■A/A

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由于檢測工作需要，對受檢產(chǎn)品的檢測工藝進(jìn)行整理，特制訂《超聲波通用工藝規(guī)程》。本規(guī)程依據(jù)標(biāo)

準(zhǔn)JB/T4730.1-2005《承壓設(shè)備無損檢測》-第一部分通用要求、JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》-第

三部分超聲檢測，結(jié)合本公司的設(shè)備、技術(shù)能力編制并發(fā)布實(shí)施。

編制:2010年()1月01日

審核:2010年01月010

批準(zhǔn):2010年01月01日

XSG09-01UT目錄版次/修改：A/0

目錄

1.超聲波檢測通用工藝規(guī)程...........................................1

2.附錄A:雙晶直探頭性能要求.....................................39

3.附錄B:壓力容器用鋼板超聲橫波檢測.............................40

4.附錄C:壓力容器用鋼鍛件超聲橫波檢測...........................42

5.附錄D:壓力容器全熔化焊用高壓無縫鋼管軸向橫波檢測.............44

6.附錄E:壓力容器用奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測.......................46

7.附錄F:聲能傳輸損耗差的測定...................................47

8.附錄G:6MM?8MM鋼制壓力容器對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級.….49

9.附錄H:回波動態(tài)波形...........................................50

10.附錄I:采用超聲端點(diǎn)衍射波法測定缺陷自身高度...................54

11.附錄J：采用超聲端部最大回波法測定缺陷自身高度.................59

12.附錄K:采用6DB法測定缺陷自身高度...........................62

13.附錄L:缺陷類型識別和性質(zhì)估判................................64

14.附錄M:術(shù)語和定義.............................................67

15.T型焊縫專用工藝..............................................69

16.鍛件超聲檢測工藝..............75

17.對接焊縫專用工藝..........................……...........79

18.鋼板超聲檢測工藝.........89

19.鋼管超聲檢測工藝.......................….................93

20.角接焊縫專用工藝........................................…97

21.小徑管對接焊縫專用工藝........................................102

22.附錄N:數(shù)字式超聲波探傷儀HS620型操作規(guī)程....................107

23.附錄O:超聲波探傷儀CTS-22型操作規(guī)程.........................110

XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

超聲波檢測通用工藝規(guī)程

1范圍

本規(guī)程規(guī)定采用了A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質(zhì)量分

級要求。

本規(guī)程適用于壓力容器用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本通用工藝規(guī)程的引用而成為本規(guī)程的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所

有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于

本部分。

JB/T4730.1承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用要求

JB/T4730.3承壓設(shè)備無損檢測第3部分：超聲檢測

JB/T7913—1995超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗(yàn)方法

JB/T9214-1999A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測試方法

JB/T10061-1999A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件

JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測試方法

JB/T10063—1999超聲探傷用1號標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局國質(zhì)鍋檢字（2003）248號文特種設(shè)備無損檢測人員考核與

監(jiān)督管理規(guī)則

3職責(zé)

3.1檢測責(zé)任師（m級）負(fù)責(zé)編制超聲通用規(guī)程。

3.2項目組組長負(fù)責(zé)組織落實(shí)。

3.3檢測人員（1級）、（II級）負(fù)責(zé)檢測設(shè)備的操作及波幅曲線的繪制，（H級）人員負(fù)責(zé)缺

陷的判定及出具檢測報告。

4一般要求

4.1超聲檢測人員

超聲檢測人員應(yīng)按《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求，取得相應(yīng)資格證,

并按及格證等級從事相應(yīng)工作。

4.2檢測設(shè)備

4.2.1超聲波檢測設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件。

4.2.2探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能

4.2.2.1探傷儀

XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz?10MHz,儀器至少在熒光屏

滿刻度的80%范闈內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有8()dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級每檔

不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB的誤差在±ldB以內(nèi)，最大累計誤差不超過ldBo水平

線性誤差不大于1%,垂直線性誤差不大于5%。其余指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。本廠采

用CTS-22.HS620o

4.2.2.2探頭

4.2.2.2.1晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2,且任一邊長原則上不大于25mme

422.2.2單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2o,主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。

422.3超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能

422.3.1在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dBo

422.3.2儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。

422.3.3儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下)：對于頻率為5MHz的探頭，寬

度不大丁,lOnini；對丁頻率為2.5MHz的探頭,寬度不大于15nli11。

4.2.234直探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于30dB,斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于6dB。

