C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)序文 1 12引用規(guī)格 23用語及び定義 34試験要求事項(xiàng) 74.1概要 74.2基本運(yùn)動(dòng) 74.3橫運(yùn)動(dòng) 84.4取付け g4.5測(cè)定系 84.6振動(dòng)の許容差 94.7制御方法 4.8振動(dòng)応答検査 5厳しさ 5.0A概要 5.1試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲 5.2加速度rms値 5.3加速度スペクトル密度曲線の形 5.4試験時(shí)間 6前処理 7初期測(cè)定 8試験 8.1概要 8.2振動(dòng)応答検查 8.3等化のための低レベル予備加振 8.4ランダム振動(dòng)試験 8.5最終振動(dòng)応答検査 9後処理 10最終測(cè)定 1611製品規(guī)格に規(guī)定する事項(xiàng) 1612試験報(bào)告書に記載する情報(bào) 附屬書A(參考)標(biāo)準(zhǔn)的な環(huán)境條件における試験スペクトル 附屬書B(參考)ガイダンス 23C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第14條によって準(zhǔn)用する第12條第1項(xiàng)の規(guī)定に基づき,財(cái)団法人日本電子部品信頼性センター(RCJ)及び財(cái)団法人日本規(guī)格協(xié)會(huì)(JSA)から,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を改正すべきとの申出があり,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)の審議を経て,経済産業(yè)大臣が改正した日本工業(yè)規(guī)格これによって,JISC60068-2-64:1997は改正され,この規(guī)格に置き換えられた。この規(guī)格は,著作権法で保護(hù)対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願(yuàn)公開後の特許出願(yuàn)又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大i及び日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)在會(huì)は,このような特許権,出願(yuàn)公開後の特許出願(yuàn)及び欠用新案権に関わる確認(rèn)について,責(zé)任はもたない。JISC60068の規(guī)格群には,次に示す部編成がある。JISC60068-2-1第2-1部:低溫(耐寒性)試験方法(試験記號(hào):A)JISC60068-2-2第2-2部：高溫(耐熱性)試験方法(武験記號(hào)：B)JISC60068-2-6第2-6部:正弦波振動(dòng)試験方法(試験記號(hào):Fc)JISC60068-2-7加速度(定常)試験方法JISC60068-2-14第2-14部:溫度変化試験方法(試験記號(hào):N)JISC60068-2-17封止(気密性)試験方法JISC60068-2-18第2-1JISC60068-2-20第2-20部:試験一試験Tー端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法JISC60068-2-21第2-21部:試験一試験U:端子強(qiáng)度試験方法JISC60068-2-27第2-27部:衝撃試験方法(試験記號(hào):Ea)JISC60068-2-30第2-30部:溫濕度サイクル(12+12時(shí)間サイクル)試験方法(試験記號(hào):Db)JISC60068-2-31面落下,角落下及び転倒(主として機(jī)器)試験方法JISC60068-2-32自然落下試験方法JISC60068-2-38溫濕度組合せ(サイクル)試験方法JISC60068-2-39第2-39部:低溫,減圧及び高溫高濕一連複合試験JISC60068-2-42接點(diǎn)及び接続部の二酸化硫黃試験方法JISC60068-2-43接點(diǎn)及び接続部の硫化水素試験方法JISC60068-2-45耐溶削性(洗凈溶削浸せき)試験方法JISC60068-2-46接點(diǎn)及び接続部の硫化水素試験一指針JISC60068-2-47第2-47部:動(dòng)的試験での供試品の取付方法C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)JISC60068-2-48第2-48部:保存の影響をシミュレートするために,環(huán)境試験方法に関するⅡS規(guī)格群の試験を適用する場(chǎng)合の指針JISC60068-2-49接點(diǎn)及び接続部の二酸化硫黃試験一指針JISC60068-2-50発熱供試品及び非発熱供試品に対する低溫ノ振動(dòng)(正弦波)複合試験JISC60068-2-51発熱供試品及び非発熱供試品に対する高溫ノ振動(dòng)(正弦波)複合試験JISC60068-2-52墟水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶液)JISC60068-2-53発熱供試品及び非発熱供試品に対する低溫·高溫ノ振動(dòng)(正弦波)複合試験の指針JISC60068-2-54はんだ付け性試験方法(平衡法)JISC60068-2-57時(shí)刻燃振動(dòng)試験方法JISC60068-2-58表面実裝部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性JISC60068-2-61一連耐候性試験JISC60068-2-64第2-64部:広帶域ランダム振動(dòng)試験方法及び指針(試験記號(hào):Fh)JISC60068-2-65第2-65部:音響振動(dòng)JISC60068-2-66高溫高濕，定常(不鮑和加壓水然気)JISC60068-2-67基本的に構(gòu)成部品を?qū)澫螭趣筏扛邷馗邼?定常狀態(tài)の促進(jìn)試験JISC60068-2-68砂じん(塵)試験JISC60068-2-69第2-69部:試験一試験Te:表而大裝部出(SMD)のはんだ付け性試験方法(平衡法)JISC60068-2-70第2-70部:指及び手の擦れによる印字の摩滅試験JISC60068-2-75第2-75部:ハンマ試験JISC60068-2-77表面実裝部品(SMD)の本體強(qiáng)度及び耐衝撃性試験方法JISC60068-2-78第2-78部:高溫高濕(定常)試験方法JISC60068-2-80第2-80部:混合モード振動(dòng)試験方法(試験記號(hào):Fi)JISC60068-2-81第2-81部:衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法JISC60068-2-82第2-82部:試験一試験XW1:電気·電子部品のウィスカ試験方法JISC60068-3-1低溫試験及び高溫試験を理解するための必す(須)情報(bào)JISC60068-3-2第3-2部:溫度ノ滅圧複合試験を理解するための必す(須)情報(bào)JISC60068-3-3機(jī)器の耐震試験方法の指針JISC60068-3-4第3-4部:高溫高濕試験の指針JISC60068-3-5第3-5部:溫度試験槽の性能確認(rèn)の指針JISC60068-3-6第3-6部:支援文書及び指針一溫濕度試験槽の性能確認(rèn)の指針JISC60068-3-7第3-7部:支援文書及び指針一負(fù)荷がある場(chǎng)合の低溫試験(試験A)及び高溫試験(試験B)の試験槽の溫度測(cè)定のための指針JISC60068-3-8第3-8部:振動(dòng)試験方法の選択の指針日本工業(yè)規(guī)格(IEC60068-2-64:2008)第2-64部:広帯域ランダム振動(dòng)試験方法及び指針(試験記號(hào):Fh)序文この規(guī)格は,2008年に第2版として発行されたIEC60068-2-64を基に,技術(shù)的內(nèi)容及び構(gòu)成を変更する全規(guī)格(BASICSAFETYPUBLIこの規(guī)格は,ランダムな振動(dòng)を受ける電気製品及び電子製品(以下,供試品という。)