模擬集成電路簡介模擬集成電路簡介模擬集成電路主要是指由電阻、電容、晶體管、MOS管等元器件在晶圓內部集成在一起，用來處理模擬信號的集成電路。1958年,杰克·基爾比在鍺材料上用5個元件實現了一個簡單的振蕩器電路，成為世界上第一塊集成電路。這一發(fā)明揭開了20世紀信息革命的序幕，標志著電子時代的到來。隨著以計算機和通信技術為代表的高科技產品在國防科技、工業(yè)生產和日常生活中越來越廣泛的應用，以集成電路為代表的微電子產業(yè)也進入了一個前所未有的發(fā)展階段。模擬集成電路原理模擬集成電路的主角是晶體管，主要利用晶體管的放大作用。早期的模擬集成電路大都使用雙極型晶體管，由于CMOS工藝的成熟，克服了早期CMOS電路速度較慢的缺點，并且有著功耗低和工藝升級換代方便的優(yōu)點（CMOS的等比例縮?。缃衲M集成電路和數?；旌霞呻娐罚〝底蛛娐泛湍M電路集成在一起）也常用CMOS來設計和實現了。模擬集成電路原理隨著集成電路制造工藝的發(fā)展，各種各樣的模擬集成電路得到迅速發(fā)展。目前模擬集成電路的種類繁雜，按照其應用劃分可分為通用模擬集成電路和專用模擬集成電路兩大類。通用模擬集成電路顧名思義，通用模擬集成電路是用途廣泛的模擬集成電路，可以被靈活地集成于各種SoC的內部，作為SoC內部的單元模塊使用。通用模擬集成電路又可以分為以下幾大類：（1）運算放大器、比較器和緩沖器。運算放大器包括高速、高精度、低噪聲、低功耗、軌對軌等各種通用運算放大器。比較器包括高速、高精度比較器。緩沖器的主要作用是單位增益的輸入和輸出電壓的電平轉換。（2）參考基準電路。參考基準電路主要包括電壓與電流基準，其中包括低噪聲系數、由低噪聲電壓與電流基準。通用模擬集成電路（3）電源管理電路。電源管理電路主要包括低壓差線性穩(wěn)壓器、升壓與降壓式直流電壓轉換器、電池充放電保護電路等。（4）模數與數模轉換電路。模數與數模轉換電路主要包括高精度-△型ADC和DAC電路、高速ADC/DAC電路、低功耗ADC/DAC電路。規(guī)模較大的SoC芯片內部往往包含有運算放大器、電壓與電流基準等通用模擬電路模塊，而運算放大器的性能往往決定了整個模擬集成電路的性能，因此運算放大器是模擬集成電路的基本電路，也是核心電路。通用模擬集成電路2.專用模擬集成電路專用模擬集成電路是只能在某一類產品中使用的模擬集成電路，例如無線電專用和音頻專用模擬集成電路等。專用模擬集成電路主要包括：（1）音頻放大專用運算放大器，如各種輸出類型的放大器、耳機放大器、立體聲放大器等。（2）專用顯示驅動電路，如發(fā)光二極管、液晶顯示器、平板顯示器、VF、CRT監(jiān)視器專用顯示驅動電路等。通用模擬集成電路（3）專用接口電路，如全差分信號與單端信號的接口與緩沖器、差分與單端信號的接收發(fā)送器、各種標準的以太網接口電路，以及其他標準的專用接口電路。（4）溫度傳感控制電路，如溫度開關、數字與模擬溫度傳感控制電路、硬件溫度監(jiān)控電路。（5）其他專用模擬集成電路，如汽車專用模擬集成電路、無線專用模擬集成電路、通信專用模擬集成電路、時鐘發(fā)生電路等。通用模擬集成電路專用模擬集成電路內部通常包含有通用模擬集成電路的模塊，隨著集成電路制造工藝的不斷發(fā)展，芯片加工工藝技術水平的提高，專用集成電路的種類也大大增加。目前的SoC芯片實際上包含有系統(tǒng)電路的全部功能，例如各種標準的接口電路、驅動電路、ADC/DAC、功率管理等由模擬電路來承擔，信號處理與傳輸、存儲等則由數字電路完成。模擬集成電路應用模擬集成電路的基本電路包括電流源、單級放大器、濾波器、反饋電路、電流鏡電路等，由它們組成的高一層次的基本電路為運算放大器、比較器，更高一層的電路有開關電容電路、鎖相環(huán)、ADC/DAC等。模擬IC主要應用于在電子系統(tǒng)中執(zhí)行對模擬信號的接收、混頻、放大、比較、乘除運算、對數運算、模擬-數字轉換、采樣-保持、調制-解調、升壓、降壓、穩(wěn)壓等功能。電路形式有數據轉換器(如A/D轉換器、D/A轉換器等)、運算放大器、寬帶放大器等)、非線性放大器(模擬乘法器、數/反對數放大器等)、多路模擬開關、(線性調壓器、開關電源控制器等)、智能功率各類專用IC。模擬集成電路應用模擬IC在其設計和工藝技術的發(fā)展過程中，形成了具有自身特點的設計思想和工藝體系;在技術發(fā)展水平、產品種類、限度地滿足了信息化技術的需要;其應用已滲透到各個領域，在現代軍、民用電子系統(tǒng)中，模擬集成電路扮演者重要角色;在信息化的各種場合，都離不開高性能的模擬IC，模擬IC性能水平的高低常常決定著電子產品或系統(tǒng)的水平高低。Thankyouforwatching.模擬集成電路分類模擬集成電路分類集成電路把一定數量的常用電子元件，如電阻、電容、晶體管等，以及這些元件之間的連線，通過半導體工藝集成在一起的具有特定功能的電路。模擬集成電路模擬集成電路又稱線性電路，用來產生、放大和處理各種模擬信號（指幅度隨時間變化的信號。例如半導體收音機的音頻信號、錄放機的磁帶信號等），其輸入信號和輸出信號成比例關系模擬集成電路分類一、電池管理集成電路二、放大器三、接口電路四、微波集成電路一、電池管理集成電路1、電池管理集成電路2、電壓基準電路3、電源監(jiān)控電源4、LCD/LED驅動器5、電動機驅動器6、穩(wěn)壓器7、電源模塊（含DC/DC交換器）二、放大器1、運算放大器通用放大器高速放大器功率放大器精密放大器2、差分放大器3、儀表放大器4、可變增益放大器5、特殊放大器（頻率轉換器，隔離放大器，線路驅動器，對數放大器，采樣保持放大器，跨導放大器，互阻放大器，視頻放大器等等。）三、接口電路1、時基電路（括時鐘緩沖器、時鐘產生與分配、時鐘抖動清除器和同步、振蕩器、實時時鐘與計時器等）2、數據交換器模擬/數字交換器（簡稱ADC）數字/模擬交換器（簡稱DAC）集成交換器傳感器模擬前端數字電位器三、接口電路3、多協(xié)議接口集成電路（協(xié)議接口集成電路包括匹配接口的緩沖器、驅動器、中繼器、擴展器、加速器、發(fā)送器、接收器、收發(fā)器等等。）4、隔離器集成電路5、電路保護集成電路6、電平轉換器7、開關和多路復用器四、微波集成電路微波集成電路是處理射頻信號的模擬集成電路，可以分為混合微波集成電路(HMIC)和單片微波集成電路(MMIC)。微波集成電路又可以細分為：低噪聲放大器可調增益放大器功率放大器限幅器衰減器RF混頻器頻率合成器倍頻器四、微波集成電路I/Q調制解調器鎖相環(huán)(簡稱PLL)，移相器定時和時鐘(TimerAndClock)，RF發(fā)射、接收和收發(fā)器RF開關可調諧濾波器Thankyouforwatching.模擬集成電路參數1集成運算放大器集成運算放大器，簡稱集成運放，是模擬集成電路中一個重要的分支，也是各種電子系統(tǒng)中不可缺少的基本功能電路。集成運放具有輸入阻抗高，輸出阻抗低，差模增益高等優(yōu)點，同時能夠較好地抑制溫度漂移，被廣泛應用于模擬信號的處理以及產生電路之中。