4.2.23.5儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測試。

4.3超聲檢測一般方法

431檢測準(zhǔn)備

4.3.1.1壓力容器在制造過程中，超聲檢測的檢測時機(jī)及抽檢率應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技

術(shù)文件的規(guī)定進(jìn)行。

4.3,1.2所確定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。

4.3.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予

以清除，其表面粗糙度應(yīng)符全檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢沒結(jié)果的正確性和完

整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?/p>

4.3.2掃查覆蓋率

為確保檢沒時超聲聲束能掃杳到工件的整個被檢區(qū)域，探頭的每次掃瓷覆蓋率應(yīng)大于探頭直

徑的15%。

4.3.3探頭的移動速度

探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。

4.3.4掃查靈敏度

掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。

4.3.5耦合劑

2

XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。

4.3.6靈敏度補(bǔ)償

a）耦合補(bǔ)償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。

b）衰減補(bǔ)償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行

補(bǔ)償。

c）曲面補(bǔ)償。對探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比試

驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。

4.4系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核

4.4.1一般要求

系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束垂直對準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)

定和最大的反射信號。

442儀器校準(zhǔn)

每隔3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行次沒定，測定方法按JB/T10061的規(guī)定。

4.4.3探頭測定

探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。

測定應(yīng)按JB/T10062的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。

4.4.4檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定

4.441使用儀器一斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描

量程和掃查靈敏度。

4.4.4.2使用儀器一直探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)

核掃描量程和掃查靈敏度。

4.4.5檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

遇有下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：

a）校準(zhǔn)后的探頭，耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時；

b）檢測人員懷疑掃描量桂或掃瓷靈敏度有變化地：

c）連續(xù)工作4h以上時；

d）工作結(jié)束時。

4.4.6檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

a）每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀

數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。

b）每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對距離一波幅曲線的校核不應(yīng)少于3

3

XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB,則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢：如

幅度上升2dB,則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。

4.4.7校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項

校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器進(jìn)行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）

都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。

4.5試塊

4.5.1標(biāo)準(zhǔn)試塊

4.5.1.1標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測校準(zhǔn)的試塊，本部

分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有：

a）鋼板有標(biāo)準(zhǔn)試塊:CBI、CBII；

b）鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSI、CSILCSIII；

c）焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSK-IA.CSK-IIIA.GS-1.GS-2.GS-3.GS-4.CSK-IIAm0

4.5.1.2標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似的材料制成，該材料用直探頭檢測時,

不得有大于或等于02mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。

4.5.13標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格。

4.5.1.4標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定。

4.5.2對比試塊

4.5.2.1對比試塊是指用于檢測標(biāo)準(zhǔn)的試塊。

452.2對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對

應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度

來確定。

452.3對比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本規(guī)程的規(guī)定。

5壓力容器用原材料、零部件的超聲檢測和質(zhì)量分級

5.1壓力容器用鋼板超聲檢測和質(zhì)量分級

5.1.1范圍

本條適用于板厚為6mm?250mm的碳素鋼、低合金鋼制壓力容器用板材的超聲檢測和質(zhì)

量分級。奧氏體鋼板材、超聲檢測也可參照本條執(zhí)行。

5.1.2探頭選用

5.1.2,1探頭選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。

表1壓力容器用板材超聲檢測探頭選用

板厚,公稱頻率,

mm采用探頭MHz探頭晶片尺寸

4

XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

6-20雙品直探頭5晶片面積不小于150mm2

>20?40單晶直探頭5014mm?020mm

>40?單晶直探頭2.5020mm?025mm

5.122又晶直探頭性能應(yīng)符合附錄A(規(guī)范性附錄)的要求。

5.1.3標(biāo)準(zhǔn)試塊

5.1.3.1用雙晶直探頭檢測厚度不大于2()mm的鋼板時，采用如圖1所示的CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊。

5.1.3.2用單直探頭檢測厚度大于20mm的鋼板時，CBII標(biāo)掂試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)

定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。如經(jīng)合同雙方協(xié)商同意，也可采用雙晶直探頭進(jìn)行檢

沒。

63/

全部V

注：尺寸誤差WO.05mm

z

8

z

Y4

98三

a

A

Ai*

AI

1

40

8X40

圖1CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊

共余

_100

g

O

65..........

