2025年統(tǒng)計學(xué)期末考試:統(tǒng)計質(zhì)量管理關(guān)鍵指標(biāo)試題_第1頁
2025年統(tǒng)計學(xué)期末考試:統(tǒng)計質(zhì)量管理關(guān)鍵指標(biāo)試題_第2頁
2025年統(tǒng)計學(xué)期末考試:統(tǒng)計質(zhì)量管理關(guān)鍵指標(biāo)試題_第3頁
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文檔簡介

2025年統(tǒng)計學(xué)期末考試:統(tǒng)計質(zhì)量管理關(guān)鍵指標(biāo)試題考試時間:______分鐘總分:______分姓名:______一、選擇題(本大題共20小題,每小題2分,共40分。在每小題列出的四個選項中,只有一項是最符合題目要求的。)1.在統(tǒng)計質(zhì)量管理中,用來衡量數(shù)據(jù)集中趨勢的指標(biāo)不包括:A.平均數(shù)B.中位數(shù)C.眾數(shù)D.標(biāo)準(zhǔn)差2.如果一個生產(chǎn)過程中的產(chǎn)品合格率連續(xù)三個月都在95%以上,但最近一次抽樣檢查合格率突然下降到90%,那么最可能的原因是:A.樣本量突然增加B.生產(chǎn)環(huán)境發(fā)生了變化C.檢驗標(biāo)準(zhǔn)提高了D.產(chǎn)品本身的質(zhì)量沒有變化3.在控制圖中,控制限通常設(shè)置為:A.±1個標(biāo)準(zhǔn)差B.±2個標(biāo)準(zhǔn)差C.±3個標(biāo)準(zhǔn)差D.±4個標(biāo)準(zhǔn)差4.以下哪個不是統(tǒng)計質(zhì)量管理中的常見七種缺陷類型:A.缺陷B.偏差C.趨勢D.異常5.在進(jìn)行假設(shè)檢驗時,第一類錯誤指的是:A.拒絕了實際上成立的假設(shè)B.接受了實際上不成立的假設(shè)C.拒絕了實際上不成立的假設(shè)D.接受了實際上成立的假設(shè)6.在方差分析中,用來衡量組間差異的統(tǒng)計量是:A.F統(tǒng)計量B.t統(tǒng)計量C.Z統(tǒng)計量D.χ2統(tǒng)計量7.在回歸分析中,用來衡量模型擬合優(yōu)度的指標(biāo)是:A.相關(guān)系數(shù)B.決定系數(shù)C.標(biāo)準(zhǔn)誤差D.偏差8.在抽樣調(diào)查中,用來衡量樣本代表性的指標(biāo)是:A.抽樣誤差B.抽樣框C.抽樣方法D.抽樣比9.在質(zhì)量管理中,用來衡量過程能力的指標(biāo)是:A.CpkB.PpkC.CpD.Cpk和Ppk10.在統(tǒng)計質(zhì)量管理中,用來衡量數(shù)據(jù)離散程度的指標(biāo)不包括:A.方差B.標(biāo)準(zhǔn)差C.變異系數(shù)D.平均差11.在進(jìn)行假設(shè)檢驗時,第二類錯誤指的是:A.拒絕了實際上成立的假設(shè)B.接受了實際上不成立的假設(shè)C.拒絕了實際上不成立的假設(shè)D.接受了實際上成立的假設(shè)12.在質(zhì)量控制中,用來衡量產(chǎn)品合格率的指標(biāo)是:A.合格品率B.不合格品率C.缺陷率D.以上都是13.在統(tǒng)計質(zhì)量管理中,用來衡量數(shù)據(jù)分布形狀的指標(biāo)是:A.偏度B.峰度C.矩D.標(biāo)準(zhǔn)差14.在進(jìn)行方差分析時,用來衡量組內(nèi)差異的統(tǒng)計量是:A.F統(tǒng)計量B.t統(tǒng)計量C.Z統(tǒng)計量D.χ2統(tǒng)計量15.在回歸分析中,用來衡量自變量對因變量影響程度的指標(biāo)是:A.相關(guān)系數(shù)B.決定系數(shù)C.回歸系數(shù)D.標(biāo)準(zhǔn)誤差16.