集成運算放大器集成運放一般由輸入級、中間級、輸出級和偏置電路這四部分電路所組成，它具有兩個輸入端，分別為同相輸人端μp和反相輸入端μs，一個輸出端μo。輸入級電路一般為一個雙端輸入單端輸出的差分放大電路，輸入級電路性能的優(yōu)劣會直接影響整個集成運放的大部分性能參數，因此要求集成運放的輸入級的輸入阻抗高、差模增益大、共模抑制比高、靜態(tài)功耗低，目前主流的集成運放主要采用有源負載結構的CMOS差分放大器作為輸入級。輸入級中間級輸出級偏置電路UOUPUN集成運放結構示意圖集成運算放大器中間級是集成運放的主放大器，其作用是進一步增強集成運放對于差分信號的放大能力，多采用恒流源負載的CMOS共源放大器作為中間級結構。集成運放的輸出級應具有輸出電壓線性范圍寬、輸出阻抗低、非線性失真小等特點，集成運放的輸出級多采用互補輸出電路。偏置電路用于設置集成運放中各級放大電路的靜態(tài)工作點，一般采用CMOS電流鏡電路作為偏置電路。輸入級中間級輸出級偏置電路UOUPUN集成運放結構示意圖1.輸入失調電壓測試原理

集成運放輸入失調電壓測試原理圖2.靜態(tài)功耗測試原理集成運放的靜態(tài)功耗是指在運放輸入端無輸入信號，集成運放內部所消耗的功率，記為PD。該參數與運放的電源電壓和靜態(tài)電流相關。集成運放靜態(tài)功耗的測試電路如圖所示。測試時，待測運放的兩個電源端分別接人測試機的兩個測試端口，輔助運放的輸出端口懸空，采用加電壓測電流的方法，在運放的兩個電源端施加指定的正負工作電壓，測試此時從電源端流入或流出的電流大小，然后通過公式計算出集成運放的靜態(tài)功耗集成運放靜態(tài)功耗測試原理圖3.輸出擺幅測試原理輸出擺幅是指集成運放在規(guī)定的電源電壓和負載下，所能輸出的最大正峰值電壓和最大負峰值電壓，該值越接近電源電壓，說明集成運放的性能越好。輸出擺幅的測試電路如圖所示，測試時將集成運放的輸出端接指定負載RL、CL，并與測試機的測試端口相連，反向輸入端接地，先將開關S置于位置1，使集成運放的同相輸人端接正電源電壓U+，測試輸出端電壓UO1，電壓UO1為集成運放的正峰值電壓，再將開關S置于位置2，測試輸出端電壓UO2，電壓UO2為集成運放的負峰值電壓。集成運放輸出擺幅測試原理圖4、開環(huán)增益測試原理開環(huán)增益是指集成運放在開環(huán)狀態(tài)下，運放的輸出電壓變化與差模輸入電壓變化之比，記為Auo。這是運放一個非常重要的參數，開環(huán)增益越大，運放的性能越好。開環(huán)增益的測試電路如圖所示。集成運放開環(huán)增益測試原理圖4、開環(huán)增益測試原理

Thankyouforwatching.模擬集成電路參數2共模抑制比測試測試原理共模抑制比（CMRR）定義為放大器對差模電壓的放大倍數與對共模電壓放大倍數之比，表征差分電路抑制共模信號及對差模信號的放大能力，單位為分貝（dB）。共模抑制比的測試方式有兩種方式：輔助運放測試法（共模輸入法）簡易測試法輔助運放測試法U1為被測運放，U2為輔助運放，通過改變輸入電壓的方式改變輸入共模電壓，分別測量變化前后失調電壓，計算共模抑制比。簡易測試法運放在單端使用時不存在這個概念，只有當使用運放的兩端輸入時，這個概念才會產生。在圖中，差模增益Ad=R2/R1，如果電路的兩個輸入端加入相同的輸入電壓Uic，在輸入端理論上應為0輸出，但是因為有失調電壓的存在，實際會測量到輸出，那么共模抑制為：其本質的意義就是將輸出電壓按照差模增益折算到輸入端，再讓輸入電壓除以它--共模輸入被抑制了多少倍。電源抑制比是輸入電源變化量（以伏為單位）與轉換器輸出變化量（以伏為單位）的比值，常用dB表示。通常用電源的單位電壓變化所引起的器件輸入失調電壓的變化率。對于高質量的D/A轉換器，要求開關電路及運算放大器所用的電源電壓發(fā)生變化時，對輸出的電壓影響極小。通常把滿量程電壓變化的百分數與電源電壓變化的百分數之比稱為電源抑制比。最大輸出電流測試是指當運放的輸出與地、電源的兩個端電壓之一短接時，運放可以給出的最大輸出電流。短路電流確定了運放輸出的驅動能力，在很多運放中短路輸出電流包括源（sourcing）電流和阱（sinking）電流。分別表示輸出端和正電源與負電源短接時的最大輸出電流。輸入偏置電流使被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值：針對單電源運放測試）時，流入兩輸入端電流的平均值。IB=(IB_+IB+)/2。輸入失調電流輸入失調電流是單片運放的制造工藝趨于使電壓反饋運放的兩個偏置電流相等，但不能保證兩個偏置電流相等。輸入失調電流（IOS），使被測器件輸出電壓為零（或規(guī)定值：針對單電源運放測試）時，流入兩輸入端的電流之差。最大輸出電流測試是指當運放的輸出與地、電源的兩個端電壓之一短接時，運放可以給出的最大輸出電流。短路電流確定了運放輸出的驅動能力，在很多運放中短路輸出電流包括源（sourcing）電流和阱（sinking）電流。分別表示輸出端和正電源與負電源短接時的最大輸出電流。說明：運放接成雙電源同向緩沖器，輸出接1歐姆電阻接地，提高輸入電壓至1V以上，測量輸出電壓，即1歐姆電阻兩端電壓即可，此時輸出電壓不會隨輸入電壓線性變化。運放內部一般具有輸出端限流電路，即使長時間輸出短路也不會損壞。上述方法測量得到的電流為限流電流值，即手冊中給出的最大輸出電流。Thankyouforwatching.模擬集成電路參數3三端穩(wěn)壓芯片測試參數簡介三端穩(wěn)壓器件是基本的模擬集成電路，三端穩(wěn)壓器件具有三個端口，分別為輸入端、輸出端以及共地端。其基本功能是將輸入端接入的穩(wěn)定性差的輸入電壓轉換為一個恒定的電壓并加載到輸出端，為電路系統(tǒng)中其他的元器件提供一個穩(wěn)定的工作電壓。接下來以一種常用的三端穩(wěn)壓器為例，介紹一下三端穩(wěn)壓器在晶圓測試階段主要的測試參數。1.輸出電壓測試原理三端穩(wěn)壓芯片的輸出電壓是指當芯片輸出電流保持恒定，輸入端施加指定范圍內的電壓時，芯片輸出端的電壓。三端穩(wěn)壓芯片輸出電壓的測試電路如圖7.1所示，將三端穩(wěn)壓芯片的輸入端和輸出端分別接入測試機兩個測試端，共地端接地。在輸入端施加規(guī)定的電壓，輸出端施加規(guī)定的電流（負載），使用測試機內部的高精度電壓表測試穩(wěn)壓芯片的輸出端電壓，該電壓值即為三端穩(wěn)壓芯片的輸出電壓。INDUTOUT高精度電壓表

