《微束分析金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法》

編制說(shuō)明

計(jì)劃編號(hào)：20233288-T-469

1、工作任務(wù)來(lái)源和主要工作過(guò)程

1.1任務(wù)來(lái)源

2023年12月6日，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)文件國(guó)標(biāo)委發(fā)[2023]號(hào)“《國(guó)家標(biāo)

準(zhǔn)化管理委員會(huì)關(guān)于下達(dá)2023年第二批推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)外文版計(jì)

劃的通知》”下達(dá)了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃項(xiàng)目《微束分析金屬與合金電子探針定量分析樣

品的制備方法》（20233288-T-469）的制定任務(wù)，由鋼鐵研究總院有限公司牽頭起草，

修訂周期16個(gè)月。本項(xiàng)目是對(duì)GB/T17365-1998《微束分析金屬與合金電子探針

定量分析樣品的制備方法》的修訂。

1.2工作過(guò)程

本標(biāo)準(zhǔn)編制組成員及單位見(jiàn)下表。

姓名單位職稱(chēng)從事專(zhuān)業(yè)

鐘振前鋼鐵研究總院有限公司正高工材料學(xué)、微觀分析

蘭江林鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司助理工程師材料學(xué)、微束分析

賀連龍中國(guó)科學(xué)院金屬研究所研究員材料學(xué)、微束分析

丁寧山東省分析測(cè)試中心副研究員材料學(xué)、微觀分析

伍超群廣東省科學(xué)院工業(yè)分析檢測(cè)中心教授級(jí)高工材料學(xué)、微觀分析

馬通達(dá)國(guó)合通用測(cè)試評(píng)價(jià)認(rèn)證股份公司教授級(jí)高工材料學(xué)、微觀分析

鞠新華首鋼技術(shù)研究院教授級(jí)高工材料學(xué)、微觀分析

2、標(biāo)準(zhǔn)編制原則和主要內(nèi)容的確定依據(jù)

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第一部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫(xiě)》的

規(guī)定修訂。

本修訂后的標(biāo)準(zhǔn)與GB/T17365-1998相比重要變化如下：

a)引用標(biāo)準(zhǔn)中更新了最新標(biāo)準(zhǔn)，并增加了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T13298-2015（見(jiàn)第2章）；

b）“在分析區(qū)域內(nèi)無(wú)劃痕和孔洞?！毙薷臑椤霸?00倍光學(xué)顯微鏡下分析區(qū)域內(nèi)無(wú)明顯劃

痕和孔洞?！保ㄒ?jiàn)第5章，1998版的第4章）；

2

c)增加6.1.1了試樣切割應(yīng)注意的事項(xiàng)“試樣切割過(guò)程中應(yīng)盡量避免由于取樣方法對(duì)組織帶

來(lái)的影響（如變形、過(guò)熱等）……”（見(jiàn)第6章，1998版的第5章）；

d)6.1.2增加細(xì)化了機(jī)械拋磨說(shuō)明，“也可鑲嵌后采用自動(dòng)磨拋設(shè)備進(jìn)行磨拋，”以及“建

議機(jī)械拋光，避免采用化學(xué)拋光和電解拋光”（見(jiàn)第6章，1998版的第5章）；

e)6.2.2增加了“通常鑲嵌材料會(huì)比金屬軟，為避免試樣邊緣磨圓，可以將試樣夾在硬度

相近的金屬塊之間或用相同硬度的環(huán)狀物包圍等。鑲嵌試樣分析表面層時(shí)可以使用真空蒸鍍機(jī)

在試樣表面均勻地覆蓋一層導(dǎo)電膜，從而更好地分析樣品的表層成分信息。蒸鍍時(shí)需要避免待

測(cè)元素存在鍍膜層成中，減少鍍膜對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響。”（見(jiàn)第6章，1998版的第5章）；

f）6.2.2增加了“定量分析時(shí)應(yīng)盡量避免試樣檢驗(yàn)面被腐蝕?！保ㄒ?jiàn)第6章，1998版的第5

章）；

g）6.2.3增加了“定量分析時(shí)應(yīng)盡量避免試樣檢驗(yàn)面被腐蝕?！保ㄒ?jiàn)第6章，1998版的第5

章）；

h）6.2.7增加了“顆粒樣品可以鑲嵌磨拋，鍍碳后進(jìn)行實(shí)驗(yàn)?！保ㄒ?jiàn)第6章，1998版的第5

章）；

i）6.3.5增加了“機(jī)械熱拋光內(nèi)容（6.3.5.1～6.3.5.5）”（見(jiàn)第6章，1998版的第5章）。

3、主要試驗(yàn)驗(yàn)證的分析

本標(biāo)準(zhǔn)是制樣方法標(biāo)準(zhǔn)，已對(duì)樣品劃痕對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響，進(jìn)行了相關(guān)試驗(yàn)驗(yàn)

證。

4、與國(guó)際、國(guó)外同類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)水平的對(duì)比情況

國(guó)外目前沒(méi)有電子探針制樣方法標(biāo)準(zhǔn)。

5、與現(xiàn)行法律、法規(guī)和強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系

本標(biāo)準(zhǔn)不包含任何有違現(xiàn)行法律、法規(guī)和強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容。與現(xiàn)行法律、

法規(guī)和強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有任何沖突。

6、重大分歧意見(jiàn)的處理

至今沒(méi)有收到重大的分歧意見(jiàn)。

7、作為強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)或推薦性標(biāo)準(zhǔn)的建議

建議作為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

8、貫徹標(biāo)準(zhǔn)的措施建議

由于微束分析領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)化程度很高，為了對(duì)分析電鏡這類(lèi)大型科學(xué)儀器

