1、電子材料與元器件測試技術(shù),賬號： 密碼：qwerty,內(nèi)容簡介,什么是電子材料？ 電子材料是指在電子技術(shù)和微電子技術(shù)中使用的材料，包括介電材料、半導(dǎo)體材料、壓電與鐵電材料、導(dǎo)電金屬及其合金材料、磁性材料、光電子材料以及其他相關(guān)材料。 什么是電子元器件？ 電子元器件是元件和器件的總稱。電子元件：指在工廠生產(chǎn)加工時不改變分子成分 的成品。如電阻器、電容器、電感器。它對電壓、電流無控制和變換作用，所以又稱無源器件。電子器件：指在工廠生產(chǎn)加工時改變了分子結(jié)構(gòu)的成品。例如晶體管、電子管、集成電路。對電壓、電流有控制、變換作用，所以又稱有源器件。 測量必須研究的兩個基本問題： 如何才能測量出來？（測試方法

2、、測量設(shè)備） 如何才能測得準(zhǔn)確？（測試技術(shù)）,參考資料1,教材： 李能貴，電子材料與元器件測試技術(shù)，上?？茖W(xué)技術(shù)出版社 1987 參考書： 周東祥、潘曉光，電子材料與元器件測試技術(shù)，華中理工大學(xué)出版社，1994； 李遠(yuǎn)等，壓電與鐵電材料的測量，科學(xué)出版社 ，1984。,參考資料2,國標(biāo)、國軍標(biāo)以及美軍標(biāo)等標(biāo)準(zhǔn)； 論文； 多利用搜索引擎。,Ch1.1電阻值與電阻率的測量,1.1 電阻與電阻率的概念電阻的概念,R，指直流電阻，即在電子元器件或材料兩端施加一直流電壓U與其所通過的穩(wěn)態(tài)電流I之比值。,1.1 電阻與電阻率的概念電阻的分類,分類一 低阻10 中阻 10 106 高阻 107 分類二 超低

3、阻 10-12 10-7 低阻 10-6 10 中阻 10 106 高阻 107 1012 超高阻 1013 1019,萬用表,1.1 電阻與電阻率的概念電阻的構(gòu)成,因?yàn)榱鬟^待測樣品（DUT）的電流可分為表面電流IS和體積電流IV，所以DUT的電阻也可以分為表面電阻RS和體積電阻RV.。 對于電子元器件，所測得的電阻是總電阻。,電阻率,為什么要引入電阻率？,電阻與材料的性能、尺寸大小和形狀 有密切關(guān)系，阻值大小不能反映材料本身 的特性，所以引入電阻率的概念。,電阻率的概念,單位長度上所承受的直流電壓（即直流電場強(qiáng)度E）與單位面積所通過的穩(wěn)態(tài)電流（即電流密度J）之比。符號為.,體積電阻率,體積電

4、阻率V是沿著體積電流方向的直流電場強(qiáng)度與穩(wěn)態(tài)電流密度之比。 對于平板試樣。其中A是電極面積（m2）；l是電極間的距離，即試樣厚度（m）,表面電阻率,沿材料表面電流方向的直流電場強(qiáng)度ES和單位寬度通過的表面電流a之比。符號是S 。 對于平板試樣，可采用刀形電極測量表面電阻率。若不考慮體積電流的影響，S如右所示。其中b為電極寬度，h為電極間距離。,表面電阻率和體積電阻率,對絕緣材料而言， 表面電阻率是絕緣材料抵抗表面漏泄電流的能力. 體積電阻率是絕緣材料抵抗體內(nèi)漏泄電流的能力. 表面電阻率、體積電阻率越高, 漏泄電流越小, 材料的導(dǎo)電性能越差. 體積電阻率可作為選擇絕緣材料的一個參數(shù)（電阻率隨溫度

5、和濕度的變化而顯著變化）。體積電阻率的測量常常用來檢查絕緣材料是否均勻，或者用來檢測那些能影響材料質(zhì)量而又不能用其他方法檢測到的導(dǎo)電雜質(zhì)。,表面電阻率和體積電阻率,表面電阻率在很大程度上取決于材料的表面狀態(tài)。當(dāng)表面吸附著半導(dǎo)體雜質(zhì)和水分時，將明顯地影響表面電阻率的大小。它是一個有關(guān)材料表面污染特性（或程度）的參數(shù)。 因?yàn)轶w積電阻總是要被或多或少地包括到表面電阻的測試中去，因此只能近似地測量表面電阻。通常都以體積電阻率作為衡量材料電性能的參數(shù)之一。,1.2 電阻與電阻率的測量,低阻、中阻、高阻的例子,電阻器的阻值，幾歐到幾十兆歐，屬于中阻； 絕緣介質(zhì)材料的絕緣電阻，屬于高阻； 電阻器的引線帽與電