（DVM）程控電壓源

（VIS）程控電子負載

（PEL）三端穩(wěn)壓芯片輸出電壓測試原理圖2、靜態(tài)電流測試原理三端穩(wěn)壓芯片的靜態(tài)電流是指芯片輸入端施加指定電壓，輸出端不接任何負載時，芯片消耗的電流。三端穩(wěn)壓芯片靜態(tài)電流的測試電路如圖所示，測試時將芯片的輸入端接入測試機測試端，輸出端懸空，共地端接地，使用加壓測流的測試方法，在輸入端施加指定電壓，用高精度電流表測試此時流入芯片內部的電流大小，即為靜態(tài)電流。INDUTOUT程控電壓源

（VIS）三端穩(wěn)壓芯片靜態(tài)電流測試原理圖3、線性調整率

INDUTOUT高精度電壓表

（DVM）程控電壓源

（VIS）??100?固定電流三端穩(wěn)壓芯片線性調整率測試原理圖VS4.負載調整率測試

INDUTOUT高精度電壓表

（DVM）電壓源

程控電子負載

（PEL）??100?VS三端穩(wěn)壓芯片負載調整率測試原理圖感謝聆聽集成電路測試簡介集成電路測試在產業(yè)鏈中的地位51集成電路整體產業(yè)鏈

集成電路整體產業(yè)鏈首先從設計開始，然后是集成電路晶圓制造；制造完成的晶圓要經過集成電路晶圓測試環(huán)節(jié)后才能進行封裝；封裝完成的電路需要再次經過測試，并判斷合格后才能進入終端客戶應用市場?？梢钥吹皆谡麄€集成電路產業(yè)鏈中有集成電路晶圓測試、集成電路成品測試兩個測試環(huán)節(jié)，它們在整個產業(yè)鏈中起著非常重要的作用。測試原理52集成電路測試原理集成電路測試原理如圖，圖中，待測電路DUT（DeviceUnderTest）可以是集成電路晶圓，也可以是封裝完成的集成電路成品電路；針對每一種DUT都要制定相應的測試規(guī)范，從而形成一組測試輸入，測試輸入也稱為測試碼或者測試生成（TestGeneration）；測試系統(tǒng)根據測試輸入生成輸入定時波形，并施加到待測電路的輸入引腳上，然后從待測電路的輸出引腳上采樣得到相應的輸出波形，形成一組測試輸出（或者稱為測試響應），并分析該測試響應是否完整、正確地顯示了待測電路的實際輸出。測試輸入（測試碼）待測電路（DUT）測試輸出（測試響應）測試系統(tǒng)測試原理53集成電路測試主要考慮DUT的技術規(guī)范，如電路最高時鐘頻率、指標精度、輸入/輸出引腳的數目等。另外，還要考慮測試費用、電路可靠性、測試服務能力、軟件編程難易程度等。測試原理測試輸入（測試碼）待測電路（DUT）測試輸出（測試響應）測試系統(tǒng)集成電路測試原理圖中的測試系統(tǒng)大致包括以下幾部分：（1）測試儀：主要用來給待測電路施加輸入，并采樣輸出。（2）測試界面：主要根據DUT的封裝形式、最高時鐘頻率及測試儀的資源配置和界面板卡形式等合理地選擇測試插座，并設計制作測試負載板。（3）測試程序：主要包括控制測試儀的指令序列，其中需要考慮待測電路的類型、物理特征、工藝、功能參數、環(huán)境特性、可靠性等。測試目的集成電路測試的目的，是保證芯片在惡劣環(huán)境下，能夠完全實現設計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標。集成電路測試通常是由一系列測試項目組成的，從各個方面對芯片進行充分測試。每一個測試項目都會產生一系列的測試數據，不僅可以判斷芯片性能是否符合標準、是否可以進入市場，而且還能從測試結果的詳細數據中，充分、定量的反映出每個芯片從結構、功能到電氣特性的各種指標。集成電路測試的分類根據在產業(yè)鏈中所處的位置，集成電路測試分為集成電路晶圓測試和集成電路成品測試兩大類。本書主要介紹集成電路晶圓測試技術。根據目的和應用，集成電路測試分為抽樣測試、可靠性測試和產品定型測試等。根據測試的側重內容，集成電路測試分為功能測試、性能參數測試等。根據待測電路的類型，集成電路測試分為數字集成電路測試、模擬集成電路測試、混合信號集成電路測試以及超大規(guī)模片上系統(tǒng)電路（SOC）測試等。集成電路測試的應用集成電路測試是驗證設計、控制工藝、管理生產、保證質量、分析失效以及指導應用等的重要手段；集成電路測試應用在集成電路開發(fā)、生產和使用的全過程。1.晶圓測試根據晶圓測試結果，集成電路設計人員可以進行設計評估；集成電路工藝人員可以進行工藝的調整；集成電路生產運行管理人員可以制訂生產計劃等等。集成電路測試的應用582.成品測試根據成品測試結果可以挑選出合格的產品；也可以根據實際測試得到的性能參數指標對產品進行分級并統(tǒng)計各級電路數量。一般質量管理人員監(jiān)控產品的質量；生產運行管理人員控制產品的生產計劃。3.其他階段集成電路測試除了以上兩大類集成電路測試類型及相關應用外，在集成電路開發(fā)和生產過程中還會進行以下幾種類型的測試，它們同樣很重要。集成電路測試的應用（1）抽檢測試。為了確保集成電路產品的質量，通常會對準備入庫的合格電路進行抽檢，以檢驗其是否確實達到了規(guī)定的質量要求。另外，在向客戶提供批量產品前，也會根據需要進行抽檢。集成電路測試的應用（2）可靠性測試?？煽啃允侵讣呻娐烽L期使用的可靠度指標，是電路在規(guī)定時間和額定條件下工作時出現故障的概率。為評估電路的可靠性，需要進行可靠性測試。通常是在高電壓、大功率等外加應力情況下，測試電路的電性能參數，進而評估這些參數的變化量。集成電路測試的應用（3）產品定型測試。在集成電路產品設計定型、生產定型時，為全面鑒定產品的電性能所做的測試即為產品定型測試。這種測試有別于其他測試類型，主要表現在除了要測試規(guī)定環(huán)境和額定工作條件下電路的各項性能指標是否符合規(guī)范要求外，還需測試電路的允許工作范圍，如工作電壓、工作溫度等。這種測試主要用于電路的失效分析、可靠性研究等。Thankyouforwatching.集成電路測試平臺