在抽樣調(diào)查中,用來衡量樣本代表性的指標(biāo)是:A.抽樣誤差B.抽樣框C.抽樣方法D.抽樣比17.在質(zhì)量管理中,用來衡量過程穩(wěn)定性的指標(biāo)是:A.CpkB.PpkC.CpD.Cpk和Ppk18.在統(tǒng)計質(zhì)量管理中,用來衡量數(shù)據(jù)離散程度的指標(biāo)不包括:A.方差B.標(biāo)準(zhǔn)差C.變異系數(shù)D.平均差19.在進(jìn)行假設(shè)檢驗時,第一類錯誤指的是:A.拒絕了實際上成立的假設(shè)B.接受了實際上不成立的假設(shè)C.拒絕了實際上不成立的假設(shè)D.接受了實際上成立的假設(shè)20.在質(zhì)量控制中,用來衡量產(chǎn)品合格率的指標(biāo)是:A.合格品率B.不合格品率C.缺陷率D.以上都是二、判斷題(本大題共10小題,每小題2分,共20分。請判斷下列各題的敘述是否正確,正確的填“√”,錯誤的填“×”。)1.統(tǒng)計質(zhì)量管理主要關(guān)注生產(chǎn)過程中的數(shù)據(jù)收集和分析,而不涉及生產(chǎn)過程的改進(jìn)。2.在控制圖中,控制限的設(shè)置是根據(jù)生產(chǎn)過程中的實際數(shù)據(jù)來確定的。3.假設(shè)檢驗是一種用來判斷假設(shè)是否成立的統(tǒng)計方法。4.方差分析是一種用來比較多組數(shù)據(jù)均值差異的統(tǒng)計方法。5.回歸分析是一種用來研究自變量和因變量之間關(guān)系的統(tǒng)計方法。6.抽樣調(diào)查是一種通過收集樣本數(shù)據(jù)來推斷總體特征的統(tǒng)計方法。7.質(zhì)量管理中的過程能力指標(biāo)Cpk是用來衡量過程穩(wěn)定性的。8.統(tǒng)計質(zhì)量管理中的數(shù)據(jù)離散程度指標(biāo)主要用來衡量數(shù)據(jù)的集中趨勢。9.假設(shè)檢驗中的第一類錯誤指的是拒絕了實際上成立的假設(shè)。10.質(zhì)量控制中的合格品率指標(biāo)是用來衡量產(chǎn)品合格率的。三、簡答題(本大題共5小題,每小題4分,共20分。請根據(jù)題目要求,簡要回答問題。)1.簡述統(tǒng)計質(zhì)量管理中,平均數(shù)、中位數(shù)和眾數(shù)的主要區(qū)別和應(yīng)用場景。2.控制圖在統(tǒng)計質(zhì)量管理中起到了什么作用?請舉例說明如何使用控制圖來監(jiān)控生產(chǎn)過程。3.假設(shè)檢驗的基本步驟是什么?請舉例說明如何在質(zhì)量管理中應(yīng)用假設(shè)檢驗。4.方差分析中的F統(tǒng)計量是如何計算的?請解釋F統(tǒng)計量的意義。5.回歸分析中的決定系數(shù)R2是什么意思?請解釋R2在質(zhì)量管理中的應(yīng)用。四、論述題(本大題共3小題,每小題6分,共18分。請根據(jù)題目要求,詳細(xì)論述問題。)1.請詳細(xì)論述統(tǒng)計質(zhì)量管理中,數(shù)據(jù)收集的重要性以及常用的數(shù)據(jù)收集方法。2.控制圖和假設(shè)檢驗在統(tǒng)計質(zhì)量管理中分別有哪些優(yōu)缺點?請結(jié)合實際案例進(jìn)行分析。3.請詳細(xì)論述回歸分析在質(zhì)量管理中的應(yīng)用,包括如何建立回歸模型以及如何評估回歸模型的擬合優(yōu)度。五、案例分析題(本大題共2小題,每小題10分,共20分。請根據(jù)題目要求,結(jié)合所學(xué)知識進(jìn)行分析和解答。)1.某電子廠生產(chǎn)一種電子元件,為了監(jiān)控生產(chǎn)過程的質(zhì)量,工廠每隔一小時抽取一批元件進(jìn)行檢驗。最近一個月的檢驗數(shù)據(jù)顯示,元件的合格率波動較大。請結(jié)合所學(xué)知識,分析可能的原因并提出相應(yīng)的改進(jìn)措施。