2025年無損檢測超聲波檢測二級試題庫UT帶答案一、單項選擇題（每題2分，共30分）1.超聲波在鋼中的縱波聲速約為（）A.3230m/sB.5960m/sC.2730m/sD.6250m/s答案：B2.斜探頭K值定義為（）A.折射角正弦值B.折射角余弦值C.折射角正切值D.折射角余切值答案：C3.超聲波檢測中，擴(kuò)散衰減的主要影響因素是（）A.介質(zhì)晶粒大小B.聲波傳播距離C.介質(zhì)粘滯性D.界面反射答案：B4.檢測厚度20mm的鋼板時，宜選用（）A.2.5MHzφ20直探頭B.5MHzφ14直探頭C.2.5MHzK2斜探頭D.1MHzφ30直探頭答案：B（薄板檢測需高頻小晶片提高分辨率）5.CSKIA試塊上R50、R100圓弧面的主要用途是（）A.校準(zhǔn)水平線性B.校準(zhǔn)垂直線性C.測試探頭分辨率D.測試斜探頭K值答案：A（用于時基線水平線性校準(zhǔn)）6.超聲波檢測中，耦合劑的主要作用是（）A.增加聲波穿透率B.減少表面粗糙度影響C.潤滑探頭D.以上都是答案：D7.距離波幅曲線（DAC）中，評定線的作用是（）A.判定缺陷是否超標(biāo)B.作為記錄缺陷的起始靈敏度C.作為掃查靈敏度D.用于缺陷定性答案：B8.檢測焊縫時，采用鋸齒形掃查的主要目的是（）A.覆蓋整個焊縫截面B.提高檢測速度C.減少雜波干擾D.便于缺陷定位答案：A9.同一介質(zhì)中，橫波波長λs與縱波波長λl的關(guān)系為（）（已知Cs=0.58Cl）A.λs=0.58λlB.λs=1.72λlC.λs=λlD.λs=2λl答案：A（λ=C/f，橫波聲速約為縱波的0.58倍，故波長也為0.58倍）10.檢測奧氏體不銹鋼焊縫時，優(yōu)先選用（）A.高頻直探頭B.低頻斜探頭C.聚焦探頭D.雙晶探頭答案：B（奧氏體組織粗大，低頻可減少散射衰減）11.以下哪種缺陷波形特征最符合裂紋（）A.波峰尖銳，底波降低明顯B.波峰寬鈍，多次反射C.波幅低，位置固定D.波型跳躍，無固定位置答案：A（裂紋表面不規(guī)則，反射波尖銳，且可能遮擋底波）12.用φ2mm橫孔制作DAC曲線，某缺陷波高比DAC曲線高6dB，其當(dāng)量約為（）A.φ1mmB.φ2.8mmC.φ4mmD.φ1.4mm答案：B（ΔdB=20lg(φx/φ0)，6dB=20lg(φx/2)→φx=2×10^(0.3)≈2×1.995≈3.99≈4mm？需重新計算：10^(6/20)=10^0.3≈2，故φx=2×2=4mm？可能之前有誤，正確應(yīng)為：20lg(φx/2)=6→lg(φx/2)=0.3→φx/2=10^0.3≈2→φx≈4mm。但實(shí)際10^0.3≈2，所以正確答案應(yīng)為C.φ4mm）（注：此處原計算有誤，正確計算應(yīng)為：ΔdB=20lg(φx/φ0)，6dB=20lg(φx/2)→lg(φx/2)=0.3→φx/2=10^0.3≈2→φx≈4mm，故答案應(yīng)為C）13.檢測厚度80mm的鋼板，底波高度為滿刻度的50%，若鋼板中存在面積型缺陷，其反射波高為滿刻度的80%，則缺陷當(dāng)量（）A.大于底波B.小于底波C.等于底波D.無法比較答案：A（反射波高與缺陷面積相關(guān)，80%＞50%，故當(dāng)量更大）14.儀器水平線性誤差應(yīng)不大于（）A.1%B.2%C.3%D.5%答案：B（JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)要求≤2%）15.以下哪種情況會導(dǎo)致檢測靈敏度降低（）A.耦合劑層過薄B.檢測面粗糙度Ra=3.2μmC.探頭頻率降低D.儀器增益提高答案：C（頻率降低，聲能衰減減少，但近表面分辨率下降，且相同缺陷反射波高降低，靈敏度降低）二、判斷題（每題1分，共10分）1.超聲波檢測中，橫波只能在固體中傳播。（）答案：√（橫波需要剪切應(yīng)力，液體和氣體無法傳遞）2.探頭前沿長度是指探頭入射點(diǎn)至探頭前端面的距離。（）答案：√（定義正確）3.垂直線性誤差越大，儀器對缺陷波高的測量越準(zhǔn)確。（）答案：×（垂直線性誤差大，波高與聲壓非線性，測量不準(zhǔn)確）4.檢測厚大工件時，應(yīng)選用低頻探頭以減少衰減。（）答案：√（低頻聲波散射衰減小，穿透能力強(qiáng)）5.缺陷的水平距離=K×垂直距離。（）答案：√（K=tanβ=水平距離/垂直距離）6.表面波只能在工件表面下一個波長深度內(nèi)傳播。（）答案：√（表面波能量集中在表面下12個波長）7.DAC曲線制作時，各點(diǎn)波高需調(diào)整至同一高度。