GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽瑪射線檢測第2部分：雙壁

射線檢測

1范圍

本文件規(guī)定了滿足檢測要求以期獲得滿意、經(jīng)濟、重復(fù)性好的檢測結(jié)果的膠片和數(shù)字射線照相檢測

的基本技術(shù)。該技術(shù)以檢測基本理論和試驗測量為基礎(chǔ)。

本文件適用于鋼管服役過程中引起的點狀腐蝕、面狀腐蝕和侵蝕等傷的射線檢測。本文件中使用的

“管”除其常規(guī)含義外，也包括其他圓柱形物體，如管、壓力管、鍋爐汽包和壓力容器。

本文件規(guī)定的檢測技術(shù)僅適用于腐蝕/侵蝕類的焊縫檢測，而不適用于焊接過程產(chǎn)生典型傷的檢測。

本文件適用于對含保溫層類或不含保溫層的管道定期評價管道內(nèi)部或外部由于腐蝕或侵蝕造成的

材料損失。

本文件規(guī)定了檢測壁厚損失的雙壁檢測技術(shù)，包括雙壁單影技術(shù)（DWSI）和雙壁雙影技術(shù)（DWDI）。

注：本文件中描述的雙壁雙影技術(shù)（DWDI）通常按照ISO20769-1確定的切向射線照相技術(shù)相結(jié)合應(yīng)用。

本文件適用于使用工業(yè)膠片射線照相、計算機射線照相（CR）和數(shù)字陣列探測器（DDA）的在役雙

壁射線照相檢測技術(shù)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

1

GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

ISO11699-1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類

（Non-destructivetesting—Industrialradiographicfilm—Part1:Classificationoffilm

systemsforindustrialradiography）

注：GB/T19348.1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類（ISO11699-1：2008,MOD）

ISO11699-2無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分：用參考值方法控制膠片處理

（Non-destructivetesting—Industrialradiographicfilms—Part2:Controloffilm

processingbymeansofreferencevalues）

注：GB/T19348.2無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分：用參考值方法控制膠片處理（ISO11699-2：1998，IDT）

ISO17636-2焊縫無損檢測射線檢測第2部分使用數(shù)字化探測器的X和伽瑪射線技術(shù)

（Non-destructivetestingofwelds—Radiographictesting—Part2:X-andgamma-ray

techniqueswithdigitaldetectors）

注：GB/T3323.22019焊縫無損檢測射線檢測第2部分使用數(shù)字化探測器的X和伽瑪射線技術(shù)(ISO

17636-2:2013,MOD)

ISO19232-1無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定

（Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part1:Determinationofthe

imagequalityvalueusingwire-typeimagequalityindicators）

注：GB／T23901.1-2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定（ISO19232-1:2013，

IDT）

ISO19232-5無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分：雙絲型像質(zhì)計圖像不清晰度和空間分辨

率的測定（Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part5:Determination

oftheimageunsharpnessvalueusingduplexwire-typeimagequalityindicators）

注：GB/T23901.5-2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分：雙絲型像質(zhì)計圖像不清晰度的測定（ISO

19232-5:2018，MOD）

ISO20769-1無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測第1部分：切向射線檢測

（Non-destructivetestingofwelds—Radiographicinspectionofcorrosionanddepositsin

pipesbyX-andgammarays—Part1:Tangentialradiographicinspection）

注：GB/Txxxx-202X無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測第1部分：切向射線檢測（ISO

20769-1:2018,IDT）

EN14784-1無損檢測帶存儲磷光體成像板的工業(yè)計算機射線照相術(shù)第1部分：系統(tǒng)分類

（Non-destructivetesting—Industrialcomputedradiographywithstoragephosphorimaging

plates—Part1:Classificationofsystems）

2

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3術(shù)語和定義

ISO20769-1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。

ISO和IEC維護的標準化工作中使用的術(shù)語數(shù)據(jù)庫網(wǎng)址如下:

——IEC電工百科：/；

——ISO在線瀏覽平臺：/obp。

數(shù)字陣列探測器系統(tǒng)

DDA系統(tǒng)

將接收的散射或透射射線形成離散的模擬信號，然后對模擬信號進行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，并傳遞到計算機

處理顯示為對應(yīng)人射射線能量分布變化的數(shù)字圖像轉(zhuǎn)化裝置。

雙壁雙影技術(shù)

DWDI

射線源位于管外側(cè)并距管有一定距離，探測器位于射線源對面的管外側(cè)。射線檢測圖像上顯示了探

測器和射線源兩側(cè)管壁的細節(jié)的技術(shù)。

注：見圖3。

3

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雙壁單影技術(shù)

