1、.+86-10-59073097giantforce,1,專業(yè)太陽能電池測試設(shè)備,*太陽能電池QE量子效率測量系統(tǒng)/IPCE測量系統(tǒng)/SR光譜響應(yīng)測試系統(tǒng) *太陽能電池綜合測量系統(tǒng)（QE/IPCE/SR/IV曲線測量系統(tǒng)） *太陽能電池I-V測量系統(tǒng) *AAA級太陽光模擬器（150W1600W） *AAA級大面積連續(xù)光源太陽能模擬器 *霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) *深能級瞬態(tài)譜儀 *EL Mapping System(缺陷測試儀) *Inline/ offline少子壽命測試儀 *Inline/offline薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng) *激光橢偏儀（薄膜太陽能電池測試）/光譜橢偏儀（紫外

2、、可見光、近紅外） *高精度臺階儀,.+86-10-59073097giantforce,2,太陽能電池QE量子效率測量系統(tǒng)/IPCE測量系統(tǒng)/SR光譜響應(yīng)測試系統(tǒng),主要應(yīng)用：測試各種太陽能電池，如C-Si, CdTe, CiGs,III -V , multi-junction, Tandem Junction,DSSC和Organic等太陽能電池）絕對光譜響應(yīng)、外量子效率、IPCE測量，適合各種太陽能電池性能研究及測試，并符合IEC 60904-8, ,.+86-10-59073097giantforce,3,直流QE量子效率測量系統(tǒng)/IP

3、CE測量系統(tǒng)/SR光譜響應(yīng)測試系統(tǒng),主要應(yīng)用：測試各種太陽能電池，如Si基,DSSC燃料敏化電池、Organic有機太陽能電池等）絕對光譜響應(yīng)、外量子效率、IPCE測量，適合各種太陽能電池性能研究及測試，并符合IEC 60904-8, 電流測量精度：fA;,.+86-10-59073097giantforce,4,太陽能電池綜合測量系統(tǒng),主要特點：,絕對光譜響應(yīng)，IPCE，外量子效率，內(nèi)量子效率，絕對反射率，相對反射率，絕對透射率，相對透射率等； 聯(lián)合AAA級太陽能模擬器； 整合高性能測量源表； 全面IV特性測量； 顯微可視系統(tǒng)； 節(jié)省空間；,.+86-10-5907

4、3097giantforce,5,太陽能電池I-V測量系統(tǒng),主要特點： 配合AAA級太陽能模擬器 標(biāo)準(zhǔn)化測量 全面測試 真空吸附夾具（變溫可選）,基本測試：完整I-V曲線測量、完整P-V曲線測量、短路電流Isc測量、開路電壓Voc測量、短路電流密度Jsc測量、峰值功率Pmax測量、峰值功率電流Imp測量、峰值電壓Vmp測量、Cell效率測量、并聯(lián)電阻Rs測量、串聯(lián)電阻Rsh測量、光照強度mW/cm2測量、Cell溫度測量、填充因子FF測量等； 黑暗條件下IV測量功能：弱光或者黑暗 條件下并聯(lián)電阻測量、反向電流-反向電壓測量； 溫度系數(shù)測量功能：完整的I-V和P-V曲線

5、測量在15、25、35、45、55溫度下，短路電流溫度系數(shù)測量、開路*電壓溫度系數(shù)測量、峰值功率溫度系數(shù)測量； Cell穩(wěn)定性和壽命分析：I-V曲線隨時間變化特性分析；Isc、Voc、Pm、Vm、Im、FF、和Jsc分析； IV標(biāo)準(zhǔn)化測試功能：測試結(jié)果可追溯到IEC60891 100mm*100mm; 156mm*156mm; 180mm*180mm; 203mm*203mm； 3，光譜匹配度：25%, A級； 4，輻射空間均勻性：2%，A級； 5，時間不穩(wěn)定性：1%，A級； 6，輻射強度：優(yōu)于1.5太陽光（原始值，其他更高輻射強度模擬器可根據(jù)客戶要求定制），輻射強度任意可調(diào)； 7，連續(xù)照射模

6、式； 8，可以任意調(diào)節(jié)照射方向以及燈的位置； 9，用戶可自己設(shè)定任意光照強度； 10，燈使用壽命計時；,7,AAA太陽能模擬器（Solar Simulator）,XES-4001S 4,000W xenon lamp, for 300mm XES-6001S 6,000W xenon lamp, for 500mm 1，光譜匹配度：A級(或B級)； 2，輻射空間均勻性： A級(或B級) ； 3，時間不穩(wěn)定性： A級(或B級) ； 4，輻射強度：優(yōu)于1.5太陽光（原始值，其他更高輻射強度模擬器可根據(jù)客戶要求定制），輻射強度任意可調(diào)； 5，連續(xù)照射模式；,輻射強度反饋控制器（Option）,8,便

