徑

按GB/T25085.2的5.2.1。

5.2.3介質(zhì)厚度

按GB/T25085.2的5.2.2。

5.2.4導(dǎo)體直徑

按GB/T25085.2的5.2.3。

5.2.5橫截面積

按GB/T25085.2的5.2.4。

5.2.6在制介質(zhì)線芯外徑

按GB/T25085.2的5.2.5。

5.2.7電纜直徑

按GB/T25085.2的6.2.1。

5.2.8電纜護(hù)套橢圓度

按GB/T25085.2的6.2.2。

5.2.9護(hù)套厚度

按GB/T25085.2的6.2.3。

5.2.10在制護(hù)套電纜外徑

按GB/T25085.2的6.2.4。

5.2.11節(jié)距

5.2.11.1試樣

從整個(gè)長度上至少取3個(gè)最小長度為1200mm的試樣。

5.2.11.2試樣制備

根據(jù)要評估的電纜元件，小心地從試樣的中心移除至少5倍的護(hù)套和任何其他電纜元件的節(jié)距。試

樣應(yīng)承受較小的縱向力以拉直被測試樣。

13

QC/TXXXXX—202X

5.2.11.3測試

數(shù)出每個(gè)試樣中總扭絞的節(jié)數(shù)NLL。測量端到端的長度lEE，然后計(jì)算節(jié)距。

???

式中：?=

???

h電纜或電纜元件的節(jié)距，單位為mm；

lEE所有計(jì)算節(jié)距的端到端距離，單位為mm；

NLL樣本中數(shù)出的節(jié)數(shù)。

5.2.11.4報(bào)告

在測試報(bào)告中記錄節(jié)距最小值、最大值和平均值。

5.2.12編織密度百分比

按GB/T25085.1的3.3.5。

5.3電氣測試

5.3.1總則

除非另有規(guī)定，所有試驗(yàn)均按GB/T2508.2的5.2（單芯）或6.2（成品電纜）進(jìn)行。

5.3.2導(dǎo)體電阻

按GB/T25085.2的5.3.1。

5.3.3耐電壓

按GB/T25085.2的5.3.3。

5.3.4絕緣缺陷

按GB/T25085.2的5.3.5。

5.3.5絕緣體積電阻率

按GB/T25085.2的5.3.6。

5.3.6電氣連續(xù)性

按GB/T25085.2的6.3.1。

5.3.7成品的耐電壓

按GB/T25085.2的6.2.2。

5.3.8護(hù)套缺陷

按GB/T25085.2的6.2.4。

5.3.9工作電容

5.3.9.1試樣

14

QC/TXXXX—202X

至少對3個(gè)樣品進(jìn)行測試。

樣品的長度應(yīng)不小于10m，并且必須記錄在測試報(bào)告中。

5.3.9.2測試

按IEC61156-1在室溫下進(jìn)行工作電容測試。

5.3.9.3報(bào)告

以皮法每米（pF/m）為單位計(jì)算電容值，并在測試報(bào)告中記錄最小值、最大值和平均值。

5.4機(jī)械測試

5.4.1總則

除非另有規(guī)定，所有試驗(yàn)均按GB/T2508.2的5.3（單芯）或6.3（成品電纜）進(jìn)行。試驗(yàn)在溫度

（23±5）℃，相對濕度45～75%的環(huán)境進(jìn)行。

5.4.2芯線剝離力

按GB/T25085.2的5.3.1。

5.4.3護(hù)套剝離力

按GB/T25085.2的6.3.1。

5.4.4循環(huán)彎曲

按GB/T25085.2的6.3.2。

5.4.5柔軟性

按GB/T25085.2的6.3.3。

5.4.6護(hù)套耐磨

5.4.6.1試樣

準(zhǔn)備1個(gè)1m長的試樣。從電纜的一端去除100mm的護(hù)套，從每個(gè)裸露的芯線去除25mm的絕緣。

將芯線的剝離端扭在一起。如果有屏蔽，則應(yīng)將其與芯線絞在一起。

5.4.6.2不合格標(biāo)準(zhǔn)測試程序

將絞合端和屏蔽連接到測試設(shè)備的導(dǎo)體檢測端子。當(dāng)測試系統(tǒng)檢測到砂紙或針與屏蔽連接時(shí)，

測試終止。

5.4.6.3砂帶拖磨試驗(yàn)