圖2CBH標(biāo)準(zhǔn)試塊

表2CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊

試塊編號被檢鋼板厚度檢測面到平底孔的距離S試塊厚度T

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XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

CBII-1>2()?4015>20

CBII-2>40?6030>40

CBII-3>60?10050>65

CBII-4>100-16090>110

5.1.4基準(zhǔn)靈敏度

5.1.4.1板屋不大于20mm時，用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的

50%,再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。

5.1.4.2板厚大于20mm時，應(yīng)將CBII試塊05平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作

為基準(zhǔn)靈敏度。

5.1.4.3板厚不小于探頭的3倍近場區(qū)時，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈

敏主，其結(jié)果應(yīng)與5.1.4.2的要求相一致。

5.1.5檢測方法

5.1.5.1檢測面

可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測。若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計上有要求時，也可選鋼板的

上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測。

5.1.5.2耦合方式

耦合方式可采用直接接觸法

5.L5.3掃查方式

a）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)

定線兩側(cè)各5（）mm（當(dāng)板厚超過時，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作10（）%掃查，掃查示意

圖見圖3。

b）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。

100%掃查區(qū)

圖3探頭掃查示意圖

5.1.6缺陷的測定與記錄

5.1.6.1在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：

a）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%,即F1250%。

b）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時，缺陷第一次反射波（F1）波高與底

面第?次反射波（B1）波高之比大于或等丁50%,即B1C100%,而

c）底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%,即B1V50%。

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XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

5.162缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法

a）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測，以確定缺陷的范圍。

b）用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲

層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波

波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度,

探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法沒得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。

c）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭使缺陷第一次反射波波高

下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射

波波高之比為50%o此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的

邊界點(diǎn)。兩種方法測得的結(jié)果比較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。

d）確定6.1.6.1c）中缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面

第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示和度，探

頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。

e）當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)

的第二次反射波來校準(zhǔn)。

5.1.7缺陷的評定方法

5.1.7.1缺陷指示長度的評定規(guī)則

單個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度。若單個缺陷的指示長度小于40mm時,

可不作記錄。

5.1.7.2單個缺陷指示面積的評定規(guī)則

a）一個缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個指示面積。

b）多個缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）

時，以各缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。

c）指示面積不計的單個缺陷見表3。

表3鋼板質(zhì)量分級

單個缺陷單個缺陷在任一Imx1m檢測面積內(nèi)存以下單個缺陷

等級指示長度指示面積在的缺陷面積百分比指示面積不計

mmm2%cm2

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XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

I<80<25<3<9

II<100<50<5<15

III<120<100<10<25

IV<150<100<10<25

V超過IV級者

5.1.7.3缺陷面積百分比的評定規(guī)則

5.L7.4在任一ImXlm檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。如鋼板面積小于ImX

1m,可按比例折算。

5.1.8鋼板質(zhì)量分級

5.1.8.1鋼板質(zhì)量分級見表3

5.1.8.2在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指

示長度大于或等于50mm時，應(yīng)評為V級。

5.1.8.3在檢測過程中，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時，應(yīng)評為V

級。

5.1.9橫波檢測

5.1.9.1在檢測過程中對缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定地，可采用橫波檢測。

5.1.9.2鋼板橫波檢測應(yīng)按附錄B（規(guī)范性附錄）進(jìn)行。

5.2壓力容器用鋼鍛件超聲檢測和質(zhì)量分級

5.2.1范圍

本條適用于壓力容器用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。

本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)外半徑之比小于80%的環(huán)

形和筒形鍛件的周向橫波檢測。

522探頭

雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱頻率

應(yīng)選用2MHz?5MHz,探頭晶片一般為014mm?025mln。

5.2.3試塊：應(yīng)符合4.5的規(guī)定。

5.2.3.1單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊

采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。

8

XSG09-01UT超聲波檢測工藝規(guī)程版次/修改：A/0

--02|005A|

圖4CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊

表4CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸

試塊序號CSI-1CSI-2CSI-3CSI-4

L50100150200

D50608080

523.2雙晶直探頭試塊

a)工件檢測距離小于45mm時，應(yīng)采用CSH標(biāo)準(zhǔn)試塊。

b)CSII試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。

2：：

，5-25_

表5CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸

檢測距離L

試塊序號孔徑

123456789

CSII-102

CSII-2。3

51015202530354045

CSII-304

CSII-406

5.2.4檢測時機(jī)

