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文檔簡介

2025年冶煉化驗室考核試卷及答案一、單選題(每題1分,共30分。每題只有一個正確答案,錯選、多選均不得分)1.用高錳酸鉀滴定法測定鐵礦石中Fe2?時,下列哪種酸最適合用于溶解樣品?A.濃硫酸??B.濃鹽酸??C.濃硝酸??D.氫氟酸答案:B解析:濃鹽酸可將Fe3?還原為Fe2?,且不會引入氧化性干擾,保證滴定終點敏銳。2.原子吸收光譜法測定銅時,若基體含大量鋁,為消除化學(xué)干擾,應(yīng)優(yōu)先加入:A.硝酸鑭??B.硝酸鍶??C.硝酸鎂??D.硝酸銫答案:A解析:鑭鹽可與鋁形成穩(wěn)定熱解氧化物,釋放銅原子,消除鋁對銅的包裹抑制。3.高頻紅外碳硫儀測定鋼樣中硫,燃燒后生成的SO?被堿液吸收,若結(jié)果偏高,最可能原因是:A.堿液濃度過高??B.粉塵過濾器失效??C.氧氣流量不足??D.坩堝未恒重答案:B解析:粉塵攜帶SO?進入吸收池,導(dǎo)致表觀吸收量增加,結(jié)果偏高。4.用EDTA絡(luò)合滴定法測定爐渣中CaO,若溶液pH<10,則終點顏色變化將:A.由藍變紅??B.由紅變藍??C.由酒紅變純藍??D.無變化答案:C解析:pH<10時,CaEDTA絡(luò)合不完全,游離Ca2?與指示劑呈酒紅,EDTA過量后呈純藍。5.火花源原子發(fā)射光譜(SparkAES)做不銹鋼Ni曲線時,若基體匹配不足,應(yīng)優(yōu)先:A.提高預(yù)燃電流??B.降低積分時間??C.采用高純鐵基體匹配??D.更換電極答案:C解析:基體匹配可抑制基體效應(yīng),高純鐵與不銹鋼基體接近,可顯著降低系統(tǒng)誤差。6.測定鋁電解質(zhì)中過剩AlF?,常用NaOH滴定法,指示劑應(yīng)選:A.酚酞??B.甲基橙??C.溴甲酚綠??D.茜素紅S答案:D解析:茜素紅S在pH4.56.8由黃變紅,可敏銳指示AlF?水解產(chǎn)生的HF被中和的終點。7.用ICPOES測定高純鋅中Pb,為降低記憶效應(yīng),沖洗液最佳配方為:A.2%HNO???B.0.5%HCl+0.1%HF??C.5%HNO?+1%H?O???D.0.1%EDTA+2%HNO?答案:D解析:EDTA可絡(luò)合殘留Pb,HNO?保持酸性,雙重作用快速清洗進樣系統(tǒng)。8.庫侖法測定鋼中碳,若陽極池pH>10,則碳結(jié)果將:A.偏高??B.偏低??C.不變??D.波動答案:B解析:高pH下CO?溶解度下降,部分逸出,導(dǎo)致積分電量減少,結(jié)果偏低。9.用XRF熔片法測定鐵礦全鐵,若熔劑與樣品比例過低,則FeKα強度會:A.增強??B.減弱??C.先增后減??D.不變答案:A解析:稀釋度降低,F(xiàn)e質(zhì)量分?jǐn)?shù)升高,X射線熒光強度增強。10.測定銅精礦中Au、Ag,火試金灰吹階段若溫度超過1100℃,將導(dǎo)致:A.Au揮發(fā)損失??B.Ag氧化損失??C.鉛扣過軟??D.灰皿開裂答案:B解析:高溫下Ag易與氧結(jié)合生成Ag?O進入灰皿,造成負(fù)偏差。11.用氟離子選擇電極測鋁電解質(zhì)中F?,若總離子強度調(diào)節(jié)劑(TISAB)未加,則結(jié)果:A.偏高??B.偏低??C.不變??D.無法判斷答案:A解析:缺乏TISAB,鋁氟絡(luò)合物解離不完全,游離F?表觀濃度升高。12.