7、攜式AAA級太陽能模擬器,技術(shù)指標(biāo)：,氙燈功率：300W； 光譜范圍：350nm750nm or 350nm1100nm(可擴展); 光譜匹配性：25%（Class A）； 輻射均勻性： 2% （Class A）； 時間不穩(wěn)性： 1% （Class A）； 輻射面積：24mm*24mm（40mm*40mm） or 36mm*36mm（60mm*60mm）； 輻射強度：1sun(70%原始強度)； 輻射強度連續(xù)可調(diào)：5%100% or 30%100%； 控制模式：內(nèi)置控制器 Or 計算機控制RS232C； 氙燈使用壽命：平均500小時； 曝光時間：0.5s99999.9s;,.+86-10-59

8、073097giantforce,9,攜式太陽能電池I-V測量系統(tǒng),價格優(yōu)惠！,主要技術(shù)特點：,采用高性能150W氙燈； 照射面積：40mm40mm； 光譜匹配： 25%, A級； 光照均勻性： 2%, A級； 時間穩(wěn)定性： 1%, A級； 輻射強度：輸出功率30%可調(diào)； 連續(xù)照射模式； 可以任意調(diào)節(jié)照射方向以及燈的位置； 基本IV特性測量： Isc, Jsc，Voc, Pmax, Vmp，Imp ，Cell Efficiency (), Fill Factor (FF)，Rs，Rth； 溫度系數(shù)測量可選： (mA/C)， (mV/ C)， (mw/C),.+86-1

9、0-59073097giantforce,10,AAA級大面積太陽能模擬器,主要特點：, 匹配國際標(biāo)準(zhǔn)：ASTM 3A級標(biāo)準(zhǔn)、IEC 3A級標(biāo)準(zhǔn)、JIS 3A 級標(biāo)準(zhǔn)； 連續(xù)照射光源； 照射時間仸意可調(diào)； 全光譜照射光源； 有效照射面積：1400mm*1100mm，1800mm*1500mm， 2000mm*1200mm，3000mm*3000mm; （其他面積可根據(jù)客戶的要求定制） 全面積范圍內(nèi)自動光強校準(zhǔn)功能； 完善的IV測量功能及小效率測試附件； 輻射強度：1000W/m2； 空氣冷卻或者水冷兩種方式可選；,.+86-10-59073097，1391112001

10、3 giantforce,11,CIS少子壽命測試儀（online/offline）,歐洲太陽能電池CIS少子壽命測試儀/CIS載流子測試系統(tǒng)是一個自動化的少數(shù)載流子壽命的測試系統(tǒng)；這個測試系統(tǒng)既可以被安裝在生產(chǎn)線上進行在線測試，也可以作為獨立系統(tǒng)進行離線測試； 激光光源： 組成：具有溫度穩(wěn)定性的激光二極管半導(dǎo)體和脈沖控制器 脈沖持續(xù)時間 500 ps； 重復(fù)率高達 80Mhz; 激光的光強：0-2 AM0； 時間與幅度轉(zhuǎn)換系統(tǒng)：時間分辨率：30 ps；包括觸發(fā)線路系統(tǒng)；,.+86-10-59073097giantforce,12,霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) （Hall Eff

11、ect Measurement System）,主要技術(shù)指標(biāo)： 電阻率測量范圍: 1 x10-5 Ohm*cm - 1x107 Ohm*cm 載流子濃度范圍: 107 cm-3 - 1021 cm-3 測量范圍: 1nA - 10 mA 電流分辨率: 25 pA 測量范圍: 10 mV - 10V（自動量程選擇） 分辨率 : 500nV,測量功能：,電阻率Rho測量； 霍爾系數(shù)RH測量； V-I曲線測量； VH電壓測量； 載流子濃度測量； 遷移率測量； 載流子形式測量（n or p）; 磁電阻等； 主要特點： 獨有的非線性電壓補償功能； 磁場：永磁體0.45T; 電磁鐵：02T，磁場大小軟件可