に一般的に適用すランダム振動(dòng)試験は,他のほとんどの試験と比べて,決定論的ではなく,統(tǒng)計(jì)的技術(shù)に基づいている。ランダム振動(dòng)試験は,常にある程度の技術(shù)的判斷を必要との雙方で,このことを十分に認(rèn)識(shí)する必要がある。製この規(guī)格は,ランダム振動(dòng)を受ける一般の電気製品及び電子製品(供試品)に適用する。この規(guī)格は,規(guī)定する?yún)棨筏丹违楗螗昆嗾駝?dòng)を供試出に與えた場(chǎng)合,機(jī)能的及びノ又は構(gòu)造的に許容できない劣化がなく,供試品が動(dòng)的な負(fù)荷に耐える能力を?qū)g証するための標(biāo)準(zhǔn)的な試験手順について規(guī)定すランダム振動(dòng)は,応力の紫稍効果,並びにその結(jié)果として生じる機(jī)械的欠陥及び規(guī)定された性能の劣化の規(guī)格は,供試品の機(jī)械的強(qiáng)度の実証及びノ又は動(dòng)特性の調(diào)査にも使用できる。2C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)この規(guī)格は,例えば,航空機(jī),宇宙船,地上車両などの場(chǎng)合の輸送又は使用環(huán)境で生じるランダム振動(dòng)を受ける供試品に適川する。この試験は,主に包裝されていない供試出及び愉送容器が供試品の一部となる場(chǎng)合の供試品に適用することを意図したものである。包裝された製品の場(chǎng)合は,製品と包裝材とを合わせたものを供試品と呼ぶ。この規(guī)格は,供試品の取付方法を規(guī)定したJISC60068-2-47に関連して,包裝された製品にも適用できる。供試品が,不規(guī)則性及び規(guī)則性の振動(dòng)が混合した振動(dòng)(例えば,航空機(jī),宇宙船,及び輸送用容器の中の製品など,輸送又は使用環(huán)境で生じる振動(dòng))を受ける場(chǎng)合は,純粋なランダム振動(dòng)による試験では十分でない場(chǎng)合がある。振動(dòng)試験の選択指針を規(guī)定したJISC60068-3-8を參照し,適切な試験方法を選択するこの規(guī)格は,主として電気製品及び電子製品を?qū)澫螭趣筏郡猡韦扦ⅳ毪?これらの製品に制限せず,他注記この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號(hào)を,次に示す。IEC60068-2-64:2008,Environmentaltesting—Part2-64:Tests—TestFh:Vibration,broadbandrandomandguidance(IDT)なお,対応の程度を表す記號(hào)“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”こ2引用規(guī)格の引用規(guī)格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補(bǔ)を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規(guī)格は,その最新版(追補(bǔ)を含む。)を適用する。注記対応國際規(guī)格:ISO2041,Vibrationandshock—Vocabulary(MOD)JISC60068-1環(huán)境試験方法一電気·電子一通則JISC60068-2-6環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-6部:正弦波振動(dòng)試験方法(試験記號(hào):Fc)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-6,Environmentaltesting—Part2-6:Tests—TestFc:Vibration(sinusoidal)(IDT)JISC60068-2-47:2008環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-47部:動(dòng)的試験での供試品の取付方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-47:2005,Environmentaltesting—Part2-47:Tests—Mountingofspecimensforvibration,impactandsimilardynamictests(IDT)JISC60068-3-8:2006環(huán)境試験方法一電気·電子一第3-8部:振動(dòng)試験方法の選択の指針注記対応國際規(guī)格:IEC60068-3-8:2003,Environmentaltesting—Part3-8:Supportingdocumentationandguidance—Selectingamongstvibrationtests(IDT)JISC60721-3(規(guī)格群)環(huán)境條件の分類環(huán)境パラメータとその厳しさのグループ別分類注記対応國際規(guī)格:IEC60721-3(allparts),Classificationofcnvironmentalconditions—Part3:Classificationofgroupsofenvironmentalparametersandtheirseverities(IDT)IEC60050-300,InternationalElectrotechnicalVocabulary—Electricalandelectronicmeasurementsandmeasuringinstruments—Part311:Generaltermsrelatingtomeasurements—Part312:Generaltermsrelatingtoelectricalmeasurements—Part313:Typesofelectricalmeasuringinstruments—Part314:3C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)SpecifictermsaccordingtothetypeofinstrumentIEC60068-5-2:1990,Environmentaltesting.Part5:Guidetodraftingoftestmethods—TermsanddefinitionsIECGuide104,Thepreparationofsafetypublicationsandtheuseofbasicsafetypublicationandgroupsafetypublications3用語及び定義乙の規(guī)格で用