高頻燃燒紅外法測定鈦合金中碳,若助熔劑錫粒未烘干,則碳結(jié)果:A.偏高??B.偏低??C.無影響??D.波動答案:A解析:錫粒表面吸附CO?,燃燒時釋放,被當(dāng)作樣品碳積分,結(jié)果偏高。13.用分光光度法測定鋼中磷,鉬酸銨顯色后,若還原劑選用抗壞血酸而非SnCl?,則最大吸收波長將:A.藍移5nm??B.紅移10nm??C.不變??D.消失答案:B解析:抗壞血酸還原生成的磷鉬藍絡(luò)合物共軛體系延長,λmax由700nm移至710nm。14.測定鋅電解液中Co,若火焰原子吸收采用富燃火焰,則靈敏度:A.提高??B.降低??C.不變??D.先升后降答案:A解析:富燃火焰含大量還原性CN、CH基團,促進Co原子化,提高吸光度。15.用自動電位滴定儀測定硫酸銅電解液中H?SO?,若參比電極飽和甘汞電極(SCE)下端被Cu2?污染,則終點體積:A.偏大??B.偏小??C.不變??D.無法判斷答案:A解析:Cu2?在SCE液接界沉積,液接電位增大,儀器延遲判斷終點,消耗更多NaOH。16.測定鎳锍中Ni,丁二酮肟重量法,若烘干溫度>130℃,則沉淀將:A.分解??B.吸濕??C.氧化??D.無變化答案:A解析:丁二酮肟鎳在135℃開始分解,導(dǎo)致鎳結(jié)果偏低。17.用ICPMS測定高純銦中Cd,為消除11?InH?對11?Cd的干擾,應(yīng):A.碰撞池通入He??B.提高射頻功率??C.選用冷等離子體??D.更換錐口答案:A解析:He碰撞可打碎11?InH?,降低其強度,提高11?Cd信噪比。18.測定鋁土礦中SiO?,若堿熔后未脫鍋直接酸化,則Si結(jié)果:A.偏高??B.偏低??C.不變??D.波動答案:B解析:未脫鍋導(dǎo)致部分Si以膠體形式吸附坩堝壁,轉(zhuǎn)移損失。19.用自動量熱儀測定煤炭發(fā)熱量,若苯甲酸標(biāo)定值偏低2%,則未知樣結(jié)果:A.偏高2%??B.偏低2%??C.不變??D.偏高4%答案:A解析:標(biāo)定值偏低導(dǎo)致熱容量偏高,相同樣品溫升對應(yīng)熱量被放大。20.測定鉛錠中Sb,采用硫酸鈰滴定法,若滴定速度過快,則結(jié)果:A.偏高??B.偏低??C.不變??D.無法判斷答案:B解析:Ce??與Sb3?反應(yīng)速率有限,過快滴定造成局部過量,終點提前。21.用激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)在線測熔融鋼水C,若保護氬氣流量下降30%,則C強度:A.增強??B.減弱??C.不變??D.先增后減答案:B解析:氬氣不足導(dǎo)致空氣進入,CN分子譜帶干擾C247.9nm,且等離子體溫度下降。22.測定銅電解液中Cl?,若Hg(SCN)?分光光度法未加硝酸鐵,則顯色:A.增強??B.減弱??C.不變??D.無顏色答案:D解析:Fe3?為硫氰酸汞間接法催化劑,缺Fe3?無法生成紅色Fe(SCN)2?。23.用離子色譜測定鋁廠循環(huán)水SO?2?,若淋洗液NaHCO?/Na?CO?比例降低,則保留時間:A.提前??B.延后??C.不變??D.先延后提前答案:A解析:碳酸鹽濃度降低,淋洗能力減弱,SO?2?與固定相作用減弱,提前出峰。24.測定鋅精礦中In,萃取分離時若P204濃度過高,則有機相粘度:A.降低??B.升高??C.不變??D.先升后降答案:B解析:P204二聚體增多,有機相粘度增大,分相困難,易夾帶水相。25.用火花直讀光譜測定軸承鋼中氧,若氬氣純度由99.995%降至99.9%,則氧結(jié)果:A.