CCS31.140L21浙江省質量協(xié)會發(fā)布IT/ZZB3566—2023 12規(guī)范性引用文件 13術語和定義 1 15基本要求 26技術要求 27試驗方法 58檢驗規(guī)則 79標識、包裝、運輸和貯存 8 9T/ZZB3566—2023本文件依據(jù)GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定編寫。請注意本文件的某些內容可能涉及專利，本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。本文件由浙江省質量協(xié)會歸口。本文件主要起草單位：金華市創(chuàng)捷電子有限公司。本文件參與起草單位：浙江匯隆晶片技術有限公司，臺州市益華電子有限公司，聯(lián)縱檢測認證有限公司、物產中大數(shù)字科技有限公司。本文件主要起草人：陳康、胡勍波、胡洪波、葉國萍、金煒敏、徐興華、曹嬋麗、鮑旭偉、徐云鋒、史少禮、朱海洋。本文件評審專家組長：季永煒。T/ZZB3566—20231車載用石英晶體諧振器本文件規(guī)定了車載用石英晶體諧振器（以下簡稱諧振器）的術語和定義、分類、基本要求、技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標識、包裝、運輸和貯存、質量承諾。本文件適用于車載儀器儀表、中控臺、控制器等電子產品的表面貼裝式石英晶體諧振器。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2421環(huán)境試驗概述和指南GB/T2423.1電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.2電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.5環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊GB/T2423.7環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ec：粗率操作造成的沖擊（主要用于設備型樣品）GB/T2423.10環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc:振動（正弦）GB/T2423.22環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化GB/T2423.50環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗GB/T2828.1計數(shù)抽樣檢驗程序第1部分：按接收質量限（AQL）檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T6429石英諧振器型號命名方法GB/T12273.1—2017有質量評定的石英晶體元件第1部分總規(guī)范GB/T26125電子電氣產品六種限用物質（鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚）的測定3術語和定義本文件沒有需要界定的術語和定義。4分類4.1產品分類產品一般分為金屬封裝的AT切型表面貼晶體諧振器（JA）和玻璃封裝的AT切型表面貼晶體諧振器4.2產品示意圖T/ZZB3566—20232圖1BASMD示意圖（左）和JASMD示意圖（右）4.3型號命名諧振器型號命名應符合GB/T6429的規(guī)定。5基本要求5.1設計研發(fā)應采用計算機輔助設計軟件進行產品振動模式模擬、產品結構分析，優(yōu)化產品結構、強度以及穩(wěn)定5.2原材料5.2.1諧振器金屬上蓋的成份及強度應選用成份為Fe-Ni-Co（可伐合金4J29），強度達到350MPa。5.2.2諧振器水晶的晶棒Q值應大于200萬，腐蝕隧道密度應小于30條/立方厘米。5.3工藝與裝備5.3.1應配備濺鍍機、全自動搭載機、頻率自動微調機等生產設備。5.3.2金屬封裝應采用全自動平行滾輪封焊機，玻璃封裝應采用高溫封裝爐用于產品封裝工藝。5.4檢驗檢測5.4.1應具備諧振器的諧振電阻、電氣參數(shù)、絕緣電阻、氣密性及可靠性檢測能力。5.4.2應配備自動頻率測試機、高低溫試驗箱、電振動試驗臺、氮質譜檢漏儀、沖擊試驗臺等檢測設6技術要求6.1外觀和尺寸6.1.1外觀T/ZZB3566—20233諧振器表面應平整、光滑、無凹陷和凸起、銹蝕及污垢，涂覆層應無脫落、銹斑、腐蝕現(xiàn)象，整體無損傷，標志位置正確，字跡清晰，上蓋無刮傷，上蓋搭載無偏移，無缺角和壓裂，整體無損傷。