12、控； 自動磁場歸零； 低溫選件：77K； Van der Pauw和橋式barshape測量；,.+86-10-59073097giantforce,13,深能級瞬態(tài)譜儀（DLTS）,應(yīng)用：半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段！ 在光伏太陽能電池領(lǐng)域中，用于分析少子壽命和轉(zhuǎn)化效率衰減的關(guān)鍵性雜質(zhì)元素和雜質(zhì)元素的晶格占位，確定是何種摻雜元素和何種元素占位影響少子壽命。,測量模式：,C-DLTS（電容模式） CC-DLTS （定電容模式） I-DLTS （電流模式） DD-DLTS （雙關(guān)聯(lián)模式） Zerbst-DLTS （Zerbst模式）

13、 O-DLTS （光激發(fā)模式） FET-Analysis （FET分析） MOS-Analysis （MOS分析） ITS (等溫瞬態(tài)譜) Trap profiling CCSM（俘獲截面測量） I/V,I/V(T) （查理森Plot分析） C/V, C/V(T) TSC/TSCAP PITS (光子誘導(dǎo)瞬態(tài)譜) DLOS (特殊系統(tǒng)） 技術(shù)指標(biāo)：溫度范圍：77K450K 電壓靈敏度： 1 V 電容靈敏度 0.01 fF,.+86-10-59073097giantforce,14,快速電致發(fā)光EL Mapper系統(tǒng) -缺陷測試儀,Inline System: 可整合到

14、產(chǎn)線上，進行實時單片或組件缺陷測試； Offline System: 離線對單片或者組件進行缺陷測試分析； 1.組件測試系統(tǒng)：最大測試尺寸2200mm x 1200mm，適合薄膜、單晶和多晶Module缺陷測試，分辨率1280 x1024，圖像采集時長100ms 15s 2.單片測量系統(tǒng)：最大測量尺寸160mm x 160mm，適合單晶、多晶測試，分辨率 1280 x1024，圖像采集時長500ms 5s，最大可 調(diào)電流10A；,.+86-10-59073097giantforce,15,薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng) （Film Stress Measurement System

15、）,世界頂級薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng)，MOS技術(shù)榮獲美國專利！曾榮獲2008 Innovation of the Year Awardee！,技術(shù)指標(biāo)： 1.XY雙向程序控制掃描平臺掃描范圍：200mm；300mm (XY)（可選）； 2.XY雙向掃描速度：最大20mm/s； 3.XY雙向掃描平臺掃描最小步進/分辨率：2 m ； 4.薄膜應(yīng)力測量范圍：5104Pa to 4109Pa）； 5.薄膜應(yīng)力測量分辨率：優(yōu)于0.1MPa; 6.測量精度：優(yōu)于0.1%； 7.測量重復(fù)性：優(yōu)于0.1%； 8.平均曲率分辨率： 2e-5 (1/m) 1-sigma (100km radius) ； 9.平均曲率重復(fù)

16、性：210e-5 1/m； 主要特點： 1.程序化控制掃描模式：選定區(qū)域、多點線性掃描、全面積掃描； 2.成像功能：樣品表面2D曲率成像，定量薄膜應(yīng)力2D成像分析； 3.測量功能：曲率、曲率半徑、應(yīng)力強度、應(yīng)力和翹曲等； 4.支持變溫?zé)釕?yīng)力測量功能，溫度范圍-65C to 1000C； 5.薄膜殘余應(yīng)力測量；,.+86-10-59073097giantforce,16,橢偏儀（激光/全光譜）,激光橢偏儀 激光波長：632.8 laser 膜厚測量精度：0.001 nm 折射系數(shù)精度： 0.0001 應(yīng)用：太陽能薄膜電池光學(xué)性能及膜厚測量；,光譜橢偏儀,膜厚范圍：0-3

17、0000nm 折射系數(shù)精度： 0.0001 厚度準(zhǔn)確度： 0.01nm 入射角度：20 - 90 波長范圍：250-1100nm（深紫外、近紅外、紅外可選） Psi=0.01，Delta=0.02 相關(guān)設(shè)備： 變角度單波長橢偏儀（632.8nm）； 變角度多波長橢偏儀（532, 632.8, 1064nm, ）； 變角度光譜橢偏儀（深紫外、紫外-可見-近紅外光譜190-2300nm）； 全自動光譜橢偏儀（深紫外、紫外-可見-近紅外光譜190-2300nm）； 紅外光譜橢偏儀等；,.+86-10-59073097giantforce,17,探針臺階儀,KLA Tencor是世界上最著名的微電子和半導(dǎo)體領(lǐng)域設(shè)備供應(yīng)商。,型號：Alpha-Step IQ， P16,技術(shù)指標(biāo)： 臺階重復(fù)性：7.5或0.1% (1） 分辨率：亞埃20m/0.012 掃描長度： 10mm 掃描速度： 2m/sec到200m/sec 掃描方式：樣品臺固定，st