C61300-2-46:2011(IEC61300-2-46:2006)序文 1 12引用規(guī)格 13概要 24裝置 2 25.1前処理 25.2初期試験及び初期測定 25.3試験 25.4後処理 25.5最終試験及び最終測定 36試験の厳しさの程度 37個(gè)別規(guī)格に規(guī)定する事項(xiàng) 3C61300-2-46:2011(IEC61300-2-46:2006)この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第12條第1項(xiàng)の規(guī)定に基づき,財(cái)団法人光産業(yè)技術(shù)振興協(xié)會(OITDA)及び財(cái)団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。この規(guī)格は,著作権法で保護(hù)対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願(yuàn)公開後の特許出願(yuàn)又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會は,このような特許権,出願(yuàn)公開後の特許出願(yuàn)及び実用新案権に関わる確認(rèn)について,責(zé)任はもたない。JISC61300の規(guī)格群には,次に示す部舢成がある。JISC61300-1第1部:通則JISC61300-2-2第2-2部:繰返しかん合試験JISC61300-2-12第2-12部:落下衝撃試験JISC61300-2-14第2-14部:光パワ一損傷のしきい値試験JISC61300-2-17第2-17部:低溫試験JISC61300-2-18第2-18部:高溫試験JISC61300-2-19第2-19部:高溫高濕試験(定常狀態(tài))JISC61300-2-45第2-45部:沒水試験JISC61300-2-46第2-46部:濕熱サイクル試験JISC61300-2-48第2-48部:溫濕度サイクル試験JISC61300-3-3第3-3部:揮入損失及び反射減衰量変化のモ二タ方法JISC61300-3-4第3-4部:損失測定JISC61300-3-6第3-6部:反射減衰量測定JISC61300-3-26第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定JISC61300-3-28第3-28部:過渡損失測定JISC61300-3-30第3-30部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測定JISC61300-3-31第3-31部:光ファイバ光源の結(jié)合パワー比測定日本工業(yè)規(guī)格JIS(IEC61300-2-46:2006)光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順ー第2-46部:濕熱サイクル試験Part2-46:Tests—Dampheat,cyclic序文この規(guī)格は,2006年に第1版として発行されたIEC61300-2-46を基に,技術(shù)的內(nèi)容及び対応國際規(guī)格のなお,この規(guī)格で點(diǎn)線の下線を施してある?yún)⒖际马?xiàng)は,対応國際規(guī)格にはない事項(xiàng)である。この規(guī)格は,光ファイバ接続デバイス及び光受動部品の動作時(shí),保管時(shí)及び輸送時(shí)に起こる可能性がある,高溫度の下で溫度が変化する環(huán)境狀態(tài)に対する供武品の耐久性を測定する武験手瓜について規(guī)定する。この試験は,周期的な溫度変化と結(jié)びついて,通常は供試品表面に結(jié)露が生じるような,高濕條件下の光部品の適性を判定することを意図したものである。水分の吸収は,膨張による機(jī)能の破壊及び物理的な強(qiáng)生じる。この試験は,熱帯環(huán)境試験を意図したものではないが,絶緑體材料又は被覆材料の水分吸収を注記1関連する基本試験及び測定手順の通則は,JISC61300-1に規(guī)定する。注記2この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC61300-2-46:2006,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-46:Tests—Dampheat,cyclic(IDT)なお,対応の程度を表す記號“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”2引用規(guī)格引用規(guī)格は,その最新版(追補(bǔ)を含む。)を適用する。