6.1.2尺寸諧振器尺寸精度應符合表1的要求。表1產品型號及對應尺寸精度6.2性能要求諧振器性能要求應符合表2的規(guī)定。表2產品的型號和主要技術參數(shù)）6.3激勵電平相關性（DLD）6.3.1Rr1/Rr2應小于1.2（激勵功率0.01μW～100μW）。6.3.3DLDF在（-5～0.5）×10-6之間（激勵功率0.01μW～100μW）。T/ZZB3566—20234自由跌落試驗后，其頻率變化率(△FL）在±3×10-6范圍內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.5振動（正弦振動）振動試驗后，其頻率變化率(△FL）在±3×10-6范圍內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.6機械沖擊機械沖擊試驗后，其頻率變化率(△FL）在±3×10-6范圍內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.7氣密性諧振器漏率不應大于1×10-3Pa?cm3/s。6.8耐焊接熱按GB/T12273.1—2017中4.8.3.2的要求試驗后，其頻率變化率(△FL）在±2×10-6范圍內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.9可焊性按GB/T12273.1-2017中4.8.3.1的規(guī)定試驗后，浸錫表面應覆蓋有不小于95%光滑和明亮的新錫層，可以有少量分散的諸如針孔、不潤濕或弱潤濕區(qū)域之類的缺陷，這些缺陷不允許集中在一起。6.10儲存溫度6.10.1高溫儲存高溫儲存試驗后，其頻率變化率(△FL）在±3×10-6的范圍之內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.10.2高溫高濕儲存高溫高濕儲存試驗后，其頻率變化率(△FL）在±3×10-6的范圍之內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.10.3低溫儲存低溫儲存試驗后，其頻率變化率(△FL）在±3×10-6的范圍之內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.11冷熱沖擊試驗后，其頻率變化率(△FL）在±3×10-6的范圍之內，諧振器電阻(△Rr）變化在±3Ω范圍內，且無明顯機械損傷。6.12限用物質含量限用物質含量應符合表3的要求。T/ZZB3566—20235表3限用物質含量<1000<100<1000<1000<1000<10007試驗方法7.1試驗條件7.1.1除非另有規(guī)定，所有試驗都應在GB/T2421規(guī)定的試驗的標準大氣條件下進行。7.1.2量測前，諧振器應在測量溫度下放置足夠時間，以使晶體諧振器達到熱平衡。7.1.3受控恢復條件和標準的干燥條件，按GB/T2421的規(guī)定。7.1.4應記錄測量期間的環(huán)境溫度并在試驗報告中注明。7.2外觀和尺寸7.2.1外觀按GB/T12273.1—2017中4.5的規(guī)定進行。7.2.2尺寸按GB/T12273.1—2017中4.6的規(guī)定進行。7.3性能要求7.3.1標稱頻率應采用目檢的方式，標示應標注的使用頻率。7.3.2工作頻差按GB/T12273.1—2017中4.7.1條規(guī)定，用精度為±1×10-6π網(wǎng)絡測試系統(tǒng)進行測試工作頻差和諧振器電阻。7.3.3工作溫度頻差采用精度為±1×10-6溫測儀按下列規(guī)定進行測量：a)產品應在規(guī)定諧振和額定激勵下測量頻率和諧振器電阻；b)溫度應從低溫到高溫跨越整個溫度范圍即在-40℃~125℃工作溫度范圍內，以不超過5℃的間隔記錄測得的頻率和諧振電阻，測試結果應符合表7的規(guī)定值。7.3.4負載電容-6π網(wǎng)絡測試系統(tǒng)進行負載電容測試。T/ZZB3566—20236按GB/T12273.1－2017中4.7.1的要求進行。7.3.6驅動功率按GB/T12273.1－2017中4.7.2的要求進行。7.3.7靜態(tài)電容用精度為±1×10-6π網(wǎng)絡測試系統(tǒng)進行測試靜態(tài)電容。7.4激勵電平相關性（DLD）7.4.1按照GB/T12273.1—2017中4.7.2，低激勵功率設定為0.01μW，此時的電阻為Rr1，高激勵功率設定為100μW,此時的電阻為Rr2，測試此時Rr1/Rr2的比值。