DWSI

射線源位于管外側(cè)并緊貼管壁，探測器位于射線源對面的管外側(cè)。射線檢測圖像上僅顯示了探測器

側(cè)管壁的細節(jié)的技術(shù)。

注：見圖1。

工件一探測器距離

b

沿射線束中心線測出的射線源側(cè)被檢工件表面至探測器表面的距離。

透照厚度

w

按材料公稱厚度確定的射線透照方向上的材料厚度。

注：對于管的雙壁射線檢測技術(shù)，w的最小值為管壁厚度的兩倍。對于多壁檢測技術(shù)（管中管或襯套中管道），穿

透厚度為射線透照方向上按公稱厚度（t）計算確定。

射線源一工件距離

f

沿射線束中心線測出的射線源（或焦點）至射線源側(cè)被檢工件表面的距離。

4

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總有效穿透厚度

wtot

按材料公稱厚度確定的射線透照方向上的金屬材料總有效穿透厚度。（包括管道中存在任何液體或

其它材料以及任何保溫材料。）

4射線檢測技術(shù)分級

雙壁射線照相檢測技術(shù)分為兩個等級：

——基本技術(shù)DWA；

——優(yōu)化技術(shù)DWB。

基本技術(shù)是用于整體和局部管壁損失的雙壁射線照相檢測技術(shù)。

對于基本技術(shù)，DWA，當使用Ir192射線源透照厚度在15mm至35mm的管道進行檢測時，對于直徑大

于或等于2mm，管壁損失通常大于或等于管道穿透厚度的5%，并且管道中沒有液體或其他物品情況下，

則對缺陷具有很高的檢測靈敏度。當使用Se75射線源時，對于直徑大于或等于2mm,管壁損失大于或等

于管道穿透厚度的4%，則對缺陷具有較高的檢測靈敏度。對于較大直徑缺陷，則檢測靈敏度將得以提高，

但由于液體或其它物品及外部含保溫層的存在，能導(dǎo)致管壁損失檢測靈敏度的降低，降低程度與物品材

料特性相關(guān)。當透照厚度小于15mm和大于35mm時，可協(xié)商使用不同的檢測靈敏度。

由于外部腐蝕物的存在增加了射線衰減，從而可能降低了對腐蝕的檢測靈敏度。這些外部腐蝕物對

射線衰減的增加，甚至可能超過鋼的損失從而引起衰減系數(shù)降低。管道內(nèi)部固體物質(zhì)（如水垢）的積聚

同樣可能降低內(nèi)部腐蝕的檢測靈敏度。

這些技術(shù)也能用于管道內(nèi)沉積物的檢測。

優(yōu)化技術(shù)宜用于更高要求靈敏度的檢測，如局部細小的點狀腐蝕X射線照相檢測。

除本部分中描述的優(yōu)化技術(shù)外，存在比優(yōu)化技術(shù)更好的技術(shù)，當適用時，可由合同各方在文件中詳

細規(guī)定全部適當?shù)臋z測技術(shù)參數(shù)。

射線照相檢測技術(shù)的選擇應(yīng)由合同各方商定。

5

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5通則

輻射安全防護

警告—如果缺少適當?shù)姆雷o措施，X射線或伽瑪射線能對人體健康造成重大危害。X射線設(shè)備或放射

源的使用應(yīng)符合放射防護法規(guī)的要求。開展射線檢測工作時，應(yīng)嚴格執(zhí)行相關(guān)法律法規(guī)規(guī)定的確保人員

安全和健康的防護措施。

人員資格

射線照相檢測應(yīng)由技術(shù)熟練、受過適當培訓(xùn)且合格的檢測人員實施。在合適的情況下，應(yīng)由雇主指

定有資格的主管人員進行監(jiān)督或由雇主委派專門的檢測公司負責檢測。為證明檢測人員資格，推薦檢測

人員按照ISO9712規(guī)定取得相應(yīng)的人員資格或按照同等正式體系取得相應(yīng)資格。合格人員的操作授權(quán)應(yīng)

由雇主按照書面程序簽發(fā)。

6

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除非另有規(guī)定，NDT的操作應(yīng)由雇主批準的合格的NDT主管人員(3級或同等資質(zhì))授權(quán)。