JISC60068-2-30環(huán)境試験方法(電気·電子)溫濕度サイクル(12+12時(shí)間サイクル)試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-30,Environmentaltesting—Part2-30:Tests—TestDb:Dampheat,cyclic(12h+12hcycle)(IDT)2C61300-2-46:2011(IEC61300-2-46:2006)JISC61300-3-3光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第3-3部:插入損失及び反射減衰量変化のモ二タ方法注記対応國際規(guī)格:IEC61300-3-3,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-3:Examinationsandmeasurements—Activemonitoringofchangesinattenuationandreturnloss(IDT)3概要この試験方法は,JISC60068-2-30の試験Db,方法1を用いる。供試品を試験槽に入れ,個(gè)別規(guī)格に規(guī)定する溫度及び相対濕度を維持した濕熱環(huán)境下に規(guī)定する期間,さらす。4裝置4.1試験槽裝置は,JISC60068-2-30の試験Dbに規(guī)定する環(huán)境試験槽で構(gòu)成する。試験槽は,その中に供試品を設(shè)置して,試験中の測定ができるとともに,規(guī)定の許容差で規(guī)定の溫度及び濕度に維持できるものとする。一定の溫況度條件を維持するため,強(qiáng)制空気術(shù)環(huán)を川いてもよい。武験柳及びその附瓜品は,供試品に水滴が落下しないように構(gòu)成し,配置する。規(guī)定の濕度を得るため,蒸留水,脫塩した水又は脫イオン処理した水を用いる。試験裝置に由來する供試品へのさび又は腐食汚染物質(zhì)の付有があってはならない。4.2その他裝置個(gè)別規(guī)格に規(guī)定する試験及び測定を行うため,必要な裝置を用いる。5.1前処理製造業(yè)者の指示か,又は個(gè)別規(guī)格に規(guī)定する供試品を川意する。供試品は,光源及び検出器に接続する供試品を2時(shí)間以上室溫に放置する。製造業(yè)者の指示に従い,供試品のコネクタなどの光學(xué)結(jié)合部を清掃する。5.2初期試及び初期測定個(gè)別規(guī)格に規(guī)定がある場合は,その規(guī)定に従って初期試験及び測定を行う。5.3.1試験槽及び供試品を室溫で安定にする。供試品に接続コード類が附屬する場合には,それらも含めて,供試品を,通常使用時(shí)の配置狀態(tài)にして試験槽內(nèi)に置く。5.3.2試験槽內(nèi)の溫度及び濕度を規(guī)定の厳しさに設(shè)定する。溫度の上昇速度は,5分間以內(nèi)の平均値で1℃/minを超えてはならない。いかなる場合においても,溫度は,図1に示した範(fàn)囲內(nèi)とする。5.3.3全ての試験終了後は,溫度が徐々に下がり室溫に達(dá)するまで,試験槽內(nèi)に供試品を放置する。溫度の下降速度は,5分間以內(nèi)の平均値で1℃/minを超えてはならない。いかなる場合においても,溫度は,5.3.4試験中に光學(xué)特性を測定する必要がある場合,測定間隔は,最大で1時(shí)間とする。測定時(shí)に,試験槽から供試品を移動してはならない。JISC61300-3-3の規(guī)定に従って,測定を行う。供試品を室溫で2時(shí)間放置する。3C61300-2-46:2011(IEC61300-2-46:2006)5.5最終試験及び最終測定個(gè)別規(guī)格に規(guī)定する最終試験及び測定を行う。6試験の厳しさの程度厳しさの推奬値を,次に示す。一高溫：+55℃±2℃一相対濕度:≥90%一1サイクルの所要時(shí)間:24hーサイクル數(shù):6上限溫度+2℃+55上限溫度-2℃+27℃+25th24h相對濕度%周用溫度C+23℃注記對応國際規(guī)格EC61300-2-46運(yùn)記戴のFigure1は誤2點(diǎn)る上考元5れるの飛，修正Lた。図1一試験Dbー試験サイクル7個(gè)別規(guī)格に規(guī)定する事項(xiàng)次の事項(xiàng)は,それぞれの事項(xiàng)の必要がある場合,個(gè)別規(guī)格に規(guī)定する。一供試品の光學(xué)的機(jī)能の狀態(tài)(動作中又は停止中)4C61300-2-46:2011(IEC61300-2-46:2006)一供試品の光コネクタ接続狀態(tài)(接続又は非接続)一初期試験項(xiàng)目及び初期測定項(xiàng)目並びに初期性能要求一試験中の試験項(xiàng)目及び試験中の測定項(xiàng)目並びに試験中の性能要求一最