2.某食品公司生產(chǎn)一種零食,為了提高產(chǎn)品的口感,公司對生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行了調(diào)整。調(diào)整后,公司對產(chǎn)品的口感進(jìn)行了抽樣調(diào)查,調(diào)查結(jié)果顯示,顧客對產(chǎn)品口感的滿意度有所下降。請結(jié)合所學(xué)知識,分析可能的原因并提出相應(yīng)的改進(jìn)措施。本次試卷答案如下一、選擇題答案及解析1.D標(biāo)準(zhǔn)差是衡量數(shù)據(jù)離散程度的指標(biāo),不是衡量數(shù)據(jù)集中趨勢的指標(biāo)。平均數(shù)、中位數(shù)和眾數(shù)都是衡量數(shù)據(jù)集中趨勢的指標(biāo)。解析思路:首先要明確數(shù)據(jù)集中趨勢和離散程度的定義,集中趨勢是指數(shù)據(jù)的中心位置,離散程度是指數(shù)據(jù)的分散程度。標(biāo)準(zhǔn)差是衡量離散程度的一種常用方法,因此D選項不屬于衡量數(shù)據(jù)集中趨勢的指標(biāo)。2.B生產(chǎn)環(huán)境的變化可能導(dǎo)致產(chǎn)品合格率下降,例如溫度、濕度、振動等環(huán)境因素的變化都可能影響產(chǎn)品的質(zhì)量。解析思路:分析生產(chǎn)環(huán)境變化對產(chǎn)品質(zhì)量的影響,環(huán)境因素的變化可能導(dǎo)致產(chǎn)品合格率下降,因此B選項是最可能的原因。3.C控制限通常設(shè)置為±3個標(biāo)準(zhǔn)差,這是基于統(tǒng)計學(xué)中的3σ原則,可以有效地識別異常數(shù)據(jù)點。解析思路:控制圖是基于3σ原則設(shè)計的,控制限通常設(shè)置為±3個標(biāo)準(zhǔn)差,這樣可以有效地識別異常數(shù)據(jù)點,因此C選項是正確的。4.B偏差不是統(tǒng)計質(zhì)量管理中的常見七種缺陷類型之一,常見的缺陷類型包括缺陷、偏差、趨勢、異常、周期、混合和重復(fù)。解析思路:需要熟悉統(tǒng)計質(zhì)量管理中的常見七種缺陷類型,偏差不是其中之一,因此B選項是錯誤的。5.A第一類錯誤指的是拒絕了實際上成立的假設(shè),也稱為假陽性錯誤。解析思路:假設(shè)檢驗中的第一類錯誤是指拒絕了實際上成立的假設(shè),即錯誤地認(rèn)為存在差異或效應(yīng),因此A選項是正確的。6.AF統(tǒng)計量是方差分析中用來衡量組間差異的統(tǒng)計量,用于檢驗多個總體均值是否相等。解析思路:方差分析的基本原理是通過F統(tǒng)計量來檢驗組間差異是否顯著,因此F統(tǒng)計量是衡量組間差異的指標(biāo),A選項是正確的。7.B決定系數(shù)R2是回歸分析中用來衡量模型擬合優(yōu)度的指標(biāo),表示因變量的變異中有多少可以由自變量解釋。解析思路:R2是衡量回歸模型擬合優(yōu)度的重要指標(biāo),R2值越接近1,模型的擬合優(yōu)度越高,因此B選項是正確的。8.A抽樣誤差是衡量樣本代表性的指標(biāo),表示樣本數(shù)據(jù)與總體數(shù)據(jù)之間的差異程度。解析思路:抽樣誤差是衡量樣本代表性的重要指標(biāo),抽樣誤差越小,樣本越能代表總體,因此A選項是正確的。9.ACpk是衡量過程能力的指標(biāo),表示過程均值與規(guī)格限的距離,Cpk值越大,過程能力越強(qiáng)。解析思路:Cpk是衡量過程能力的重要指標(biāo),Cpk值越大,過程能力越強(qiáng),因此A選項是正確的。10.D平均差是衡量數(shù)據(jù)離散程度的指標(biāo),但不是統(tǒng)計質(zhì)量管理中常用的指標(biāo),標(biāo)準(zhǔn)差、方差和變異系數(shù)更常用。