6、阻基體間的接觸電阻，電位器電刷與基體觸點(diǎn)的接觸電阻，很小，小到百分之幾歐或千分之幾歐，屬于低阻。 測量對象的多樣性決定了測試方法的多樣性。,中阻的測量,中阻的測量,中阻的測量是電阻測量的基礎(chǔ)。 包括：電流電壓測量法、電橋測量法、補(bǔ)償測量法。 以電橋測量法為主。 電橋法最突出的優(yōu)點(diǎn)是精度較高。,電流電壓法測（伏安法）,工具：電壓表和電流表 方法：測量施加在樣品上的直流電壓U和通過樣品的穩(wěn)態(tài)電流Ix。 得到：樣品的電阻Rx。,圖1-3（a、b）所示的兩種測量方法所得結(jié)果都是近似的； 具體采用哪一種連接方式，取決于由被測電阻阻值所決定的測量準(zhǔn)確度。,造成的誤差為：,兩種接法的誤差計(jì)算,圖(a),圖(

7、b),具體的操作，可參見圖1-4， 當(dāng)R測RVRA時，采用圖1-3（a）； 當(dāng)R測RVRA時，采用圖1-3（b）； 當(dāng)R測=RVRA時，兩種方式所造成的誤差相等，可任意選擇。,圖1-3（a）適應(yīng)于Rx很小的情況； 采用圖1-3（b）適應(yīng)于Rx很大的情況。,分析,結(jié)論：內(nèi)阻大的電壓表和內(nèi)阻小的電流表對于高精度的測量是有益的。 現(xiàn)狀：一般的電功儀表很難滿足高精度的要求。 解決：多采用運(yùn)放來構(gòu)成內(nèi)阻很大的電壓表和內(nèi)阻很小的電流表。,運(yùn)放的特點(diǎn),一個理想的運(yùn)放滿足以下條件： 開環(huán)增益KV； “虛短” 開環(huán)輸入阻抗Ri； “虛斷” 開環(huán)輸出阻抗Ro0 . 實(shí)際中，一般的運(yùn)放， KV幾千倍100萬倍； R

8、i幾十千歐幾百兆歐； Ro幾百歐幾十歐。,采用運(yùn)放構(gòu)成內(nèi)阻很高的伏特表,將運(yùn)放作為阻抗變換器，因?yàn)榉答佔(zhàn)饔?，因而阻抗很高，對輸入穩(wěn)定電流影響很小。,采用運(yùn)放構(gòu)成內(nèi)阻很低的安培表,利用倒向放大器的相加點(diǎn)是“虛地點(diǎn)”，這樣可以認(rèn)為電流全部流過Rs，而沒有流入放大器，可直接讀取電流的大小。,利用運(yùn)算放大器加模/數(shù)變換器直接測量電阻值 1,條件：運(yùn)放的開環(huán)增益和輸入阻抗足夠大。 圖1-7適用于較高阻值的場合。 改變Rs可變換量程。 圖1-7的運(yùn)放作為線性比例器。,圖1-7相當(dāng)于圖1-3（b）的電路。,利用運(yùn)算放大器加模/數(shù)變換器直接測量電阻值 2,條件：RsRx 圖1-8可用于較低阻值的場合。將運(yùn)算放

9、大器作為電壓跟隨器. 圖1-8中的電路相當(dāng)于圖1-3(a)。,電橋法測量,是中阻測量最常用的方法，精度高，測量簡單。 最簡單的是普通四臂電橋，如惠斯頓電橋。,電橋,箱式電橋,滑線式電橋,惠斯頓電橋,其中，R1、R2是阻值已知的固定電阻器， Rx是待測電阻， R4是標(biāo)準(zhǔn)可變電阻器， G為靈敏檢流計(jì)， E為直流電源電壓。,惠斯頓電橋,電橋平衡時，檢流計(jì)中沒有電流通過，即C、D兩點(diǎn)電位相等。,（1-14）,比例臂的選擇,調(diào)節(jié)R1/R2的比值，可提高或降低測量阻值的范圍，也就是說可以擴(kuò)大測量量程，通常R1臂和R2臂稱為比例臂。 正確選擇比例臂的比值是使測量結(jié)果精確的重要條件。測量技術(shù),比例臂比值,電橋