按GB/T25085.2的5.3.2.4。施加4kg的附加重物。如有必要，可以用2kg的質(zhì)量代替4kg的

質(zhì)量。

5.4.6.4刮磨試驗(yàn)

按GB/T25085.2的5.3.2.5。施加7.00±0.05N的總垂直力。

15

QC/TXXXXX—202X

5.5環(huán)境試驗(yàn)

5.5.1總則

除非另有規(guī)定，所有試驗(yàn)均按GB/T25085.2的5.4（單芯）或6.4（成品電纜）進(jìn)行。

5.5.2介質(zhì)熱收縮

按GB/T25085.2的5.4.6。

5.5.3耐應(yīng)力開裂性

按GB/T25085.2的5.4.13。

5.5.4長期熱老化

按GB/T25085.2的6.4.2。

5.5.5短期熱老化

按GB/T25085.2的6.4.3。

5.5.6額定溫度等級加50℃下6h熱過載

按GB/T25085.2的6.4.4。

5.5.7高溫壓力試驗(yàn)

按GB/T25085.2的6.4.5。

5.5.8護(hù)套熱收縮

按GB/T25085.2的6.4.6。

5.5.9低溫卷繞

按GB/T25085.2的6.4.7。

5.5.10冷沖擊

按GB/T25085.2的6.4.8。

5.5.11溫度和濕度循環(huán)

按GB/T25085.2的6.4.9。

5.5.12耐液體化學(xué)品

按GB/T25085.2的6.4.10。

5.5.13護(hù)套標(biāo)記的耐久性

按GB/T25085.2的6.4.11。

5.5.14耐臭氧

按GB/T25085.2的6.4.12。

16

QC/TXXXX—202X

5.5.15人工大氣老化

按GB/T25085.2的6.4.13。

5.5.16抗延燃

按GB/T25085.2的6.4.14。

5.6傳輸性能測試

5.6.1總則

5.6.1.1基本測試程序

用之前未受到任何環(huán)境作用的交付狀態(tài)的新電纜進(jìn)行測試。在施加機(jī)械和環(huán)境作用后再次測試電纜。

測量應(yīng)在室溫下進(jìn)行。測試至少應(yīng)測量3個(gè)樣品。

如果沒有另外說明，樣品的長度應(yīng)為10m，并且必須記錄在測試報(bào)告中。

未經(jīng)測試的電纜應(yīng)滿足要求。為了進(jìn)一步用作最終檢查測試的限值，記錄新的未測試電纜在室溫的

電纜傳輸性能參數(shù)。

根據(jù)隨后的環(huán)境測試描述中的要求，在室溫下對未受到任何先前環(huán)境作用的新電纜和施加作用

后的電纜進(jìn)行測量。

5.6.1.2基本測試設(shè)備

對于頻域中的測量，將使用適當(dāng)?shù)腣NA（矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀）。

對于時(shí)域中的測量，應(yīng)使用適當(dāng)?shù)腡DR（時(shí)域反射計(jì)）或帶有TDR選項(xiàng)的VNA。

傳輸性能測試儀器的具體操作詳見附錄A。測試夾具的要求參見附錄B。

測試中可以按附錄C采用門控方法和按附錄D采用去嵌入方法，以消除裝置和夾具造成的誤差，并在

測試報(bào)告中說明。

5.6.2傳播速度

5.6.2.1傳播相速度vp(f)

使用對稱激勵(lì)執(zhí)行測試。

按IECTR61156-1-2在室溫下執(zhí)行傳播相速度和相位系數(shù)測試。

以表格和圖表的形式記錄測試設(shè)置和結(jié)果，單位為皮秒（ps）。頻率（f）單位為吉赫茲

???

（GHz）。

???

5.6.2.2傳播延遲

5.6.2.2.1試樣

準(zhǔn)備10m長的試樣。

5.6.2.2.2測試

使用具有時(shí)域分析功能的測量裝置（具有時(shí)域傳輸（TDT）功能的時(shí)域反射儀TDR或具有時(shí)域分析

函數(shù)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀VNA）。或使用測量裝置的TDT功能測量傳播延遲（近端的激勵(lì)輸入，遠(yuǎn)端的測

量）。詳細(xì)描述見附錄A。

將10m長的試樣放置在試驗(yàn)裝置上。使用定義的測試夾具將測量設(shè)備連接到測試裝置。

17

QC/TXXXXX—202X

對測試設(shè)置輸入進(jìn)行校準(zhǔn)，包括確定連接硬件的傳播延遲。插入被測試樣，并根據(jù)圖7確定通過試

樣的信號振幅上升至所施加矩形波全振幅50%的時(shí)間。

圖6延遲時(shí)間讀數(shù)