檢測原則上應(yīng)安排在熱處理后,孔、臺等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行,檢測面的表面粗糙度RaW6.3um。

5.2.5檢測方法

5.2.5.1一般原則

鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測。

9

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525.2縱波檢測

a）原則上應(yīng)從兩個相互垂直的方向進(jìn)行檢測，盡可能地檢測到鍛件的全體積。主要檢測

方向如圖6所示。其他形狀的鍛件也可參照執(zhí)行。

b）鍛件厚度超過400mm時，應(yīng)從相對兩端面進(jìn)行100%的掃查。

圖6檢測方向（垂百檢測法）

525.3橫波檢測

鋼鍛件橫波檢測應(yīng)按附錄C（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。

526靈敏度的確定

5.2.6.1單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定

當(dāng)被檢部位的厚度大于或等7探頭的3倍近場區(qū)長度，且探測面與底面平行時，采用底波計

算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的3倍近場區(qū)時,

可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。

5.2.6.2雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定

使用CSII試塊，依次測試一組不同檢測距離的03mm平底也（至少三個）。調(diào)節(jié)衰減器，作出

雙晶直探頭的距離一波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度,

526.3掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的02mm平底孔當(dāng)量直徑。

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527工件材質(zhì)度減系數(shù)的測定

5.2.7.1在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使

第一次底面回波幅度（B1或Bn）為滿刻度的50%,記錄此時衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使

第二次底面回波幅度（B2或Bm）為滿刻度的50%,兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1.B2）或

（Bn、Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。

527.2衰減系數(shù)（TV3N,且滿足n>3N/T,m=2n）按式（1）計算：

u=[（Bn—Bm）-6]/2（m-n）..（1）

式中：

a--衰減系數(shù),dB/m（單程）；

（Bn—Bm）—.兩次衰減器的讀數(shù)之差,dB；

T.…工件檢測厚度,mm；

N--單直探頭近場區(qū)長度,mm；

m、n----底波反射次數(shù)。

527.3衰減系數(shù)（於3N）按式（2）計算

a=[（B|-B2）-6]/2T....................（2）

式中：

（B1-B2）--兩次衰減器的讀數(shù)之差,dB；

其余符號意義同式（1）

527.4工件上三處衰減系數(shù)的平均值即為該工件的衰減系數(shù)。

5.2.8缺陷當(dāng)量的確定

5.2.8.1被檢缺陷的深度大于或等于探頭的3倍近場區(qū)地，采用AVG曲線及計算法確定缺陷當(dāng)

量。對于3倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來確定缺陷

當(dāng)量。也可采用其他等效方法來確定。

528.2計算缺陷當(dāng)量時，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m,應(yīng)考慮修正。

5.2.9缺陷記錄

5.2.9.1記錄當(dāng)量直徑超過04mm的單個缺陷的波幅和位置。

5.2.9.2密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大

于或等于04mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于03mm當(dāng)量直徑的缺陷

密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50mmX50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。

5.2.9.3底波降低量應(yīng)按表6的要求記得。

表6由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級

WiHinivv

it

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底波降低量BG/BF<8>8-14>14-20>20?26>26

注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。

529.4衰減系數(shù)

5210質(zhì)量分級等級評定

5.2.10.1單個缺陷的質(zhì)量分級見表7。

5.2.10.2缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級見表6。

表7單個缺陷的質(zhì)量分級

等級IIIIIIIVV

缺陷當(dāng)量直徑<0404+(>0dB?8dB)04+(>8dB?l2dB)04+(>12dB?16dB)>04+l6dB

5.2.10.3缺陷密集區(qū)質(zhì)量分級見表8o

表8密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級

等級IHIIIIVV

密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比，％

0>0-5>5-10>10?20>20

5.2.10.4表6.表7和表8的等級應(yīng)作為獨(dú)立的等級分別使用。

5.2.10.5當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時，鍛件的質(zhì)量等級為V級。

5.3壓力容器用無縫鋼管超聲檢測和質(zhì)量分級

5.3.1范圍

本條適用于外徑為12mHi?660mm、壁厚大于或等于2mm的壓力容器用碳鋼和低合金無

縫鋼管或外徑為12mm~4()()mm、壁厚為2mm?35mm的壓力容得用奧氏體不銹鋼無縫管的

超聲檢測和質(zhì)量分級。

本條不適用于內(nèi)外徑之比小于80%的鋼管周向直接接觸法橫法檢測，也不適用于分層缺陷的

超聲檢測。

5.3.2試塊的制備和要求

5.3.2.1對比試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同，材質(zhì)、熱處理工藝和表面狀況相同或相似的鋼

