1、第11章X-張藝興頻譜分析，1 .電子探針2。分光計3。頻譜4。WDS和EDS成分分析模式及應(yīng)用5。光譜和光譜儀的比較6。X-張藝興頻譜分析及應(yīng)用節(jié)目，任何光譜或光譜都不能獨立工作，但也有專門利用光譜儀或光譜進行成分分析的儀器，牙齒儀器用小電子束轟擊樣品，稱為電子探針X射線顯微微分石器(EPMA)。和離子探針一樣，用離子束轟擊樣品表面，制作x射線，獲得元素配置信息。1 .電子探針、二分光器、能量色散譜主要由Si(Li)半導體探測器、多脈沖高度分析器、脈沖放大整形和記錄顯示器系統(tǒng)組成。2光譜儀，每個X-張藝興光子將硅電離成許多電子空穴對，形成電流脈沖，通過放大器轉(zhuǎn)換成電壓脈沖，脈沖高度與吸收的光

2、子能量成正比。放大的電壓脈沖被傳送到多脈沖高度分析器，根據(jù)脈沖高度，每個進入相應(yīng)的信道進行存儲。通道地址與X光子能量成正比。通道數(shù)是X光子數(shù)，獲得一段時間內(nèi)通道(能量)為橫坐標、通道數(shù)(強度)為縱坐標的X射線能量漫反射光譜。電子探針刺激每個元素特性x線。光譜利用晶體衍射分離不同波長的X射線，不同波長的X射線分別在滿足布拉格方程的兩個方向被探測器接收。X-張藝興探測器接收每個X-光子輸出的傳記脈沖信號，脈沖信號輸入計數(shù)器，并在儀表上顯示計數(shù)速度讀數(shù)。三分光器，三分光器，分光器的橫坐標表示波長，縱坐標表示強度，頻譜線有很多強度棒，每個桿的坐標上的位置表示相應(yīng)的元素特征X善意波長，桿的高度表示這種元

3、素含量。4 WDS和EDS成分分析模式和應(yīng)用，1)用點、線、微區(qū)、面測量樣品的成分和平均含量。2)測量樣品一線長度的元素分布分析模式。3)測量樣本指定區(qū)域內(nèi)的元素面分布分析模式。化妝粉底液粉末的元素分布圖，5分光計和分光計的比較，1)分析元素范圍分光計分析元素范圍為4Be92U。分光計分析元素范圍為11Na92U，對于某些特殊頻譜(例如，沒有窗口的系統(tǒng)或超薄窗口系統(tǒng))，可以進行6C以上的元素分析，但對各種條件有嚴格的限制。5分光器和分光器比較，2)分辨率，5分光器和分光器比較，3)光譜的失真分光器幾乎沒有光譜的失真問題。光譜儀失真因素主要包括硅的X張藝興逃逸峰值、頻譜峰值放大、頻譜峰值畸變、鈹

4、窗口吸收效果等X張藝興檢測過程的失真二、脈沖積累等信號處理過程的失真；最后是探測器樣品室周圍環(huán)境引起的失真，如雜散輻射、電子束散射等。由于光譜的失真，光譜的定量重復性很差。6X-張藝興頻譜分析和應(yīng)用，61定性分析62定量分析，61定性分析，為了確認一個元素的存在，至少要有兩個譜線，為了避免干涉線的影響，必須錯譯。必須區(qū)分哪些峰來自樣品，哪些峰是由X-張藝興管特征輻射的散射產(chǎn)生的。如果樣品中包含的元素原子序數(shù)非常接近，熒光波長的差異很小，它會檢查光譜中是否有足夠的分辨率來分離兩個間距很近的譜線。62定量分析，(1)計算方法樣品內(nèi)元素發(fā)射的熒光x射線的強度應(yīng)與樣品內(nèi)元素原子分數(shù)成正比。(2)外表法外表法是樣品中等待元素測試的譜線強度。與樣本中已知內(nèi)容的牙齒元素譜線強度進行比較，校準或測量樣本中元素的含量。創(chuàng)建相對強度和元素A%含量之間的關(guān)系曲線。即，校正曲線(3)內(nèi)部符號作為參考標準，在未知樣本中混合一定數(shù)量的已知