2025年無(wú)損檢測(cè)員(中級(jí))職業(yè)技能鑒定模擬試題含答案一、單項(xiàng)選擇題（每題1分，共30分。每題只有一個(gè)正確答案，請(qǐng)將正確選項(xiàng)的字母填在括號(hào)內(nèi)）1.在超聲檢測(cè)中，當(dāng)探頭晶片直徑不變而頻率提高時(shí)，其近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度將（）。A.縮短??B.不變??C.延長(zhǎng)??D.先縮短后延長(zhǎng)答案：C2.射線照相底片上出現(xiàn)“樹(shù)枝狀”黑影，最可能的原因是（）。A.膠片受潮??B.顯影過(guò)度??C.靜電放電??D.增感屏劃傷答案：C3.磁粉檢測(cè)中，采用交流電磁化時(shí)，其檢測(cè)靈敏度對(duì)下列哪類缺陷最高（）。A.表面開(kāi)口裂紋??B.近表面夾雜??C.內(nèi)部縮孔??D.深層未熔合答案：A4.滲透檢測(cè)時(shí)，顯像劑層厚度一般應(yīng)控制在（）。A.0.1～0.3mm??B.0.5～1.0mm??C.1.0～2.0mm??D.2.0～3.0mm答案：A5.在TOFD檢測(cè)中，當(dāng)兩探頭中心距增大時(shí)，直通波到達(dá)時(shí)間將（）。A.提前??B.延后??C.不變??D.先延后提前答案：B6.下列哪項(xiàng)不是射線防護(hù)三要素之一（）。A.時(shí)間??B.距離??C.屏蔽??D.電壓答案：D7.采用A型超聲脈沖反射法檢測(cè)鍛件，若底波降低量BG為8dB，則缺陷當(dāng)量相當(dāng)于（）。A.Φ2mm平底孔??B.Φ3mm平底孔??C.Φ4mm平底孔??D.Φ5mm平底孔答案：B8.磁懸液中磁粉濃度測(cè)定采用（）。A.比重計(jì)??B.梨形沉淀管??C.粘度計(jì)??D.濁度計(jì)答案：B9.在滲透檢測(cè)中，乳化時(shí)間不足最容易導(dǎo)致（）。A.過(guò)度清洗??B.背景過(guò)濃??C.漏檢淺開(kāi)口缺陷??D.虛假顯示答案：B10.用Ir192射線源透照30mm鋼件，曝光曲線給出曝光量15Ci·min，若源活度降至7.5Ci，則所需曝光時(shí)間為（）。A.1min??B.2min??C.4min??D.8min答案：C11.超聲斜探頭K值標(biāo)定用CSKⅠA試塊上的（）。A.R50圓弧??B.R100圓弧??C.Φ1.5橫孔??D.Φ50臺(tái)階孔答案：B12.磁粉檢測(cè)中，白光照度計(jì)用于測(cè)量（）。A.紫外輻照度??B.可見(jiàn)光照度??C.工件表面溫度??D.磁感應(yīng)強(qiáng)度答案：B13.在射線照相中，幾何不清晰度Ug與焦點(diǎn)尺寸d、工件厚度t、焦距F的關(guān)系為（）。A.Ug=d·t/F??B.Ug=d·F/t??C.Ug=F·t/d??D.Ug=d·t·F答案：A14.滲透檢測(cè)中，熒光滲透劑的亮度用（）表示。A.勒克斯??B.坎德拉??C.尼特??D.坎德拉每平方米答案：D15.超聲檢測(cè)中，當(dāng)縱波斜入射到鋼/空氣界面，第一臨界角約為（）。A.15°??B.27°??C.33°??D.57°答案：B16.采用中心導(dǎo)體法磁化鋼管內(nèi)壁，若通電磁化電流為I，則內(nèi)壁表面磁場(chǎng)強(qiáng)度H與（）成正比。A.I/r??B.I/r2??C.I·r??D.I·r2答案：A17.射線底片黑度D=2時(shí)，透光率為（）。A.1%??B.10%??C.50%??D.99%答案：A18.在超聲檢測(cè)中，若缺陷回波高度比基準(zhǔn)波高高出12dB，則其回波幅度是基準(zhǔn)的（）倍。A.2??B.4??C.8??D.16答案：D19.磁粉檢測(cè)后，如需進(jìn)行退磁，則退磁效果可用（）測(cè)定。A.高斯計(jì)??B.磁強(qiáng)計(jì)??C.剩磁儀??D.特斯拉計(jì)答案：C20.