CalibrationSpecificationforSmallanvilmicrometer浙江省質量技術監(jiān)督局發(fā)布小測頭千分尺校準規(guī)范I (Ⅲ) (1) (1) (2) (2) (2) (3) 6.1環(huán)境條件 6.2校準項目和校準設備 7校準方法 (5) (6) (7)7.5微分筒錐面的端面至固定套筒刻線面的距離 7.6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻線的相對位置 (7) (7)7.8示值變動性 (7) （8)7.11示值誤差 7.12細分誤差 (9)7.13校對用量桿尺寸和尺寸變動量 (9) (9) (10) (14)1小測頭千分尺校準規(guī)范JJF1059.1-2012測量不凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是小測頭千分尺是應用螺旋副結構，將回轉運動變?yōu)橹本€運動的計量器具，于測量各種工件的外尺寸。它由尺架、固定測砧、測微螺桿、測力裝置、鎖緊2測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動應不大于0.01mm。小測頭千分尺的測力系指測微螺桿測量面與量具測力儀平面接觸時所作用微分筒刻線寬度為（0.08～0.20）mm,固定套筒上的刻線與微分筒上的刻線微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻線面的距離不大于0.4mm。3小測頭千分尺測量面的平面度不大于0.6μm。2314校準小測頭千分尺和校對用的量桿的室內溫度和室內平衡溫度的時間應在2123量具測力儀MPE：±1.0%45微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒刻6微分筒錐面的端面與固定套筒毫米刻785等或3級量塊9平行平晶MPEV0.6～1.0）μm5等或3級量塊光學計、測長機、4等或2級量塊5一般情況下用手感檢查測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動。有異議時，可按7.1.1測微螺桿的軸向竄動，用杠桿千分表校準。校準時，杠桿千分表與測微7.1.2測微螺桿的徑向擺動，用杠桿千分表校準。校準時，將測微螺桿伸出尺徑向擺動量。徑向擺動的校準應在測微螺桿相互垂直的兩個方向進行。此過程6（0～25）mm的小測頭千分尺可目力觀察小測頭千分尺測砧與測微螺桿測量面的偏移量，測量上限大于25mm的小測頭千分尺可借助校對用量桿進行校在檢驗平板上用杠桿百分表校準，校準時借所示，調整夾具使小測頭千分尺的測微螺桿與檢驗平板工作面平行，然后用杠按上述方法校準測砧與測微螺桿在另一方位上偏移量y,測砧與測微螺桿測量7在工具顯微鏡上校準。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至少任意抽檢3條刻當測量下限調整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套筒任意毫米刻線的小測頭千分尺平面度用二級平面平晶以技術光波法校準。將平面平晶的測量面與測砧的平面研合，其形成的干涉環(huán)或干涉帶的最小數目為平面度校準結8平晶接觸，轉動棘輪機構，并輕輕轉動平晶，使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數目調至最少。分別讀取兩測量面上的干涉條紋數，取兩測量面上的干涉條紋數目之和與所用光的波長值的計算結果作為兩測量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上述程序分別進行校準，取其中最大值作為受檢千分的小測頭千分尺，用兩測量面直接接觸調整零位；對其他測量范圍的用校對量>25A＋5.12A＋10.24A＋15.36A＋21.50A＋259小測頭千分尺校對用量桿的尺寸偏差及變動性在光學計或測長機上采用4等量塊以比較法進行校準。對于平測量面的校對用量桿應采用球面測帽在圖6小測頭千分尺的校準時間間隔，由于復校時間間隔的長短是由小測頭千分尺的使用情況、使用者、小測頭千分尺本身質量等因素所決定的，可根據實際A.1概述A.1.3測量對象：小測頭千分尺和數顯小測頭千分尺，測量范圍為(0～100)cLb.αc.ΔtcLb.αb.Δtb（A.1）αccA.3方差和靈敏度系b基本是采用同一只溫度計測量而具有相關性，其數學處理過cb得e=Lc-Lb+L.δα.Δt.+L.α.δt4為uc2121222u22+c32u32+c42u42(A.4)=u12+(—u2)2+(L.Δt)2.u32+(L.α)2.u42A.4.1、測量重復性引入的不確定度u1；A.4.2、量塊引入的不確定度u2；A.4.3、小測頭千分尺與量塊的線脹系數差引入的不確定度u3；A.4.4、小測頭千分尺和量塊的溫度差引入不確定度u4。u(xi)cii)u11u2u3L.Δtu4L.αuc=0.57μmu(xi)cii)u11u2u3L.Δtu4L.αuc=0.81μmA.6.1小測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量u1量重復性引入的不確定度分量，因此小測頭千分尺測量重復性引入的不確定度分量作為u1。A.6.2由對零位量塊引入的不確定度分量u21和校準點量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評定。A.6.2.1由對零位量塊引入的不確定度為分量u21u21-6A.6.2.2校準點量塊引入的不確定度為分量u22