解析思路:需要熟悉常用的數(shù)據(jù)離散程度指標(biāo),平均差雖然可以衡量離散程度,但不如標(biāo)準(zhǔn)差、方差和變異系數(shù)常用,因此D選項不屬于常用的指標(biāo)。11.B第二類錯誤指的是接受了實際上不成立的假設(shè),也稱為假陰性錯誤。解析思路:假設(shè)檢驗中的第二類錯誤是指接受了實際上不成立的假設(shè),即錯誤地認(rèn)為不存在差異或效應(yīng),因此B選項是正確的。12.D合格品率、不合格品率和缺陷率都是衡量產(chǎn)品合格率的指標(biāo)。解析思路:需要熟悉衡量產(chǎn)品合格率的常用指標(biāo),合格品率、不合格品率和缺陷率都是常用的指標(biāo),因此D選項是正確的。13.A偏度是衡量數(shù)據(jù)分布形狀的指標(biāo),表示數(shù)據(jù)分布的對稱性程度。解析思路:偏度是衡量數(shù)據(jù)分布形狀的重要指標(biāo),正偏度表示數(shù)據(jù)分布向右傾斜,負(fù)偏度表示數(shù)據(jù)分布向左傾斜,因此A選項是正確的。14.AF統(tǒng)計量是方差分析中用來衡量組間差異的統(tǒng)計量,用于檢驗多個總體均值是否相等。解析思路:方差分析的基本原理是通過F統(tǒng)計量來檢驗組間差異是否顯著,因此F統(tǒng)計量是衡量組間差異的指標(biāo),A選項是正確的。15.C回歸系數(shù)是回歸分析中用來衡量自變量對因變量影響程度的指標(biāo),表示自變量每變化一個單位,因變量變化的平均值。解析思路:回歸系數(shù)是衡量自變量對因變量影響程度的重要指標(biāo),C選項是正確的。16.A抽樣誤差是衡量樣本代表性的指標(biāo),表示樣本數(shù)據(jù)與總體數(shù)據(jù)之間的差異程度。解析思路:抽樣誤差是衡量樣本代表性的重要指標(biāo),抽樣誤差越小,樣本越能代表總體,因此A選項是正確的。17.ACpk是衡量過程能力的指標(biāo),表示過程均值與規(guī)格限的距離,Cpk值越大,過程能力越強(qiáng)。解析思路:Cpk是衡量過程能力的重要指標(biāo),Cpk值越大,過程能力越強(qiáng),因此A選項是正確的。18.D平均差是衡量數(shù)據(jù)離散程度的指標(biāo),但不是統(tǒng)計質(zhì)量管理中常用的指標(biāo),標(biāo)準(zhǔn)差、方差和變異系數(shù)更常用。解析思路:需要熟悉常用的數(shù)據(jù)離散程度指標(biāo),平均差雖然可以衡量離散程度,但不如標(biāo)準(zhǔn)差、方差和變異系數(shù)常用,因此D選項不屬于常用的指標(biāo)。19.A第一類錯誤指的是拒絕了實際上成立的假設(shè),也稱為假陽性錯誤。解析思路:假設(shè)檢驗中的第一類錯誤是指拒絕了實際上成立的假設(shè),即錯誤地認(rèn)為存在差異或效應(yīng),因此A選項是正確的。20.D合格品率、不合格品率和缺陷率都是衡量產(chǎn)品合格率的指標(biāo)。解析思路:需要熟悉衡量產(chǎn)品合格率的常用指標(biāo),合格品率、不合格品率和缺陷率都是常用的指標(biāo),因此D選項是正確的。二、判斷題答案及解析1.×統(tǒng)計質(zhì)量管理不僅關(guān)注生產(chǎn)過程中的數(shù)據(jù)收集和分析,還涉及生產(chǎn)過程的改進(jìn)。解析思路:統(tǒng)計質(zhì)量管理是一個綜合性的管理方法,不僅包括數(shù)據(jù)收集和分析,還包括生產(chǎn)過程的改進(jìn),因此該敘述是錯誤的。2.√控制圖的控制限是根據(jù)生產(chǎn)過程中的實際數(shù)據(jù)來確定的,通常設(shè)置為±3個標(biāo)準(zhǔn)差。解析思路:控制圖的控制限是基于生產(chǎn)過程中的實際數(shù)據(jù)來確定的,通常設(shè)置為±3個標(biāo)準(zhǔn)差,因此該敘述是正確的。