《2025年無損檢測員(技師)職業(yè)技能鑒定歷年練習(xí)題解析試卷(含答案)》一、單項選擇題（每題1分，共30分。每題只有一個正確答案，請將正確選項的字母填入括號內(nèi)）1.在射線照相中，若底片黑度從2.0提高到3.0，則射線透照靈敏度將（）。A.顯著提高B.顯著降低C.基本不變D.先升后降答案：C2.采用單晶斜探頭在鋼中激發(fā)45°橫波，若換用有機玻璃楔塊，則折射角將（）。A.增大到約58°B.減小到約36°C.保持45°不變D.變?yōu)榭v波折射角答案：B3.對同一缺陷，當(dāng)超聲頻率從2MHz提高到5MHz時，其回波幅度變化趨勢為（）。A.線性增大B.線性減小C.先增后減D.指數(shù)衰減答案：C4.在滲透檢測中，顯像劑層厚度一般控制在（）。A.1～3μmB.5～10μmC.15～25μmD.30～50μm答案：B5.磁粉檢測時，若工件表面存在非磁性涂層，其最大允許厚度為（）。A.25μmB.50μmC.75μmD.100μm答案：B6.采用Ir192源對30mm鋼焊縫進行中心透照，若曝光時間為4min，焦距600mm，則若焦距縮短到400mm，新曝光時間應(yīng)為（）。A.1.8minB.2.3minC.2.8minD.3.2min答案：A7.在TOFD檢測中，若兩探頭中心距2s=80mm，工件厚40mm，則盲區(qū)深度約為（）。A.1mmB.3mmC.5mmD.7mm答案：C8.射線實時成像系統(tǒng)空間分辨力測試常用的線對卡材質(zhì)為（）。A.鋁B.銅C.鎢D.鉑答案：C9.超聲相控陣掃描中，若陣元間距0.5mm，頻率5MHz，則最大無柵瓣偏轉(zhuǎn)角約為（）。A.15°B.25°C.35°D.45°答案：B10.在滲透檢測水洗型工藝中，水溫超過多少時易造成過洗（）。A.20℃B.30℃C.40℃D.50℃答案：C11.磁化規(guī)范中，Φ50mm、長200mm的軸類零件采用線圈法，其有效磁化區(qū)為距線圈端部（）。A.50mmB.100mmC.150mmD.200mm答案：B12.當(dāng)射線能量高于多少時，底片對比度對厚度差的響應(yīng)趨于飽和（）。A.200kVB.400kVC.1MeVD.8MeV答案：D13.超聲檢測中，若缺陷回波位于5格，底波降至1格，則該缺陷的當(dāng)量直徑可用（）計算。A.AVG法B.6dB法C.20dB法D.端點衍射法答案：A14.在射線照相中，使用鉛增感屏的主要目的是（）。A.吸收散射線B.提高主因?qū)Ρ榷菴.降低曝光時間D.提高清晰度答案：C15.滲透檢測中，熒光滲透劑的亮度與下列哪項無關(guān)（）。A.紫外輻照度B.染料濃度C.顯像劑顆粒度D.工件表面粗糙度答案：C16.磁粉檢測退磁后，大型工件剩磁應(yīng)低于（）。A.0.3mTB.0.5mTC.0.7mTD.1.0mT答案：A17.采用7.5MHz、Φ6mm探頭測得某缺陷回波高度比Φ3mm平底孔高12dB，則該缺陷當(dāng)量為（）。A.Φ1mmB.Φ2mmC.Φ3mmD.Φ4mm答案：D18.在CR（計算機射線照相）系統(tǒng)中，PSL現(xiàn)象發(fā)生在（）。A.成像板曝光時B.激光掃描時C.靜電吸附時D.顯影時答案：B19.超聲檢測中，若聲程差Δs=2mm，頻率2.5MHz，則干涉條紋間距約為（）。A.0.6mmB.1.2mmC.2.4mmD.4.8mm答案：B20.射線照相底片黑度測量時，黑度計校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)黑度片至少應(yīng)包含（）點。A.1B.2C.3D.5答案：C21.在滲透檢測中，乳化時間不足最易導(dǎo)致（）。A.虛假顯示B.過清洗C.背景過濃D.缺陷漏檢答案：D22.磁粉檢測交流電磁軛提升力應(yīng)不低于（）。A.20NB.30NC.45ND.118N答案：C23.采用雙壁單影法透照Φ219×8mm管道，若像質(zhì)計放在源側(cè)，應(yīng)識別絲號（）為合格。A.10B.11C.12D.13答案：B24.超聲TOFD檢測中，若PCS=120mm，板厚30mm，則直通波與底波時間間隔約為（）。A.8μsB.12μsC.16μsD.20μs答案：B25.在DR系統(tǒng)中，探測器像素尺寸為100μm，則理論空間分辨力為（）。A.2lp/mmB.3lp/mmC.5lp/mmD.10lp/mm答案：C26.滲透檢測中，熒光滲透劑的黑光波長范圍為（）。A.320～400nmB.400～500nmC.500～600nmD.600～700nm答案：A27.磁粉檢測濕法磁懸液中，熒光磁粉濃度一般控制在（）。