石主女用語及述定義仗,次億X石。注記一般的女用語仗,JISB0153,JISC60068-1,JISC60068-2-6,IEC60050-300及述IEC60068-5-2に定義されている。次の用語の定義爐,乙札兮の出典の定義扒兮派生又仗修正之札憶古ので南3.1橫運(yùn)動(dòng)(cross-axismotion)加振L憶方向以外の運(yùn)動(dòng)。一般億加振寸石軸億直交寸石2軸で規(guī)定寸石。注記橫運(yùn)動(dòng)は,固定點(diǎn)の近傍で計(jì)測(cè)寸石の爐望支L

。3.2実際の運(yùn)動(dòng)(actualmotion)基準(zhǔn)點(diǎn)の變換器扒兮の応答で,依帯域信號(hào)億X→ζ表之札石運(yùn)動(dòng)。注記乙の用語仗.本文中で仗使打札ζ

女

爐,.対応國際規(guī)格で定義之札ζ擴(kuò)Ω.乙の規(guī)格で志そ3.3固定點(diǎn)(fixingpoint)通常,供試品走使川中億問定Lζ

石點(diǎn)で,取付具又仗振動(dòng)臺(tái)億接Lζ

石供試品の部分。注記1害際の取付構(gòu)造物の一部走取付具匕Lζ使用寸石匕寺仗,固定點(diǎn)仗,供試品上の點(diǎn)で仗女〈,取付構(gòu)造物上の點(diǎn)匕寸石。注記2包裝之札憶嬰品爐供試品の場(chǎng)合仗,固定點(diǎn)體，振動(dòng)臺(tái)上接支石包裝材走全書供試品②表而解積寸石。3.4.11點(diǎn)制御(singlepointcontrol)基準(zhǔn)點(diǎn)の變換器扒兮の信號(hào)走用

ζ,乙の點(diǎn)走規(guī)定の振動(dòng)L八兒億保彐制御方法。3.4.2多點(diǎn)制御(multipointcontrol)監(jiān)視點(diǎn)の各變換器扒兮の信號(hào)走用

石制御方法。注記乙札兮の信號(hào)仗,製品規(guī)格の規(guī)定億徉→ζ,連統(tǒng)的億算術(shù)平均寸石扒又仗比較方法走用

ζ処理寸石(3.13參照)。3.5gn地球の重力億X石標(biāo)準(zhǔn)加速度。地球上の加速度仗,高度及述緯度億X→ζ變化寸石。注記乙の規(guī)格で仗,g1の值走10m/s2億丸的石。4C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)3.6計(jì)測(cè)點(diǎn)(measuringpoints)試験を?qū)g施するときにデータを収集する特定の點(diǎn)。注記計(jì)測(cè)點(diǎn)には,次に定義する監(jiān)視點(diǎn),基準(zhǔn)點(diǎn)及び架空の基準(zhǔn)點(diǎn)の3種類がある。3.7監(jiān)視點(diǎn)(checkpoint)取付具,振動(dòng)臺(tái)又は供試品上の點(diǎn)で,固定點(diǎn)の一つに可能な限り近く,取付具,振動(dòng)臺(tái)又は供試品と強(qiáng)注記1試験要求事項(xiàng)を満たすために,複數(shù)の監(jiān)視點(diǎn)を使用する場(chǎng)合がある。注記2固定點(diǎn)が4點(diǎn)以下の場(chǎng)合は,それぞれの點(diǎn)の近傍を監(jiān)視點(diǎn)として使用するのがよい。振動(dòng)臺(tái)と接する包裝材の表面を固定點(diǎn)と解積するような包裝された製品の場(chǎng)合は,1點(diǎn)の監(jiān)視點(diǎn)を使用するのがよい。ただし,試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲において,振動(dòng)臺(tái)又は取付構(gòu)造物の共振の影響がない場(chǎng)合に限る。共振の影響がある場(chǎng)合は,多點(diǎn)制御が必要となる場(chǎng)合がある。固定點(diǎn)が4點(diǎn)を超える場(chǎng)合は,製品規(guī)格で代表的な固定點(diǎn)4點(diǎn)を監(jiān)視點(diǎn)として規(guī)定するのがよい。注記3供試品が大きいか又は複雑なため,固定點(diǎn)に近接した點(diǎn)を監(jiān)視點(diǎn)とすることができないような特別の場(chǎng)合は,製品規(guī)格で監(jiān)視點(diǎn)を規(guī)定するのがよい。注記4多數(shù)の小形の供試品を1個(gè)の取付具に取り付ける場(chǎng)合,又は幾つかの固定點(diǎn)がある小形の供試品の場(chǎng)合は,制御信號(hào)を取り出すために監(jiān)視點(diǎn)を1點(diǎn)としてもよい(すなわち,基準(zhǔn)ていることになる。この方法は,供試品を取り付けた狀態(tài)の取付具の最低共振振動(dòng)數(shù)が,3.8基準(zhǔn)點(diǎn)(referencepoint)この規(guī)格の要求事項(xiàng)を満たすように試験の制御に使用する點(diǎn)で,監(jiān)視點(diǎn)から選んだ點(diǎn)。3.9架空の基準(zhǔn)點(diǎn)(fictitiousreferencepoint)この規(guī)格の要求事項(xiàng)を満たすように試験の制御に使用する點(diǎn)で,複數(shù)の監(jiān)視點(diǎn)から手動(dòng)又は自動(dòng)で導(dǎo)き出した架空の點(diǎn)。3.10応答點(diǎn)(responsepoints)供試品の振動(dòng)応答検査の目的のためにデータを収集する供試品上の特定の點(diǎn)。注記これらの點(diǎn)は,監(jiān)視點(diǎn)又は基準(zhǔn)點(diǎn)と同一ではない。3.11推奬試験軸(preferredtestingaxes)供試品の最も弱い軸を含む直交する3軸。3.12サンプリング周波數(shù)(samplingfrequency)時(shí)刻歷をデジタル形式で記録又は表現(xiàn)するための,離散的な値の1秒間當(dāng)たりの數(shù)。注記…この用語は.杰文中では使われていないが.…対応國際規(guī)格で定義されておΩこの規(guī)格で志そ5C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)3.13多點(diǎn)制御方法(multipointcontrolstrategies)多點(diǎn)制御を使用する場(chǎng)合に,基準(zhǔn)となる制御信號(hào)を計(jì)算する方法。注記多點(diǎn)制御方法には,次に定義する平均値制御及び極値制御の2種類があり,これらの違いは4.7.13.142點(diǎn)以上の監(jiān)視點(diǎn)の加速度スペクトル密度の振動(dòng)數(shù)ラインごとの度を作る制御方法。3.152點(diǎn)以上の監(jiān)視點(diǎn)の加速度スペクトル密度の振動(dòng)數(shù)ラインごとの最大値又は最小値から制御加速度スペ3.16波高率(crestfactor)時(shí)刻層波形の,rms值に対するピーク値の比(JISB0153參照)。3.17単一の共振ピークがあるとき,最大応答の0.707倍となる振動(dòng)數(shù)応答関數(shù)上の2點(diǎn)の間の振動(dòng)數(shù)の幅。3.18ある中心振動(dòng)數(shù)の狹帶域フィルタを通過した加迷度信與のその部分の2乗平均値で,單位帶域幅當(dāng)たりで表し,帯域幅をぜロに近付け,かつ,平均化時(shí)間を無限大に近付けたときの極限値。