10、讀數(shù),比例臂的選擇,關(guān)鍵：正確選擇比例臂的比值。 基本思想：使所有旋鈕都能讀到有效數(shù)字，充分發(fā)揮電橋讀數(shù)臂的所有旋鈕的作用。 實(shí)際中，可查表。,電橋?qū)蔷€應(yīng)正確連接,注意：電源對角線和指示器對角線應(yīng)正確連接，一般不應(yīng)對換連接。 否則，會影響電橋的靈敏度以及使保護(hù)電路失效。,電橋?qū)蔷€不能對換的原因1,電橋輸入電阻RAB和輸出電阻RCD,中阻測量中，R1、R2是兩個小電阻， Rx和R4是兩個大電阻。 電源對角線和指示器對角線互換后，電橋的平衡狀態(tài)不會改變，但電橋靈敏度降低，誤差增加。,思考題：,根據(jù)基爾霍夫定律，針對對換連接方式前后，分別推導(dǎo)出電橋不平衡時，指示器流過的電流Ig1與Ig2，并比較

11、兩者大小。 以定量的方式描述交換連接方式對靈敏度的影響。,電橋?qū)嶋H結(jié)構(gòu)的限制 為了防止操作不正確使電橋嚴(yán)重失衡（將導(dǎo)致檢流計(jì)支路電流過大而燒毀），電橋一般均配有檢流計(jì)保護(hù)裝置，互換后將起不到保護(hù)作用。,電橋?qū)蔷€不能互換的原因2,怎樣正確選擇檢流計(jì)參數(shù)和確定合理的電源電壓,原則：電橋靈敏度引起的讀數(shù)誤差應(yīng)是測量誤差的1/31/5以下。 通常在各電阻元件允許的功率范圍內(nèi)，使E盡可能選擇大一些。（通過指示器的電流越大，電橋靈敏度越高 ） 阻抗匹配，使檢流計(jì)內(nèi)阻接近于電橋的輸出電阻，使電橋靈敏度達(dá)到最大。,電橋法測量電阻的誤差來源,（通常用直接法測量，即由電橋一次讀數(shù)來直接得到。） 寄生干擾的影響：

12、電橋接頭的熱電勢，電橋泄漏電流，靜電感應(yīng)等； 線路靈敏度限制引起的誤差； 橋臂元件參數(shù)的誤差。,熱電勢,以導(dǎo)體為例，熱電勢的組成： 由兩種導(dǎo)體的接觸電動勢和單一導(dǎo)體的溫差電動勢兩部分組成。 1接觸電動勢：是兩種不同材料的導(dǎo)體A、B接觸時，由于導(dǎo)體的自由電子密度不同，電子在兩個方向上擴(kuò)散的速率不一樣所造成的電位差。 2溫差電動勢：導(dǎo)體A、B，其兩端分別置于不同的溫度t、t0時，在導(dǎo)體內(nèi)部，有較大動能的熱端自由電子向冷端移動，從而在熱端和冷端間產(chǎn)生的電位差。,高電阻不能用普通電橋進(jìn)行測量,被測電阻增大，支撐材料電阻的分路作用影響增大，將會造成很大誤差； 被測電阻很大，而電源電壓不可能很高，因此流過

13、電路電流減小，由于電橋靈敏度的限制，也將產(chǎn)生很大誤差。 因?yàn)榱鬟^電橋電流很小，外來干擾電勢、熱電勢等影響顯著，也帶來很大的測量誤差。,低阻不能用普通電橋進(jìn)行測量,低阻測量主要受限于接觸電阻和接線電阻的影響，僅僅依賴于材料和結(jié)構(gòu)上采取措施，已不可能。 例，要測0.01歐的電阻。一個接觸電阻大約0.006歐，兩個接觸電阻大約為0.012歐，再考慮連接導(dǎo)線的電阻。最終結(jié)果至少為0.022歐，測得的數(shù)據(jù)已不可信！,接觸電阻產(chǎn)生的原因有兩個： 第一，由于接觸面的凹凸不平，金屬的實(shí)際接觸面減小了。 第二，接觸面在空氣中可能迅速形成一層導(dǎo)電性能很差的氧 化膜附著于表面，使電阻增大。,低阻和超低阻的測量,低阻