如果使用數(shù)字探測器，檢測人員應(yīng)證明參加過附加的數(shù)字射線檢測技術(shù)培訓(xùn)并取得的相應(yīng)資格。

射線照相影像標識

射線照相檢測管道的每一個區(qū)段均應(yīng)放置識別標記。這些識別標記的影像應(yīng)位于射線照相圖像的有

效評定區(qū)之外，應(yīng)確保每一區(qū)段標記可清晰識別。

工件標記

為確保每一張射線照相圖像的定位準確性，宜在工件表面作永久性標記。

若材料性質(zhì)和/或使用條件不允許在工件表面上作永久性標記，可通過精確的示意圖等方式記錄透

照位置。

膠片或數(shù)字圖像的搭接

當透照區(qū)域需采用兩張及兩張以上膠片或一個探測器分次檢測時，每張膠片或探測器影像應(yīng)具

有充分的搭接區(qū)域，以確保整個受檢區(qū)域得到射線照相檢測。應(yīng)將高密度搭接標記置于搭接區(qū)的工

件表面驗證搭接有效性，并使標記顯示在每張射線底片或探測器影像上。如果底片影像或數(shù)字圖像

是按照順序進行透照的，那么每張底片影像或每幅數(shù)字圖像上均應(yīng)顯示高密度搭接標記。

7

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像質(zhì)計的類型與使用（IQI）

5.6.1絲型像質(zhì)計

圖像質(zhì)量應(yīng)按照ISO19232-1確定的絲型像質(zhì)計（IQI）進行驗證。

對于DWDI，絲型像質(zhì)計優(yōu)先放置于被檢工件射線源側(cè)表面有效評定區(qū)中心位置。絲型像質(zhì)計應(yīng)緊

貼工件表面。當絲型像質(zhì)計不能滿足以上條件（含保溫層管道）放置于射線源側(cè)時，則應(yīng)放置于探測器

側(cè)。圖像質(zhì)量應(yīng)至少進行一次對比驗證試驗來確定，在射線源側(cè)和探測器側(cè)各放置一個像質(zhì)計，采用相

同的條件透照，觀察所得圖像的像質(zhì)值以確定圖像質(zhì)量。

對于DWSI，絲型像質(zhì)計應(yīng)放置于被檢工件探測器側(cè)表面有效評定區(qū)中心位置。絲型像質(zhì)計應(yīng)盡可

能緊貼工件表面。如果由于含保溫層等原因不能實現(xiàn)，絲型像質(zhì)計應(yīng)緊貼膠片或數(shù)字探測器。

對于DWDI和DWSI，絲型像質(zhì)計應(yīng)橫跨管道，絲的長軸正交于管軸，偏差為小角度（2°~5°）。

絲型像質(zhì)計宜放置于厚度均勻部位，并靠近管道中心線。

對于DWDI，像質(zhì)計放置于探測器側(cè)時，應(yīng)緊貼像質(zhì)計放置鉛字“F”，并應(yīng)在檢測報告中注明。

對于在相同條件下重復(fù)透照非常相似的工件，其圖像質(zhì)量驗證的像質(zhì)值要求應(yīng)由合同各方商定。

5.6.2雙絲型像質(zhì)計（數(shù)字射線照相）

宜按照ISO19232-5確定的雙絲型像質(zhì)計測定CR/DDA檢測系統(tǒng)的基本空間分辨率（見7.1.2和附錄

C）。雙絲型像質(zhì)計應(yīng)放置于IP成像板或陣列探測器射線源側(cè)表面上，擺放時與數(shù)字圖像的行或列傾斜

一定的角度（2°~5°）。

6推薦的射線照相檢測技術(shù)

8

GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

透照布置

6.1.1概述

一般情況下，射線照相檢測應(yīng)采用6.1.2和6.1.3規(guī)定的透照布置。

6.1.2中介紹的射線照相技術(shù)通常用于較大直徑管道的檢測。6.1.3中介紹的射線照相技術(shù)通常用于

較小直徑的管道(通常外徑小于150mm)檢測。

對于這兩種射線照相檢測技術(shù)，膠片或數(shù)字探測器應(yīng)盡可能靠近管道。

6.1.2雙壁單影（DWSI）

該透照布置使用可彎曲數(shù)字探測器或膠片，射線源位于管道附近外側(cè)，膠片/探測器位于管道

對面的另一側(cè)，不含保溫層的管道透照布置見圖1a），含保溫層的管道透照布置見圖1b)。布置圖

還顯示了確定射線源到探測器距離SDD（見6.6）的相關(guān)距離。

a)不含保溫層的管道

9

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b)含保溫層的管道

標引序號說明：

1——探測器。

圖1使用可彎曲探測器進行雙壁單影射線照相檢測的透照布置(DWSI)