管制備。對比試塊不得有大于或等于02mm當(dāng)量的自然缺陷。對比試塊的長度應(yīng)滿足檢測方

法和檢測設(shè)備要求。

5.322鋼管縱向缺陷測試塊的尺寸、V型槽和位置應(yīng)符合圖7和表9的規(guī)定。

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仝都\/

'//////〃/////產(chǎn)

-I-

圖7對比試樣

表9對比試樣上人工缺陷尺寸

長度1,mm深度t占壁厚的百分比，％

級別

I405(0.2mm<t<lmm)

II408(0.2002mm)

III4010(0.2mm<t<3mm)

5.3.3檢測方法

5.3.3.1鋼管的檢測主要針對縱向缺陷。橫向缺陷的檢測可按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定，由

合同雙方協(xié)商解決。

5.332鋼管的檢測可根據(jù)鋼管規(guī)格選用接觸法檢測。

5.333檢測縱向缺陷時超聲波束應(yīng)由鋼管橫截面中心線一側(cè)傾斜入射，在管壁內(nèi)沿周向

呈鋸齒形傳播（見圖8）。檢測橫向缺陷時超聲波束應(yīng)沿軸向傾斜入射呈鋸齒形傳播（見圖9）o

5.334探頭相對鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)保證超聲波束對鋼管進(jìn)行100%掃查時，有不小于

15%的覆蓋率。

533.5每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方向各檢測一次。

534檢測設(shè)備

5.3.4.1檢測設(shè)備超聲波探傷儀。

5.342接觸法檢測使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭或聚焦斜探頭。單個探頭壓民晶片長度

或直徑小于或等于25mm。

5.3.5靈敏度的確定

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5.351直接接觸法橫波基準(zhǔn)靈敏度的確定，可直接在對比試樣上將內(nèi)壁人工V形槽的回波高

度調(diào)到熒光屏滿刻度的8()%、再移動探頭，找出外壁人工V形槽的最大回波，在熒光屏上標(biāo)

出，連接兩點(diǎn)即為距離一波幅曲線，作為檢測時的基準(zhǔn)靈敏度。

5.3.5.2掃查靈敏主一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dBo

5.3.6驗(yàn)收要求

無縫鋼管的判廢要求按相應(yīng)技術(shù)文件規(guī)定。

5.3.7結(jié)果評定

若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)的對比試塊人工缺陷回波，則判為不合格。不合格品允許重

新處理，處理后仍按本部分進(jìn)行超聲檢測和質(zhì)量等級評定。

5.4承壓設(shè)備用鋼螺栓壞件的超聲檢測和質(zhì)量分級

5.4.1范圍和一般要求

本條適用于對直徑大于M36的承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼螺栓坯件進(jìn)行超聲檢測和質(zhì)量

分級。

本條不適用丁?奧氏體鋼螺栓坯件的超聲檢測。

5.4.2探頭

采用2.5MHz?5VHz的單晶直探頭或雙晶直探頭。

5.4.3試塊

試塊的尺寸和形狀應(yīng)符合5.2.3的規(guī)定。

5.4.4檢測方法

鍋爐、壓力容器及壓力管道螺栓坯件一般應(yīng)采用縱波檢測，盡可能檢測到工件的全體積。檢

測表面粗糙度Ra^6.3umo

5.4.4.1縱波徑向探測

應(yīng)按螺旋線或沿圓周進(jìn)行掃查，行程應(yīng)有重疊，掃查面應(yīng)包括整個圓柱表面。

5.4.4.2縱波軸向探測

應(yīng)從螺栓坯件的兩端面進(jìn)行掃杳，盡可能避免邊緣效應(yīng)對檢測結(jié)果的影響。

5.4.5靈敏度的確定

5.4.5.1基準(zhǔn)靈敏度的確定按5.2.6的規(guī)定。

5.4.5.2掃香靈敏度一般不得低于最大探測距離處的02nlm平底孔當(dāng)量直徑。

5.4.6缺陷當(dāng)量的確定

5.4.6.1一般應(yīng)采用距離一波幅曲線或計算法確定缺陷當(dāng)量。

5.4.6.2計算缺陷當(dāng)量時，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB/m,應(yīng)考慮修正。衰減系數(shù)的測定按