14、和超低阻的測量,關(guān)鍵：如何消除或減弱接觸電阻和接線電阻的影響。 包括 電流電壓法測量 雙電橋測低阻 三次平衡雙電橋測超低阻 實(shí)例：半導(dǎo)體陶瓷材料、高溫超導(dǎo)陶瓷材料和低電阻率材料。,電流電壓法測量,關(guān)鍵：采用四端引線法。 被測電阻有一對電位端紐aa，用于測電壓；有一對電流端鈕bb，用于通電流； 根據(jù)測得的電流、電壓值可確定待測電阻值.,電流端鈕的接線電阻和接觸電阻不影響測量結(jié)果，只影響回路電流。 電位端的接線電阻和接觸電阻雖然影響測量結(jié)果，但影響甚微。. 采用通常的毫伏表(10mV)和電流表(10A)，可測到1m歐的電阻。,電流電壓法可用于接觸電阻的低電阻值的測試。,連接元件（插頭、插孔、連接器

15、及插座）的接觸電阻； 電流控制元件（開關(guān)、繼電器、斷路器）的電接點(diǎn)所產(chǎn)生的電阻； 電位器元件動觸點(diǎn)的接觸電阻。,連接器,實(shí)際中，對接觸電阻的要求：低且穩(wěn)定，使得接觸電阻上的電壓降不致影響電路狀況的精度。 兩個接觸表面的接觸電阻受下列因素影響： 表面材料的電阻率； 接點(diǎn)壓力、面積、形狀、表面條件（包括相對的清潔度、光滑度和硬度）； 電流開啟、斷開時接點(diǎn)上的開路電壓； 溫度及導(dǎo)線的熱導(dǎo)率。,在測量接觸電阻時，試驗(yàn)夾具的要求：,考慮上一頁提到的因素； 選擇測試電壓不致使接觸點(diǎn)發(fā)熱或阻擋層擊穿； 應(yīng)保持樣品不受振動，不使正常接點(diǎn)壓力受到變化。,測電位器的接觸電阻（電位器接觸片和電阻體之間的接觸電阻）.

16、,測1、2端的電流和2、3端的電壓。 等效電路（右下），U32=U42.,雙電橋測低阻,思想：四端引線結(jié)構(gòu)可將引線電阻和接觸電阻排除在測量結(jié)果之外，因此將四端引線結(jié)構(gòu)引入普通四臂電橋，從而形成雙電橋。,結(jié)構(gòu),其中，R2和R4為連動電阻，稱為比例臂電阻箱；R1和R3為連動電阻，稱為測定臂電阻箱；在設(shè)計(jì)、制造和調(diào)節(jié)過程中，總是保持R3/R1=R4/R2。 RN為標(biāo)準(zhǔn)電阻，阻值很小，精度很高（萬分之一精度）。R0為調(diào)節(jié)回路電流的調(diào)節(jié)電阻，阻值很小。Rx為待測電阻。RN和Rx均采用四端引線結(jié)構(gòu)。 G為檢流計(jì)，E為直流電源。 Cn1、Cn2及Cx1、Cx2為電流接頭；Pn1、Pn2及Px1、Px2為點(diǎn)位

17、接頭。,結(jié)構(gòu)和材料上所采取的措施,Rx和RN均采用四端引線法，各有兩對接頭：一對是電位接頭，一對是電流接頭。而且電流接頭在電位接頭的外側(cè)。即電位的引出線只包含被測電阻Rx。,連接標(biāo)準(zhǔn)電阻和被測電阻的導(dǎo)線采用短而寬的銅帶線，其電阻R0可做到1毫歐以下，R0與被測電阻和標(biāo)準(zhǔn)電阻的接觸電阻盡可能小，可做到2毫歐以下。標(biāo)準(zhǔn)電阻RN的阻值很小，精度很高（萬分之一精度），采用粗錳銅線。 電橋增加一支路R3和R4，平衡指示器G不是接在Rx、RN之間，而是接在R3、R4的接點(diǎn)D上。,采用雙電橋法可以測低阻的原因： 采用四端引線法，被測電阻Rx和標(biāo)準(zhǔn)電阻RN之間的接線電阻及接頭Cn2、Cx2的接觸電阻，均可認(rèn)為

18、包含在R0內(nèi)。只要R3/R1=R4/R2，那么無論R0的數(shù)值如何，均不影響測量結(jié)果。在實(shí)際中，為了減小誤差，應(yīng)要求R0盡可能小。 Rx、RN與電源的接線電阻和接觸電阻，只對總的工作電流有影響，對電橋的平衡無影響。 電位接頭Pn1、Pn2、Px1、Px2的接觸電阻和接線電阻均與各比例臂電阻串聯(lián)，分別包括在相應(yīng)的比例臂支路里； 流經(jīng)R1、R3支路的電流比流經(jīng)RN、Rx支路的電流小得多； 橋臂電阻R1、R2、R3、R4都選擇在10歐以上，接觸電阻和接線電阻對于橋臂電阻是微不足道的，所以對測量結(jié)果的影響極小。,三次平衡雙電橋測超低阻,測量范圍： 10-12 10-7歐 目標(biāo)：去除雙電橋法（圖1-12）