基于LK8820的測試平臺集成電路測試在產業(yè)鏈中的地位集成電路整體產業(yè)鏈

集成電路整體產業(yè)鏈首先從設計開始，然后是集成電路晶圓制造；制造完成的晶圓要經過集成電路晶圓測試環(huán)節(jié)后才能進行封裝；封裝完成的電路需要再次經過測試，并判斷合格后才能進入終端客戶應用市場?？梢钥吹皆谡麄€集成電路產業(yè)鏈中有集成電路晶圓測試、集成電路成品測試兩個測試環(huán)節(jié)，它們在整個產業(yè)鏈中起著非常重要的作用。測試平臺概述LK8820集成電路開發(fā)教學平臺由控制系統(tǒng)、接口與通信模塊、參考電壓與電壓測量模塊、四象限電源模塊、數字功能管腳模塊、模擬功能模塊、模擬開關與時間測量模塊組成，可實現集成電路芯片測試、板級電路測試、電子技術學習與電路輔助設計。通過本平臺進行典型集成電路芯片測試以及應用電路的設計，電路板的焊接和調試，培養(yǎng)學生的實踐應用能力。測試平臺概述平臺的主要特點如下：測試主機通過USB接口與工控機進行數據交換；采用雙層機架，最多可以配12塊測試模塊；測試總線一體化設計，掛載測試模塊更方便；高精度電源由軟件控制，測試主機具有自我保護功能；最多可擴展到64個功能測試管腳，8個電壓電流源通道；最多可擴展到256個光繼電器矩陣開關、32個用戶繼電器；配備TTL接口，可連接智能芯片分選機進行芯片測試；支持TMU功能，能測量數字芯片上升沿、下降沿、建立時間等參數；提供高精度的交流信號源，支持正弦波、三角波、鋸齒波輸出；提供低速/高速、高精度交流信號測量功能；測試平臺構成LK8820集成電路開發(fā)教學平臺整體采用智能化、模塊化、工業(yè)化設計，整個開發(fā)教學平臺由不同的電源模塊和信號模塊組成，可以根據用戶產品的實際測試需求選擇適合的模塊及數量，各模塊在機架內插入槽位不受限制，插入后軟件自動識別并加以控制。平臺結構及模塊組成如圖所示，主要組成如下：供電電源：AC220V/5A；對外接口：USB2.0/USB3.0/AC220V/測試接口；工控機：8G內存/500G硬盤/19英寸觸控顯示器/Windows10操作系統(tǒng)；工業(yè)級配置：工業(yè)機柜、觸控顯示屏、高精度電源、軟啟動裝置、安全指紋門鎖、人體工學模組、漏電保護裝置、靜音直流風扇、工作照明裝置；測試主機：CM測試模塊、VM測試模塊、PV測試模塊、PE測試模塊、WM測試模塊、ST測試模塊；配套軟件：LK8820-SP集成電路開發(fā)教學軟件；LK8820系統(tǒng)控制模塊測試主機模塊單元（1）接口與通信模塊（CM）接口與通信模塊（簡稱CM板）是進行數據通信、電源狀態(tài)指示、RGB燈控制、軟啟動繼電器控制。測試主機模塊單元（2）參考電壓與電壓測量模塊（VM）參考電壓與電壓測量模塊可提供四個參考電壓，四個參考電壓可通過程序設定，分別為輸入高電平（VIH）、輸入低電平（VIL）、輸出高電平（VOH）、輸出低電平（VOL）。電壓測量功能，可測試范圍±30V。測試主機模塊單元（3）四象限電源模塊（PV）四象限電源模塊可輸出四路電壓電流源，提供精密四象限恒壓、恒流、測壓、測流通道。電壓最大范圍±30V，電流最大范圍±500mA?？筛鶕脩粜枨髷U展至2個四象限電源模塊（8通道），用于滿足64pin以下芯片測試需求。測試主機模塊單元（4）數字功能管腳模塊（PE）數字功能管腳模塊是實現數字功能測試的核心，能給被測電路提供輸入信號，測試被測電路的輸出狀態(tài)。數字功能管腳模塊提供16個管腳通道，可根據用戶需求擴展至4個數字功能管腳模塊（64通道），用于滿足64pin以下芯片測試需求。測試主機模塊單元（5）模擬開關與時間測量模塊（ST）模擬開關與時間測量模塊功能主要有16個用戶繼電器、128個光繼電器矩陣開關、1kHz~1MHz用戶時鐘信號、TMU測試功能?？筛鶕脩粜枨髷U展至2個模擬開關與時間測量模塊，用于滿足64pin以下芯片測試需求。測試主機模塊單元（6）模擬功能模塊（WM）模擬功能模塊是測試機實現交流信號測試的，主要功能是提供交流信號輸出與交流信號測量功能，可輸出波形有正弦波、三角波、鋸齒波，能測量交流信號的有效值、總諧波失真度。測試平臺電源