3.19基準(zhǔn)點(diǎn)又は架空の基準(zhǔn)點(diǎn)で測(cè)定した加速度スペクトル密度。3.20次に示す一連の動(dòng)作。一基準(zhǔn)點(diǎn)又は架空の基準(zhǔn)點(diǎn)から取り出したアナログ波形信號(hào)のデジタル化。一必要な信號(hào)処理の実施。一振動(dòng)試験裝置の電力増幅器に対して,更新されたアナログ信號(hào)を出力(B.1參照)。注記…こ②用語は.杰文中では使れれていないが.…対応國際想格で定義されておりこの規(guī)格で志そ3.21波高率による,駆動(dòng)信號(hào)の最大値の制限。3.22有効振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲(effectivefrequencyrange)試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲內(nèi)の最低振動(dòng)數(shù)(fi)の0.5倍から最大振動(dòng)數(shù)()の2倍までの振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲(図1參照)。6C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)注記初期傾斜及び最終傾斜によって,有効振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲は試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲(fi～/)よりも広くなる。3.233.24等化(equalization)3.25最終頓斜(finalslope)規(guī)定の加速度スペクトル密度のた以上の部分(図1參照)。3.26振動(dòng)數(shù)分解能Be(frequencyresolution)加速度スペクトル密度の振動(dòng)數(shù)間隔をヘルツ(Hz)で表した幅。注記これは,デジタル解析での時(shí)刻歴レコード長(T)の逆數(shù)に等しい。振動(dòng)數(shù)ラインの本數(shù)は,與えられた振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲內(nèi)の振動(dòng)數(shù)間隔の數(shù)に等しい。3.27解析器が表示する値から読み取った真の加速度スペクトル密度の推定値。これには,計(jì)器誤差,偶然誤差及び偏り誤差を含む。3.28初期傾斜(initialslope)規(guī)定の加速度スペクトル密度の方以下の部分(図1參照)。3.29計(jì)器誤差(instrumenterror)倒御システムへ入力する各アナログ川路及び制御システムのアナログ川路によって発生する思光。3.30偶然誤差(randomerror)加速度スペクトル密度の推定値間のばらつきによる誤差。この誤差は,平均化時(shí)間及びフィルタの実際3.31高速フーリエ変換に用いる,時(shí)間領(lǐng)域で等間隔に採取したデータの集合。3.32再現(xiàn)性(reproducibility)個(gè)々の測(cè)定を次の條件で行った場(chǎng)合の,同じ試験條件の同じ値の測(cè)定結(jié)果間の一致の度合い(IEC60050-300修正)。一異なる方法一異なる測(cè)定器一異なる測(cè)定者一異なる試験所7C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)一1回の測(cè)定時(shí)間に比べ,十分長い時(shí)間が経過した後の測(cè)定一使川する測(cè)定器の使川條件の違い注記用語“再現(xiàn)性”は,前記の條件の一つだけを考慮する場(chǎng)合にも使う。3.33rms值(root-mean-squarevalue)fとたとの間の區(qū)間全體にわたる関數(shù)の二乗平均の平方根。3.34偏差の二乗平均の平方根。振動(dòng)理論では,振動(dòng)の平均値はゼロである。ランダム振動(dòng)の時(shí)刻歴の場(chǎng)合,標(biāo)準(zhǔn)偏差はrms値に等しい。3.35表示加速度スペクトル密度に対する真の加速度スペ3.36ある量を推定するときの獨(dú)立変數(shù)の數(shù)(JISB0153參照)。時(shí)間平均によってランダムデータの加速度スペクトル密度を推定する場(chǎng)合,統(tǒng)計(jì)的自由度は,振動(dòng)數(shù)分解能及び有効平均化時(shí)間から求める。3.37試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲(testfrequencyrange)製品規(guī)格に規(guī)定した加速度スペクトル密度のf~たの振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲(図1參照)。3.38供試品に作用するランダム波の加速度スペクトル密度。4試験要求事項(xiàng)この要求事項(xiàng)は,試験に用いる電力増幅器,振動(dòng)発生機(jī),試験用取付具,供試品及び制御システムが完備している振動(dòng)系に適用する。標(biāo)準(zhǔn)的な試験方法は,次の試験手順で構(gòu)成し,供試品の互いに直交する軸のそれぞれについて適用する。a)低レベルの正弦波加振又はランダム波加振を用いた,初期振動(dòng)応答検査(8.2參照)。b)負(fù)荷試験又は耐久試験としてのランダム波加振。c)初期振動(dòng)応答検査の結(jié)果との比較,及び動(dòng)的挙動(dòng)の変化による潛在的な機(jī)械的故障を検出するための最終振動(dòng)応答検査(8.2及び8.5參照)。ただし,供試品の動(dòng)的挙動(dòng)が分かっている,重要な意味をもたない,又は規(guī)定レベルでの試験時(shí)にそれらの応答が測(cè)定できる場(chǎng)合には,製品規(guī)格で応答検査に関する要求事項(xiàng)を省略してもよい。供試品の固定點(diǎn)における基本運(yùn)動(dòng)を,製品規(guī)格に規(guī)定する。供試品の固定點(diǎn)は,加振方向に対して直線的で,位相及び振幅共に同一の運(yùn)動(dòng)をしなければならない。複數(shù)の固定點(diǎn)を?qū)g質(zhì)的に同一の運(yùn)動(dòng)とすることが困難であれば,多點(diǎn)制御を使う。8C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)注記大きな構(gòu)造物又は広い振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲(例えば,20Hz～2000Hz)で試験する場(chǎng)合に,多點(diǎn)制御が製品規(guī)格で規(guī)定している場(chǎng)合,橫運(yùn)動(dòng)を観測(cè)する。橫運(yùn)動(dòng)は,試験前に製品規(guī)格で規(guī)定するレベルの正弦波振動(dòng)若しくはランダム波振動(dòng)で調(diào)査する,又は直交する2軸にモニタチャンネルを追加して試験中に規(guī)定の軸に直交する2軸の監(jiān)視點(diǎn)では,500Hzを超える各振動(dòng)數(shù)の加速度スペクトル密度が基本運(yùn)動(dòng)の格で,橫運(yùn)動(dòng)の許容値を,基本運(yùn)動(dòng)の一3a)上記の値を超える橫運(yùn)動(dòng)は,全て試験報(bào)告書に記載する。