注意，管壁損失可能位于靠近探測器的管壁內(nèi)徑、外徑或兩個表面上。管道射線源側(cè)的管壁損失在

圖像中沒有顯示。

對于硬質(zhì)平面探測器，DWSI也能用，雙壁單影透照布置見圖2a）和圖2b）。這樣的透照布置能在每

個位置檢測管道周長的一小部分。

10

GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

a)不含保溫層的管道

b)含保溫層的管道

標引序號說明：

1——探測器。

圖2使用平面探測器進行雙壁單影射線照相檢測的透照布置(DWSI)

6.1.3雙壁雙影（DWDI）

該透照布置射線源位于管道外前方，平面膠片/探測器位于管道對面的另一側(cè)，見圖3a)(不含

保溫層的管道)和圖3b)(含保溫層的管道)。

11

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a)不含保溫層的管道

b)含保溫層的管道

標引序號說明：

1——探測器。

圖3雙壁雙影射線照相檢測的透照布置（DWDI）

對于雙壁雙影透照布置（DWDI），管壁損失可能位于內(nèi)徑、外徑或兩側(cè)表面上，也可能位于管道的

射線源側(cè)管壁上或探測器側(cè)管壁上。

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GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

如果雙壁雙影（DWDI）射線照相檢測技術(shù)和切向射線照相檢測技術(shù)結(jié)合應(yīng)用，應(yīng)符合ISO20769-1

中的規(guī)定。

6.1.4射線束和膠片/探測器的方向

射線束應(yīng)指向透照區(qū)中心，并宜與被檢管軸垂直。

對于雙壁雙影（（DWDI））射線照相檢測，膠片或數(shù)字探測器宜對準中心射線束。

當存在障礙物的特殊情況下，可能需要對6.1.2和6.1.3給出的透照布置進行修改。

其它射線照相檢測透照布置可由合同各方商定。

射線源的選擇

X射線和伽瑪射線透照的厚度范圍見表1和圖4。經(jīng)合同各方商定，這些透照范圍能擴展。

透照不同材料和不同厚度時允許使用的最高管電壓見圖4。這些值是焊縫膠片射線照相檢測的最佳

實踐值。如果使用經(jīng)過精確校正的數(shù)字陣列探測器（DDAs），采用高于圖4規(guī)定的限值管電壓仍然能獲

得滿足要求的圖像質(zhì)量。針對CR檢測，推薦使用的X射線管電壓限值應(yīng)在圖4基礎(chǔ)上至少降低20%。

在使用伽瑪射線進行檢測時，輸送射線源的往返時間不應(yīng)超過總曝光時間的10%。

經(jīng)合同各方商定，采用Irl92和Se75時，最小透照厚度可降至5mm鋼。

表1伽瑪射線源和高能X射線對鋼管所適用的總的有效透照厚度范圍

總的有效透照厚度wtot/mm

射線源

基本技術(shù)，DWA優(yōu)化技術(shù)，DWB

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Ybl691≤wtot≤15

a

Se755≤wtot≤5510≤wtot≤40

Irl9210≤wtot≤10020≤wtot≤90

Co6040≤wtot≤200

30≤wtot≤200

X射線1MeV?4MeV

X射線4MeV?12MeVwtot≥50

X射線>12MeVwtot≥80

a對鋁和鈦，DWA級和DWB級檢測時，透照材料厚度：35mm≤wtot≤120mm。

標引序號說明：

1—銅、鎳及其合金；

2—鋼；

3—鈦及其合金；

4—鋁及其合金；

w—透照厚度（mm）；

U—X射線管電壓kV。

圖41000kV及以下X射線機透照不同材料和厚度所允許使用的最高管電壓

對于有填充物的管道，射線源選擇應(yīng)考慮填充物引起的射線衰減影響。采用Ir192檢測充滿水的鋼

管時，測算總的透照厚度wtot應(yīng)加上大約九分之一水的路徑長度。采用Ir192檢測充滿油的鋼管時，測算

總的透照厚度wtot應(yīng)加上大約十一分之一油的中路徑長度。

14

GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

對于含保溫層的管道，射線源的選擇應(yīng)考慮保溫層引起的射線衰減影響。

膠片系統(tǒng)和金屬屏