開發(fā)教學平臺電源是經過專門設計的專用電源，為測試機提供+5V、+12V、±24V、±36V等電源，電源開啟時短時交流電流會達到25-30A，因此橋架上開關容量至少40A。開發(fā)教學平臺電源完全由測試系統(tǒng)軟件控制和監(jiān)控，并具備以下特性：由測試系統(tǒng)軟件打開和關閉電源；測試系統(tǒng)軟件退出時自動關閉電源；按面板上的復位按鈕時可緊急關閉電源，并自動停止測試；電源出現過載或輸出短路時自動關閉電源，并報警；電源輸入交流電斷電時自動關閉電源，并報警；帶電插拔測試機中的PCB板(嚴禁這樣操作)時，自動關閉電源；電源自動關閉報警時，需要按面板上的復位按鈕后才能再開啟電源。Thankyouforwatching.測試資源在使用基于LK8820的集成電路測試平臺進行芯片測試時，需要結合LK230T集成電路測試資源系統(tǒng)來完成芯片測試。1．使用LK230T的原因由于基于LK8820的集成電路測試平臺在完成一個測試方案時，需要搭建測試電路以及完成測試電路板的焊接，過程較為復雜還容易出錯。為了簡化使用者的繁復操作，降低集成電路測試平臺的使用難度，LK230T集成電路測試資源系統(tǒng)提供了豐富的測試電路實例，來滿足用戶需求的多樣化。測試資源LK230T資源系統(tǒng)主要由測試板放置區(qū)、應用電子模塊放置區(qū)、耗材放置區(qū)、測試區(qū)、接口區(qū)和練習區(qū)組成，實驗箱配有測試案例板、應用電子模塊和耗材，可以進行案例測試，也可以進行自主練習測試，如上圖所示。LK230T組成（1）測試區(qū)測試區(qū)具有測試的便利性和可擴展性，擴展了基于LK8820的集成電路測試平臺功能，如圖所示。LK230T組成LK230T組成（2）練習區(qū)練習區(qū)采用面包板進行動手能力訓練，具有免焊接，降低耗材成本以及操作靈活等優(yōu)點，如圖所示。LK230T組成LK230T組成（3）手持式萬用表滿足實訓中的儀器需求，實現數據的可視化，如圖所示。LK230T組成LK230T資源清單Thankyouforwatching.測試軟件軟件架構LK8820芯片測試管理系統(tǒng)是專為LK8820集成電路開發(fā)教學平臺配套的專用測試系統(tǒng)軟件，通過測試系統(tǒng)軟件，用戶可有效組織系統(tǒng)構架，方便進行多種芯片的參數測試。LK8820測試軟件運行于win10x64位環(huán)境，基于系統(tǒng)軟件，用戶可方便的新建、打開、修改用戶測試程序，并為用戶建立完全獨立的C/C++編程環(huán)境，用戶通過使用測試機專用函數，可以有效的使用和控制測試機硬件資源，在VS2013C/C++編程環(huán)境中編寫出屬于自己的測試程序。軟件運行雙擊“LK8820圖標”運行LK8820測試軟件，彈出LK8820測試系統(tǒng)登錄界面，如圖所示。LK8820軟件快捷方式LK8820測試系統(tǒng)登錄界面通常用戶名和密碼是默認的，只需要直接單擊“登錄”按鈕即可進入系統(tǒng)主界面。軟件運行用戶在相應的編輯框中中輸入對應的用戶名和密碼，點擊<登錄按鈕>，如在后臺本地數據庫中查到相應的信息，完成登錄進入系統(tǒng)主界面。該葉面左側為功能欄，8個功能按鈕分別對應設備設置、芯片測試、數據顯示、云平臺、日志管理、用戶管理、分選測試、系統(tǒng)退出等功能。用戶設置單擊“用戶設置”，進入用戶管理界面，可新增、刪除、修改用戶的相關信息，可對用戶數據庫進行管理，并且可定義管理員以下級別用戶的權限信息。用戶設置界面用戶管理選中某行用戶可將信息顯示在右側的四個編輯框中，同時鼠標雙擊某一單元格可以直接進行信息改寫。選中某行用戶信息后點擊<用戶刪除>完成刪除用戶操作，在右側四個編輯框中填寫新用戶信息，點擊<用戶增加>完成新增用戶。修改用戶名指示步驟修改用戶權限指示步驟用戶日志測試系統(tǒng)軟件使用過程中，自動完成對用戶操作的日志記錄和保存，同時用戶可以對自己當前的歷史記錄進行查看和查詢。如下圖所示:點擊<日志信息>顯示出當前軟件使用過程中的操作日志信息輸入日志字段(可在下拉列表中參看具體字段)和關鍵字(例如:通訊狀態(tài)中的關鍵字為正?；虍惓?，可以進行日志查詢，快速定位和檢索目標日志信息。芯片測試芯片測試功能窗口，如下圖所示，用戶可通過創(chuàng)建工程，編寫自己的測試程序，運行編譯后生成可執(zhí)行程序，完成載入過程，點擊開始測試，便可在屏幕中心顯示打印出所測試出的數據結果。右側信息欄為顯示出當前測試的次數，時間，測試工程名，測試版本等基本信息。最上方為測試功能欄，分別對應軟件啟動，創(chuàng)建程序，載入程序，開始測試，暫停測試，手動(連續(xù))測試，數據打印，實驗配置，卸載退出等功能。云平臺在主界面點擊<云平臺>，提供了集成電路云平臺系統(tǒng)的網絡接口，用戶可直接訪問云平臺系統(tǒng)，如下圖所示，為了保證更好的使用體驗，建議在電腦中將谷歌或者火狐瀏覽器設置為默認瀏覽器。分選測試點擊主界面<分選測試>，將進入分選相機功能窗口，在分測試中提供了對芯片智能識別及處理的功能，配合分選設備完成對芯片的分選。該功能采用圖像識別技術，判斷芯片絲印、封裝形式、外觀缺陷等特征。上位機實時監(jiān)控，圖像采集、產能統(tǒng)計、批次對比、數據分析。窗口上方為功能欄，分別對應重啟，開始/暫停預覽，停止相機，字符校準，設置，拍照等功能。下方狀態(tài)欄為獲取到圖像的分辨率，顯示幀率，捕捉幀率等基本信息。右側為處理結果指示燈提示及字符匹配度顯示區(qū)域，包括文字識別顯示及圖像OK/NG顯示。芯片字符管理列表:為方便用戶減少字符校準方面的設置，提供了相關芯片字符校準的便捷設置方式，在其下拉列表中為若干芯片(已完成字符校準的屬性設置)。分選統(tǒng)計:統(tǒng)計分選測試的數量及合格數量。Thankyouforwatching.測試硬件環(huán)境1.LK8820的測試板LK8820的測試板，也稱為DUT板。在進行芯片測試時，通常需要搭建焊接測試電路板。目前LK8820的測試板使用MiniDUT板，如圖所示。2.LK8820的測試轉接板LK8820的測試轉接板有6個96Pin接口（母接口），MiniDUT板主要是通過這些接口連接在測試機上進行測試。LK8820的測試轉接板，如圖所示。2.LK8820的測試轉接板將LK8820的ViniDUI板的正面向外、絲印向下插接到測試轉接板上,如圖所示。3.LK8820的外掛測試接口LK8820的外掛測試接口在LK8820機體的右面上側,如圖所示。LK8820的外掛測試接口也有6個96Pin接口（公接口），在進行芯片測試時，可將插接有MiniDUT板的測試轉接板，正面向外、絲印向下插接到外掛測試接口上，如圖所示。測試硬件環(huán)境搭建步驟根據任務描述，需要按照芯片測試電路圖，完成芯片測試接口配接表設計、MiniDUT板芯片測試電路焊接以及轉接板測試電路搭建。1.測試接口芯片引腳與LK8820的芯片測試接口，是芯片測試電路設計的基本依據。XX芯片引腳與LK8820測試接口的配接表設計，如表所示。測試硬件環(huán)境搭建步驟2.MiniDUT板測試電路焊接根據芯片測試接口配接表，在.MiniDUT板上搭建焊接測試電路板，如圖所示。（1）在MiniDUT板正面的指定位置上，插上一個XX芯片，芯片正面缺口向上。（2）在MiniDUT板反面的指定位置上，用連接線將XX芯片的引腳，依次對應焊接到MiniDUT板反面兩邊的針插引腳上。測試硬件環(huán)境搭建步驟3．搭建轉接板測試電路（1）先將焊接好的XX芯片測試電路的MiniDUT板，正面向外、絲印向下插接到測試轉接板上。（2）參考表1-2所示的XX芯片引腳與LK8820測試接口的配接表，用杜邦線將XX芯片的引腳，依次對應連接到測試轉接板上的96Pin的接口上，如圖1-21所示。測試硬件環(huán)境搭建步驟（3）將搭建好的轉接板測試電路，插接到LK8820外掛盒的芯片測試接口上，XX芯片測試電路搭建完成，如圖所示。Thankyouforwatching.創(chuàng)建測試程序創(chuàng)建測試程序在創(chuàng)建第一個集成電路測試程序之前，我們需要先打開測試平臺，其步驟如下：第一步：打開LK8820前面板，打開專用電源開關，如圖所示。創(chuàng)建測試程序第二步：打開工控機電源開關創(chuàng)建測試程序1.創(chuàng)建XX芯片測試程序在<芯片測試>界面點擊<創(chuàng)建程序>按鈕，進入新建程序窗口，如圖所示，點擊程序路徑選擇按鈕，彈出右側文件對話框，選擇一個目錄作為新建程序的保存路徑。點擊<確定>完成自己工程的創(chuàng)建，<取消>則取消本次創(chuàng)建。創(chuàng)建測試程序2.配置工程屬性。在創(chuàng)建工程后，通常需要配置工程屬性。雙擊后綴名為XX芯片.sln的文件，打開創(chuàng)建的XX芯片測試程序。先右鍵單擊“解決方案資源管理器”的“XX芯片”工程名，然后在彈出菜單中，單擊最后一行的“屬性”選項，如圖所示。創(chuàng)建測試程序打開的XX芯片屬性頁后，在屬性頁的“配置（C）：”中選擇“Debug”，在“平臺（P）：”中選擇“x64”，如圖所示。另外，還可以進入下圖中的“配置管理器”，進行屬性配置。在紅框中選擇x64后，返回上一級的屬性頁中，先點擊<應用>，再點擊<確定>，(注意順序，否則可能配置未應用)，完成以上的配置后，就可以編寫代碼了。創(chuàng)建測試程序3.編寫測試程序在“解決方案資源管理器”中，打開“J8820_luntek.cpp”。J8820_luntek.cpp主要包含頭文件包含、測試程序信息函數以及主測試程序函數，其中主測試程序函數，是需要我們編寫測試程序代碼的。（1）PASCALJ8820_luntek_inf（）函數PASCALJ8820_luntek_inf（）是測試程序信息的函數，是一個自動生成的代碼，不需要我們編寫或修改的。創(chuàng)建測試程序（2）PASCALJ8820_luntek（）函數PASCALJ8820_luntek（）是一個主測試程序函數，主要包括測試程序初始化、直流參數測試、功能測試以及輸出測試結果等，這些代碼都需要我們編寫。自動生成的主測試函數inlinevoidPASCALJ8820_luntek（），代碼如下：1.inlinevoidPASCALJ8820_luntek(