供試品は,JISC60068-2-47に従って取り付の場(chǎng)合,JISC60068-2-6の図A.1(防振裝置の一般化した伝達(dá)率)から該當(dāng)する伝達(dá)率曲線を選択して,測(cè)定系は,其準(zhǔn)點(diǎn)の試験岫方向で測(cè)定した振動(dòng)レベルが,試験で要求する許容差內(nèi)であることを判斷で精度に重大な影響を與える。測(cè)定系の振動(dòng)數(shù)範(fàn)叫は,有効振動(dòng)數(shù)範(fàn)明より広くする(図1參照)。測(cè)定系の振動(dòng)數(shù)応答は,この振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲において,±5%以內(nèi)で平たん(坦)とする。測(cè)定系の特性がこの範(fàn)囲9C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)+3dB初期傾斜+6dB/oct以上初期傾斜+6dB/oct以上fa無0.5fa無0.5fi4.6振動(dòng)の許容差基準(zhǔn)點(diǎn)の規(guī)定の軸方向での,図1に示すたとたとの間の表示加速度スペクトル密度は,計(jì)器誤差及び偶然誤差を含んで規(guī)定値の加速度スペクト速度ms値は,規(guī)定の加速度スペクトル密度に基づくrms値の±10%以內(nèi)とする。これらの値は,基準(zhǔn)點(diǎn)及び架空の基準(zhǔn)點(diǎn)の両方に適用する。ある振動(dòng)數(shù)において,これらの値を?qū)g現(xiàn)することが困難な場(chǎng)合がある。また,大形より広い許容差を規(guī)定する。初期傾斜は+6dB/oct以上,最終傾斜は一24dB/oct以下とする(B.2.3參照)?；鶞?zhǔn)點(diǎn)の加速度瞬時(shí)値は,図2に示すように,ほぼ正規(guī)(ガウス)分布でなければならない。このことは,通常の裝置校正の場(chǎng)合に確認(rèn)する(B.2.2參照)。駆動(dòng)信號(hào)クリッピングは,2.5以上とする。製品規(guī)格に特に規(guī)定がない限り,基準(zhǔn)點(diǎn)における加速度波形の波高率を調(diào)べて,信號(hào)が規(guī)定のrms値の3倍以上の値を含むことを確認(rèn)する。架空の基準(zhǔn)點(diǎn)を制御に使用する場(chǎng)合,波高率の要求事項(xiàng)は,制御加速度スペクトル密度の計(jì)算に用いる全ての監(jiān)視點(diǎn)に通川する。確率密度関數(shù)は,試験中の2分間,基準(zhǔn)點(diǎn)について計(jì)算する。許容できる正規(guī)分布からの逸脫を,製品規(guī)格に規(guī)定する。C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)σ0σ20-rms值図2ーランダム振動(dòng)の時(shí)刻歴波形及び正規(guī)(ガウス)分布(波高率=3の場(chǎng)合)統(tǒng)計(jì)的確度は,統(tǒng)計(jì)的自由度及び信頼水準(zhǔn)から求める(図3參照)。統(tǒng)計(jì)的自由度は,式(1)によってB:振動(dòng)數(shù)分解能T3:有効平均化時(shí)間統(tǒng)計(jì)的自由度は,製品規(guī)格に特に規(guī)定がない限り,120以上とする。製品規(guī)格が信頼水準(zhǔn)を規(guī)定する場(chǎng)合には,図3を使用して統(tǒng)計(jì)的確度を計(jì)算するとよい。%%5信頼水準(zhǔn)信頼水準(zhǔn)100fign:デジタル振動(dòng)制御器が分析する最大の振動(dòng)數(shù)(Hz)n:試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲を超えてhighまで均等に分散している振動(dòng)數(shù)C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)定値に制御するのかを,製品規(guī)格に規(guī)定する。さらに,多點(diǎn)制御の場(chǎng)合は,制御する加速度スペクトル密度に大きな影響を與えた入力信號(hào)の有無を,試験級(jí)告背に追加するのがましい。注記1點(diǎn)制御が実施できない場(chǎng)合は,監(jiān)視點(diǎn)における信號(hào)の平均値又は極値を用いた多點(diǎn)制御を使用するのがよい。多點(diǎn)制御の場(chǎng)合の基準(zhǔn)點(diǎn)は架空の基準(zhǔn)點(diǎn)である。使用した制御方法は,試験多點(diǎn)制御では,次の方法を利用することができる。この方法では,制御信號(hào)を各監(jiān)視點(diǎn)からの信號(hào)によって計(jì)算する。監(jiān)視點(diǎn)からの信號(hào)値を,振動(dòng)數(shù)ごと4.7.1.2重み付き平均值制御各振動(dòng)數(shù)の制御加速度スペクトル密度は,複數(shù)の監(jiān)視點(diǎn)からの加速度スペクトル密度に重みを付け,式n:監(jiān)視點(diǎn)の數(shù)極値制御では,制御加速度スペクトル密度を,各監(jiān)視點(diǎn)で測(cè)定した各振動(dòng)數(shù)ラインの信號(hào)値の最大値又は最小值から求める。各振動(dòng)數(shù)の制御加速度スペクトル密度は,各監(jiān)視點(diǎn)からの信號(hào)値を包絡(luò)する関數(shù),又は信號(hào)值の下限値の関數(shù)として求める。4.7.2複數(shù)基準(zhǔn)制御製品規(guī)格で規(guī)定する場(chǎng)合は,異なる監(jiān)視點(diǎn)又は測(cè)定點(diǎn)ごとに,複數(shù)の基準(zhǔn)スペクトルを規(guī)定できる。さらに,力による制限を加えた振動(dòng)試験のような,異なる制御量について複數(shù)基準(zhǔn)スペクトルを定義しても複數(shù)基準(zhǔn)制御を指定する場(chǎng)合,次のどちらかによって制御方法を規(guī)定する。4.8振動(dòng)応答検查振動(dòng)応答検査は,振動(dòng)試験結(jié)果の評(píng)価をするのに有効な方法である。振動(dòng)応答検査の目的,効果及び方法については,JISC60068-3-8を參照寸石匕Xい。振動(dòng)応答検査に正弦波振動(dòng)を使用する場(chǎng)合の要求事項(xiàng)は,JISC60068-2-6に,ランダム振動(dòng)を使用する場(chǎng)合の要求事項(xiàng)は,この規(guī)格による。非線形な応答をもつ供試品を正弦波振動(dòng)で検査する場(chǎng)合,固有振動(dòng)數(shù)が掃引方向によって変化するので注意する。ランダム振動(dòng)の場(chǎng)合は,非線形性の影響が固有振動(dòng)數(shù)の挙動(dòng)として現(xiàn)れる。正弦波振動(dòng)及びランダム振動(dòng)いずれの場(chǎng)合も,共振振動(dòng)數(shù)での増幅度合いは,入力する振動(dòng)の大きさ及びQ値に依存する。內(nèi)容物が不明な供試品を振動(dòng)応答検査する場(chǎng)合は,駆動(dòng)力,速度など,異なる信號(hào)を計(jì)測(cè)するのがよい。