B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)乙の規(guī)格仗,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第14條億X→て準(zhǔn)用寸石第12條第1項の規(guī)定億基→寺,社團法人日本機械工業(yè)連合會(JMF)扒兮,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案走具Lて日本工業(yè)規(guī)格走改正寸尺寺匕の申出爐鹵n,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會の審議走經(jīng)て,厚生勞仙大臣及述經(jīng)濟産業(yè)大臣爐改正L杞日本工業(yè)規(guī)格で鹵石。乙札億X→て,JISB9704-1:2000仗改正之札,乙の規(guī)格億置寺?lián)Q之兮札杞。改正億當(dāng)杞→て仗,日本工業(yè)規(guī)格匕國際規(guī)格匕の対比,國際規(guī)格億一致L杞日本工業(yè)規(guī)格の作成及述日本工業(yè)規(guī)格走基礎(chǔ)億L杞國際規(guī)格原案の提案走容易億寸石杞的億,IEC61496-1:2004,Safetyofmachinery—Electro-sensitiveprotectiveequipment-Part1:Generalrequirementsandtests走基礎(chǔ)匕Lて用,杞。乙の規(guī)格仗,光作榷法で保護対象匕女→て,石光作物で鹵石。乙の規(guī)格の一部爐,技術(shù)的性質(zhì)走古→特許榷,出願公開後の特許出願,害用新案榷,又仗出願公開後の害用新案登緑出願億抵觸寸石可能性爐鹵石乙匕億注意走喚起寸石。厚生勞仙大臣,經(jīng)濟産業(yè)大臣及述日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會仗,乙のX虧女技術(shù)的性質(zhì)走古→特許榷,出願公開後の特許出願,災(zāi)川新案榷,又仗出願公開後の害用新案登緑出願億扒扒打石確認億→,て,責(zé)任走古杞女,。附屬書B(規(guī)定)ESPE電気用品の單一障害一覽表附屬書C(參考)適合性評倆JISB9704の規(guī)格群億仗,次億示寸部編成爐鹵石。JISB9704-1第1部:一般要求事項及述試驗JISB9704-2第2部:能動的光電保護裝置走使虧設(shè)備億対寸石要求事項JISB9704-3第3部:掂散反射形能動的光電保護裝置億対寸石要求事項B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)序文 11.適用範(fàn)囲 12.引用規(guī)格 23.定義 44.機能,設(shè)計及び環(huán)境に対する要求事項 74.1機能要求事項 74.2設(shè)計要求事項 84.3環(huán)境要求事項 5.試験方法 5.1一般事項 5.2機能試験 5.3障害狀熊の性能試験 5.4環(huán)境試験 205.5プログラマブル集積回路又は複雑な集積回路の妥當(dāng)性確認 236.識別と安全使用のためのマーキング 246.1一般事項 246.2電源から給電するESPE 246.3內(nèi)部電源から給電するESPE 25 25 256.6制御機器 256.7端子表示 256.8マーキングの耐久性 257.附屬文書 25 28 34附屬書C(參考)適合性評価 38日本工業(yè)規(guī)格JIS第1部:一般要求事項及び試験Safetyofmachinery—Electro-sensitiveprotectiveequipment一序文この規(guī)格は,2004年に第2版として発行されたIEC61496-1,Safetyofmachinery—Electro-sensitiveなお,この規(guī)格で側(cè)線又は點線の下線を施してある簡所は,原國際規(guī)格にはない事項であり,記述を明確にし,理解を助けるために追加した事項である。械類に用いて,人が危険狀態(tài)に陥る前に機械を安全な狀態(tài)に移行させる保護機能をもつ。この規(guī)格は,機械安全の分野で広く使用さる。この規(guī)格に適合するESPEは,其本的な特徴として,適正な水の安全閃過性能をもつと共に,この機械には,その和類特有の危険源がある。特定の機械に対してESPEの適川法を告することは,この1.適用範(fàn)囲この規(guī)格は,機械のたぬの安全関連制御システムの一部として,特に人を検出するために用いる非接觸式のESPEの設(shè)計,製造及び試験に対する一般要求事項について規(guī)定する。必要な安全関連特定の検知機能形式のESPEに対する要求事項は,JISB9704の他の部(現(xiàn)時點ではJISB9704-2及びJISB9704-3)に規(guī)定する。2B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)この規(guī)格は,特定の用途における検出區(qū)域の寸法,形狀及び危険源のではない。また,何が機械の危険源であるかも規(guī)定しない。この規(guī)格は,ESPEの機能に川するり,のような用途では,例えば,検出対象物の特性が人の特性とは異なるので,この規(guī)格が規(guī)定しない要求事この規(guī)格は,電磁両立性(EMC)の放射に対する要求事項は扱わない。備考この規(guī)格の対応國際規(guī)格を,次に示す。なお,対応の程度を表す記號は,ISO/IECGuide21に基づき,IDT(一致している),MODIEC61496-1:2004,Safetyofmachinery—Electro-sensitiveprotectiveequipment-Part1:Generalrequirementsandtests(IDT)2.引用規(guī)格次に揭げる規(guī)格は,この規(guī)格に引用される。これらの引用規(guī)格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を(追補を含む)は適用しない。西層年の付記がない引用規(guī)格は,その最新版(追補を含む)を適用する。參考…原國際規(guī)格IEC.61496-1:2004が引用する規(guī)格の版に一致するS,又は引用する部分の規(guī)定內(nèi)備考IEC61131-2:1992,Programmablecontrollers—Part2:Equipmentrequirementsandtestsからの引用可は,乙の規(guī)格の該當(dāng)可と同等である。