通過減去校準(zhǔn)期間獲得的連接硬件的傳播延遲值來校正測量的傳輸時(shí)間。由測量和校正的傳輸

時(shí)間除以10m計(jì)算得出的納秒每米（ns/m）值為每1m的傳播延遲。

5.6.3特性阻抗（CI）

5.6.3.1總則

使用對稱激勵(lì)執(zhí)行差模傳輸測試。差模中的特性阻抗可以測量為

——頻域中的CIDMF，按5.6.4.2。

——時(shí)域中的CIDMT，按5.6.4.3，在返回時(shí)間1ns～2ns的評估窗口內(nèi)測量。如果未另行定義，

則使用脈沖上升時(shí)間設(shè)置為最大值500ps的TDR。

5.6.3.2頻域特性阻抗（CIF）

5.6.3.2.1試樣

至少對3個(gè)樣品進(jìn)行測試。

樣品的長度應(yīng)不小于10m，并且必須記錄在測試報(bào)告中。

5.6.3.2.2測試

按5.6.2在1kHz下分別測量一對中的兩個(gè)線芯之間的相互電容。

按5.6.3.1使用對稱激勵(lì)測量差模傳輸?shù)南辔粋鞑ニ俣取?/p>

5.6.3.2.3計(jì)算

根據(jù)以下公式計(jì)算每個(gè)頻率點(diǎn)的特性阻抗：

?12

10

式中???=

???×?'

18

QC/TXXXX—202X

——特性阻抗，單位為歐姆（Ω）；

——頻率，單位為吉赫茲（GHz）；

???

——相速度，單位為米每秒（m/s）；

?

——工作電容，單位為皮法每米（pF/m）。

???

用圖示記錄結(jié)果。

?'

5.6.3.3時(shí)域特性阻?抗?(?CIT)

5.6.3.3.1測試

阻抗測量可以在單端口設(shè)置中從兩側(cè)依次執(zhí)行，遠(yuǎn)端測量夾具端接到端接負(fù)載或測量儀器的差分端

口。如果確保結(jié)果明確且不會被DUT開路端的反射影響，則DUT的遠(yuǎn)端也可以保持開路以便于處理。應(yīng)

用定義的上升時(shí)間可以通過軟件過濾TDR范圍內(nèi)的反射信號。

特性阻抗應(yīng)在從1ns到2ns往返時(shí)間的被測區(qū)域內(nèi)進(jìn)行測量?；鶞?zhǔn)時(shí)間0ns應(yīng)在未連接DUT的

情況下針對開路的測量夾具進(jìn)行測量，其中所定義上升時(shí)間的脈沖響應(yīng)達(dá)到其最大值。

圖7TDR測量評估窗口的示例

5.6.3.3.2動態(tài)作用點(diǎn)的特性阻抗測試

為了確定與電纜中位置相關(guān)的阻抗，將使用TDR。它在所用測試設(shè)備的最大可用頻率范圍內(nèi)測量電

纜中某個(gè)位置的阻抗。但它沒有提供有關(guān)其他頻率點(diǎn)的阻抗行為的信息。

示例：在進(jìn)行彎曲測試時(shí)，使用該方法進(jìn)行的測量會提供有關(guān)彎曲點(diǎn)阻抗變化的信息，從而表明可能的劣化

TDR脈沖上升選擇最大35ps。

被測電纜的近端以合適的形式連接到TDR。使用的連接電纜應(yīng)具有低衰減并具有與TDR相同的阻抗。

被測電纜的遠(yuǎn)端保持開路狀。

使用常數(shù)因子（典型的成正比）時(shí)間軸可以轉(zhuǎn)換為長度軸（被測電纜的長度刻度）。因此，

可以獲得與電纜中的位置相關(guān)的阻抗。通過迭代不同的電纜長度，該因子可以根據(jù)需要確定。

?1/??