進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化管理，建議適時(shí)對(duì)相關(guān)的高等院校、科研單位、測(cè)試分析中心以及

有關(guān)企事業(yè)單位實(shí)驗(yàn)室工作人員和管理人員以及科技期刊的審編等進(jìn)行宣講、

培訓(xùn)，以促進(jìn)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的貫徹執(zhí)行，發(fā)揮其應(yīng)有作用。

3

9、廢止現(xiàn)行有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的建議

無(wú)。

10、其他應(yīng)予以說(shuō)明的事項(xiàng)

無(wú)。

微束分析金屬及合金電子探針定量分析樣品的制備方法

2024年4月26日

4

微束分析金屬及合金電子探針定量分

析樣品的制備方法

Microbeamanalysis-Methodofpreparation

forsamplesofmetalandalloyinelectron

probemicroanalysis

（征求意見(jiàn)稿）

編寫(xiě)說(shuō)明

起草單位：

鋼鐵研究總院有限公司、鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司、中科院金屬所、廣東省科學(xué)院工

業(yè)分析檢測(cè)中心、有色研究總院有限公司、首鋼股份有限公司。

2024年5月5日

《微束分析金屬與合金電子探針定量分析樣品的制備方法》

編制說(shuō)明

計(jì)劃編號(hào)：20233288-T-469

1、工作任務(wù)來(lái)源和主要工作過(guò)程

1.1任務(wù)來(lái)源

2023年12月6日，國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)文件國(guó)標(biāo)委發(fā)[2023]號(hào)“《國(guó)家標(biāo)

準(zhǔn)化管理委員會(huì)關(guān)于下達(dá)2023年第二批推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)外文版計(jì)

劃的通知》”下達(dá)了國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃項(xiàng)目《微束分析金屬與合金電子探針定量分析樣

品的制備方法》（20233288-T-469）的制定任務(wù)，由鋼鐵研究總院有限公司牽頭起草，

修訂周期16個(gè)月。本項(xiàng)目是對(duì)GB/T17365-1998《微束分析金屬與合金電子探針

定量分析樣品的制備方法》的修訂。

1.2工作過(guò)程

本標(biāo)準(zhǔn)編制組成員及單位見(jiàn)下表。

姓名單位職稱(chēng)從事專(zhuān)業(yè)

鐘振前鋼鐵研究總院有限公司正高工材料學(xué)、微觀分析

蘭江林鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司助理工程師材料學(xué)、微束分析

賀連龍中國(guó)科學(xué)院金屬研究所研究員材料學(xué)、微束分析

丁寧山東省分析測(cè)試中心副研究員材料學(xué)、微觀分析

伍超群廣東省科學(xué)院工業(yè)分析檢測(cè)中心教授級(jí)高工材料學(xué)、微觀分析

馬通達(dá)國(guó)合通用測(cè)試評(píng)價(jià)認(rèn)證股份公司教授級(jí)高工材料學(xué)、微觀分析

鞠新華首鋼技術(shù)研究院教授級(jí)高工材料學(xué)、微觀分析

2、標(biāo)準(zhǔn)編制原則和主要內(nèi)容的確定依據(jù)

本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第一部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫(xiě)》的

規(guī)定修訂。

本修訂后的標(biāo)準(zhǔn)與GB/T17365-1998相比重要變化如下：

a)引用標(biāo)準(zhǔn)中更新了最新標(biāo)準(zhǔn)，并增加了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T13298-2015（見(jiàn)第2章）；

b）“在分析區(qū)域內(nèi)無(wú)劃痕和孔洞?！毙薷臑椤霸?00倍光學(xué)顯微鏡下分析區(qū)域內(nèi)無(wú)明顯劃

痕和孔洞?！保ㄒ?jiàn)第5章，1998版的第4章）；

2

c)增加6.1.1了試樣切割應(yīng)注意的事項(xiàng)“試樣切割過(guò)程中應(yīng)盡量避免由于取樣方法對(duì)組織帶

來(lái)的影響（如變形、過(guò)熱等）……”（見(jiàn)第6章，1998版的第5章）；

d)6.1.2增加細(xì)化了機(jī)械拋磨說(shuō)明，“也可鑲嵌后采用自動(dòng)磨拋設(shè)備進(jìn)行磨拋，”以及“建

議機(jī)械拋光，避免采用化學(xué)拋光和電解拋光”（見(jiàn)第6章，1998版的第5章）；

e)6.2.2增加了“通常鑲嵌材料會(huì)比金屬軟，為避免試樣邊緣磨圓，可以將試樣夾在硬度

相近的金屬塊之間或用相同硬度的環(huán)狀物包圍等。鑲嵌試樣分析表面層時(shí)可以使用真空蒸鍍機(jī)

在試樣表面均勻地覆蓋一層導(dǎo)電膜，從而更好地分析樣品的表層成分信息。蒸鍍時(shí)需要避免待

測(cè)元素存在鍍膜層成中，減少鍍膜對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響?！保ㄒ?jiàn)第6章，1998版的第5章）；

f）6.2.2增加了“定量分析時(shí)應(yīng)盡量避免試樣檢驗(yàn)面被腐蝕?！保ㄒ?jiàn)第6章，1998版的第5

章）；

g）6.2.3增加了“定量分析時(shí)應(yīng)盡量避免試樣檢驗(yàn)面被腐蝕。”（見(jiàn)第6章，1998版的第5

章）；

h）6.2.7增加了“顆粒樣