JISB9700-1:2004機械類の安全性一設(shè)計のための基本概念,一般原則一第1部:基本用語,方法論備考ISO/TR12100-1:1992,Safetyofmachinery—Basicconcepts,generalprinciplesfordesign—Part1:參考ISO12100-1:2003が,JISB9700-1:2004と一致Lいる。JISB9700-2:2004機械類の安全性一設(shè)計のための基本概念,一般原則一第2部:技術(shù)原則備考ISO/TR12100-2:1992,Safetyofmachinery—Basicconcepts,generalprinciplesfordesign—Part2:參考ISO12100-2:2003力，JISB9700-2:2004一致Lいる。..JISB9705-1:2000機械類の安全性一制御システムの安全関連部一第1部:設(shè)計のための一般原則備考ISO13849-1:1999,Safetyofmachinery—Safety-relatedpartsofcontrolsystems—Part1:GeneralJISB9960-1:1999機械類の安全性一機械の電気裝置一第1部:一般要求事項備考IEC60204-1:1997,Safetyofmachinery—Electricalequipmentofmachines—Part1:Generalrequirementsからの引用事項は,この規(guī)格の該當(dāng)事項と同等である。備考IEC60447:1993,Man-machineinterface(JISC0664:2003低圧系統(tǒng)內(nèi)機器の絶緣協(xié)調(diào)第1部:原理,要求事項及び試験3B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)備考IEC60664-1:1992,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part1:備考IEC60529:2001,Degreesofprotectionprovidedbyenclosures(IPcode)が,この規(guī)格と一致して備考IEC60068-2-6:1995,Environmentaltesting—Part2:Tests-TestFc:Vibration(sinusoidal)が,こ備考IEC60068-2-29:1987,Basicenvironmentaltestingprocedures—Part2:Tests—TestEbandJISC61000-4-2:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術(shù)一第2節(jié):靜電気放電イミュニティ試験(舊番號:JISC1000-4-2:19備考IEC61000-4-2:1995,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4:Testingandmeasurementtechniques—Section2:Electrostaticdischargeimmunitytest-BasicEMCpublicationが,この規(guī)格備考IEC61000-4-4:1995,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4:Testingandmeasurementtechniques—Section4:Electricalfasttransient/burstimmunitytest—BasicEMCpublicationからの引用事項は,この規(guī)格の該當(dāng)事項と同等である。JISC61000-6-2:2003化磁両立性一第6部:共通規(guī)格一第2節(jié):工業(yè)環(huán)境におけるイミュニティ(舊備考IEC61000-6-2:1999,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6:Genericstandards—Section2:JISC8201-5-1:1999低圧開閉裝置及び制御裝置一第5部:制御回路機器及び開閉素子一第1節(jié):電気機械制御回路機器備考IEC60947-5-1:1997,Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Part5-1:Controlcircuitdevicesandswitchingelements-Electromechanicalcontrolcircuitdevicesからの引用事項は,この規(guī)格の該備考ISO9001:2000,Qualitymanagementsystems—Requirementsが,この規(guī)格と一致している。IEC60050-191:1990,InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)—Chapter191:DependabilityandqualityofserviceIEC60249-2,Basematerialsforprintedcircuits—Part2:SpecificationsIEC60439-1:1999,Low-voltageswitchgearandcontrolgearassemblies—Part1:Type-testedandpartiallytype-testedassembliesIEC60445:1999,Basicandsafetyprinciplesforman-machineinterface,markingandidentification-4B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)Identificationofequipmentterminalsandofterminationsofcertaindesignatedconductors,includinggeneralrulesforanalphanumericsystem備考JISC0445:1999文字數(shù)字の表記に関する一般則を含む機器の端子及び識別指定された電線端末の識別法は,IEC60445:1988と一致しているが,IEC60445:1999とは異なる。