5.2.7的規(guī)定。

5.4.7缺陷記錄

5.4.7.1記錄當(dāng)量直徑大于02mm的單個缺陷的波幅和位置。

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5.4.7.2根據(jù)表10的要求，記錄底波降低量。

表10單個缺陷的質(zhì)量分級mm

等級IIIIIIIVV

缺陷當(dāng)量直

〈02W娼W04W①5>05

徑

5.4.8質(zhì)量分級

5.4.8.1單個缺陷的質(zhì)量分級見表10o

5.4.8.2由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級見表11。

表11由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級dB

等級IIIIIIIVV

底波降低

BG/BFW8>8-14>14?20>20?26>26

量

注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷。

5.4.8.3按表10和表11評定缺陷等級時，應(yīng)作為獨(dú)立的等級分別使用。

5.4.8.4當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時，螺栓坯件的質(zhì)量等級為V級。

5.5承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測和質(zhì)量分級

5.5.1范圍

本條適用于承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。

5.5.2探頭

5.5.2.1探頭的工作頻率為0.5MHz?2MHz。

5.5.2.2直探頭的晶片直徑為14mm?30mm。

5.5.2.3斜探頭的4值一般為0.5?2。

5.5.2.4為了準(zhǔn)確測定缺陷，必要時也可采用其他探頭。

5.5.3試塊

5.5.3.1對比試塊應(yīng)符合4.5的規(guī)定。

5.5.3.2對比試塊的晶粒大小和聲學(xué)特性應(yīng)與被測鍛件大致相近。

5.5.3.3應(yīng)制備幾套不同晶粒度的奧氏體鋼鍛件對比試塊，以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作

合理的比較。

5.5.3.4對比試塊的形狀和尺寸按圖10和表12所示。

15

圖10奧氏體鋼鍛件試塊

表12奧氏體鋼鍛件試塊尺寸mm

06010013

LDLDLDLD

2050205020502050

4050505050505050

605080501006010060

8050120601508015080

——160802008020080

——20080250100250100

—————300100300100

———————400150

——————500150

———————600200

5.5.3.5在條件允許時，可在鍛件有代表性的部位加工一個或幾個適當(dāng)大小的對比孔或槽,

代替試塊作為校正和檢測的基準(zhǔn)。

5.5.4檢測時機(jī)和工件要求

5.5.4.1鍛件原則上應(yīng)在最終熱處理后、粗加工前進(jìn)行超聲檢測。檢測表面粗糙度Ra<6.3

Uin0檢測面應(yīng)無氧化皮、漆皮、污物等。

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5.5.42鍛件應(yīng)加工成簡單的形狀，以利于掃查和聲束的覆蓋。

5.5.5檢測方法

一般應(yīng)進(jìn)行直探頭縱波檢測。對筒形鍛件和環(huán)形鍛件必要時還應(yīng)進(jìn)行斜探頭檢測，但掃查部

位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由合同雙方商定。

5.5.5.1斜探頭檢測

奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測應(yīng)按附錄E（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。

5.5.5.2直探頭縱波檢測

直探頭縱波檢測應(yīng)符合5.2.5.2的規(guī)定。

5.5.6靈敏度的校正

5.5.6.1當(dāng)被檢鍛件厚度小于或等于600mm時，應(yīng)根據(jù)定貨鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級，

在適當(dāng)厚度和當(dāng)量的平底孔試塊上校正，并根據(jù)實(shí)測值做出距離一波幅曲線（定量線）；當(dāng)被

檢鍛件厚度大于600mm時，在鍛件無缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的80%,以此作為基準(zhǔn)靈敏