偏高??B.偏低??C.不變??D.波動答案:A解析:氧雜質(zhì)增加,背景增強,譜線強度比升高,導(dǎo)致表觀氧含量偏高。26.測定鎳電解液中Fe,若采用鄰菲啰啉分光光度法,顯色pH應(yīng)控制在:A.2.0??B.3.5??C.6.0??D.9.0答案:B解析:pH3.5時Fe2?鄰菲啰啉絡(luò)合物穩(wěn)定性最高,且避免Fe3?水解。27.用重量法測定銅陽極泥中Se,若SO?通入速度過快,則Se結(jié)果:A.偏高??B.偏低??C.不變??D.無法判斷答案:B解析:過快通SO?導(dǎo)致Se沉淀顆粒細(xì)小,穿濾損失。28.測定鋁錠中Ga,采用羅丹明B萃取光度法,若鹽酸濃度>6mol/L,則Ga萃取率:A.升高??B.降低??C.不變??D.先升后降答案:B解析:高酸度下GaCl??締合能力減弱,分配比下降。29.用自動電位滴定儀測定氰化鍍液中游離CN?,若銀電極表面被硫化物污染,則終點電位突躍:A.增大??B.減小??C.不變??D.消失答案:B解析:硫化物膜阻礙Ag?與CN?反應(yīng),突躍斜率降低。30.測定鈷精礦中As,采用氫化物發(fā)生原子熒光法,若硼氫化鉀溶液放置超過4h,則As熒光強度:A.增強??B.減弱??C.不變??D.先增后減答案:B解析:KBH?分解產(chǎn)生H?,還原能力下降,AsH?產(chǎn)率降低。二、多選題(每題2分,共20分。每題有兩個或兩個以上正確答案,多選、少選、錯選均不得分)31.下列哪些措施可有效降低ICPMS測定高純鉬中K的背景?A.使用高純液氬??B.碰撞池通入He??C.選用低流量霧化器??D.增加射頻功率??E.使用EDTA清洗答案:A、B、C解析:高純氬減少Ar?干擾,He碰撞降低ArK?,低流量減少霧滴,降低背景;提高功率反而增加雙電荷;EDTA對氣相背景無影響。32.高頻紅外碳硫儀日常維護必須包含:A.更換干燥劑??B.清洗粉塵過濾器??C.校準(zhǔn)天平??D.檢查O?純度??E.更換催化劑爐銅絲答案:A、B、C、D解析:催化劑爐銅絲為一次性耗材,非日常項目,其余均為每日必做。33.火花源直讀光譜測定低合金鋼時,下列哪些譜線可用于Ni內(nèi)標(biāo)?A.Fe271.4nm??B.Ni218.5nm??C.Ni231.6nm??D.Fe187.7nm??E.Ni352.4nm答案:B、C、E解析:內(nèi)標(biāo)需選Ni自身線;Fe線為基體線,不能作Ni內(nèi)標(biāo)。34.用硫酸鋇重量法測定鋇時,下列哪些離子會共沉淀導(dǎo)致正偏差?A.Ca2???B.Sr2???C.Pb2???D.NO????E.Cl?答案:B、C解析:Sr2?、Pb2?與Ba2?半徑相近,易形成混晶共沉淀;Ca2?溶解度大,NO??、Cl?不共沉淀。35.離子色譜測定鋁廠廢水F?時,下列哪些條件可消除AlF絡(luò)合干擾?A.加入TISAB??B.提高淋洗液pH至10??C.采用梯度淋洗??D.柱前在線滲析??E.降低進樣量答案:A、B、D解析:TISAB解絡(luò),高pH使Al成AlO??,滲析去除大分子AlF;梯度與進樣量無助解絡(luò)。36.火試金法測定銅陽極泥Pt、Pd時,下列哪些助熔劑比例需嚴(yán)格控制?A.Na?CO???B.PbO??C.SiO???D.硼砂??E.面粉答案:B、C、D解析:PbO決定鉛扣大小,SiO?、硼砂決定渣流動性,均影響捕集率;Na?CO?為堿性助劑,面粉為還原劑,允許稍寬。