射線照相檢測所使用的膠片系統(tǒng)類別應(yīng)按ISO11699-1確定。

不同射線源射線照相檢測可選用的膠片系統(tǒng)類別和金屬屏見表2。

使用金屬屏時，膠片與金屬屏之間要良好接觸。這能通過使用真空包裝的膠片或適當按壓方法實現(xiàn)。

表2鋼、銅和鎳基合金雙壁射線照相檢測所適用的膠片系統(tǒng)類別和金屬屏

膠片系統(tǒng)類別a

射線源金屬屏類型和厚度

DWA級DWB級

X射線≤250kVC4

C5鉛屏（前后）0.02mm?0.15mm

X射線>250kV?500kVC5C4鉛屏（前）0.1mm?0.2mmb

C4

X射線>500kV?1000kVC5鋼或銅屏（前后）鉛屏（后）0.020.25mm?mm0.?20.7mmmmc

Se75

C6C5鉛屏（前后）0.02mm?0.2mmb

Ir192

Co60C6C5鋼或銅屏（前后）0.25mm?0.7mmc

C6C5

X射線>1MeV?4MeV鋼或銅屏（前后）0.25mm?0.7mmc

1mm的銅、鋼或鈦屏（前）

X射線>4MeVC6C5

1mm銅或鋼屏和0.5mm的鈦屏（后）d

a可使用更好的膠片系統(tǒng)類別。

b如果使用前屏0.03mm的真空包裝膠片，則可在工件與膠片之間放置0.1mm附加鉛屏。

c針對DWA級，可使用0.5mm?2mm鉛屏。

d針對DWA級，經(jīng)合同雙方商定，可使用0.5mm?1mm鉛屏。

表3鋁和鈦射線照相檢測所適用的膠片系統(tǒng)類別和金屬增感屏

射線源膠片系統(tǒng)類別a增感屏類型和厚度

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GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

DWA級DWB級

不用屏或

X射線≤150kV

用鉛屏（前）≤0.03mm;鉛屏（后）≤0.15mm

X射線>150kV?500kVC5C4鉛屏（前后）0.02mm?0.2mmb

Se75

鉛屏（前后）0.02mm?0.2mmb

Ir192c

a可使用更好的膠片系統(tǒng)類別。

b可使用2個0.1mm鉛屏替代1個0.2mm鉛屏。

c經(jīng)合同各方商定，可使用Ir192射線源。

只要黑度滿足7.2要求，要求的最小像質(zhì)值應(yīng)符合附錄A的規(guī)定，經(jīng)合同各方商定，也可使用不

同類別的膠片系統(tǒng)。

成像（IP）板用金屬增感屏與防護板（僅適用于計算機射線照相技術(shù)）

當使用金屬鉛箔增感前屏時，IP板感光面必須與前屏緊貼，采用真空包裝的IP板或按壓措施能滿足

需求。鉛箔增感屏與IP板之間的間隙可能導(dǎo)致圖像不清晰度增大。使用IP板與鉛箔增感屏透照的增感作

用明顯小于膠片射線照相。

多數(shù)IP板對低能量背散射線和背散射線防護鉛板發(fā)出的X射線熒光非常敏感，這將導(dǎo)致影像邊界不

清晰度增加和信噪比降低，宜盡量減少。因此，宜采用銅或鋼防護板放在IP板后防護背散射線，或者在

背防護鉛板與IP板間插入鋼或銅防護板，也能改善圖像質(zhì)量。在設(shè)計制造IP板暗盒時可以考慮將銅或鋼

防護板直接放入到暗盒內(nèi)，從而能避免額外的使用鋼或銅防護板。

注：高能量射線檢測時，由于IP板感光層與鉛箔增感屏之間存在保護層，從而導(dǎo)致增感作用大幅度下降，根據(jù)所使

用的射線能量和IP板保護層的設(shè)計，増感效果僅相當于不放置鉛箔增感屏情況下的20%～100%之間。

當不使用鉛箔増感屏時，鉛箔增感屏對IP板所產(chǎn)生的較小的增感作用損失能通過增加曝光量補償。

如果檢測使用鉛箔增感屏，在IP板掃描前應(yīng)去除鉛箔增感屏，否則可導(dǎo)致IP板產(chǎn)生劃痕，宜將鉛箔增感

屏放置在暗袋或暗盒外側(cè)濾除散射線。對于透照厚度小于12mm的鋼制工件，不推薦使用鉛箔増感屏。

不同射線源推薦使用的金屬屏材料和厚度見表4和表5。根據(jù)所需達到的圖像質(zhì)量，經(jīng)合同各方商定

后也可使用其他厚度的金屬屏。推薦在IP板前面放置金屬屏，金屬屏與數(shù)字陣列探測器DDAs一起使用可

減少散射線的影響。

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GB/TXXXXX—XXXX/ISO20769-2：2018