C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)5.0A概要一試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲一加速度rms值一試験時(shí)間各パラメータは,次の方法のいずれかによって,製品規(guī)格に規(guī)定する。b)幾つかの環(huán)境條件例を記載した附屬書Aから選択c)それらが既知の環(huán)境と著しく異なる場(chǎng)合は,既知の環(huán)境を適用d)他の既知の情報(bào)源のデータ(例えば,JISC60721-3規(guī)格群)を適用a)fi:1,2,5,10,20,50,100b)z:20,50,100,200,500,1000,2000,5000fi及びた並びに加速度スペクトル密度の5.0Aでa)を迷択した場(chǎng)合,たからたまでの加速度ms值(図1の規(guī)定)は,次の低から迷ぶのが望ま1,1.4,2,2.8,3.5,5,7,10,14,20,28,35,50,70,100,140,200,280この試験では,平たん(坦)で水平な直線部及びその前後に傾斜をもった加速度スペクトル密度曲線をこの場(chǎng)合,製品規(guī)格に振動(dòng)數(shù)の関數(shù)としてその形狀を規(guī)定する。レベル及びそれに対応する振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲,一2,5,8,12,24(時(shí)間)許容差は,0～+5%とする。C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)製品規(guī)格に前処理の要求がある場(chǎng)合は,前処理の條件を規(guī)定する。7初期測(cè)定製品規(guī)格の規(guī)定に従って,供試品の目視,寸法,機(jī)能検査及びその他の検査を?qū)g施する.(B.7.然照)。8.1概要試験は,製品規(guī)格で規(guī)定する順序に従って実施する。試験手順は,次による。一初期振動(dòng)応答検査(規(guī)定している場(chǎng)合)一等化のための低レベル予備加振(規(guī)定したレベルに到達(dá)するまで繰り返し行う。)ーランダム振動(dòng)試験一最終振動(dòng)応答検査(規(guī)定している場(chǎng)合)製品規(guī)格に特別の規(guī)定がない限り,供試品を各推奬試験軸で順次加振する。加振する軸の順序は,製品規(guī)格に特別の規(guī)定がなければ,重要ではない。供試品が重力方向に敏感な場(chǎng)合,例えば,水銀を用いた傾斜スイッチなど,通常の使用方向だけに限る場(chǎng)合があり,製品規(guī)格によって試験軸を規(guī)定する?；鶞?zhǔn)點(diǎn)の制御加速度スペクトル密度は,1點(diǎn)制御の場(chǎng)合には一つの監(jiān)視點(diǎn)から,多點(diǎn)制御の場(chǎng)合には複數(shù)の監(jiān)視點(diǎn)から求める。多點(diǎn)制御の場(chǎng)合,次のどの制御方式によって監(jiān)視點(diǎn)の信號(hào)を制御に用いるかを製品規(guī)格に規(guī)定する。一各監(jiān)視點(diǎn)の加速度スペクトル密度の平均値を用いる方式(平均値制御)一各監(jiān)視點(diǎn)の加速度スペクトル密度に重みを付けた平均値を用いる方式(重み付け平均値制御)一全ての監(jiān)視點(diǎn)からの信!號(hào)のうち,各振動(dòng)數(shù)における極低(最大値又は最小)を川いる方式(椒依制御)いずれの方式でも,多點(diǎn)制御の制御スペクトルは,実在の監(jiān)視點(diǎn)からではなく,架空の監(jiān)視點(diǎn)から求め通常,防振裝置を使うことになっている供試品を,防振裝置を付けないで試験する必要がある場(chǎng)合,特別の処置が必要となる(JISC60068-2-47參照)。8.2振動(dòng)応答検查製品規(guī)格に規(guī)定がない場(chǎng)合は,振動(dòng)応答検査は必要ではない。しかし,製品規(guī)格にランダム振動(dòng)試験の前又は前後に,各方向の振動(dòng)応答検査を規(guī)定してもよい.(4.8參照)。製品規(guī)格で規(guī)定する場(chǎng)合,規(guī)定した振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲內(nèi)で供試品の1點(diǎn)以上における動(dòng)的応答を検査する。応答點(diǎn)の數(shù)及び位置は,製品規(guī)格に規(guī)定する。振動(dòng)応答検査は,試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲內(nèi)及び製品規(guī)格で規(guī)定する試験レベルで,正弦波振動(dòng)又はランダム振動(dòng)を用いて実施する。正弦波振動(dòng)についてはJISC60068-2-6に,ランダム振動(dòng)についてはこの規(guī)格による。各振動(dòng)の長所,短所及び詳細(xì)については,JISC60068-3-8による。振動(dòng)応答検査の試験レベルは,ランダム試験中に比べて供試品の応答が小さく,かつ,臨界振動(dòng)數(shù)を検出できるだけの十分な大きさのレベルを選択して,応答検査を?qū)g施する。正弦波加振を使う場(chǎng)合,製品規(guī)格に規(guī)定した全振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲を加速度振幅10m/s2又は変位振幅±1mmのどちらか小さい方の振幅で最低1往復(fù)掃引する。振動(dòng)応答検査の試験レベルは,ランダム試験い応力が供試品にかかることを防ぐために,規(guī)定されたランダム振動(dòng)試験の加速度rms値を考慮して決定C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)等の構(gòu)造物まで勵(lì)振される心配がある場(chǎng)合は,共振振動(dòng)數(shù)の川安及び相対的な振帽を調(diào)べるために,対象ランダム振動(dòng)による振動(dòng)応答検査は,応答の確率的変動(dòng)を小さくするために,必要な時(shí)間を確保して実施する。検査する振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲は,ランダム試験の試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲x~たとする。応答ピランダム振動(dòng)による応答検査を行う場(chǎng)合,加速度ms値は,試験時(shí)の規(guī)定値の25%以下が望ましい。加振時(shí)間はできるだけ短く,かつ,統(tǒng)計(jì)的自由度Na=120の解析が可能なだけ十分に長くする(図3參照)。規(guī)定されたランダム振動(dòng)試験中に,共振の応答を周期的に検査し,記録するのであれば,特別な振動(dòng)応答製品規(guī)格で規(guī)定する場(chǎng)合,供試品は,この検査中動(dòng)作させる。供試品が動(dòng)作しているために機(jī)械的振動(dòng)特性を評(píng)価できない場(chǎng)合は,供試品を動(dòng)作させない狀態(tài)での初期振動(dòng)応答検査を別に実施する。供試品の臨界振動(dòng)數(shù)は,供試品を調(diào)査して決定し試験報(bào)告書に記載する。