3.√假設(shè)檢驗是一種用來判斷假設(shè)是否成立的統(tǒng)計方法,通過統(tǒng)計量來檢驗假設(shè)是否顯著。解析思路:假設(shè)檢驗的基本原理是通過統(tǒng)計量來檢驗假設(shè)是否顯著,因此該敘述是正確的。4.√方差分析是一種用來比較多組數(shù)據(jù)均值差異的統(tǒng)計方法,通過F統(tǒng)計量來檢驗組間差異是否顯著。解析思路:方差分析的基本原理是通過F統(tǒng)計量來檢驗多個總體均值是否相等,因此該敘述是正確的。5.√回歸分析是一種用來研究自變量和因變量之間關(guān)系的統(tǒng)計方法,通過回歸模型來描述和預(yù)測關(guān)系。解析思路:回歸分析的基本原理是通過回歸模型來描述和預(yù)測自變量和因變量之間的關(guān)系,因此該敘述是正確的。6.√抽樣調(diào)查是一種通過收集樣本數(shù)據(jù)來推斷總體特征的統(tǒng)計方法,通過樣本數(shù)據(jù)來估計總體參數(shù)。解析思路:抽樣調(diào)查的基本原理是通過樣本數(shù)據(jù)來推斷總體特征,因此該敘述是正確的。7.√質(zhì)量管理中的過程能力指標(biāo)Cpk是用來衡量過程穩(wěn)定性的,表示過程均值與規(guī)格限的距離。解析思路:Cpk是衡量過程能力的重要指標(biāo),Cpk值越大,過程能力越強(qiáng),因此該敘述是正確的。8.×數(shù)據(jù)離散程度指標(biāo)主要用來衡量數(shù)據(jù)的分散程度,而不是集中趨勢。解析思路:數(shù)據(jù)離散程度指標(biāo)主要用來衡量數(shù)據(jù)的分散程度,集中趨勢指標(biāo)主要用來衡量數(shù)據(jù)的中心位置,因此該敘述是錯誤的。9.√假設(shè)檢驗中的第一類錯誤指的是拒絕了實際上成立的假設(shè),也稱為假陽性錯誤。解析思路:假設(shè)檢驗中的第一類錯誤是指拒絕了實際上成立的假設(shè),即錯誤地認(rèn)為存在差異或效應(yīng),因此該敘述是正確的。10.√質(zhì)量控制中的合格品率指標(biāo)是用來衡量產(chǎn)品合格率的,表示合格產(chǎn)品占總產(chǎn)品的比例。解析思路:合格品率是衡量產(chǎn)品合格率的重要指標(biāo),表示合格產(chǎn)品占總產(chǎn)品的比例,因此該敘述是正確的。三、簡答題答案及解析1.平均數(shù)、中位數(shù)和眾數(shù)的主要區(qū)別和應(yīng)用場景:平均數(shù)是數(shù)據(jù)集中趨勢的常用指標(biāo),適用于對稱分布的數(shù)據(jù);中位數(shù)是數(shù)據(jù)集中趨勢的另一個常用指標(biāo),適用于偏態(tài)分布的數(shù)據(jù);眾數(shù)是數(shù)據(jù)集中趨勢的第三個常用指標(biāo),適用于分類數(shù)據(jù)。解析思路:需要明確三個指標(biāo)的定義和應(yīng)用場景,平均數(shù)適用于對稱分布的數(shù)據(jù),中位數(shù)適用于偏態(tài)分布的數(shù)據(jù),眾數(shù)適用于分類數(shù)據(jù)。2.控制圖在統(tǒng)計質(zhì)量管理中的作用:控制圖可以監(jiān)控生產(chǎn)過程的質(zhì)量,識別異常數(shù)據(jù)點,預(yù)防質(zhì)量問題的發(fā)生。例如,可以通過控制圖來監(jiān)控產(chǎn)品的尺寸、重量、溫度等參數(shù),如果數(shù)據(jù)點超出控制限,說明生產(chǎn)過程出現(xiàn)了異常,需要及時采取措施。解析思路:控制圖的基本作用是監(jiān)控生產(chǎn)過程的質(zhì)量,識別異常數(shù)據(jù)點,預(yù)防質(zhì)量問題的發(fā)生,可以通過實際案例來解釋其作用。3.假設(shè)檢驗的基本步驟:提出假設(shè)、選擇檢驗統(tǒng)計量、計算統(tǒng)計量、做出決策。