滲透檢測(cè)中，親水性乳化劑的作用主要是（）。A.溶解滲透劑??B.乳化未清洗滲透劑??C.增強(qiáng)熒光??D.降低表面張力答案：B21.在射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)中，圖像增強(qiáng)器輸入屏材料通常為（）。A.NaI(Tl)??B.CsI(Tl)??C.ZnS(Ag)??D.BGO答案：B22.超聲檢測(cè)中，若材料衰減系數(shù)為0.02dB/mm，則100mm聲程的衰減損失為（）。A.1dB??B.2dB??C.4dB??D.8dB答案：B23.磁粉檢測(cè)中，采用濕法連續(xù)法時(shí)，磁懸液應(yīng)在（）施加。A.磁化前??B.磁化同時(shí)??C.磁化后??D.任意時(shí)刻答案：B24.射線照相中，采用雙壁單影法透照外徑Φ219mm、壁厚8mm鋼管環(huán)焊縫，有效評(píng)定長(zhǎng)度計(jì)算時(shí)，搭接長(zhǎng)度一般?。ǎ?。A.5mm??B.10mm??C.15mm??D.25mm答案：C25.滲透檢測(cè)時(shí)，烘干溫度過(guò)高會(huì)導(dǎo)致（）。A.滲透劑揮發(fā)??B.顯像劑失效??C.工件氧化??D.乳化劑分解答案：A26.超聲TOFD檢測(cè)中，缺陷深度d與直通波衍射波時(shí)間差Δt的關(guān)系為（）。A.d=v·Δt/2??B.d=v·Δt??C.d=2v·Δt??D.d=v·Δt2答案：A27.磁粉檢測(cè)中，若采用直流電磁化，其檢測(cè)深度一般可達(dá)（）。A.0.5mm??B.1mm??C.2mm??D.5mm答案：C28.射線照相中，采用鉛箔增感屏的主要目的是（）。A.吸收散射線??B.增強(qiáng)主射線??C.降低管電壓??D.提高膠片對(duì)比度答案：B29.超聲檢測(cè)中，當(dāng)探頭與工件之間加入耦合劑，其聲阻抗應(yīng)接近（）。A.探頭??B.空氣??C.工件??D.任意值答案：C30.滲透檢測(cè)中，熒光滲透劑的黑光輻照度標(biāo)準(zhǔn)要求不低于（）。A.100μW/cm2??B.500μW/cm2??C.1000μW/cm2??D.2000μW/cm2答案：C二、判斷題（每題1分，共20分。正確打“√”，錯(cuò)誤打“×”）31.超聲檢測(cè)中，橫波不能在液體中傳播。（）答案：√32.射線照相中，增大焦距可以減小幾何不清晰度。（）答案：√33.磁粉檢測(cè)時(shí)，磁化方向應(yīng)與缺陷走向平行以獲得最高靈敏度。（）答案：×34.滲透檢測(cè)后，工件表面出現(xiàn)的虛假顯示可以用酒精擦拭去除。（）答案：√35.在TOFD檢測(cè)中，缺陷高度越大，衍射波時(shí)間差越小。（）答案：×36.射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)的空間分辨率與像素尺寸成正比。（）答案：×37.超聲檢測(cè)中，衰減系數(shù)與頻率無(wú)關(guān)。（）答案：×38.磁粉檢測(cè)中，濕法比干法更適合檢測(cè)表面微小裂紋。（）答案：√39.滲透檢測(cè)時(shí)，環(huán)境溫度低于5℃時(shí)應(yīng)延長(zhǎng)滲透時(shí)間。（）答案：√40.射線照相中，膠片梯度越大，對(duì)比度越高。（）答案：√41.超聲檢測(cè)中，K1斜探頭在鋼中折射角為45°。（）答案：√42.磁粉檢測(cè)后，若剩磁大于0.3mT（3Gs），必須進(jìn)行退磁。（）答案：√43.滲透檢測(cè)中，親油性乳化劑可直接用水沖洗。（）答案：×44.射線源活度減半，曝光時(shí)間應(yīng)加倍以保持相同黑度。（）答案：√45.超聲檢測(cè)中，當(dāng)量法可精確給出缺陷實(shí)際尺寸。（）答案：×46.磁粉檢測(cè)中，熒光磁粉需在暗室紫外燈下觀察。（）答案：√47.射線照相中，散射線會(huì)使底片灰霧度增加。（）答案：√48.超聲檢測(cè)中，多次反射法適用于薄板檢測(cè)。