37.用自動量熱儀測定煤發(fā)熱量時,下列哪些情況需重做標(biāo)定?A.更換氧彈密封圈??B.更換苯甲酸品牌??C.移動儀器位置??D.更換點火絲材質(zhì)??E.更換蒸餾水水源答案:B、C、E解析:品牌、位置、水源均影響熱容量;密封圈、點火絲對熱容量影響可忽略。38.測定鉛基合金中Bi,采用KI萃取光度法,下列哪些因素導(dǎo)致負(fù)偏差?A.酸度過高??B.過量KI??C.溫度低于10℃??D.萃取時間不足??E.陽光直射答案:A、C、D解析:酸度高形成HI逸出,低溫降低分配比,時間不足未達平衡;過量KI與避光為必要條件。39.用XRF測定爐渣中Cr,若Cr以Cr?O?形式存在,下列哪些措施可提高準(zhǔn)確度?A.增加熔片稀釋比??B.加入氧化劑使Cr3?→Cr????C.使用CrKβ線??D.基體匹配加入Fe?O???E.降低X光管電壓答案:B、D解析:Cr?O?難熔,氧化為CrO?后熔解完全;基體匹配抑制吸收增強;稀釋降低信號,CrKβ靈敏度低,低壓降低激發(fā)。40.用氫化物發(fā)生原子熒光法測定銻精礦中As,下列哪些還原劑可替代KBH??A.NaBH???B.ZnHCl??C.TiCl???D.L半胱氨酸??E.硫脲答案:A、B解析:NaBH?同效;ZnHCl亦可生成AsH?;TiCl?、硫脲、L半胱氨酸無氫化能力。三、判斷題(每題1分,共10分。正確打“√”,錯誤打“×”)41.火花源直讀光譜的氬氣純度低于99.9%時,氧分子譜線會干擾碳193.1nm測定。答案:√解析:氧分子譜帶190200nm,與C193.1nm重疊,背景升高。42.用EDTA滴定法測定水中硬度,若指示劑為EriochromeBlackT,終點由酒紅變藍,且需pH=10氨緩沖。答案:√解析:經(jīng)典條件,終點顏色變化正確。43.高頻紅外碳硫儀的CO?紅外池與SO?紅外池可互換使用,因兩者波長接近。答案:×解析:CO?吸收4.26μm,SO?吸收7.35μm,濾光片不同,不可互換。44.用火焰原子吸收測定Na,若采用富燃火焰,電離干擾會加劇。答案:√解析:富燃火焰溫度高,Na電離增加,基態(tài)原子減少,吸光度下降。45.離子色譜抑制器的作用是將淋洗液背景電導(dǎo)升高,以提高被測離子靈敏度。答案:×解析:抑制器將高電導(dǎo)淋洗液轉(zhuǎn)化為低電導(dǎo)水,降低背景,提高信噪比。46.庫侖法測定鋼中碳,陽極反應(yīng)為2H?O→O?+4H?+4e?,電量與碳質(zhì)量成正比。答案:√解析:碳轉(zhuǎn)化為CO?,用OH?吸收,通過電解再生OH?,電量與CO?摩爾數(shù)成正比。47.XRF測定粉末樣品時,顆粒度越小,基體效應(yīng)越顯著。答案:×解析:顆粒度小可減小礦物效應(yīng),但基體效應(yīng)主要由元素間吸收增強決定,與顆粒度關(guān)系不大。48.火試金灰吹時,鉛扣消失瞬間稱為“閃光”,此時應(yīng)立即停止加熱。答案:√解析:閃光后Pt、Pd暴露,繼續(xù)加熱易損失。49.用分光光度法測定Ti,若采用過氧化氫顯色,顯色酸度應(yīng)控制在12mol/L硫酸。答案:√解析:低酸度下TiO2?水解,高酸度抑制顯色,12mol/L為最佳。50.激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)屬于非消耗性分析,可重復(fù)射擊同一點無限次。答案:×解析:LIBS每次燒蝕微克級樣品,重復(fù)射擊會形成坑,改變等離子體條件,非真正非消耗。