?19

QC/TXXXXX—202X

注：與測試設(shè)備和/或測量頭的距離越大，電纜的衰減值越高，獲得的阻抗值越大。當(dāng)使用較短的低衰減連接電纜

和常用的被測電纜（最大2.0m）時(shí)，這種增加相對較小。然而，阻抗不應(yīng)被視為絕對值，而作用前后阻抗的

變化是判別因素。

以下信息應(yīng)記錄在測試報(bào)告中：

——從輸入點(diǎn)到感興趣點(diǎn)的行程時(shí)間/位置，單位為納米每毫米（ns/mm）；

——感興趣點(diǎn)的阻抗；

——處于新狀態(tài)；

——作用后以百分比計(jì)算的變化。

5.6.4插入損耗（IL）

使用對稱激勵(lì)執(zhí)行差模傳輸測試。

按IECTR61156-1-2使用4端口VNA在室溫和/或規(guī)定溫度下執(zhí)行插入損耗（IL）測試。

將選定頻率下的插入損耗記錄在表格中，并作以連續(xù)頻率的圖示。

5.6.5回波損耗（RL）???

使用平衡激勵(lì)執(zhí)行差模傳輸測試。

按IECTR61156-1-2在在室溫和/或規(guī)定溫度下執(zhí)行回波損耗（RL）測試。

記錄回波損耗在選定頻率的表格中，并作以連續(xù)頻率的圖示。

5.6.6不平衡衰減???