IEC60950(allparts),Informationtechnologyequipment—Safety備考JISC6950:2001情報技術(shù)機器の安全性は,IEC60950:1991-1996に対応(MOD)しているIEC61000-4-3:2002,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-3:Testingandmeasurementtechniques—Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest備考JISC61000-4-3:2004電磁両立性一第4部:試験及び測定技術(shù)一第3節(jié):放射無線周波電磁IEC61000-4-5:2001,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-5:Testingandmeasurementtechniques—Surgeimmunitytest備考JISC61000-4-5:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術(shù)一第5節(jié):サージイミュニディ試験(舊番號:JISC1000-4-5:1999)は,IEC61000-4-5:1995に対応(MOD)しており,IEC61000-4-6:2001,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-6:Testingandmeasurementtechniques—Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields備考JISC61000-4-6:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術(shù)一第6節(jié):無線周波電磁界にIEC61508(allparts),Functionalsafetyofelectrical/electronic/programmableelectronicsafety-relatedsystems3.1ブランキング(blanking)ESPE(3.5參照)の検出能力(検出可能な最小真徑)より大きなサイズの3.2制御·監(jiān)視裝置(controlling/monitorin參考物體の検出可能な最小サイズは.ESPEの検出機能パラメ一タの一つで點る?！?B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)參考規(guī)定の人體部分を検出する?yún)^(qū)域と同じ意味である。検出區(qū)域において規(guī)定の人體部分蘇検出さ3.5電気的検知保護設(shè)備(ESPE:electro-sensitiveprotectiveequipment)保護トリップ又は存在検知の一検知器一OSSD(3.19參照)禁考1.…この規(guī)格では、ESPEをタイプ!か點タイプ4に分類し、タイプ2からタイプ42ESPEの要3.6外部機器モ二タ(EDM:externaldevicemonitoring)ESPEが,外部の制御機器の狀態(tài)を監(jiān)視する手段(この規(guī)格では,略號“EDM”を用いる。)。3.7故障(failure)要求される機能を遂行する能力が,アイテムになくなること(IEC60050-191-04-014.実際には,障害と故障は,しばしば同じ意味で用いる。3.8危険側(cè)故障(failuretodanger)すべてのOSSDが,オフ狀態(tài)になるべき條件下,又はオフ狀態(tài)にと(4.2.2參照)。.一検出熊力の喪失一仕様值を超元る応答時間の增加3.9障害(不具合)(fault)予防保全若しくは計畫的行動,又は外部資源の不足により機能を?qū)g行できない狀態(tài)を除き,アイテムが,要求される機能を?qū)g行できない狀態(tài)(IEC60050-191-05-01による。)。備考1.障害は,しばしばアイテム自體の故障の結(jié)果であるが,事前の故障がなくても存在すること6B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)參考元人匕は,八一K之二工Z卜之工工、又は乙れ5を粗み合物せたものの單位の乙飛がオフ狀態(tài)になったとき,MPCE(3.14.參照)の回路を遮斷するもの(この規(guī)格では,略號“FSD”を用b)機能が異なり,外部に接続可能な電気的端子が24以上ある。備考1.ASIC,ROM,PROM,EPROM,PAL,CPU,PLA及びPLDはこの例である。3.14機械の主制御要素(MPCE:machineprimarycontrolelement)機械の定常運転を電気的に直接制御品であって,機械の定常運転中,検知器の作動(検出)に伴いオフ狀態(tài)になるもの(この規(guī)格では,略號3.21応答時間(responsetime)検知器を作動させる事象が発生してから,OSSD7B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)の迎惱モードを変更した以後,及び機械の起動制御手段を変更した以後に,機械が門動的に川起功するこ備考1.これには監(jiān)視系も含む。2.制御システムの安全関連部の範(fàn)囲は,安全関連信號が発生する所から,動力制御要素の出力3.25検知器(sensingdevice)検出すべき事象又は狀態(tài)を,電気的センサで判別する,ESPEの部分。備考例えば,光電検知器は,検出區(qū)域に侵入する不透明物體を検出する。3.27停止性能モ二夕(SPM:stoppingperformancemonitor)総合システム停止性能が,設(shè)定值以內(nèi)にあ3.28供給者(supplier)保護設(shè)備又は機械に関する役務(wù)を提供する者(例えば,製造業(yè)者,契約者,據(jù)付參考この規(guī)格の理解のために,原國際規(guī)格では定義されていない幾つかの用語の意味を次に示す。3.30正常運転(normaloperation)ESPEに要求されるすべての機能が正しく作動するESPEの運転(試4.機能,設(shè)計及び環(huán)境に対する要求事項4.1.1定常運転ESPEは,定常運転中,検出能力(JISB9704の他の部で規(guī)定する検出可能な最小サイ8B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)ESPEの応答時間は,供給者が指定する値を超えてはならない。ESPEの応答時間は,かぎ(鍵),パス4.1.2検知機能検出能力は,供給者が指定する検出區(qū)域の全域で有効でなければならない。