)2{3.//空函數體，可添加測試芯片代碼4.}這時，還需要在這個空函數中編寫測試XX芯片的代碼，具體代碼在后面的項目中介紹。編寫完測試程序后進行編譯，若編譯發(fā)生錯誤，要進行分析檢查，直至編譯成功為止。創(chuàng)建測試程序4.修改def文件在創(chuàng)建工程時,會自動生成一個det文件模板,在"解決方案資源管理器"中,打開"XX芯片.det"。在def文件模板上，根據XX芯片的測試條件要求，修改def文件模板的每行每列內容。創(chuàng)建測試程序5.XX芯片測試程序載入運行先將搭建好的XX芯片測試電路，插接到LK8820外掛盒的芯片測試接口上，然后進行XX芯片測試程序載入運行操作。操作步驟如下：（1）運行LK8820測試軟件，通過LK8820測試系統(tǒng)登錄等操作，進入芯片測試界面；（2）單擊“載入程序”，彈出“程序選擇”界面，然后通過XX芯片測試程序的文件夾、經x64文件夾、定位到Debug文件夾，獲取XX芯片的動態(tài)鏈接庫文件、并完成芯片測試程序的載入，如下圖所示；創(chuàng)建測試程序（3）測試設置完成程序載入后，在<芯片測試>功能欄中選擇測試方式。<手動測試>按鈕每次只測試一遍。<手動連續(xù)>按鈕按下后就能連續(xù)測試，點擊<暫停測試>就會停止測試。每一次測試完成后，會將打印屏幕刷新，顯示出當前新一輪的測試結果。右側測試信息欄會相應的刷新數據。完成一輪芯片測試后，若有保存此輪數據的需求，點擊<數據打印>按鈕，自動生成數據模板保存于本地。<實驗配置>提供了測試程序中所要測試參數的基本信息。創(chuàng)建測試程序（4）程序測試選擇好測試方式后，點擊<開始測試>按鈕進行測試，結束此次測試后會將結果輸出到屏幕中。觀察XX芯片測試程序運行結果,是否符合任務要求。若運行結果不能滿足任務的要求,要對測試程序進行分析檢查修改,直至運行結果滿足任務要求為止。Thankyouforwatching.集成電路靜態(tài)測試集成電路電性能測試電性能測試靜態(tài)測試動態(tài)測試集成電路靜態(tài)測試靜態(tài)測試主要檢測集成電路對于直流輸入信號的響應，俗稱為直流測試。1.靜態(tài)功能測試將直流高、低電平各種輸入信號組合施加到待測電路上，檢測其輸出端的響應，判斷是否符合電路預先設計的功能。2.靜態(tài)參數測試將直流電壓、電流施加到待測電路上，待電路進入穩(wěn)定狀態(tài)后，測試其直流特性參數。靜態(tài)參數測試數字集成電路輸出高低電平輸入和輸出電壓靜態(tài)參數靜態(tài)參數測試模擬集成電路輸入偏置電壓/電流電路的功耗靜態(tài)參數輸入失調電壓/電流靜態(tài)參數測試方法方法一：在待測試端施加直流電源，同時在該端口測量直流電流；方法二：是在待測試端施加直流電流，同時在該端口測量直流電壓。靜態(tài)參數測試時必須確保初始值為零，另外還要保證測試的穩(wěn)定性，防止自激；可以采用增加屏蔽、添加電容濾波等手段來避免。Thankyouforwatching.集成電路動態(tài)測試集成電路動態(tài)測試動態(tài)測試主要檢測集成電路對于交流輸入信號的響應，通常稱為交流測試。1.動態(tài)功能測試主要指針對大規(guī)模數字電路在額定負載和頻率規(guī)范內，進行其功能測試；針對模擬電路進行的實裝測試等。2.動態(tài)參數測試包括數字電路的脈沖響應測試、時間參數測試等；還包括模擬電路的頻率響應測試和增益、頻寬等參數的測試等。動態(tài)參數表征電路動態(tài)性能的參數即為動態(tài)參數。對于數字集成電路來說主要就是時間參數，如高/低電平持續(xù)時間、信號上升/下降時間、信號建立/保持時間、工作周期、傳輸延時時間等等。動態(tài)參數測試方法動態(tài)參數還可以通過利用時間測量儀器來進行測試。動態(tài)參數測試主要方法是通過逐步改變定時信號的設置而進行動態(tài)功能測試，具體來說是通過形成一定格式的輸入測試信號，添加到待測電路的輸入端，然后在其輸出端檢測相應的信號，在判斷動態(tài)功能是否滿足預期的情況下，還可以具體給出時間參數測試值。Thankyouforwatching.LK8820測試機常用函數LK8820測試機常用函數1._set_logic_level()函數原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函數功能：設置驅動參考電壓和比較參考電壓。參數說明：vih——驅動高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vil——驅動低電平（V），電壓范圍-10~+10V、voh——比較高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vol——比較低電平（V），電壓范圍-10~+10V；應用實例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//設置驅動電壓vih為5V，vil為0V，voh為4V，vol為1V。LK8820測試機常用函數2._measure_v()函數原形：float_measure_v(unsignedintchannel，unsignedintgain)；函數功能：測量電源通道電壓，返回值范圍-30~30V，單位V；參數說明：chanel——電源通道（1，2，3···8）、gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應用實例：_measure_v(1，2)；//測量電源通道1的電壓，增益一倍。LK8820測試機常用函數3._measure_i()函數原形：float_measure_i(unsignedintchannel，unsignedintstate，unsignedintgain)；函數功能：選擇合適電流檔位，精確測量工作電流，單位μA；參數說明：channel——電源通道（1，2，3···8）、state——電流檔位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應用實例：_measure_i(2，4，3)；//測量電源通道2電流，量程為1mA，增益5倍；注意：若選擇電流檔位量程小于待測電流值，返回值為該電流檔位量程值。LK8820測試機常用函數4._on_vpt()函數原形：void_on_vpt(unsignedintchanel，unsignedintcurrent_state,floatvoltage)；函數功能：設置輸出電壓源通道及電壓值；參數說明：chanel——電源通道（1，2，3···8）、current_state——電流檔位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；voltage——輸出電壓（V），電壓范圍-30~+30V；應用實例：_on_vpt(1，2，5)；//設置電源通道1輸出5V，電流檔位量程為100mA；注意：調用_on_vpt函數后，為了使源的內部達到穩(wěn)定狀態(tài)，需要至少延時10ms再執(zhí)行其他操作。LK8820測試機常用函數5._on_ip()函數原形：void_on_ip(unsignedintchannel，floatcurrent)；函數功能：設置輸出電流源通道及電流值；參數說明：channel——電源通道（1，2，3···8）、current——輸出電流（uA），-500000~+500000uA；應用實例：_on_ip(3，20000)；設置電源通道3輸出20mA電流；注意：調用_on_ip函數后，為了使源的內部達到穩(wěn)定狀態(tài)，需要至少延時10mS再執(zhí)行其他操作。Thankyouforwatching.LK8820測試機常用函數LK8820測試機常用函數1._sel_drv_pin()函數原形：void_sel_drv_pin(unsignedintpin，...)；函數功能：設定輸入（驅動）管腳，打開PIN腳輸出；參數說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾應用實例：_sel_drv_pin(1，3，5，0)；//設定PIN1，3，5為驅動管腳；注意：在設定輸入（驅動）管腳時，測試機將自動斷開PMU管腳，如果需要使用PMU功能，必須閉合PMU管腳。LK8820測試機常用函數2._set_logic_level()函數原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函數功能：設置驅動參考電壓和比較參考電壓。參數說明：vih——驅動高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vil——驅動低電平（V），電壓范圍-10~+10V、voh——比較高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vol——比較低電平（V），電壓范圍-10~+10V；應用實例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//設置驅動電壓vih為5V，vil為0V，voh為4V，vol為1V。LK8820測試機常用函數3._set_drvpin()函數原形：void_set_drvpin(char*logic，unsignedintpin，...)；函數功能：設置輸出驅動腳的邏輯狀態(tài)；參數說明：*logic——邏輯標志（“H”，“L”），H：高電平，L：低電平pin，...——管腳序列（1，2，3，…64），管腳序列要以0結尾；應用實例：_set_drvpin(“H”，1，3，5，0)；//設定PIN1，3，5輸出高電平。LK8820測試機常用函數4._sel_comp_pin()函數原形：void_sel_comp_pin(unsignedintpin，...)；函數功能：設定輸出（比較）管腳，打開PIN腳輸入；參數說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾；應用實例：_sel_comp_pin(1，3，5，0)；//設定PIN1，3，5為比較管腳；注意：在設定輸入（驅動）管腳時，測試機將自動斷開PMU管腳。LK8820測試機常用函數5._read_comppin()函數原形：int_read_comppin(char*logic，unsignedintpin，...)；函數功能：讀取比較腳的狀態(tài)或數據。當*logic=“H”時，返回0則pass，否則為fail。當*logic=“L”時，返回0則pass，否則為fail；參數說明：*logic——邏輯標志（“H”，“L”）、pin——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾；應用實例：_read_comppin(“H”，1，3，5，0)；//比較PIN1，3，5是否為高電平。Thankyouforwatching.LK8820測試機常用函數