按IECTR61156-1-2中定義的測試程序在室溫和/或規(guī)定溫度下測試LCTL。

將選定頻率下所需測試的測量值記錄在表格中，并作以連續(xù)頻率的圖示。

5.6.7屏蔽衰減as

按GB/T31723.404中的規(guī)定制備試樣，采用三同軸法在室溫測試as。

5.6.8耦合衰減ac

按GB/T31723.409中的規(guī)定制備試樣，采用三同軸法在室溫測試ac

注：建議使用4端口VNA，而不是帶有巴倫（變壓器）的2端口VNA。

5.6.9在室溫以外的其它溫度下的傳輸特性測試

對于在-40℃或溫度等級額定最大值溫度下的傳輸性能測量，需要將10m測試樣品放入烘箱或氣候

室。然后將電纜末端通過烘箱或氣候室的通孔饋送到外部并連接到測量裝置。從烘箱或氣候室伸出的電

纜末端的長度不得超過500mm。將樣品在要求的測試溫度下至少存放4h。然后執(zhí)行傳輸性能測量。

測試項(xiàng)目包括：

——傳播的相速度vp(f)；

——頻域差分特性阻抗(CIDMF)；

——插入損耗（IL）；

——回波損耗（RL）；

——不平衡衰減（LCTL）。

5.6.10在溫度等級額定值下3000h的長期熱老化后的傳輸特性測試

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QC/TXXXX—202X

5.6.10.1試樣的老化

準(zhǔn)備3個(gè)10m長的試樣。

按照GB/T25085.2的6.4.5，將所有試樣在溫度等級額定值的烘箱中放置3000h。

——在室溫的初始測量

——在3000h熱老化和測量后，降至室溫并調(diào)節(jié)至少4h，然后進(jìn)行測量。

測試項(xiàng)目包括：

——傳播的相速度vp(f)；

——頻域差分特性阻抗(CIDMF)；

——插入損耗（IL）；

——回波損耗（RL）；

——不平衡衰減（LCTL）。

5.6.11動態(tài)作用后的傳輸性能測試

5.6.11.1總則

這些測試通常僅在OEM的特殊要求下進(jìn)行。它們僅用于評估特殊安裝位置（例如艙口后門接口）。

很可能必須針對實(shí)際應(yīng)用調(diào)整測試參數(shù)。

影響因素是彎曲半徑、重力作用、溫度和循環(huán)次數(shù)。

試驗(yàn)后按5.6.3.3進(jìn)行時(shí)域差分阻抗（CIT）測試，測試信號上升沿時(shí)間為50ps。測試后應(yīng)記錄：

——從輸入點(diǎn)到感興趣點(diǎn)的行程時(shí)間/位置（以ns/mm為單位）

——感興趣點(diǎn)的阻抗：

?處于新狀態(tài)；

?作用過后；

?以百分比計(jì)算的變化。

按5.6.7進(jìn)行屏蔽衰減測試時(shí)，彎曲點(diǎn)應(yīng)在接頭長度范圍內(nèi)。

5.6.11.2測試A：循環(huán)彎曲測試

5.6.11.2.1目的

執(zhí)行該測試是為了在定義的彎曲循環(huán)次數(shù)后測量傳輸特性。循環(huán)次數(shù)由客戶和供應(yīng)商商定。

5.6.11.2.2試樣

準(zhǔn)備兩個(gè)最小長度為10m的試樣。

5.6.11.2.3測試

質(zhì)量為0.5kg/mm2乘以導(dǎo)體的總橫截面積，屏蔽必須連接到電纜上。砝碼由兩半組成，中間有一

個(gè)雙V形孔。這將允許在具有不同總直徑的電纜上使用相同的重量。

對于重量，不要使用導(dǎo)電或磁性材料。用膠帶將兩半連接起來。

芯軸的圓形輪廓半徑按圖8，固定為（25±0.5）mm，與被測電纜無關(guān)。

將電纜末端卷起成環(huán)狀，直徑d≥200mm，必要時(shí)用膠帶固定。確保重物下邊緣與卷起的電纜之間

的電纜長度大于250mm。

循環(huán)彎曲次數(shù)見表4，一個(gè)彎曲循環(huán)包括：

第1步：從0°位置開始；

21

QC/TXXXXX—202X

第2步：將芯軸逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)至180°位置；

第3步：將芯軸順時(shí)針轉(zhuǎn)回0°位置；

彎曲速率：每分鐘（6±1）次。

使用如圖8的裝置將各個(gè)導(dǎo)體和屏蔽（如果有）串聯(lián)，以檢測電氣連續(xù)性的中斷。

標(biāo)引序號說明：

1——直徑為50±1m（m半徑分別為25±0.5mm）

的專有芯軸；

2——電纜固定板，邊緣半徑≥0.5mm；

3——電纜導(dǎo)向器，孔應(yīng)比最大電纜總直徑大

0.2mm；

4——重量；

5——卷起多余的電纜。

圖8循環(huán)彎曲測試

表4循環(huán)次數(shù)

溫度測試序列結(jié)束時(shí)的測試序列L1、L2和L3的重復(fù)次數(shù)

測試序列測試序列中的循環(huán)數(shù)

℃循環(huán)總和柔韌型高柔韌型

L1RT5000500035

L2100600560035

L3-25400600035

5.6.11.2.4循環(huán)彎曲后的傳輸性能測試

在無故障地完成完整的測試序列后，進(jìn)行以下傳輸性能測試：

——時(shí)域特性阻抗(CIT)，按5.6.3.3；

——插入損耗（IL），，按5.6.4；

——屏蔽衰減as，按5.6.7。

測試結(jié)果在室溫測試序列結(jié)束時(shí)獲得。

5.6.11.3測試B：動態(tài)扭轉(zhuǎn)測試

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QC/TXXXX—202X

5.6.11.3.1目的

執(zhí)行此測試是為了在定義的扭轉(zhuǎn)循環(huán)次數(shù)后測量純屬性能。扭轉(zhuǎn)循環(huán)次數(shù)如果沒有重新規(guī)定也可按

表4.

5.6.11.3.2試樣制備

至少需要測試3個(gè)樣品。每次測試都必須使用新樣品。

彎曲點(diǎn)位于距離傳輸性能測量設(shè)備的連接處(2±0.5)m。

5.6.11.3.3測試說明

夾持電纜2端。電纜在夾子之間的自由空間中形成四分之一圓。下部夾具固定，另一個(gè)在電纜軸上

旋轉(zhuǎn)±90°，從而扭轉(zhuǎn)電纜。參見圖9。其中，四分之一圓的半徑為75mm，夾持點(diǎn)之間的電纜長度為

118mm。

圖9扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)臺

5.6.11.3.4動態(tài)彎曲試驗(yàn)后的傳輸性能試驗(yàn)

在無故障地完成完整的測試序列后，進(jìn)行以下傳輸性能測試：

——時(shí)域特性阻抗(CIT)，按5.6.3.3；

——插入損耗（IL），按5.6.4；

——屏蔽衰減as，按5.6.7。

測試結(jié)果在室溫測試序列結(jié)束時(shí)獲得。

5.6.11.4測試C：扭轉(zhuǎn)和彎曲組合測試

5.6.11.4.1目的

執(zhí)行此測試是為了在定義數(shù)量的組合扭轉(zhuǎn)和彎曲循環(huán)后測量傳輸特性。

5.6.11.4.2測試裝置

圖10測試裝置，電纜同時(shí)受到扭轉(zhuǎn)和彎曲的應(yīng)力（應(yīng)力區(qū)域顯示為紅色，無應(yīng)力區(qū)域顯示為綠色）。