A.0.1～0.3mL/100mLB.0.5～1.0mL/100mLC.1.2～2.0mL/100mLD.2.5～3.5mL/100mL答案：B28.射線照相中，若幾何不清晰度Ug=0.2mm，焦點尺寸d=2mm，則最小焦距F為（）。A.200mmB.400mmC.600mmD.800mm答案：C29.超聲檢測中，若材料聲速5900m/s，探頭K=2，則折射角為（）。A.45°B.56°C.63°D.70°答案：C30.在滲透檢測中，下列哪項不是顯像劑的功能（）。A.吸附滲透劑B.提供背景反差C.加速滲透D.擴大缺陷顯示答案：C二、多項選擇題（每題2分，共20分。每題有兩個或兩個以上正確答案，多選、少選、錯選均不得分）31.下列因素中，影響射線照相顆粒度的有（）。A.膠片類型B.射線能量C.顯影溫度D.增感屏厚度答案：A、B、C32.超聲相控陣檢測的優(yōu)點包括（）。A.電子掃查無需移動探頭B.可動態(tài)聚焦C.可獲取B掃、D掃圖像D.對粗晶材料不敏感答案：A、B、C33.磁粉檢測中，下列哪些情況會形成非相關(guān)顯示（）。A.鍵槽B.焊縫余高C.刀痕D.材料折疊答案：A、B、C34.滲透檢測中，可能導(dǎo)致虛假顯示的原因有（）。A.顯像劑污染B.工件表面銹蝕C.清洗劑揮發(fā)過快D.乳化時間過長答案：A、B、C35.在射線數(shù)字成像中，影響圖像信噪比SNR的因素有（）。A.曝光量B.探測器增益C.散射比D.幾何放大倍數(shù)答案：A、B、C、D36.超聲TOFD檢測的局限性包括（）。A.存在上表面盲區(qū)B.對橫向缺陷不敏感C.需要高精度掃查裝置D.不能測缺陷深度答案：A、B、C37.下列關(guān)于Ir192半衰期的說法正確的有（）。A.74天B.5.3年C.能量主峰0.31MeVD.適合厚50～100mm鋼答案：A、C、D38.磁粉檢測干法與濕法相比，其特點有（）。A.適合粗糙表面B.檢測靈敏度高C.適合高空作業(yè)D.對細微裂紋更敏感答案：A、C39.射線照相中，使用濾板的目的有（）。A.降低散射B.提高對比度C.吸收低能射線D.縮短曝光時間答案：A、C40.超聲檢測中，下列哪些方法可用于缺陷測高（）。A.端點衍射法B.6dB法C.20dB法D.TOFD答案：A、B、C、D三、判斷題（每題1分，共10分。正確打“√”，錯誤打“×”）41.射線能量越高，主因?qū)Ρ榷纫欢ㄔ酱?。（×?2.超聲檢測中，K值越大，一次波聲程越短。（√）43.滲透檢測后，工件可在200℃下直接烘干。（×）44.磁粉檢測剩磁法適合檢測近表面缺陷。（√）45.在CR系統(tǒng)中，成像板可無限次使用。（×）46.超聲相控陣探頭頻率越高，偏轉(zhuǎn)能力越強。（×）47.射線實時成像的對比度靈敏度與幀平均次數(shù)無關(guān)。（×）48.磁懸液污染會使背景熒光增強。（√）49.TOFD檢測中，缺陷高度越大，衍射信號時差越大。（√）50.滲透檢測中，熒光亮度與紫外燈距離平方成反比。（√）四、計算題（每題10分，共20分。要求寫出公式、代入數(shù)據(jù)、計算結(jié)果及單位）51.用Ir192對40mm鋼焊縫進行雙壁單影透照，已知焦點尺寸2mm，要求Ug≤0.3mm，求最小焦距F。解：Ug=d·t/(Ft)0.3=2×40/(F40)F40=80/0.3=266.7F=306.7mm≈307mm答案：最小焦距307mm52.超聲檢測中，用2.5MHz、Φ20mm直探頭測得某缺陷回波比Φ2mm平底孔高24dB，求該缺陷當(dāng)量直徑。解：ΔdB=20lg(Df/Dref)24=20lg(Df/2)lg(Df/2)=1.2Df/2=15.85Df=31.7mm≈32mm答案：缺陷當(dāng)量直徑32mm五、綜合應(yīng)用題（每題20分，共20分）53.某石化公司一臺Φ800mm×18mm反應(yīng)器環(huán)焊縫需全面檢測，材料16MnDR，運行溫度30℃，要求按NB/T470132015AB級檢測?，F(xiàn)有設(shè)備：X射線機250kV/5mA、Ir192源、超聲TOFD、相控陣、磁粉、滲透。請制定最優(yōu)綜合檢測工藝，內(nèi)容包括：（1）檢測方法選擇與依據(jù)；（2）射線透照參數(shù)（焦距、曝光量、像質(zhì)計、膠片系統(tǒng)類別、增感屏）；（3）超聲補充檢測部位及探頭參數(shù)；（4）表面檢測方法及溫度補償措施；（5）缺陷驗收級別及記錄要求。答案：（1）射線+TOFD+磁粉組合：射線對體積缺陷靈敏，TOFD測高精確，磁粉查表面裂紋；低溫環(huán)境禁用滲透。（2）射線：X射線機，焦距700mm，曝光量1