検出區(qū)域,検出能力及びブランキング機能(モ二夕付き又はモニタなし)は,かぎ(4.1.3ESPEのタイプ別この規(guī)格では,3種のタイプのESPEに対して要求事項を規(guī)定する。タイプは,備考タイプ1のESPEに対する要求事項は,現(xiàn)時點では規(guī)定しない。要求されいる(4.2.2.3.參照)。4.2.1電源ESPEは,次に規(guī)定する電源條件で正しく作動しなければならない。ただし,使用者が別にa)交流電源高調(diào)波第2高調(diào)波から第5高調(diào)波までの合計が充電導(dǎo)體間の総実効値の10%以下第6高調(diào)波から第30高調(diào)波までの合計が充電導(dǎo)體間の9B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)出池駆動小両のù池詫源を川いる場合は,公稱心圧の0.7～1.2倍c)コンバータ電源リップル公稱電圧の5%以下(peaktopeak)感電保護に対しては,4.2.3.2を參照。備考ESPEの作動を電気的干渉から保護するため,ESPEの電源は,IEC61000-6-2の要求事項を満反応しなければならない。ESPEは,ロックアウト狀態(tài)の原因となった障害がまだ存參考1.次の4.2.2.3～4.2.2.5は,ESPEに障害が発生したときESPEがどのように反応し作動しなければならないかを,ESPEのタイプ別に規(guī)定している。タイプ別の障害反応條件は,JISB9705-1 (ISO13849-1)に規(guī)定するカテゴリ別の障害反応條件に似てい障害がN個累積しても裝置が安全機能を失わず,N+1個の障害が累積したとき,裝置がンスの意味は,障害條件下でも安全裝置が正常運転を続けるという意味ではない。障害により安全裝脫が進転を停止しても,迅転停止前に機械を安るが,ESPEの安全機能は保たれているとみなす。1——102020323143以上(4以上の検証が必要で4B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.2.2.2タイプ1のESPEへの要求事項タイプ1のESPEに対する要求事項は,現(xiàn)時點では規(guī)定しない。4.2.2.3タイプ2のESPEへの要求事項タイプ2のESPEは,危険側(cè)故障(例えば,検出能力の喪タイプ2のESPEは,検出能力を喪失する,応答時間が仕様値を超える,又は1個若しくは2個以上の周期テストを外部(例えば,機械)の安全関連制御システムによって起動する場合は,ESPEに適切な入力部(例えば,端子)を設(shè)けなければならない。參考人の移動速度を2m/s.ESPEの元入卜時問(応答時間を含杰)左150.ms.上すれば,元ス卜中4.2.2.4タイプ3のESPEへの要求事項タイプ3のESPEは,検出能力を喪失する,応答時間が仕様値タイプ3のESPEは,それ自體は危険側(cè)故障を起こさない単一障害を検出できない場合は4.2.2.5タイプ4のESPEヘの要求事項タイプ4のESPEは,検出能力のB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)を參照)タイプ4のESPEは,それ門體は危険側(cè)故障を起こさない1一障背を検出できない場合は,続いて複數(shù)の障害が発生しても危険側(cè)故障を起こしてはな備考1.タイプ4のESPEの設(shè)計法には次のものがある。2.複雑な集積回路又はプログラマブル集積回路に対する追加要求事項は,4.2.10を參照。參考…この要求事項は.基本的には,障害が何個蓄積して點ESPE.の危険側(cè)故障にならないことを要求している。ただし..各障害が互いにほとんど獨立で.特定の順序で発生する確率が低い場合4.2.3ESPEの電気用品4.2.3.1一般事項ESPEの電気用品(構(gòu)成品)は,一適切な!IS.又はJEC規(guī)格があれば,それに適合し,一意図した用途に適するものを用い,一規(guī)定の定格內(nèi)で作動させなければならない。4.2.3.2感電保護ESPEには,JISB9960-1の6.1に適合する感電保護を備えなければならない。備考OSSD出力に接続する回路に用いるヒューズの最大定格値,及び過電流保護機器の設(shè)定値について,供給者は使川者に情限を提供することがましい。4.2.3.4環(huán)境汚損度ESPEの電気用品は,汚損度2の環(huán)境に適応しなければならない(IEC60439-1の4.2.3.5空間距離.沿面距離及び分離距離ESPEの化気川出は,IEC60439-1の7.1.2に通合するように設(shè)計,製造しなければならない。4.2.3.6配線ESPEの電気用品は,IEC60439-1の7.8.3に適合するように配線しなければならない。4.2.4OSSD(出力信號開閉器)4.2.4.1一般事項各OSSDは,それぞれ獨立に出力端子を備えなければならない。OSSDは,その負荷にアーク防止機器を必要としない定格をもつことが望まし備考信頼性を上げるために,開閉サージ抑圧機器を取り付け,これを接點にではなく負荷に並列にOSSDの出力回路は,例えば,過電流による接點溶著などの危険側(cè)故障を防ぐ適切な保護をしなければ共通原因故障を最小にする対策をとることが望ましい。ESPEは,機械の安全関連制御システム機能の一部を受持つことができる。例えば,場合によりOSSDタイプ3及びタイプ4のESPEは,少なくも2個の獨立に作動するOSSDを備えなければならない。4.2.4.2リレ一式OSSDリレー式OSSDを用いるときは,接點の狀態(tài)(位置)を監(jiān)視しなければならなB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)機械的に連動する強制ガイド接點を用いる場合は,補助接點を監(jiān)視することにより実質(zhì)的に主接點を監(jiān)メイク接點とブレーク接點が同時に閉路狀態(tài)にならないよう,設(shè)計及び構(gòu)成上の特別の注意をしなけれ備考1.主接點と監(jiān)視用接點を機械的に連動させると,監(jiān)視用接點がOSSD接點の狀態(tài)変化に確実に2.リレーの全壽命期間を通じて,リレーの保持電圧と接點間げき(隙)が,適切に保たれることが重要である。入タイプのどちらでもよい。電流流出タイプを用いる場合は,次の要求事項を満たさなければならない。に対する要求事項は規(guī)定しない。電流流入タイプを用いる場合は特別な注意が必要である。 (電流流人タイプを用いる場合は,OSSD出力回路が基準(zhǔn)電位に短絡(luò)すると機械のFSDに対參考…備考1.は,正極性の電源を用いる場合を想定している..2.