——VM板LK8820測試機常用函數測試程序是測試機用戶根據芯片測試規(guī)范，調用測試機自帶的函數庫內部的函數編寫的軟件，目前常用的測試機系統(tǒng)編程環(huán)境為TurboC2.0,芯片測試程序運行于DOS環(huán)境。測試程序除了可用于TurboC2.0提供的全部函數外，還需要用到測試機廠家提供的一些專用函數，這些函數以庫函數cl.lib和包含文件user.h的形式提供，下面介紹一下LK8820測試機的常用測試函數。LK8820測試機常用函數VM板函數測試機常用函數PV板函數PE板函數ST板函數WM板函數VM板簡介參考電壓與電壓測量模塊（VM板）可提供四個參考電壓，四個參考電壓可通過程序設定，分別為輸入高電平（VIH）、輸入低電平（VIL）、輸出高電平（VOH）、輸出低電平（VOL）。具備電壓測量功能，可測試范圍±30V。VM板的常用函數包括：設置邏輯電平函數_set_logic_level()、電壓測量函數_measure_v()、電流測量函數_measure_i()。VM板函數簡介1._vm_init()函數原形：_vm_init()；函數功能：VM板初始化，參考電壓預置到0V，關閉AD采樣通道。參數說明：無參數應用實例：_vm_init()； //VM板初始化VM板函數簡介2._set_logic_level()函數原形：void_set_logic_level(floatvih，floatvil，floatvoh，floatvol);函數功能：設置驅動參考電壓和比較參考電壓。參數說明：vih——驅動高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vil——驅動低電平（V），電壓范圍-10~+10V、voh——比較高電平（V），電壓范圍-10~+10V、vol——比較低電平（V），電壓范圍-10~+10V；應用實例：_set_logic_level(5,0,4,1)；//設置驅動電壓vih為5V，vil為0V，voh為4V，vol為1V。VM板函數簡介3._measure_v()函數原形：

float_measure_v(unsignedintchannel，unsignedintgain)；函數功能：測量電源通道電壓，返回值范圍-30~30V，單位V；參數說明：chanel——電源通道（1，2，3···8）、gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應用實例：_measure_v(1，2)；//測量電源通道1的電壓，增益一倍。VM板函數簡介4._measure_i()函數原形：

float_measure_i(unsignedintchannel，unsignedintstate，unsignedintgain)；函數功能：選擇合適電流檔位，精確測量工作電流，單位μA；參數說明：channel——電源通道（1，2，3···8）、state——電流檔位（1，2，3···7）、1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA；5：100uA；6：10uA；7：1uA；gain——測量增益（1，2，3）；1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍；應用實例：_measure_i(2，4，3)；//測量電源通道2電流，量程為1mA，增益5倍；VM板函數簡介5._get_ad()函數原形：float_get_ad(unsignedintchannel，unsignedintgain);函數功能：讀取A/D輸入電壓值，返回值范圍-10~10V，單位V。參數說明：channe——測量通道（1，2，3···16）其中測量通道1，3，5，7，9，11，13，15測量電流通道電壓值，測量通道2，4，6，8，10，12，14，16測量電壓通道電壓值。 gain——測量增益（1，2，3）1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍應用實例：_get_ad(2,2); //測量電源通道1的電壓值，無增益Thankyouforwatching.LK8820測試機常用函數

——PE板PE板簡介數字功能管腳模塊是實現數字功能測試的核心，能給被測電路提供輸入信號，測試被測電路的輸出狀態(tài)。數字功能管腳模塊提供16個管腳通道，可根據用戶需求擴展至4個數字功能管腳模塊（64通道），用于滿足64pin以下芯片測試需求。PE板的常用函數包括：_on_fun_pin()、_off_fun_pin()、_on_pmu_pin()、_off_pmu_pin()、_sel_drv_pin()、_set_drvpin()、_sel_comp_pin()、_read_comppin()、_rdcmppin()、_on_pmu()、_off_pmu()、_pmu_test_vi()、pmu_test_iv()、_read_pin_voltage()PE板函數簡介1.void_pe_init()函數原形：void_pe_init(unsignedintmodule);函數功能：PE板初始化，復位PMU通道，斷開PIN腳輸出。參數說明：module——板卡號（1，2，3，4）應用實例：_pe_init(1)； //PE板