表4鋼、銅和鎳基合金管道雙壁CR射線照相檢測適用的金屬前屏

射線源金屬前屏類型和厚度/mm

X射線a≤250kV鉛屏0?0.1

X射線a>250?1000kV鉛屏0?0.3

DWA級：鉛屏0?0.3c

Irl92,Se75a

DWB級：鋼或銅屏0.3?0.8

Co60b鋼或銅屏0.3?0.8+鉛屏0.6?2.0

X射線a>1MeV鋼或銅屏0.3?0.8+鉛屏0.6?2.0

a可以全部或部分采用鋼或銅屏替代鉛屏，此時鋼或銅屏的等效厚度應(yīng)為鉛屏的3倍。

b使用多種材料金屬屏時（如鋼+鉛屏），應(yīng)將鋼屏放置在IP板與鉛屏之間，也可以使用銅、鈦或鎢屏替代鋼或鋼+鉛屏，

但需通過驗證試驗確認圖像質(zhì)量。

c總透照厚度大于50mm時，前屏宜使用厚度大于0.1mm的鉛屏。

表5鋁和鈦管道雙壁CR射線照相檢測適用的金屬前屏

射線源金屬前屏類型和厚度/mm

X射線<150kV鉛屏≤0.03a,b

鉛屏a,b

X射線≥150?500kV≤0.02

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Se75

鉛屏≤0.03a,b

Irl92c

a可以在暗盒外部使用附加的兩片0.1mm的鉛屏替代一片0.2mm的鉛屏。。

b可以全部或部分采用鋼或銅屏替代鉛屏，此時鋼或銅屏的等效厚度應(yīng)為鉛屏的3倍。

c經(jīng)合同各方商定，可使用Ir192射線源。

散射線的防護

6.5.1濾波板和準直器

為減少背散射線的影響，透照時的中心射線束應(yīng)盡可能對準被檢區(qū)域。

對于計算機射線照相檢測和數(shù)字陣列探測器DDAs射線檢測技術(shù)，采用Ir192、Co60射線源和其它

高能（MeV）的X射線源或存在邊緣散射情況下，能在管道與數(shù)字陣列探測器DDA或CR暗盒之間能放置一

個鉛屏濾除低能的散射線。根據(jù)透照厚度的不同，濾波鉛屏厚度可在0.5mm~2mm之間選擇。

除鉛外的其它材料，如錫、銅、鎢、鈦或鋼等都可用于濾波材料。在使用鉛、鎢或鈦材料的濾波屏

時，推薦在金屬屏和探測器之間附加厚度為0.3mm~1.0mm的鋼或銅濾波屏。濾波屏宜盡可能的與探測器

感光面貼合。

6.5.2背散射的屏蔽

對于每個新的檢測項目，應(yīng)在每個膠片暗袋或CR暗盒后背貼放鉛字"B"（高度不小于10mm,厚度

不小于1.5mm),以驗證是否存在背散射線。如果標識"B"在射線底片或數(shù)字圖像中顯示的影像較亮，

表明背散射線屏蔽不符合要求；若標識"B"影像較暗或不可見，表明散射線屏蔽良好。

對于數(shù)字射線照相檢測，為防止探測器背散射線的影響，必要時，應(yīng)在探測器后面貼放至少1mm

厚的鉛板或至少1.5mm厚的錫板。針對某些特殊結(jié)構(gòu)檢測，屏蔽鉛板的厚度可能需要達到6mm。為減少

X射線與鉛作用產(chǎn)生的熒光輻射影響，應(yīng)在屏蔽鉛板和探測器之間放置一個鋼屏或銅屏（厚度約0.5mm）。

當采用超過80keV的X射線檢測時，在探測器后面不應(yīng)放置屏蔽鉛板。

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射線源—探測器距離

6.6.1雙壁單影

按雙壁單影（DWSI）射線照相檢測透照布置圖確定射線源到探測器距離，見圖1。

對于基本技術(shù)DWA級，射線源到探測器距離SDD，單位為毫米（mm）應(yīng)符合下列要求：

db

SDD·······································································(1)

0.6mm

式中：

b——管道射線源側(cè)表面至探測器距離的數(shù)值，單位為毫米（mm）；

d——射線源尺寸的數(shù)值，單位為毫米（mm）。

對于優(yōu)化技術(shù)DWB級，射線源到探測器距離SDD，單位為毫米（mm）應(yīng)符合下列要求：

db

SDD·······································································(2)