（）答案：√（通過增益調(diào)整使不同距離的標(biāo)準(zhǔn)反射體回波高度一致，繪制曲線）8.氣孔的反射波通常波峰寬鈍，多次反射明顯。（）答案：√（氣孔表面光滑，球形反射，波幅較低但多次反射）9.檢測前無需校準(zhǔn)儀器，只需檢查探頭耦合即可。（）答案：×（必須校準(zhǔn)儀器時基線和靈敏度）10.焊縫余高會影響超聲波檢測，需打磨至與母材平齊。（）答案：√（余高可能導(dǎo)致波束擴(kuò)散或雜波，需打磨）三、簡答題（每題5分，共30分）1.簡述超聲波檢測中“靈敏度”的定義及調(diào)整方法。答案：靈敏度指儀器檢測最小缺陷的能力。調(diào)整方法：①用標(biāo)準(zhǔn)試塊（如CSKⅡA）制作DAC曲線，將基準(zhǔn)反射體回波調(diào)至規(guī)定高度（如滿刻度80%）；②用工件大平底或短橫孔作為基準(zhǔn)反射體，通過計算或?qū)Ρ日{(diào)整增益。2.說明直探頭與斜探頭的主要區(qū)別及適用場景。答案：直探頭發(fā)射縱波，聲束垂直入射，適用于板材、鍛件等厚大工件的垂直檢測；斜探頭通過楔塊發(fā)射橫波（或表面波），聲束傾斜入射，適用于焊縫、管材等需要傾斜掃查的工件，檢測內(nèi)部橫向或斜向缺陷。3.如何利用CSKIA試塊校準(zhǔn)斜探頭的前沿長度和K值？答案：①前沿長度校準(zhǔn)：將探頭對準(zhǔn)試塊R100圓弧面，前后移動探頭使回波最高，此時入射點(diǎn)至試塊端面的距離減去R100圓心到端面的距離（100mm）即為前沿長度；②K值校準(zhǔn)：將探頭對準(zhǔn)試塊上φ50橫孔，移動探頭使橫孔回波最高，測量入射點(diǎn)至試塊側(cè)面的距離L，K=（50/2）/（L前沿長度），計算得K值。4.簡述缺陷定量的常用方法及其適用情況。答案：①當(dāng)量法：通過對比缺陷波高與標(biāo)準(zhǔn)反射體波高（如DAC曲線）確定缺陷大小，適用于點(diǎn)狀缺陷；②測長法：通過移動探頭使波高降至評定線或半波高度，測量缺陷在探頭移動方向上的長度，適用于面積型缺陷（如裂紋）；③端點(diǎn)衍射法：利用缺陷端點(diǎn)的衍射波定位，適用于小缺陷或裂紋尖端檢測。5.檢測奧氏體不銹鋼焊縫時，可能遇到哪些問題？如何解決？答案：問題：①組織粗大導(dǎo)致散射衰減嚴(yán)重，信噪比低；②各向異性引起聲束畸變，定位定量困難；③晶粒反射波（草狀波）干擾缺陷識別。解決方法：①選用低頻（12.5MHz）探頭減少散射；②采用大晶片探頭增加聲能；③使用聚焦探頭提高分辨率；④降低檢測速度，仔細(xì)觀察波形特征。6.簡述超聲波檢測報告應(yīng)包含的主要內(nèi)容。答案：①檢測對象信息（工件名稱、材質(zhì)、尺寸、焊縫編號等）；②檢測設(shè)備（儀器型號、探頭參數(shù)、試塊）；③檢測工藝（靈敏度、掃查方式、耦合劑）；④缺陷記錄（位置、尺寸、當(dāng)量、性質(zhì)）；⑤檢測結(jié)論（合格/不合格）；⑥檢測人員及日期。四、計算題（每題10分，共30分）1.用K2斜探頭檢測板厚T=40mm的對接焊縫，發(fā)現(xiàn)一缺陷，其水平距離L=50mm（從探頭入射點(diǎn)算起），求缺陷的垂直距離和深度（假設(shè)缺陷位于焊縫中心區(qū)域）。答案：K=tanβ=水平距離/垂直距離→垂直距離=水平距離/K=50/2=25mm；深度=板厚垂直距離=4025=15mm（若檢測面為上表面，缺陷位于下表面方向則深度為25mm，需明確檢測方向。通常單面檢測時，深度=垂直距離，若板厚40mm，垂直距離25mm≤40mm，故深度為25mm。原計算可能有誤，正確應(yīng)為：水平距離=K×垂直距離→垂直距離=50/2=25mm，深度=垂直距離=25mm（假設(shè)檢測面為上表面，缺陷在工件內(nèi)部，垂直距離是從檢測面到缺陷的距離）。）（注：正確邏輯：斜探頭檢測焊縫時，聲束從檢測面入射，垂直距離是缺陷到檢測面的垂直距離，水平距離是缺陷在檢測面投影與入射點(diǎn)的水平距離。K=水平距離/垂直距離→垂直距離=水平距離/K=50/2=25mm，深度即垂直距離為25mm，若板厚40mm，缺陷未超出工件厚度，故深度為25mm。）2.用2.5MHz直探頭檢測厚度100mm的鋼鍛件，已知鋼中縱波聲速Cl=5960m/s，求該探頭的波長λ。答案：波長λ=Cl/f=5960m/s÷2.5×10^6Hz=5960÷2.5×10^6=2.384×10^3m=2.384mm≈2.4mm。3.某缺陷波高為滿刻度的60%，而