例如,在質(zhì)量管理中,可以通過假設(shè)檢驗來檢驗產(chǎn)品的合格率是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn),如果檢驗結(jié)果顯示合格率顯著低于標(biāo)準(zhǔn),則需要采取措施提高產(chǎn)品質(zhì)量。解析思路:假設(shè)檢驗的基本步驟包括提出假設(shè)、選擇檢驗統(tǒng)計量、計算統(tǒng)計量、做出決策,可以通過實際案例來解釋其應(yīng)用。4.方差分析中的F統(tǒng)計量計算及意義:F統(tǒng)計量是組間方差與組內(nèi)方差的比值,用于檢驗多個總體均值是否相等。F統(tǒng)計量越大,說明組間差異越顯著。解析思路:F統(tǒng)計量的計算公式是組間方差除以組內(nèi)方差,F(xiàn)統(tǒng)計量的意義是檢驗多個總體均值是否相等,F(xiàn)值越大,組間差異越顯著。5.回歸分析中的決定系數(shù)R2含義及應(yīng)用:R2是回歸分析中用來衡量模型擬合優(yōu)度的指標(biāo),表示因變量的變異中有多少可以由自變量解釋。R2值越接近1,模型的擬合優(yōu)度越高。例如,在質(zhì)量管理中,可以通過回歸分析來研究自變量(如溫度、濕度)對因變量(如產(chǎn)品合格率)的影響,通過R2來評估模型的擬合優(yōu)度。解析思路:R2是衡量回歸模型擬合優(yōu)度的重要指標(biāo),R2值越接近1,模型的擬合優(yōu)度越高,可以通過實際案例來解釋其應(yīng)用。四、論述題答案及解析1.數(shù)據(jù)收集的重要性及常用方法:數(shù)據(jù)收集是統(tǒng)計質(zhì)量管理的基礎(chǔ),通過收集數(shù)據(jù)可以了解生產(chǎn)過程的質(zhì)量狀況,為質(zhì)量改進(jìn)提供依據(jù)。常用的數(shù)據(jù)收集方法包括抽樣調(diào)查、實驗設(shè)計、過程監(jiān)控等。例如,可以通過抽樣調(diào)查來收集產(chǎn)品的合格率、缺陷率等數(shù)據(jù),通過實驗設(shè)計來優(yōu)化生產(chǎn)參數(shù),通過過程監(jiān)控來實時監(jiān)控生產(chǎn)過程的質(zhì)量。解析思路:數(shù)據(jù)收集的重要性在于為質(zhì)量改進(jìn)提供依據(jù),常用的數(shù)據(jù)收集方法包括抽樣調(diào)查、實驗設(shè)計、過程監(jiān)控等,可以通過實際案例來解釋其應(yīng)用。2.控制圖和假設(shè)檢驗的優(yōu)缺點及案例分析:控制圖的優(yōu)點是可以實時監(jiān)控生產(chǎn)過程的質(zhì)量,識別異常數(shù)據(jù)點,但缺點是可能產(chǎn)生誤報或漏報。假設(shè)檢驗的優(yōu)點是可以通過統(tǒng)計量來檢驗假設(shè)是否顯著,但缺點是可能受到樣本量的影響。例如,在電子元件生產(chǎn)中,可以通過控制圖來監(jiān)控元件的尺寸,如果數(shù)據(jù)點超出控制限,說明生產(chǎn)過程出現(xiàn)了異常,需要及時采取措施;通過假設(shè)檢驗來檢驗元件的合格率是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn),如果檢驗結(jié)果顯示合格率顯著低于標(biāo)準(zhǔn),則需要采取措施提高產(chǎn)品質(zhì)量。解析思路:控制圖和假設(shè)檢驗各有優(yōu)缺點,控制圖可以實時監(jiān)控生產(chǎn)過程的質(zhì)量,但可能產(chǎn)生誤報或漏報;假設(shè)檢驗可以通過統(tǒng)計量來檢驗假設(shè)是否顯著,但可能受到樣本量的影響

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