規(guī)定レベルのランダム振動(dòng)試験の前に,実際の供試品を用いた低レベルの予備ランダム加振が,信號(hào)を予備ランダム加振の時(shí)間は,規(guī)定のランダム振動(dòng)試験時(shí)間には含めない。製品規(guī)格では,適切な試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲(fi~た),加速度rms値,加速度スペクトル密度曲線の形狀及びに,監(jiān)視點(diǎn)の加速度スペクトル密度及び加速度ms值を適切な間隔で繰り返し測(cè)定し,試験報(bào)告書にこれを記載する。製品規(guī)格に規(guī)定がある場(chǎng)合,供試品を試験中に規(guī)定の時(shí)間間隔で動(dòng)作させ,供試品の機(jī)能及び性能を調(diào)製品規(guī)格に初期振動(dòng)応答検査の規(guī)定がある場(chǎng)合,初期振動(dòng)応答検査以後に変化又は故障の発生があったかどうかを判定するため,ランダム振動(dòng)試験完了時(shí)に最終の振動(dòng)応答検査を?qū)g施することを,製品規(guī)格にび同じ方法で実施する。臨界振動(dòng)數(shù)の変化など,振動(dòng)応答の変化を合否判定に使用するための指針が,JISC60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)供試品を初期測(cè)定時(shí)と同じ條件(例えば,溫度)にするために,試験後及び最終測(cè)定の前に一定の時(shí)Wが必要なことがある。製品規(guī)格に,後処理に必要な條件を規(guī)定する。製品規(guī)格の規(guī)定に従って,供試品の目視,寸法,機(jī)能検査及びその他必要な検査を?qū)g施する。製品規(guī)格に,供試品の合否の判定基準(zhǔn)を規(guī)定する。振動(dòng)応答検査結(jié)果の評(píng)価には,JISC60068-3-8を參照する。11製品規(guī)格に規(guī)定する事項(xiàng)この試験を製品規(guī)格に規(guī)定する場(chǎng)合,適用可能な限り次の事項(xiàng)を規(guī)定することとし,特にアスタリスク(*)付きの事項(xiàng)は,必須となる。a)制御點(diǎn)*3.43.6c)基本運(yùn)動(dòng)*4.2d)固定點(diǎn)*4.2e)橫運(yùn)動(dòng)4.3f)供試品の取付け*4.44.64.6.24.6.3j)振功數(shù)分解能*4.6.4k)制御方法4.7D試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲*5.1m)加速度rmsi*5.25.3o)試験時(shí)間*5.4p)前処理簡條6q)初期測(cè)定*簡條7r)試験軸及び試験順序*8.1s)臨界振動(dòng)數(shù)8.28.2及8.5u)中間測(cè)定8.4.2v)後処理簡條9簡條10B.1y)性能及び機(jī)能検査簡條1012試験報(bào)告書に記載する情報(bào)試験報(bào)告書には,少なくとも,次の事項(xiàng)を記載する。C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)aa)顧客b)試験所c)試験報(bào)告書の識(shí)別d)試験日g)供試品の記述h)供試品の取付けi)試験裝置の性能(発行日及び識(shí)別番號(hào))(開発試験,認(rèn)定試験など)(関連試験手順)(初期狀態(tài),識(shí)別番號(hào),數(shù)量,図面,寫真など)(取付具の識(shí)別,図面,寫真など)(橫運(yùn)動(dòng)など)(概要,図面,寫真など)(不確かさ,校正データ,校正日並びに前回及び次回の校正日)D)制御方法(1點(diǎn)制御,多點(diǎn)制御又は複數(shù)基準(zhǔn)制御)m)初期測(cè)定,中間測(cè)定及びノ又は最終測(cè)定(測(cè)定點(diǎn),試験スペク卜ル,試験時(shí)間,振動(dòng)數(shù)分解能,統(tǒng)計(jì)的確度,分布など)p)試験結(jié)果(供試品の最終狀態(tài))q)試験中の観察事項(xiàng)及び行った処置r)試験の要約s)試驗(yàn)管理者(氏名及び界名)注記1試験を文書に記録する場(chǎng)合(例えば,試験パラメータを餅記した時(shí)系列の試験実施リスト,試験中の観祭小項(xiàng)及び失施処微並びに測(cè)定データシート)は,試験について試験火施記録をC60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)附屬書A標(biāo)準(zhǔn)的な環(huán)境條件における試験スペクトルここでは,標(biāo)準(zhǔn)的な環(huán)境條件における試験のパラメータの例を示す。詳細(xì)な仕様に関しては,表中に示輸送時(shí)における試験は.表A.!での事例から使用條件を參照し,図A.1の振動(dòng)スベクトルで表A.2に示振動(dòng)數(shù)Hz(対數(shù)目盛)図A.1一振動(dòng)數(shù)対加速度レベル(輸送時(shí))表A.1一使用分類別試験條件(輸送時(shí))試験時(shí)間1垂直方向11水平方向1223一3343一分類fASDfiHz/bHzASDfa,無f左HzASD/2加速度rms值m/s25405000.014410.2”50.655200.655000.0156.522005000.332.02.00.168.040.0372000.335000.0539.9注固定金具上の値。詳細(xì)は関連規(guī)格參照。A.2據(jù)え付ける機(jī)器示す條件を參考にL行之飛點(diǎn)。詳細(xì)は,関連規(guī)格を參照する。図A.2一振動(dòng)數(shù)対加速度レベル(據(jù)付け時(shí))試験時(shí)間132331320C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)分類HzASDf1Hz/ASDfa,無HzASDf2加速度rms值m/s2150.00130.020.0013250.00250.040.002530.0222000.205000.00527.0A6に示す條件を參片にして行うとよ.洋細(xì)は,図遜規(guī)格を參照する。振動(dòng)數(shù)Hz(対數(shù)目盛)図A.3一振動(dòng)數(shù)対加速度レベル(一般路上車両取付け時(shí))21C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)表A.5一使用分類別試験條件(一般路上車両取分類使用條件試験時(shí)間時(shí)間試験軸関連規(guī)格1自動(dòng)車:車臺(tái)取付け83一2ジ工一夕上の部品一垂點(diǎn)方向81水平縱方向81水平橫方向813鉄道中両：中體取付け:供試品致量500kg未油JISE4031區(qū)分1,等級(jí)B垂直方向51水平縱方向51水平橫方向514鉄道中両:臺(tái)中棒取付け:供試州量100kg未満JISE4031區(qū)分24a垂直方向514b水平縱方向514c水平橫方向515鉄道車両:輪軸取付け:供試品質(zhì)量50kg未満JISE4031區(qū)分3垂直方向51水平縱方向51水平橫方向51分類HzASDfHzhHzASDfa,無HzASDf加速度rms值m/s210.133.82a50.44.02000.12b50.150.92000.076.72c50.152000.1555200.0347.850.95200.90.0165.450.375200.370.00673.54a525042.44b50.332.622500.4220.04c58.9625037.068.62054550022300205004.4555.520441500270振動(dòng)數(shù)Hz(対數(shù)目盛)図A.4一振動(dòng)數(shù)対加速度レベル(航空機(jī)及びヘリコプター取付け時(shí))表A.7一使用分類別試験條件(航空機(jī)及びヘリコプター取付け時(shí))分類使川條件試験時(shí)間時(shí)間試験岫側(cè)遜規(guī)格1速及び超音速)RTCADO-160D胴體13胴體1313主翼，腳室，尾翼13213一3一駆動(dòng)要素部品以外13駆動(dòng)要素部品13注記1分類1aは,構(gòu)造に取り付く部品を除いた胴體で,エンジンの影響を直接受ける部位の標(biāo)準(zhǔn)振動(dòng)試験。