0.3mm

公式（1）和公式（2）給出的幾何不清晰度值分別為0.6mm和0.3mm，投影為靠近探測器管壁

的射線源側(cè)面對應(yīng)面上。由于投影放大的原因，在探測器得到的影像上測量得到的幾何不清晰度值要比

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實際值稍大一些。

注：管外徑通常意味著實際得到的射線源到探測器的距離大于公式（1）和公式（2）給出值。

6.6.2雙壁雙影

按雙壁雙影（DWDI）射線照相檢測透照布置圖確定射線源到探測器距離，見圖3a）和圖3b）。檢測

面是靠近探測器的管壁射線源側(cè)的平面。

對于基本技術(shù)DWA級，射線源到探測器距離SDD應(yīng)符合公式（1）要求。對于優(yōu)化技術(shù)DWB級，射線源

到探測器距離SDD應(yīng)符合公式（2）要求。

注：雙壁單影和雙壁雙影（DWSI和DWDI）測量尺寸b的方法不同，這兩種技術(shù)分別見圖1、圖2和圖3。

如果雙壁雙影成像與切向射線照相檢測技術(shù)相接合，則射線源到探測器中心的距離宜考慮按ISO

20679-1標準給出的切向射線照相檢測技術(shù)確定的值。應(yīng)取兩個值中的較大值。

軸向檢測范圍和搭接

每幅圖像或每張底片的最大軸向檢測范圍以被檢區(qū)域邊緣厚度增長20%確定，見圖5。

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標引序號說明：

1——探測器。

圖5相對單個射線源透照位置，在探測器上允許的最大軸向評定長度Ld和射線源側(cè)管道最大允許軸向

透照長度Lp

在膠片或數(shù)字探測器上一次透照檢測評定區(qū)域的軸向總長度Ld宜按公式（3）確定：

Ld1.32SDD······································································(3)

在射線源側(cè)管道表面上一次透照檢測評定區(qū)域的軸向總長度Lp宜按公式（4）確定：

·········································································(4)

Lp1.32f

對于DWSI，應(yīng)測定f，見圖5。

管道射線照相檢測的軸向一次透照長度宜按公式（4）確定。如果伽瑪射線源準直器或X射線準直窗

口小于±35°，則Lp和Ld需隨著錐形射線束的最大輻射角變小而相應(yīng)減少。

為確保構(gòu)件任何部位得以有效檢測，任何分區(qū)透照的底片或數(shù)字圖像之間應(yīng)有充分的搭接區(qū)域。除

非另有規(guī)定，在射線源側(cè)的透照檢測區(qū)域軸向兩端任一側(cè)的搭接長度應(yīng)不小于25mm。

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周向透照次數(shù)

6.8.1概述

當使用雙壁雙影（DWDI）和雙壁單影（DWSI）射線照相檢測技術(shù)時，通過對管道沿圓周方向進行多

次透照以實現(xiàn)管道整個圓周全覆蓋檢測。

6.8.2雙壁單影技術(shù)（DWSI）

由于被檢測區(qū)域的兩邊緣是傾斜透照，因此雙壁單影（DWSI）射線照相的周向曝光次數(shù)是基于

透照厚度20%的增量確定。具體曝光次數(shù)通過射線源到管道中心距離（SPD）、管道外徑De和管壁厚t

計算確定。

所需曝光次數(shù)是基于兩個變量—t/De和De/SPD的計算見圖6。此圖適用于探測器偏移帶保溫層的管道

檢測。

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圖6沿管道圓周方向進行雙壁單影（DWSI）射線照相檢測所需的最少曝光次數(shù)，t/De和De/SPD比的

比值，其中SPD是射線源到管道軸線（中心線）之間的距離

對于雙壁單影透照檢測（DWSI）宜按以下公式，確定曝光之間的圓周角Δθ（單位為度）：

360

=·········································································(5)

N

式中：

N——曝光次數(shù)，見圖6。

經(jīng)合同各方商定，也可使用其他值。

6.8.3雙壁雙影技術(shù)（DWDI）

為了完整檢測管道的全部周長，對于雙壁雙影技術(shù)（DWDI）至少需要2次曝光。圓周角至少為45°(為

了獲得最佳結(jié)果，角度為90°)。如果只需要檢查圓周的一小部分，一次曝光就能滿足檢測要求。

經(jīng)合同各方商定，也可采用其他圓周角。

數(shù)字射線照相檢測設(shè)備的選擇

6.9.1概述

探測器基本空間分辨率，對于DWA級不應(yīng)大于200μm，對于DWB級不應(yīng)超過130μm，且不應(yīng)超過管道公

稱壁厚t的5%。經(jīng)合同各方商定能采用不同的值。

6.9.2CR檢測系統(tǒng)

