掃描電鏡面試題及答案

單項選擇題（每題2分，共10題）1.掃描電鏡的分辨率主要取決于（）A.加速電壓B.電子束斑直徑C.放大倍數(shù)D.工作距離答案：B2.掃描電鏡中二次電子像主要反映樣品的（）A.表面形貌B.化學(xué)成分C.晶體結(jié)構(gòu)D.密度差異答案：A3.掃描電鏡工作時，一般真空度要求（）A.低真空B.高真空C.常壓D.無所謂答案：B4.以下哪種不是掃描電鏡的信號（）A.二次電子B.背散射電子C.X射線D.紅外線答案：D5.掃描電鏡成像時，電子束在樣品表面是（）掃描A.隨機B.逐行C.隔行D.跳躍答案：B6.能用于掃描電鏡觀察的樣品必須（）A.導(dǎo)電B.不導(dǎo)電C.磁性強D.透明答案：A7.掃描電鏡的加速電壓范圍通常是（）A.0-1kVB.1-30kVC.30-50kVD.50-100kV答案：B8.背散射電子的能量（）二次電子A.低于B.等于C.高于D.不確定答案：C9.掃描電鏡中用于聚焦電子束的部件是（）A.物鏡B.目鏡C.聚光鏡D.探測器答案：C10.觀察納米級微觀結(jié)構(gòu)，掃描電鏡（）達到要求A.一定能B.不一定能C.一定不能D.看情況答案：B多項選擇題（每題2分，共10題）1.掃描電鏡的主要組成部分有（）A.電子光學(xué)系統(tǒng)B.信號檢測與顯示系統(tǒng)C.真空系統(tǒng)D.樣品制備系統(tǒng)答案：ABC2.掃描電鏡可以獲得的信息有（）A.表面形貌B.元素分布C.晶體取向D.樣品硬度答案：ABC3.影響掃描電鏡分辨率的因素包括（）A.電子束能量B.樣品性質(zhì)C.探測器性能D.環(huán)境溫度答案：ABC4.掃描電鏡常用的探測器有（）A.二次電子探測器B.背散射電子探測器C.X射線能譜探測器D.熒光探測器答案：ABC5.掃描電鏡對樣品的要求有（）A.尺寸合適B.穩(wěn)定性好C.盡量干燥D.必須是塊狀答案：ABC6.提高掃描電鏡成像質(zhì)量的方法有（）A.優(yōu)化真空度B.選擇合適加速電壓C.處理好樣品表面D.增大工作距離答案：ABC7.掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用有（）A.觀察材料微觀結(jié)構(gòu)B.分析材料缺陷C.研究材料界面D.測量材料密度答案：ABC8.掃描電鏡成像時可能出現(xiàn)的問題有（）A.圖像模糊B.電荷積累C.對比度不佳D.信號過強答案：ABC9.掃描電鏡與透射電鏡相比，特點有（）A.樣品制備簡單B.景深大C.可觀察較大尺寸樣品D.分辨率更高答案：ABC10.掃描電鏡的操作步驟包含（）A.樣品準(zhǔn)備B.儀器調(diào)試C.圖像采集D.數(shù)據(jù)分析答案：ABCD判斷題（每題2分，共10題）1.掃描電鏡只能觀察導(dǎo)電樣品。（）答案：×2.二次電子像比背散射電子像分辨率低。（）答案：×3.掃描電鏡的放大倍數(shù)可以連續(xù)調(diào)節(jié)。（）答案：√4.真空度對掃描電鏡成像沒有影響。（）答案：×5.掃描電鏡可以直接觀察液體樣品。（）答案：×6.背散射電子主要反映樣品的化學(xué)成分差異。（）答案：√7.加速電壓越高，掃描電鏡分辨率越低。（）答案：×8.掃描電鏡的信號強度與樣品表面狀態(tài)無關(guān)。（）答案：×9.用掃描電鏡可以分析樣品的晶體結(jié)構(gòu)。（）答案：×10.樣品在掃描電鏡中必須保持絕對靜止。（）答案：√簡答題（每題5分，共4題）1.簡述掃描電鏡的工作原理。答案：掃描電鏡利用電子槍發(fā)射電子束，經(jīng)聚光鏡等聚焦后轟擊樣品表面。電子與樣品相互作用產(chǎn)生多種信號，如二次電子、背散射電子等，這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)放大處理后在熒光屏上顯示出樣品表面的圖像。2.掃描電鏡對樣品制備有哪些基本要求？答案：樣品尺寸要適合放入樣品室；應(yīng)具有良好穩(wěn)定性；盡量干燥；對于不導(dǎo)電樣品需進行導(dǎo)電處理，如噴金等；表面應(yīng)清潔，避免污染影響成像。3.二次電子像和背散射電子像在成像特點上有何不同？答案：二次電子像分辨率高，主要反映樣品表面形貌，立體感強；背散射電子像分辨率相對低些，對樣品原子序數(shù)敏感，能反映化學(xué)成分差異，也可觀察表面形貌但立體感不如二次電子像。4.如何提高掃描電鏡的成像質(zhì)量？答案：保證高真空度減少干擾；根據(jù)樣品選合適加速電壓；處理好樣品表面，如清潔、導(dǎo)電處理；優(yōu)化電子束參數(shù)；合理設(shè)置探測器增益等參數(shù)；減少環(huán)境振動和電磁干擾。討論題（每題5分，共4題）1.在使用掃描電鏡時，遇到圖像模糊不清的情況，可能有哪些原因及解決辦法？答案：原因可能是電子束未聚焦好，需調(diào)節(jié)聚光鏡等參數(shù)；樣品表面不平整、有污染，要重新處理樣品；真空度不足，需檢查真空系統(tǒng)；探測器性能不佳，可嘗試更換探測器。通過排查這些因素并相應(yīng)調(diào)整來解決問題。2.討論掃描電鏡在不同學(xué)科領(lǐng)域中的應(yīng)用及重要性。答案：在材料科學(xué)中觀察微觀結(jié)構(gòu)、分析缺陷等，助力材料研發(fā)。在生物學(xué)里觀察細(xì)胞等微觀結(jié)構(gòu)，推動生物學(xué)研究。在地質(zhì)學(xué)中分析巖石礦物微觀特征，輔助地質(zhì)研究。為各學(xué)科提供微觀層面信息，促進科研發(fā)展和技術(shù)創(chuàng)新。3.對于掃描電鏡未來的發(fā)展方向，你有什么看法？答案：未來可能朝著更高分辨率發(fā)展，能觀察更微觀結(jié)構(gòu)；提升成像速度，縮短檢測時間；實現(xiàn)多功能集成，如結(jié)合多種分析技術(shù)；開發(fā)更便捷的操作軟件和小型化