定格電源電圧+24Vで用いる場合,オン狀態(tài),オフ狀態(tài)に対する出力電圧·電流值は下表の定格電源電圧オフ狀態(tài)出力範(fàn)囲出力範(fàn)囲オフ狀態(tài)出力電流+24Vdc-3V～+2Vr.m.s(+5Vピ一夕)+11V～+30V>6mA一裝置への要求事項及び試験(5.2參照)を満たしている。他の電源電圧を用いる場合は,こOSSDの出力回路は,過電圧,過電流,及び短絡(luò)から保護しなければならない。OSSDの最大リーク電流は,障害(例えば,回路オープン)の場合を含め,2mAを超えてはならない。2個以上のOSSDを川いる場合,OSSD出力Ⅲの知絡(luò)は検出しなければならない。ーオン狀態(tài)における,抵抗負荷と誘導(dǎo)負荷に対する定格出力電流及び最大出力電流ー才フ狀態(tài)の最大電圧ー才フ狀態(tài)における最大出力電流(リーク電流)一許容できる最大の容量性貨荷容量一OSSDと負荷を結(jié)ぶ回路の許容4.2.4.4デ一夕通信インタフェは準(zhǔn)備中である。4.2.5表示燈及びディスプレイESPEは,次の要件を満たす表示機器を備えなければならない。a)検知器が作動中であることを表示するもの:検知器が作動してからこの表示器の輝度が50%に達するまでの時間,及び検知器の作動終了からこの表示器の輝度が50%に滅衰するまでの時間は,いずB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)b)OSSDの出力狀態(tài)を表示するもの:オン狀態(tài)は緑の表示器で,オフ狀態(tài)は赤の表示器で示さなければならない。2個以上のOSSDを迅攜して川いる場合同色の表示器が2個以上ある場合は,それらの機能が混同されないようにマーキングしなければなら表示器は,機械オペレータのために設(shè)けるものであるから,検出區(qū)域の近くに取付け可能で,取り付けた狀態(tài)でオペレータからよく見えなければならない。表示器は,検知器に統(tǒng)合してもよいし,検出區(qū)域の4.2.6調(diào)整手段すべての調(diào)整手段は,その調(diào)整範(fàn)囲のどの點に設(shè)定しても,危険側(cè)故障を発生し得ないす手段がある場合は,それを切り離したとき,少なくも1個のOSSDが4.2.2に規(guī)定するオフ狀態(tài)になら4.2.8非電気的構(gòu)成品非電気的構(gòu)成品は,使用目的に適したものでなければならない。4.2.9共通原因故障ESPEの設(shè)計は,次のことから生じる共通原因故障により,ESPEが危険側(cè)に故障一環(huán)境の影響備考1.共通原因故障は,取扱不良,製造不良などの原因で劣化した構(gòu)成品を使用した場合にも生じ2.共通原因故障は,ǐ一故障として扱う。複數(shù)チャネルシステムでは,一つの半導(dǎo)體基材上にある構(gòu)成品を二つ以上のチャしなければならない。この要求事項は,5.5に従って検証しなければならない。4.2.11.1一般事項次のいずれかの手段によってESPEに安全関連性能を組み込むむ場合は,4.2.11.2の要求事項を追加適用しなければならない。これらの要求事項に対する適合性は,5.5に従って検証しなければならない。て証拠となる文書を用意しなければならない。B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)c)開発の各段階を明確に定め,かつ,各段階の達成基準(zhǔn)を規(guī)定した品質(zhì)計畫文書を作成しなければならない。開発段階の例としては,要求仕様作成,沒汁仕様作成,検証,及び妥當(dāng)性確認の各段陸がある。d)開発を開始する前に,危険源と故障モードを識別し,安全要求仕様の中のESPEの安全関連機能を明は全部を4.2.11に規(guī)定する手段に割り付け,各要素に必要な安全関連性能を決定する。必要な安全関連性能を達成するため,仕様決定,設(shè)計,製造,及び保全の各段階に適した工學(xué)技術(shù)を採用しなけれとを確認するために,評価者又は検証者(すなわち,設(shè)計者以外の者)が容易に安全要求仕様までトを?qū)g施しなければならない。開発期間中に,要求事項,仕様,設(shè)計などのすべての変更が適正に文書化されたこと,及びこれらの変更による影響がすべて分析され,すべての設(shè)計段階から安全要求仕様j)設(shè)計原則として,安全機能が破壊される可能性を最小にし,安全性能の評価を容易にするために,安4.3.1周囲溫度範(fàn)囲及び濕度ESPEは,0～50℃の周囲溫度変化に対し,この規(guī)格の要求事項を満足しなければならない。この範(fàn)囲外で使用する場合は,ESPE供給者は,そのシステムが正常運転を続けることのできる周囲溫度範(fàn)囲を仕様として定めなければならない。濕度95%(非結(jié)露狀態(tài)),溫度20℃B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.3.2.1電源電圧変動ESPEは,外部化源花圧を,公稱低から0まで10～20秒をかけて連続的に変化さESPEは,內(nèi)部で分配された電源の電圧を,一つずつ順に公稱値から0まで,次に0から公稱値まで,そ4.3.2.2瞬時停電ESPEは,表1の瞬時停電試験を適用したとき,試験1)及び試験2)においては正常運5交流又は直流の50V未満の電源ポート及さ1mを超える信號稱などのポートJISC61000-4-4のレベル2,1kV(ピーク値)交流50V以上の電源ポートJISC61000-4-4のレベル3,2kV(ピーク値)長さ1mを超える信號線などのポート交流50V以上の電源ポート長さ1mを超える信號線のポート交流50V以上の電源線ポートード1kV(ピーク値)長さ1mを超える信號線のポート交流50V以上の電源線ポート4.3.2.5.2追加要求事項タイプ3及びタイプ4のESPEは,IEC61000-4-3の5.2の試験レベル4の30V/mB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.3.2.6.1一般要求事項ESPEは,次の無線川波花磁界による伝導(dǎo)妨背を加えたとき,正常迅忪を継続し長さ1~10mの信號線などの術(shù)一卜EC61000-4-6のレベル2,3V(実効值)長さ10mを超元る信號線術(shù)一卜EC61000-4-6のレベル3,10V(実効值)長さ1~10mの信號線などの術(shù)一卜IEC61000-4-6のレベル3,10V(実効值)長さ10mを超元る信號線術(shù)一卜IEC61000-4-6のレベX,30V(実効值)4.3.2.7.1一般要求事項ESPEは,JISC61000-4-2の試験レベル3の,接觸放詫6kV又は気中放ǚ8kV4.3.2.7.2追加要求事項タイプ3及びタイプ4のESPEは,JISC61000-4-2の試験レベル4の,接觸放4.3.3.1振動ESPEは,5.4.4.1に規(guī)定する振動試験を失施し,試験中,正常迅忪を継続しなければなら4.3.3.2バンプESPEは,5.4.4.2に規(guī)定するバンプ試験を?qū)g施し,試験中,正常運転を継続しなければて設(shè)置したとき,少なくともIP54(JISC0920參照)の保護等級を満足しなければならない。