四、填空題(每空1分,共20分)51.用高錳酸鉀滴定法測定Fe2?時,滴定溫度應(yīng)控制在________℃,若溫度過高,KMnO?會________。答案:7080;分解產(chǎn)生MnO?沉淀,導(dǎo)致終點反復(fù)。52.原子吸收光譜中,塞曼背景校正利用________分裂π、σ±成分,其中________成分用于測量總吸收。答案:Zeeman;π。53.火試金法捕集Pt、Pd時,鉛扣質(zhì)量一般控制在________g,過大導(dǎo)致________。答案:2535;灰吹時間延長,貴金屬損失增加。54.離子色譜抑制器再生液常用________,其濃度約為________mol/L。答案:稀硫酸;0.020.05。55.用XRF熔片法測定鐵礦,熔劑Li?B?O?與樣品比例通常為________:1,熔融溫度________℃。答案:10;1050。56.庫侖法測碳的電解液為________,其中加入BaCl?的作用是________。答案:Ba(ClO?)?+異丙醇;沉淀CO?2?,防止反向擴散。57.氫化物發(fā)生原子熒光法測定As,載氣常用________,其流量一般設(shè)定________mL/min。答案:氬;300400。58.火花源直讀光譜預(yù)燃時間設(shè)定主要目的是________,對低熔點樣品應(yīng)________預(yù)燃時間。答案:消除表面缺陷、成分偏析;縮短。59.用硫酸鋇重量法測硫,灼燒溫度若超過________℃,BaSO?會________導(dǎo)致負(fù)偏差。答案:900;部分還原為BaS。60.自動量熱儀熱容量標(biāo)定后,若RSD大于________%,需查找原因并重做,通常要求RSD≤________%。答案:0.2;0.15。五、計算題(每題10分,共30分。要求寫出公式、代入數(shù)據(jù)、計算結(jié)果及單位)61.稱取0.5000g銅精礦,經(jīng)火試金富集后得金銀合粒0.0125g,其中Au12.3%,Ag87.7%。將合粒用稀硝酸分金后,余Au0.00153g。求樣品中Au、Ag含量(g/t)。答案:Au=(0.00153g×1000)/(0.5000g)=3.06g/tAg=[(0.0125g×0.877)(0.0125g×0.8770.00153)]×1000/0.5000=0.01096g×1000/0.5000=21.92g/t解析:分金后Au質(zhì)量即原Au量;Ag量為合粒減Au量,注意單位換算至g/t。62.用EDTA滴定法測定爐渣中CaO。稱樣0.2500g,堿熔浸取定容250mL,分取25.00mL,pH=12.5,以鈣指示劑用0.01020mol/LEDTA滴定,消耗18.35mL??瞻紫?.05mL。求CaO質(zhì)量分?jǐn)?shù)。(MCaO=56.08g/mol)答案:n(EDTA)=(18.350.05)×0.01020×10?3=1.8546×10??moln(CaO)=n(EDTA)m(CaO)=1.8546×10??×56.08=0.01040gw(CaO)=0.01040g×(250/25)/0.2500×100%=41.6%解析:注意稀釋倍數(shù),空白扣除,結(jié)果保留四位有效數(shù)字。63.用高頻紅外法測定鋼樣中硫。稱樣1.0500g,積分電量對

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