微電子概論（第3版）課件6-7-3 工藝與器件模擬及統(tǒng)計(jì)分析-統(tǒng)計(jì)分析_第1頁
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微電子概論（第3版）課件6-7-3 工藝與器件模擬及統(tǒng)計(jì)分析-統(tǒng)計(jì)分析_第3頁
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文檔簡介

IntroductiontoMicroelectronicsThirdEdition《微電子概論》（第3版）郝躍賈新章史江一6.7.3統(tǒng)計(jì)分析6.7工藝與器件仿真及統(tǒng)計(jì)分析目錄6.7.2器件仿真6.7.1工藝仿真1.集成電路的統(tǒng)計(jì)模擬集成電路工藝過程是不確定的，波動(dòng)的，工藝參數(shù)統(tǒng)計(jì)上符合正態(tài)分布規(guī)律。表征參數(shù)分散性的特征參數(shù)為：中心值和容差集成電路統(tǒng)計(jì)模擬：又稱成品率分析，是分析由于元器件參數(shù)中心值及容差分布模擬電路響應(yīng)的分散情況。響應(yīng)未超出容許范圍，則為成品1.集成電路的統(tǒng)計(jì)模擬工藝統(tǒng)計(jì)模擬分析：由工藝條件中心值及容差模擬工藝參數(shù)結(jié)果的分散性器件統(tǒng)計(jì)模擬：由工藝參數(shù)中心值及容差模擬器件特性的分散性蒙特卡洛分析：在給定器件參數(shù)容差的統(tǒng)計(jì)分布規(guī)律的情況下，用偽隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生器件參數(shù)的隨機(jī)抽樣序列，對這些隨機(jī)抽樣序列進(jìn)行直流、交流小信號(hào)和瞬態(tài)分析，通過分析結(jié)果估算電路性能的中心值、方差以及合格率、成本等2.集成電路的統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)針對器件容差的容忍性設(shè)計(jì)①以成品率為目標(biāo)的統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)成品率決定因素：中心值、容差。兩種優(yōu)化方法：中心值優(yōu)化法——固定容差，求中心值使得成品率最高容差優(yōu)化法——固定中心值，求容差使得成品率滿足要求2.集成電路的統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)②以成本為目標(biāo)的統(tǒng)計(jì)設(shè)計(jì)一般情況下，提高成品率和降低成本的目標(biāo)是一致的。但如果降低容差提高成品率的過程中付出的代價(jià)超過了成品率提升帶來的收益，則會(huì)導(dǎo)致成本提高，此時(shí)

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