ただし備考次の方法は,機械的損傷の防止に有効である。一適切な強度をもつ材料と構(gòu)造の採用二つの面をシールするために合成接著材を用いると,接著がはがれたあするので,保全作業(yè)のために取り外す可能性がある保護カバーのシールには,合成接著材を用いてはならェンクロージャは,必要なすべての調(diào)整作業(yè)と保全作業(yè)を安全かつ効B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)5.試験方法5.1.1.1試験用ESPEESPEのすべての部分は,可能な限り一緒に試験しなければならない。これが困難な場合には,ESPEの部分を別々に試験してもよい。組込形ESPE(機械に組み込まれ,通常は機械から切り離せないESPE)の環(huán)境試験は,この例に當(dāng)たる。一除外又は省略した試験を,試験成績書に破壊を招く試験については,ESPE全體を試験する場合と同じ結(jié)果が得られるならば,ESPEの一部を用複數(shù)の異なる電源電圧で使用できるように設(shè)計したESPE(例えば,異なる用途に使用するもの)の試験には,複數(shù)のESPEを必要とする場合がある。ならない。すなわち,すべての周辺裝置及びカバーを取り付け,電源に接続し,必要により外部保護導(dǎo)體5.1.2.1試験環(huán)境ESPEは,5.4で異なる規(guī)定を適用する場合を除き,次の條件で運転して試験しなけれ一定格電圧(又は,定格電圧範(fàn)囲)一定格周波數(shù)(又は,定格周波數(shù)範(fàn)囲)一周囲溫度：20±5℃一相対濕度:25～75%一気圧:86～106kPa備考マーキング及びESPE附屬文書に記載された値は,定格値とみなす。一電気量の測定:技術(shù)的に可能及びノ又は適切である限り±1%一相対濕度(RH)の測定:±3%RH一長さの測定:±1mm又は±1%のいずれか大きい方すべての測定は,溫度が定常狀態(tài)に達してから行わなければならない。溫度の変B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)5.1.3試験結(jié)果5.に規(guī)定された試験と分析の結(jié)果は,文非化しなければならない。試験結(jié)果は條件とその條件から受けた影響の詳細を示す形に整理しなければならない。特殊な試験手順は,試験成績5.2.1検知機能ESPEの検知機能,検出能力インテグリティ,及び検出區(qū)域(例えば,サイズ,形狀,5.2.2応答時間ESPEの応答時間は,系統(tǒng)的な分析と試験によって検証しなければならない。ESPEの応答時間は,検知器の作動を引き起こす事象の発生からOSSDが作動するまでの最大時間間隔が5.2.3.1一般事項ESPEが,正規(guī)の環(huán)境條件下では正常運転を継続し,異常な環(huán)境條件下又はESPEの5.2.3.2限定機能試験A(A試験)検出區(qū)域に侵人物がない狀態(tài)で一定時間観察し,OSSDがオン狀態(tài)5.2.3.3限定機能試験B(B試験)検出區(qū)域に侵入物がない狀態(tài)で一定時間観察し,OSSDがオン狀態(tài)試験片を検出區(qū)域から出すか,又は別な方法で検知器を作動させない狀態(tài)に置く。これに応じてOSSDがオフ狀態(tài)からオン狀態(tài)に移行しなければならない。一定時間観察し,試験片が検出區(qū)域內(nèi)にない狀態(tài)又試験の要求條件によっては,上の試験は連続的にB9704-1:2006(IEC61496-1:2004)4.2.6の要求事項が該當(dāng)する場合は,これを検査及びC試験の実施により検証しなければならない。5.2.7構(gòu)成部品の作動定格ESPE運転條件の全範(fàn)囲において,ESPEの各構(gòu)成部品がその構(gòu)成部品の定格(電壓.霊流なと)…內(nèi)で用いられる(作動する)ことを,分析及びノ又は検査により検証しなければな5.2.8OSSD(出力信號開閉器)5.2.8.1一般事項各OSSD用に,別々の出力接続端子が設(shè)けてあることを検査により検証しなければなOSSDに過電流保護用の電流制限器が付いていること,又は電流制限器の取付法が使用上の情報に記載まることがないことを検証しなければならない。すべての試験は,供給者が規(guī)定する最大の誘導(dǎo)性負荷を最長の接続ケーブルで接続して行わなければならない。予見できる障害の例には次のものがあるが,すべての予見できる障害を考慮しなければならない。一OSSD間の短絡(luò)一接地線の斷線一遮へい付きケーブルの遮へいの斷線一誤配線5.3障害狀態(tài)の性能試験5.3.1一般事項4.2.2に規(guī)定する?yún)g一障害を検証するために,すべての関連構(gòu)成部品に対して障害の影響試験を行わなければならない。最初の単一障害の結(jié)果として更に障害が発生する場合は,最初の障害と引き続いて発生するすべての障害を合わせて単一障害とみなす。に規(guī)定する障害アイテムに対する考察結(jié)果を記録しなければならない。単一障害又は障害の組合せの結(jié)果析を試験結(jié)果の記述に含めなければならない。その記述に対して,5.5.4によって妥當(dāng)性確認をしなければならない。この場合,分析結(jié)果の記述を確認する試験は抜取試験でよい。備考1.障害評価の典型的な手法には,IEC60812によるFMEA,IEC61025によるFTAなどがある。2.複雑な回路構(gòu)成又は構(gòu)成品(マイクロプロセッサ,完全冗長系など)の場合は,通常,構(gòu)成20B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)えば,検出能力の喪失,応答時間の増加など)を招く障害である場合は,周期テスト機能により,4.2.2.3他の障害を順にすべて與えて取り除くことを繰り返し,追加する障害が危険な障害である場合は,ESPE他の障害を順にすべて與えて取り除くことを繰り返し,追加する障害が危険な障害である場合は,ESPEい限り,試験する必要はない。