度。

5.5.6.2掃查靈敏度應(yīng)至少比距離一波幅曲線（定量線）或基準(zhǔn)靈敏度提高6dB。

5.5.7缺陷記錄

5.5.7.1由于缺陷的存在，而使底波降為滿刻度25%以下的部位。

5.5.7.2波幅幅度大于基準(zhǔn)線高度50%的缺陷信號。

5.5.8質(zhì)量分級

5.5.8.1單直探頭檢測的質(zhì)量分級見表13o

5.5.8.2斜探頭檢測的質(zhì)量分級見表14o

5.5.8.3表15和表16的級別應(yīng)作為獨(dú)立的等級使用。

表13單直探頭檢測的質(zhì)量分級mm

工件公稱厚度W80>80?200>200-300>300-600>600

工件質(zhì)量等級IIIIIIIIIIII[11

缺陷當(dāng)量直徑雄

或因缺陷引起底W03>63W。6>。6W>WO13>。13N5%<5%

波降低后的幅度

表14斜探頭檢測的質(zhì)量分級mm

等級In

缺陷大小V形槽深為工件壁厚的3%,最大為3V形槽深為工件壁厚的5%,最大為6

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6壓力容器對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級

6.1鋼制壓力容器對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級

6.1.1適用范圍

本條規(guī)定了鋼制壓力容器對接焊頭接接頭的超聲檢測和質(zhì)量分級。

本條適用于母材厚度為8mm?400mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測。母材厚度為

6mm?8mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測應(yīng)按照附錄G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。壓

力容器有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件以及螺旋焊接接頭的超聲檢測也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。

如確有需要，壁厚為4mm?6mm的環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測可參照6.1進(jìn)行。

本條不適用于鑄鋼對接焊接接頭、外徑小于159mm的鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^、內(nèi)徑小于或等

于200mm的管座角焊縫的超聲檢測，也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)外徑之比小于80%的

縱向?qū)雍附咏宇^超聲檢測。

6.1.2超聲檢測技術(shù)等級

6.1.2.1超聲檢測技術(shù)等級選擇

超聲檢測技術(shù)等級分為A.B.C三個檢測級別。超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合與制造、有關(guān)規(guī)

范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計圖樣規(guī)定。

6.1.2.2不同檢測技術(shù)等級的要求

6.1.2.2.IA級僅適用于母材厚度為8mm?46mm的對接焊接接頭?？捎靡环NK值探頭采用直

射波法和一次反射波法在對接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢

測。

6.1.2.2.2B級檢測：

a）母材厚度為8mm~46mm地，一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在

對接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。

b）母材厚度大于46mm至120mm時，一般用一種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的

雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K

值探頭進(jìn)行檢測。

c）母材厚度大于120mm至400mm時，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙

面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10oa

d）應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測。檢測時，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭肌線成10。?

20。作兩個方向的斜平行掃查，見圖12。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)

上作兩個方向的平行掃查，見圖13。

6.1.2.2.3C級檢測

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采用C級檢測時應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域

要用直探頭進(jìn)行檢測。

a）母材厚度為8mm?46mm時，一般用兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在

焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10o,其中一個折射角應(yīng)為

450o

糕11懶瞻!螂■I■靖慵微螂

表15推薦采用的斜探頭K值

板厚T,mm

K值

6?253.0?2.0(72°?60°)

>25?462.5?1.5(68°?56°)

>46?1202.0?1.0(60。?45。)

>120?4002.0?1.0(60。?45。)

6.1.3.1檢測頻率

檢測頻率一般為2MHz?5MHz。

6.1.3.2母材的檢測

對于C級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有

影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或工其他種類缺陷存在。該項檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗(yàn)

收檢測。母材檢測的要點(diǎn)如下：

a）檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2MHz?5MHz的直探頭，晶片直徑10mm?25mm。

b）檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。

c）凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。

6.1.4距離一波輻曲線的繪制

6.1.4.1距離一波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由

評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線

之間（包括定量線）為n區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)閚i區(qū)，如圖11所示。如果距離一波幅曲

線繪制在熒光屏上，則在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的2（）%。

19

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III

判廢線（RD

定量線（SL）

評定線（EL）

距離，mm

圖11距離一波幅曲線

6.1.4.2距離一波幅曲線的靈敏度選擇

a）壁厚為6mm-120mm的焊接接頭，其距離一波幅曲線靈敏度按表16的規(guī)定。

表16距離一波幅曲線的靈敏度

板厚,mm