（）答案：√49.滲透檢測(cè)時(shí)，顯像時(shí)間越長(zhǎng)，缺陷顯示越清晰。（）答案：×50.射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)的圖像對(duì)比度與動(dòng)態(tài)范圍無(wú)關(guān)。（）答案：×三、填空題（每空1分，共20分）51.超聲檢測(cè)中，聲速c、頻率f與波長(zhǎng)λ的關(guān)系為_(kāi)_______。答案：c=fλ52.射線照相中，曝光量定義為管電流與________的乘積。答案：曝光時(shí)間53.磁粉檢測(cè)中，周向磁化電流I（A）與工件直徑D（mm）的經(jīng)驗(yàn)公式為I=________。答案：12～32D54.滲透檢測(cè)的基本步驟依次是預(yù)清洗、滲透、________、顯像、觀察。答案：乳化與清洗55.TOFD檢測(cè)中，用于計(jì)算缺陷高度的關(guān)鍵參數(shù)是________波時(shí)間差。答案：衍射56.超聲檢測(cè)中，當(dāng)量法常用試塊為_(kāi)_______試塊。答案：AVG（或DGS）57.射線源Se75的平均能量為_(kāi)_______MeV。答案：0.20658.磁粉檢測(cè)中，紫外波長(zhǎng)范圍為_(kāi)_______nm。答案：320～40059.滲透檢測(cè)中，熒光亮度單位是________。答案：cd/m260.射線照相中，黑度計(jì)測(cè)量孔徑一般不大于________mm。答案：161.超聲檢測(cè)中，K2探頭在鋼中折射角約為_(kāi)_______°。答案：63.462.磁粉檢測(cè)后，剩磁測(cè)量?jī)x器稱為_(kāi)_______。答案：剩磁儀63.射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)MTF曲線中，極限分辨率對(duì)應(yīng)MTF=________。答案：0.164.滲透檢測(cè)時(shí)，親水性乳化劑濃度常用________%水溶液。答案：5～2065.超聲檢測(cè)中，材料衰減系數(shù)單位是________。答案：dB/mm66.射線照相中，采用雙壁雙影法時(shí)，偏移角度一般為_(kāi)_______°。答案：10～1567.磁粉檢測(cè)中，濕法磁懸液濃度測(cè)定需靜置________min。答案：30～3568.滲透檢測(cè)中，顯像劑干燥時(shí)間一般控制在________min。答案：10～3069.TOFD檢測(cè)中，探頭中心距2S與厚度t關(guān)系近似為S=________t。答案：270.超聲檢測(cè)中，縱波在鋼中的聲速約為_(kāi)_______m/s。答案：5920四、簡(jiǎn)答題（每題6分，共30分）71.簡(jiǎn)述超聲檢測(cè)中影響缺陷定位精度的主要因素。答案：探頭折射角誤差、聲束擴(kuò)散、工件表面粗糙度、耦合層厚度變化、儀器水平線性誤差、試塊與工件聲速差異、操作手法不穩(wěn)定等。72.說(shuō)明射線照相中如何控制散射線對(duì)圖像質(zhì)量的影響。答案：采用鉛箔增感屏吸收軟射線；在工件與膠片間加鉛板屏蔽背散射；使用鉛光闌、準(zhǔn)直器限制照射野；工件后方放置鉛板；采用濾波板預(yù)硬化射線；選擇較低管電壓減少康普頓散射；暗袋背面貼“B”鉛字監(jiān)測(cè)背散射。73.寫出磁粉檢測(cè)中連續(xù)法與剩磁法的區(qū)別并給出適用條件。答案：連續(xù)法在磁化同時(shí)施加磁懸液，利用外加磁場(chǎng)吸附磁粉，靈敏度高，適用于所有鐵磁性材料；剩磁法在磁化后施加磁懸液，利用工件剩磁吸附磁粉，效率高，僅適用于矯頑力≥1kA/m、剩磁≥0.8T的材料，如高碳鋼、調(diào)質(zhì)件。74.解釋滲透檢測(cè)中“背景過(guò)濃”產(chǎn)生的原因及解決措施。