受力部分定義為夾具之間的部分（內(nèi)邊緣到內(nèi)邊緣）。它從近電纜末端開始1700±10mm，并延伸到300±3

mm的電纜長度。在位置1安裝電纜，使電纜軸的方向遵循圓盤邊緣的切線。兩側(cè)最1m可以在烘箱外

面。

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側(cè)視圖頂視圖

圖10扭轉(zhuǎn)和彎曲組合試驗(yàn)臺

5.6.11.4.3測試說明

將使用新樣品。樣品的長度為4.0m。

按圖3符合以下圖紙參數(shù)：

——圓盤直徑200mm；

——垂直距離200mm；

——轉(zhuǎn)角135°；

——位置1：上卡箍的電纜中點(diǎn)位于下卡箍受力區(qū)起點(diǎn)的上方；

——位置2：轉(zhuǎn)盤相對于位置1在頂視圖中轉(zhuǎn)動135°。

5.6.11.4.4一個(gè)循環(huán)的定義

一個(gè)周期包括從位置1旋轉(zhuǎn)到位置2的時(shí)間T1，一個(gè)中斷周期P1，從位置2旋轉(zhuǎn)回到位置1的時(shí)間

T2和第二個(gè)中斷周期P2：

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24?=?+?+?+?

QC/TXXXX—202X

旋轉(zhuǎn)的時(shí)間T1和T2相同，大約為1s到2s。

中斷周期P1和P2是相同的，應(yīng)選擇一個(gè)周期的時(shí)間為（15±1）s。

5.6.11.4.5測試周期

按表5和圖4。

表5要執(zhí)行的循環(huán)

組結(jié)束時(shí)的循環(huán)

組中的循環(huán)數(shù)溫度和濕度行動組中的循環(huán)次數(shù)

次數(shù)總和

開始室溫對新電纜進(jìn)行傳輸特性測試

加熱，變化≥2K/min，無循環(huán)

循環(huán)開始和結(jié)束時(shí)的可選傳輸特性測60000±20060000±200

測試組1+40℃/30%相對濕度

試

冷卻，變化≥2K/min，循環(huán)繼續(xù)

-20℃/相對濕度未循環(huán)開始和結(jié)束時(shí)的可選傳輸特性測20000±7080000±270

測試組2

指定試

加熱，變化≥2K/min，循環(huán)進(jìn)行

循環(huán)開始和結(jié)束時(shí)的可選傳輸特性測20000±70100000±340

測試組3+85℃/20%相對濕度

試

冷卻，變化≥2K/min，循環(huán)繼續(xù)

+40℃/30%相對濕度可選傳輸特性測試

測試組4可選冷卻，變化≥2K/min，循環(huán)繼續(xù)5000±20105000±360

室溫完成測試后的傳輸特性測試

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圖11溫度、濕度和傳輸特性測試點(diǎn)示意圖

5.6.11.4.6過程中傳輸特性測量

在測量期間，循環(huán)停止。測量應(yīng)在兩個(gè)位置進(jìn)行并記錄。

測量衰減，被測電纜的第二端必須首先保持在線圈的軸線附近，然后才能將其帶出氣候室。

測量與電纜中位置相關(guān)的阻抗按5.6.4.3時(shí)域特性阻抗(CIT)的TDR方法。阻抗的最小值和最大值

將根據(jù)循環(huán)計(jì)數(shù)作圖。

5.6.11.4.7動態(tài)彎曲試驗(yàn)后的傳輸特性測試

在無故障地完成完整的測試序列后，進(jìn)行以下傳輸特性電性能測試：

——時(shí)域特性阻抗(CIT)，按5.6.3.3；

——插入損耗（IL），，按5.6.4；

——屏蔽衰減as，，按5.6.7。

測試結(jié)果在室溫測試序列結(jié)束時(shí)獲得。

5.6.12最小彎曲半徑評定試驗(yàn)

樣品將圍繞芯軸以閉合均勻的圈數(shù)卷繞一次。施加足夠的張力以確保樣品接觸芯軸。

測試包括一次卷繞和展開。

測試在室溫下進(jìn)行。

測試參數(shù)見表6。

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表6最小彎曲半徑評定參數(shù)

類型芯軸直徑(D)質(zhì)量最低彎曲次數(shù)

高柔軟D≤3×OD

柔軟D≤5×OD0.5kg5

標(biāo)準(zhǔn)D≤10×OD

OD——電纜最大直徑。

試驗(yàn)后從芯軸上解開電纜進(jìn)行如下傳輸特性測試：