a)定格電源電圧の下限値に対し,B試験を行う。b)10～20秒をかけて電源電圧を定格の上限値まで上げ,その間A試験を行う。c)最高試験電源電圧に達した後,B試験を行う。周波數(shù)変動と高調(diào)波ひずみの要求事項については,試験又は分析的方法によって検証する。5.4.2周囲溫度変化及び濕度次の試験の最高周囲溫度は,マ一キング及びノ又はESPE附屬文書に規(guī)定21B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)はESPE附屈文上に規(guī)定される値とするが,0b)周囲溫度を1分間に0.3℃以下の速度で最高周囲溫度まで上げ,その間A試験を行う。c)最高周囲溫度で少なくとも2時間A試験を行う。その間濕度を95%まで上げ,少なくも1時狀態(tài)を保ちA試験を行い,最後にB試験を行う。D最低周囲溫度で少なくも2時間A試験を行う。最後にB試験を行う。5.4.3.3.1一般要求事項ESPEに,JISC61000-4-4に従い(すなわち,直流電源ポート,50V未満の交5.4.3.3.2追加試験タイプ3又はタイプ4のESPEは,更に,JISC61000-4-4に従5.4.3.4.1一般要求事項ESPEに,IEC61000-4-5に従い(すなわち,信號ポートへの結(jié)合にはIEC61000-4-5の図7を用い,その他の交流電源ポートへの結(jié)合にはIEC61000-4-5の図6及び図7を用いて),5.4.3.4.2追加試験タイプ3及びタイプ4のESPEは,更に...IEC61000-45に従い(すなわち,信號端各印加中にC試験を行わなければならない。5.4.3.5.1一般試験ESPEに,IEC61000-43の5.1に従い,4.3.2.5.1に規(guī)定したレベルの電磁界を加え(レベル3の電磁界中で),B試験を行わなければならない。備考この試験の結(jié)果は周囲の構(gòu)造物に影響されるので,試験結(jié)果は,ESPEを機械に実裝したとき規(guī)定するレベルの電磁界を加え(レベル4の電磁界中で),C試験を行わなければならない。備考この試験の結(jié)果は周囲の構(gòu)造物に影響されるので,試験結(jié)果は,ESPEを機械に実裝したとき5.4.3.6.1一般試験ESPEに,IEC61000-4-6に従い,4.3.2.6.1に規(guī)定するレベルの無線周波による伝導(dǎo)妨害を印加して,各ポートへの印加中にB試験を行わなければならない。5.4.3.6.2追加試験タイプ3及びタイプ4のESPEは,更に,IEC61000-4-6に従い,4.3.2.6.2に規(guī)定するレベルの無線周波による伝導(dǎo)妨害を印加して,各ポートへの印加中にC試験を行わなければならない。5.4.3.7.1一般試験ESPEに,JISC61000-4-2に従い,4.3.2.7.1に規(guī)定する靜電気放電を印加して,各放電の印加中にB試験を行わなければならない。るレベルの靜電気放電を印加して,各放電の印加中にC試験を行わなければならない。5.4.4.1振動ESPEに対して,JISC60068-2-6に従い,振動試験を行わなければならない。次の條件を適用する。M波數(shù)範(fàn)H10～55Hz周波數(shù)変化率1オクターブ/分スイープ數(shù)互いに直交する3軸に対し各20回(共振周波數(shù)において遅れがないように)各軸に対して,次の部分的機能試験を行わなければならない。一各軸の最初と最後のスイープ時にA試験を行う。一第2のスイープの最初に試験片を検出區(qū)域に入れ,第19スイープの最後に取り出すことにより,B試験を行う。5.4.4.2バンプESPEに対して,JISC60068-2-29に従い,バンブ試験を行わなければならない。次の條件を適用する。加速度パルス幅バンプ回數(shù)互いに直交する3軸に対し各1000±10回各軸に対し,次の試験を行わなければならない。一最初と最後の100±10回のバンプ印加時にA試験を行う。一最初の100±10回のバンプ印加後に試験片を検出區(qū)域に入れてB試験を行う。23B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)書に含めた分析報告(試験に替えた分析)に対する妥當(dāng)性確認について規(guī)定する。參考適格者(competentperson)體，妥當(dāng)性確認左行之條件(力量，開発當(dāng)事者加5の獨立性など)を満たすことを,組織.社會などで認められた者をいう。ESPEに関する品質(zhì)管理體系の運用に対して,ESPE開発記録文書の監(jiān)査,及びESPEがライフサイクル24B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)備考1.集積回路のプログラムが不完全であると,ESPEは,主保護機能は正しく実行するが,障害プログラムの流れ,複雑な集積回路及びプログラマブル集積回路の作動を監(jiān)視する手段の妥當(dāng)性確認を行わなければならない。監(jiān)視手段は,供給者が規(guī)定する安全関連性能レベル及びシステム構(gòu)成に対し適切備考2.IEC61508-3に,更に詳しい記述がある。5.5.4試験結(jié)果分析報告5.3で要求される試験結(jié)果の分析を行った場合は,分析に用いた技術(shù)が適切で6.1一般事項JISB9700-2の6.4に従い,ESPEのすべての部分には,次のために必要なすべてのマーa)製品の識別(供給者の名稱及び住所,型式又はシリーズ,製造番號及び製造年を含む。)c)検出能力d)応答時間e)定格電源電圧,相數(shù),及び周波數(shù)fD定格電源入力電力(25Wを超える場合),又は定格電流g)保護等級(IP一下)の指定參考…クラス具裝置(機器)とは,感電に対する保護を基礎(chǔ)絶緣だけに頼るのではなく,二重絶縁又は強化絶緑といった付加的な安全対策を講じている機器であって..保護アース又は設(shè)置條件のi)高電圧危険の警告標(biāo)識25B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)6.4調(diào)節(jié)異なる定格電源電圧又は異なる電源入力に合わせて調(diào)節(jié)できるESPEは,設(shè)定した電圧又は6.7.1ESPEの據(jù)付時,又は保全作業(yè)実施後の再據(jù)付時にケーブルを接続する端子には,マーキングを行6.7.2外部接続用端子,及び使用者が交換できる部品を接続する端子には,マーキングを行い,接続図とこのマーキングは,他線を接続するとき又は切り離すときに取り外す可能性のある,ねじ,座金などの6.7.61臺のESPEに複數(shù)の電源を接続する場合は,端子盤カパーを外す前にすべての電源を切り離すよ6.8マーキングの耐久性マ一キングは,この規(guī)格が規(guī)定する溫度及び濕度,並びに水,石けん水,機7.