注記2分類1bは,構(gòu)造に取り付く部品を除いた胴體で,エンジンの影響を直接受ける部位の厳しい振動(dòng)試験。表A.8一折れ點(diǎn)振動(dòng)數(shù)の試験條件(航空機(jī)及びヘリコプター取付け時(shí))分類ff2523C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008) B.1序文発生する誤差のために,供試品に対するランダム入力の真の加速度スペクトル密度が,あらかじめ規(guī)定しる。試験の後で,複雑な,時(shí)間のかかる解析が必要であり,オンラインでの確認(rèn)は不可能である。れる。振動(dòng)制御器の選択可能な幾つかのパラメータを使って,表示加速度スペクトル密度と真の加速度ス規(guī)定の加速度スペクトル密度を得るための等化には,何回扒の制御ループの繰り返しが必要であり,その時(shí)間は,ハードウエアの構(gòu)成,系全體の伝達(dá)関數(shù),規(guī)定の加速度スペクトル密度の形,制御アルゴリズム,試験前に調(diào)節(jié)可能な試験パラメータなど幾つかの要素に影響される。その試験パラメータは,解析最くなる。振動(dòng)數(shù)分解能もまた,誤差及びループタイムに重大な影響を與える。通常高い分解能(狹い帯域幅)は,高い制御精度を可能とするが,長い制御ループタイムを必要とする。供試品の真の加速度スペクトル密度と表示加速度スペクトル密度との偏差を最小にするために,上記の試験パラメータの最適化が必要である。振動(dòng)応答検査によって供試品と振動(dòng)発生機(jī)の相互作用に関する必須の情報(bào)が得られる。查では,試験用取付具の極端な振動(dòng)応答倍率又は試験用取付具と供試品の共振の一致を明らかにすることとなる。そのために,取付具に供試品を取り付ける前の動(dòng)的応答の検査,取付具上でのモーダル試験,及B.2試験要求事項(xiàng)B.2.11點(diǎn)及び多點(diǎn)制御例えば,部品の試験のように,剛性の高い供試品若しくは小形の供試品の場(chǎng)合,又は供試品が與える動(dòng)的な影響が小さい場(chǎng)合及び取付具の剛性を試験振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲で確保している場(chǎng)合,基準(zhǔn)點(diǎn)となる一つの監(jiān)視例えば,かなり離れた固定點(diǎn)をもつ機(jī)器のように,大形又は複雑な供試品の場(chǎng)合,一つの監(jiān)視點(diǎn)又は複C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)數(shù)の點(diǎn)を基準(zhǔn)點(diǎn)として規(guī)定する。架空の基準(zhǔn)點(diǎn)の場(chǎng)合は,加速度スペクトル密度は監(jiān)視點(diǎn)(複數(shù))で測(cè)定したランダム信號(hào)から計(jì)算する。大形及びノ又は複雑な供試品の場(chǎng)合,架空の其準(zhǔn)點(diǎn)を使川することを推樊する。測(cè)定は一つの基準(zhǔn)點(diǎn)で行い,表示加速度スペクトル密度を直接規(guī)定加速度スペクトル密度と比較する。多點(diǎn)制御が規(guī)定されるか又は必要な場(chǎng)合,次の二つの制御方法を選択できる。この方法では,各監(jiān)視點(diǎn)の信號(hào)から加速度スペクトル密度を計(jì)算する。合成加速度スペクトル密度は,各監(jiān)視點(diǎn)からの加速度スペクトル密度を算術(shù)平均することによこの方法では,各監(jiān)視點(diǎn)で測(cè)定した加速度スペクトル密度の振動(dòng)數(shù)ラインごとの最大値又は最小値から合成加速度スペクトル密度を計(jì)算する。この方法は,最大値制御又は最小値制御及び各監(jiān)視點(diǎn)の加速度スペクトル密度の最大値又は最小値を包絡(luò)する加速度スペクトル密度を発生するため,“最大値制御方法”又は“最小値制御方B.2.2分布B.2.2.1瞬時(shí)值の分布試験に用いる駆動(dòng)信號(hào)の瞬時(shí)値の分布は,正規(guī)分布又はガウス分布として知られているもので,式(B.1)ここに,p(x):確率密度σ:駆動(dòng)信號(hào)rms值(標(biāo)準(zhǔn)偏差に等しい)x:駆動(dòng)信號(hào)の瞬時(shí)値駆動(dòng)信號(hào)の時(shí)刻歴の平均値は,ぜロと仮定する。正規(guī)確率密度関數(shù)を,図2に示す。B.2.2.2波高率參照)。システム,すなわち,電力増幅器,振動(dòng)発生機(jī),試験用取付具及び供試品がもつ非線形性によって,監(jiān)力,すなわち駆動(dòng)信號(hào)にだけ適用する。これらの非線形性を広帯域にわたって制御することは,一般に不可能である。この規(guī)格では,波高率を2.5以上と規(guī)定している(4.6.2參照)。正規(guī)分布のランダム波の場(chǎng)合,波高率2.5は,駆動(dòng)信號(hào)の全瞬時(shí)値の約99%が電力増幅器へ入力されることを意味する。B.2.3初期及び最終傾斜この規(guī)格では,fi及びたの間で平たん(坦)又は任意の形狀の加速度スペクトル密度を規(guī)定している(図A.1～図A.4參照)。しかし,実際の試験では,初期傾斜及び最終傾斜が付く。加速度ms值を規(guī)定値に可25C60068-2-64:2011(IEC60068-2-64:2008)通常初期傾斜は,6dB/oct以上の傾斜とする。fiの加速度スペクトル密度が高く変位振幅を振動(dòng)試験裝置の能力まで下げる必要があるときは,初期斜を圳加させてもよい。一般に,デジタル振動(dòng)制御機(jī)器では,隣接する二つの振動(dòng)數(shù)ライン間で,加速度スペクトル密度に関し合,又は最大可能な傾斜にしても必要な変位低減ができない場(chǎng)合には,加速度スペクトル密度の負(fù)側(cè)の許容差を下方の振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲で修正することが必要になるときがある。試験の目的が適切な加振レベルで供試品が耐える能力及び作動(dòng)する能力を単に実証するためのものである場(chǎng)合,規(guī)定振動(dòng)數(shù)範(fàn)囲でこの要求事項(xiàng)を?qū)g証するのに十分な時(shí)間試験を