各測試10個點，取兩次測試的對應激勵功率的電阻最大差值。7.4.3按照GB/T12273.1—2017中4.7.2，低激勵功率設定為0.01μW，此時的電阻為FL1，高激勵功率設定為100μW,此時的電阻為FL2，測試此時FL1-FL2的差值。按GB/T2423.7中5.2的規(guī)定進行，采用自由跌落方式，跌落高度1500mm，跌落在3cm厚硬木板上，共進行10次試驗。7.6振動（正弦振動）按GB/T2423.10的規(guī)定進行。峰值加速度196.2m/s2，頻率10Hz～2000Hz，振幅1.5mm，振動時間30min，三個軸向，每個方向各12個循環(huán)進行試驗。7.7機械沖擊按GB/T2423.5的規(guī)定進行，按沖擊波形：半正弦波；峰值加速度：981m/s2；脈沖持續(xù)時間：6ms；X/Y/Z三個軸向；每個方向3次、6個面，共18次。7.8氣密性按GB/T12273.1—2017中4.8.2的要求進行，試驗后2h內測試完成。7.9耐焊接熱按GB/T12273.1－2017中4.8.3.2的規(guī)定進行，浸入中性助焊劑5s～10s，錫槽溫度在260℃±5℃,浸沒時間為10s±1s，0.5h～2h內完成。7.10可焊性按GB/T12273.1－2017中4.8.3.1的規(guī)定進行。7.11儲存溫度7.11.1高溫儲存按GB/T2423.2的規(guī)定進行，諧振器在溫度125℃±3℃條件下，貯存168h。T/ZZB3566—202377.11.2高溫高濕儲存按GB/T2423.50的規(guī)定進行，諧振器在溫度85℃±2℃,相對濕度85%±2%的條件下，貯存168h。7.11.3低溫儲存按GB/T2423.1的規(guī)定進行，諧振器在溫度-40℃±3℃條件下，貯存168h。7.12冷熱沖擊按GB/T2423.22的規(guī)定進行。諧振器放入在溫度-40℃±3℃和125℃±3℃兩溫度槽中，各槽分別置放時間為30min，槽轉換時間5s以內完成，經(jīng)過100個循環(huán)試驗。7.13限用物質含量按GB/T26125的規(guī)定進行。8檢驗規(guī)則8.1檢驗分類檢驗分為出廠檢驗和型式試驗，檢驗項目見表4。表4檢驗項目1√√2√√3√√4√√5√√6 —√7√8√√9——√√√ —√ —√ —√——√——√8.2組批一個檢驗批應由在基本相同條件下生產的并同時提交檢驗的相同型號、同一頻率范圍的所有產品元件組成。每個檢驗批最大數(shù)量不允許超過5萬只。T/ZZB3566—202388.3出廠檢驗出廠檢驗應按GB/T2828.1規(guī)定的一般檢查水平Ⅱ的一次抽樣方案進行，可接收質量水平（嚴重不合格品）AQL為0.01輕不合格品）AQL為0.04，檢驗項目、技術要求、檢驗方法和抽檢數(shù)量見表4；其中N量檢驗：不合格數(shù)c為0，判定為合格。8.4型式試驗8.4.1凡屬于下列情況之一時，應進行型式試驗:a)新產品定型生產時；b)正常生產一年一次；c)材料、結構、工藝發(fā)生重大變化，有可能影響產品性能時；d)產品質量不穩(wěn)定或長期停產一年以上恢復生產時；e)用戶有特殊要求時。8.4.2型式試驗規(guī)則a)用作型式試驗的諧振器必須是主要工藝裝備齊全的正式試制樣品/產品，試驗樣品/產品應在交收試驗合格品中隨機抽?。幻颗闃影幢?型式試驗抽檢數(shù)量要求，每個試驗項目的樣品單獨抽取，不進行重復試驗；b)樣品應通過全部型式試驗項目，試驗全部合格，判定為合格。若有不合格項則該項必須加倍抽樣復檢，復檢合格，則型式試驗合格，否則不合格。9標識、包裝、運輸和貯存9.1標識9.1.1標志的內容從下述項目中選取，每一項目的重要性由給定的順序位置表明。a）型號名稱；b）標稱頻率（MHz）；c）制造日期或代碼；d）制造廠識別代碼；e）制造商名稱或商標；f）合格標志（采用合格證者除外）；g）執(zhí)行標準號。9.1.2晶體元件上應清楚地標明9.1.1中a）、b）、c）項，并應盡可能多地標出其余的項目。晶體元件上的標志內容應避免重復。小型化晶體盒的可利用表面區(qū)域使標志項目數(shù)量受到實際限制時，詳細規(guī)范中應給出所用標志的說9.1.3裝有晶體元件的初級包裝應清楚地標志9.1.1所列的全部內容。9.1.4采用的任何附加標志應不致引起混淆。9.2包裝諧振器包裝一般分為內包裝和外包裝。包裝盒（或箱）的材料對產品不應有腐蝕。包裝應有防潮防震措施。包裝箱和盒外應有條形碼標簽及檢驗合格標