附屬文書ESPEの供給者は,使用者と合意した言語で文書を作成しなければならない。この附屬文書には,據(jù)付け,使用,その後の廃棄及び次の該當(dāng)事項について記載しなければならない。d)タイプ2のESPEにおいて,外部e)調(diào)整,運転又は無許可アクセス防止のためのかぎ(鍵)又は特殊工具がある場合は,これを責(zé)任者又26f検出能力の確認及び視覚表示の作動確認に用いる試験片の寸法及び型,並びに試験手順の説明,又は試験片を川いずに行う他の確認方法の說明g)応答時間一溫度範(fàn)囲一濕度一電圧範(fàn)囲一ESPEサブシステム間の間隔設(shè)定範(fàn)囲,及び接続ケー才ルの最大長k)すべての入力端子及び出力端子の位置m)OSSD及びSSD(SSDはある場合)が,抵抗性,容量性及び誘導(dǎo)性の負荷に対して開閉できる最小,ての説明ab)ESPE本體から離して遠方に取付け,接続するスイッチ,操作器,表示器の據(jù)付けah)その設(shè)置スペース內(nèi)にESPEを支持,固定する手段の位置及ai)ESPEの各部分間,及びESPEと周囲取付品との間の最小間隔27B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)aj)ESPEと電源との接続方法,及び分離した構(gòu)成品がある場合は,構(gòu)成品間の接続方法al)ブランキング機能(モニ夕付き,モニタなし,固定,又は浮動式)又は検出能力を調(diào)節(jié)する機能をもISO9000-3:1997,Qualitymanagementandqualityassurancestandards—Part3:GuidelinesfortheapplicationofISO9001:1994tothedevelopment,supply,installationandmaintenanceofsoftware(品質(zhì)管理及び品IEC61025:1990,Faulttreeanalysis(FTA)[故障のツリ一解析(FTA)]28B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)A.1一般事項ESPEには,本來の検知·保護機能だけで備考オプション機能を,ESPEの一部としてでなく,ESPEから分離した別裝置として実行する場合は,その裝置は関連する規(guī)格(例えば,JISB9705-1,IEC61508,IEC62061)の要求事項を満たすことが望ましい。この場合,この附屬書の要求事項は,次の機器又は機能は,ESPEに対してはオ一SSD(A.4參照)一機械の再始動裝置として用いるESPE(A.8參照)次の要求事項は最小限のものであり,すべての用途に対して十分であるとは言い切れない。この附屬書の要求小頭は,リスクアセスメントの結(jié)果に片づき,他の則迅規(guī)格(例えば,JISB9960-1,JISB9705-1)が規(guī)定する関連要求事項と件せて適用することを意図している。A.2EDM(外部機器モ二夕)A.2.1機能要求事項EDMには,外部接點(例えば,FSD又はMPCEの接點)を監(jiān)視する手段を備えなEDMが,監(jiān)視対象機器のいずれか一つの異常を検出したとき,ESPEはロックアウト狀態(tài)にならなけれA.2.2EDM障害時の要求事項ESPEは,EDMの障害に対して本體の4.2.2に従って反応しなければなA.2.3検証次のことを試験及び検査によって検証しなければならない。A.2.4使用のための情報ESPEの供給者は,EDMを監(jiān)視対象機器等に接続するために必要な情報を提供しなければならない。供給者は,EDMの監(jiān)視対象機器の種類を指定しなければならない。監(jiān)視対象機器に特別な特性(例えば,機械的連動接點,入力の2重化,NO形接點,NC形接點など)が必要な場合は,それを指定する。外部接點の応答時間モニタがない場合は,接點応答時間モニタのために外部手段を必要とする場合があ29B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)A.3SPM(停止性能モ二夕)A.3.1機能要求事項SPMは,機械の危険部位が停止するまで又は安全狀態(tài)に復(fù)帰するまでに要した時間,又は移動した距離に対応する信號をESPEに出力しなければならない。ESPEは,SPMからの信號がSPMは,総合システム停止性能を監(jiān)視するため,自動的な停止性能試験を行わなければならない。性能試験を開始できなければならない。SPMの設(shè)定値を調(diào)節(jié)する手段は,かぎ(鍵),パスワード,又は特別の工具を用いなければアクセスでA.3.2SPM障害時の要求事項ESPEは,次のいずれかに応じて,ロックアウト狀態(tài)に移行しなければな一停止性能の自動試験を開始又は完了できないとき。一SPMへ機械の運動を伝達する手段が故障したとき(二重の伝達手段を用いる場合は,そのいずれかがA.3.3検証検查により次の各事項を検証しなければならない。ータイプ4のESPEにあっては,SPMからESPEへ少なくも二つの獨立した信號源があり,そのいずれ一ESPEからの信りに応じて,SPMが門動試験を間始する。一調(diào)整簡所には,かざ(鍵),パスワード,又は特別の工具を用いなければアクセスできない。ーマーキングは,A.3.4に適合し,正しい。A.3.4SPMヘのマーキングSPM供給者は,次の情報を恒久的方法でSPMにマーキングしなければな一供給者の名稱及び住所一型式番號及び製造番號A.4SSD(副開閉器)B9704-1:2006(IEC61496-1:2004)れの場合もSSDはオフ狀態(tài)になければならない。ESPEの電源をオンしたときは,OSSDがオン狀態(tài)になる前に,自動試験によりSSDの安全関連機能の一SSDがオン狀態(tài)に拘束される障害狀態(tài)においてESPEの電源を投入したときは,OSSDはオフ狀態(tài)にA.5.2起動亻ン夕一口ッ久障害時の要求事項起動亻ン夕一口ッ久が亻ン夕一口ッ久狀熊(OSSDの才>タA.5.4表示起動インターロックによってOSを31B9704-1:2006(IE