板卡1初始化PE板函數簡介2._on_fun_pin()函數原形：void_on_fun_pin(unsignedintpin，…);函數功能：閉合功能管腳繼電器，打開PIN腳輸出。參數說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾。應用實例：_on_fun_pin（1，5，6，0）； //閉合PIN1，5，6的功能管腳繼電器PE板函數簡介3._off_fun_pin()函數原形：void_off_fun_pin(unsignedintpin，...);函數功能：斷開功能管腳繼電器，斷開PIN輸出。參數說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾應用實例：_off_fun_pin（2，3，7，0）； //斷開PIN2，3，7的功能管腳繼電器PE板函數簡介4._on_pmu_pin()函數原形：void_on_pmu_pin(unsignedintpin);函數功能：閉合PMU管腳繼電器。參數說明：pin——管腳號（1，2，3，···64）應用實例：_on_pmu_pin(2); //閉合PIN2的PMU管腳繼電器PE板函數簡介5._off_pmu_pin()函數原形：void_off_pmu_pin(unsignedintpin);函數功能：斷開PMU管腳繼電器。參數說明：pin——管腳號（1，2，3，···64）應用實例：_on_pmu_pin(6); //斷開PIN6的PMU管腳繼電器PE板函數簡介6._sel_drv_pin()函數原形：void_sel_drv_pin(unsignedintpin，...);函數功能：設定輸入（驅動）管腳，打開PIN腳輸出。參數說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾注意：在設定輸入（驅動）管腳時，測試機將自動斷開PMU管腳，如果需要使用PMU功能，必須閉合PMU管腳。應用實例：_sel_drv_pin(1，3，5，0); //設定PIN1，3，5為驅動管腳PE板函數簡介7._set_drvpin()函數原形：void_set_drvpin(char*logic，unsignedintpin，...);函數功能：設置輸出驅動腳的邏輯狀態(tài)。參數說明：*logic——邏輯標志（“H”，“L”），H：高電平，L：低電平pin，...——管腳序列（1，2，3，…64），管腳序列要以0結尾應用實例：_set_drvpin(“H”，1，3，5，0); //設定PIN1，3，5輸出高電平PE板函數簡介8._sel_comp_pin()函數原形：void_sel_comp_pin(unsignedintpin，...);函數功能：設定輸出（比較）管腳，打開PIN腳輸入。注意：在設定輸入（驅動）管腳時，測試機將自動斷開PMU管腳。參數說明：pin，...——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾應用實例：_sel_comp_pin(1，3，5，0); //設定PIN1，3，5為比較管腳PE板函數簡介9._read_comppin()函數原形：int_read_comppin(char*logic，unsignedintpin，...);函數功能：讀取比較腳的狀態(tài)或數據。當*logic=“H”時，返回0則pass，否則為fail。當*logic=“L”時，返回0則pass，否則為fail。參數說明：*logic——邏輯標志（“H”，“L”）pin——管腳序列（1，2，3，···64），管腳序列要以0結尾應用實例：_read_comppin(“H”，1，3，5，0); //比較PIN1，3，5是否為高電平PE板函數簡介10._rdcmppin()函數原形：int_rdcmppin(unsignedintpin);函數功能：讀取比較腳的邏輯狀態(tài)，返回“0”或“1”。1：邏輯狀態(tài)為“H”；0：邏輯狀態(tài)為“L”參數說明：pin——管腳號（1，2，3，···64）應用實例：_rdcmppin(5); //讀取PIN5的邏輯狀態(tài)PE板函數簡介11._on_pmu()函數原形：void_on_pmu(unsignedintmodule，unsignedintchannel);函數功能：閉合PMU通道繼電器，打開PMU通道。參數說明：module——板卡號（1，2，3，4）channel——PMU通道（1，2，3，···8）應用實例：_on_pmu(1，5)； //打開PE板

板卡1的PMU通道5PE板函數簡介12._off_pmu()函數原形：void_off_pmu(unsignedintmodule，unsignedintchannel);函數功能：斷開PMU通道繼電器，關閉PMU通道。參數說明：module——板卡號（1，2，3，4） channel——PMU通道（1，2，3，···8）應用實例：_on_pmu(2，6)； //關閉PE板

板卡2的PMU通道6PE板函數簡介13._pmu_test_vi()函數原形：float_pmu_test_vi(unsignedintpin，unsignedintchannel，unsignedintstate，floatvoltage，unsignedintgain);函數功能：對管腳進行供電壓測電流的PMU測量，返回管腳電流，單位uA。參數說明：pin——管腳號（1，2，3，···64） channel——PMU通道（1，2，3，···8）state——電流檔位（1，2，3···7） 1：500mA；2：100mA；3：10mA；4：1mA 5：100uA；6：10uA；7：1uAvoltage——驅動電壓（V），-30~+30V gain——測量增益（1，2，3）1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍應用實例：_pmu_test_vi(1，2，5，0，2); //對PIN1使用PMU通道2供5V電壓測電流，電流量程100uA，增益一倍PE板函數簡介14.pmu_test_iv()函數原形：float_pmu_test_iv(unsignedintpin，unsignedintchannel，floatsouce，unsignedintgain);函數功能：對管腳進行供電流測電壓的PMU測量，返回管腳電壓，單位V。參數說明：pin——被測管腳號（1，2，3，···64） channel——PMU通道（1，2，3，···64） souse——驅動電流（uA），-500000~+500000 gain——測量增益（1，2，3）1：衰減1/3倍；2：放大1倍；3：放大5倍應用實例：_pmu_test_iv(1，3，500，2);PE板函數簡介15._read_pin_voltage()函數原形：float_read_pin_voltage(unsignedintpin，unsignedintchannel，unsignedintgain);函數功能：測量PIN腳輸入電壓，返回管腳電壓，單位V。參數說明：pin——被測管腳號（1，2，3，···64） channel——電源通道（1，2，3，···64） gain——測量增益（1，2，3）1：衰減比1：3；2：增益1倍；3：增益5倍應用實例：_read_pin_voltage(3，4，2)；//使用PMU通道4測量PIN3的電壓，增益一倍Thankyouforwatching.LK8820測試機常用函數

——ST板ST板簡介模擬開關與時間測量模塊功能主要有16個用戶繼電器、128個光繼電器矩陣開關、1kHz~1MHz用戶時鐘信號、TMU測試功能。可根據用戶需求擴展至2個模擬開關與時間測量模塊，用于滿足64pin以下芯片測試需求。ST板的常用函數包括：_turn_switch()、_turn_key()、_on_clko()、_off_clko()、_tmu_test()。ST板函數簡介1._turn_switch()函數原形：void_turn_switch(char*state，unsignedintn，...)；函數功能：打開或關閉用戶繼電器；參數說明：*state——接點狀態(tài)標志（“on”，“off”），on：接通，off：斷開n，…——繼電器編號序列（1，2，3，···32），序列以0結尾；應用實例：_turn_switch(“on”，1，2，0)；//閉合用戶繼電器1，2；ST板函數簡介2._turn_key()函數原形：void_turn_key(char*state，unsignedintmodule，unsignedintx，unsignedinty)；函數功能：控制xy矩陣接點；參數說明：*state——接點狀態(tài)標志（“on”，“off”），on：接通，off：斷開、module——板卡號（1，2）、x——矩陣行（0，1，2···15）、y——矩陣列（0，1，2···7）；應用實例：_turn_key(“on”，1，2)；//打開X=1，Y=2接點；ST板函數簡介3._on_clko()