答案：原因：乳化不足或時(shí)間過(guò)短，多余滲透劑未洗凈；清洗劑壓力過(guò)大，造成缺陷內(nèi)滲透劑流失；顯像劑噴涂過(guò)厚；滲透時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。措施：延長(zhǎng)乳化時(shí)間至背景剛好消失；降低清洗水壓；調(diào)整噴粉距離；控制滲透時(shí)間；重新預(yù)處理。75.簡(jiǎn)述TOFD檢測(cè)中盲區(qū)產(chǎn)生機(jī)理及減小盲區(qū)的技術(shù)途徑。答案：盲區(qū)由直通波寬度與探頭中心距決定，近表面缺陷衍射波被直通波掩蓋。途徑：采用短脈沖寬頻探頭；減小探頭中心距；使用自發(fā)自收模式；增加頻率；采用縱波斜入射；應(yīng)用相控陣TOFD；信號(hào)處理如SAFT、小波濾波；機(jī)械掃查靠近表面。五、計(jì)算題（每題10分，共30分）76.用2.5MHz、Φ20mm直探頭檢測(cè)厚150mm鍛件，測(cè)得缺陷波比底波低26dB，已知材料衰減系數(shù)0.01dB/mm，求缺陷當(dāng)量平底孔直徑。（聲速5920m/s，忽略擴(kuò)散衰減）答案：聲程x=150mm，往返衰減=0.01×300=3dB凈衰減差=26?3=23dBΔ=20lg(Φf/Φ0)=23???Φf/Φ0=10^(23/20)=14.1設(shè)Φ0=2mm，則Φf=2×14.1≈5.6mm缺陷當(dāng)量平底孔直徑≈5.6mm77.用Ir192透照20mm鋼焊縫，已知黑度2.5時(shí)曝光量系數(shù)為1.2Ci·min/mm，源活度20Ci，焦距600mm，求所需曝光時(shí)間。若焦距改為400mm，求新曝光時(shí)間。答案：E1=1.2×20=24Ci·mint1=24/20=1.2min根據(jù)平方反比律：t2/t1=(F2/F1)2=(400/600)2=4/9t2=1.2×4/9=0.53min≈32s78.磁粉檢測(cè)中心導(dǎo)體法磁化鋼管，外徑Φ60mm，壁厚8mm，求磁化電流范圍。若改用線圈法，線圈5匝，填充系數(shù)0.8，求縱向磁化電流。（經(jīng)驗(yàn)公式I=12～32D）答案：中心導(dǎo)體：D=60mm?I=12×60～32×60=720～1920A線圈法：NI=45000/(L/D+2)?L/D≈8?NI=45000/10=4500A·匝I=4500/5=900A因填充系數(shù)0.8，修正I=900/0.8=1125A六、綜合應(yīng)用題（每題15分，共30分）79.某石化公司加氫反應(yīng)器出口管線規(guī)格Φ219×18mm，材質(zhì)12Cr2Mo1，運(yùn)行溫度420℃，運(yùn)行8萬(wàn)小時(shí)后計(jì)劃停車檢修。請(qǐng)制定一套完整的無(wú)損檢測(cè)方案，包括方法選擇、比例、設(shè)備參數(shù)、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及安全注意事項(xiàng)。答案：1.方法選擇：?a.超聲UT：對(duì)接焊縫100%，采用TOFD+橫波斜探頭補(bǔ)充，檢測(cè)內(nèi)部裂紋、未熔合；?b.射線RT：超聲可疑部位復(fù)驗(yàn)，抽查10%；?c.磁粉MT：焊縫及熱影響區(qū)表面100%，角焊縫200mm范圍；?d.滲透PT：非磁性附件、不銹鋼覆層表面抽查。2.設(shè)備參數(shù)：?UT：7.5MHz相控陣，K1、K2橫波，TOFD5MHzΦ6mm探頭，中心距2×壁厚；?RT：Se75，焦距≥600mm，黑度1.8～3.5，IQI靈敏度≤2%；?MT：交流電磁軛，提升力≥45N，紫外輻照度≥1000μW/cm2，白光照度≤20lx；?PT：熒光滲透劑，乳化時(shí)間2min，顯像10min。3.驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：?NB/T47013.32015Ⅰ級(jí)；射線Ⅱ級(jí)；磁粉無(wú)裂紋、無(wú)線性顯示；滲透無(wú)裂紋。