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CR掃描儀的像素尺寸不應(yīng)大于100μm。對于給定的射線照相曝光，增加CR掃描儀增益或靈敏度可增

加圖像灰度級，但對圖像質(zhì)量的影響很小。圖像質(zhì)量用歸一化信噪比（SNRN）來評估。應(yīng)通過增加曝光

量來提高歸一化信噪比（SNRN），而不是增加掃描儀增益。

對于輻射劑量與灰度級別之間具有線性響應(yīng)關(guān)系的CR掃描儀，使用低的增益/靈敏度設(shè)置將降低圖

像飽和的可能性。對于較高的掃描增益，特別是在射線光子強的區(qū)域能產(chǎn)生圖像飽和，對于相對較短的

曝光時間，不能提供足夠高的圖像歸一化信噪比（SNRN）值滿足7.1中圖像質(zhì)量要求。

6.9.3數(shù)字陣列探測器系統(tǒng)（DDA系統(tǒng)）

數(shù)字陣列探測器的像素尺寸對于DWA級不應(yīng)大于200μm，對于DWB級不應(yīng)大于130μm，經(jīng)合同各方商定

能使用不同的值。

7射線底片/數(shù)字圖像的靈敏度、質(zhì)量和評定

最低像質(zhì)值

7.1.1絲型像質(zhì)計

采用Ir192和Se75射線源對選定厚度范圍鋼管進行射線照相檢測時，像質(zhì)值要求見附錄A。其它厚

度范圍、射線源、管道材料和高吸收保溫熱層可按GB/T23901.3的A級或GB/T23901.4的要求確定。

對于雙壁雙影（DWDI）檢測技術(shù)，如果像質(zhì)計不能放置于射線源側(cè)工件表面（例如保溫層的存在），

像質(zhì)計應(yīng)放置于探測器側(cè)，雙壁單影（DWSI）檢測的最低像質(zhì)值要求應(yīng)符合表A.2和A.4的要求。

宜根據(jù)被檢材料種類、材料厚度、所用的射線類型、濾光板、增感屏和使用的探測器確定需采用的

射線照相檢測技術(shù)。

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7.1.2雙絲型像質(zhì)計（數(shù)字射線照相）

應(yīng)使用雙絲型像質(zhì)計（見ISO19232-5）根據(jù)附錄C的參考圖像（見7.1.3）確定數(shù)字陣列探測器的

基本空間分辨率。

7.1.3最小歸一化信噪比（數(shù)字射線照相）

在欠佳條件下（例如曝光時間短）進行透照會導(dǎo)的數(shù)字圖像產(chǎn)生“噪聲”。過度的圖像噪聲將阻礙

達到能接受檢測靈敏度的實現(xiàn)。

為確保CR或DDA系統(tǒng)的數(shù)字圖像具有可接受的噪聲水平，應(yīng)按照EN14784-1確定的適當軟件和方法

測量歸一化信噪比SNRN，測量歸一化信噪比的區(qū)域至少55像素（垂直）×20像素（水平）。應(yīng)至少在4

個不同位置測量SNRN值，并取其平均值。

按照ISO19232-5中確定的方法或用等效方法（見附錄C），用雙絲型像質(zhì)計測量圖像系統(tǒng)的基本空

間分辨率SRb，再由SRb導(dǎo)出SNRN值。如果不能每次透照都使用雙絲型像質(zhì)計，那么可預(yù)先確定同一系統(tǒng)

的圖像基本空間分辨率。同一系統(tǒng)圖像必須使用完全相同的圖像系統(tǒng)設(shè)置（對于一個CR系統(tǒng)，這些設(shè)置

包括相同的CR掃描儀、成像板、像素尺寸和射線源）。

在管道中心線上獲得的平均歸一化信噪比（SNRN）值針對基本技術(shù)DWA級至少應(yīng)為50，針對優(yōu)化技

術(shù)DWB級至少為80。歸一化信噪比（SNRN）應(yīng)在管道中心線均勻厚度和灰度的區(qū)域內(nèi)測量。

對于某些包含大量不規(guī)則腐蝕或壁厚變化的其它形式的工件，沒有均勻區(qū)域適合進行歸一化信噪比

（SNRN）測量。在這些情況下，應(yīng)測量管道中心線處的平均圖像灰度。這個平均灰度值應(yīng)超過校準檢測

時發(fā)現(xiàn)的灰度值，該技術(shù)允許在用相同增益/靈敏度和測試圖像所用的其它用戶設(shè)置的同一探測器推導(dǎo)

出相當于要求的歸一化信噪比（SNRN）值的最小灰度值(DW