19、中接線電阻的影響。 思想：把接線電阻視為可調(diào)比例臂的一部分，通過三次平衡調(diào)節(jié)，使這種影響對電橋平衡和測量結(jié)果不起作用。,K1,K2,三次平衡雙電橋測超低阻步驟,1.將開關(guān)K1、K2斷開，調(diào)節(jié)R3或R4，使電橋平衡，則 2.將開關(guān)K1合上，調(diào)節(jié)r3、r4，使電橋平衡，則 3.將開關(guān)K1打開，把開關(guān)K2閉合，調(diào)節(jié)r1、r2，使電橋再次平衡，則 4.反復(fù)調(diào)節(jié)，直到三次平衡過程中電阻r1 r4 ， R3 、 R4不改變。則,在平衡過程中，去除了橋臂回路中接線電阻和接觸電阻的影響， 表達(dá)式中又沒有出現(xiàn)r1 r4 ， R3 、 R4，所以，測量結(jié)果中消除了 橋臂回路中接線電阻和接觸電阻的影響。,精密電阻儀

20、,超低阻 10-12 10-7 低阻 10-6 10 中阻 10 106 高阻 107 1012 超高阻 1013 1019,AT512 精密電阻測試儀 測量范圍0.1110M的電阻， 最大顯示105,000數(shù)， 最高測試速度可達(dá)150次/秒， 基本準(zhǔn)確度高達(dá)0.01%。,精密電阻儀,高精度的高、中、低值電阻器； 各種開關(guān)接觸電阻； 接插件接觸電阻； 繼電器線包和觸點(diǎn)電阻； 變壓器、電感器、電機(jī)、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻； 導(dǎo)線電阻；車、船、飛機(jī)的金屬鉚接電阻； 印制版線條和孔化電阻等,高阻和超高阻的測量,高阻和超高阻的測量,實(shí)質(zhì)：微小電流的測試問題。 包括 檢流計(jì)法（直接偏轉(zhuǎn)法、比較法、充電法） 自

21、放電法 高阻計(jì)法 交流放大法,檢流計(jì)法直接偏轉(zhuǎn)法,利用直接偏轉(zhuǎn)原理來測量； 直接測試通過絕緣介質(zhì)材料或電容器材料的電流來實(shí)現(xiàn)其絕緣電阻測量； 實(shí)質(zhì)：依據(jù)電流電壓法的原理測量。,高靈敏檢流計(jì)的構(gòu)成,用細(xì)懸絲把線圈懸掛在磁場中，懸鏡上固定一面小鏡M作為光學(xué)指示器。 當(dāng)電流通過線圈時，懸掛在磁場中的線圈受到磁場作用而偏轉(zhuǎn)。 通過測量線圈轉(zhuǎn)動的角度（利用小鏡的反射光作指示），即可測量電流的大小。,直流電源電壓U，1001000V，穩(wěn)壓電源，電壓穩(wěn)定，大小可調(diào)，其波動不大于5% 保護(hù)電阻RK, 材料或試樣的絕緣電阻意外降低時，或者材料或試樣被擊穿而造成短路時，不致有過大的電流通過檢流計(jì)而燒毀。 電壓表V

22、，采用靜電式電壓表或磁電式電壓表。 分流器N，用以保護(hù)檢流計(jì)和擴(kuò)大電阻值測量范圍。為保證調(diào)節(jié)的精確，通常按十進(jìn)制等級從1/100001/1，分流比的定義， K1、K2、K3是具有優(yōu)良絕緣的轉(zhuǎn)換開關(guān)。 高靈敏度檢流計(jì)G，可采用光學(xué)多次反射原理來提高靈敏度。,測量過程 檢查線路有無漏電流； 測定檢流計(jì)的靈敏常數(shù)Ca，式（1-27） ； 測量材料的絕緣電阻，式（1-28）； 測量范圍，可達(dá)到1013歐,檢查線路有無漏電流,1.不放入試樣，閉合開關(guān)K1，加測試電壓，開關(guān)K2扳向1位置， 逐漸增大分流比，直到1:1，觀察檢流計(jì)有無偏轉(zhuǎn)。,2.若無偏轉(zhuǎn)，改變電源電壓極性，重復(fù)上述步驟。,測定檢流計(jì)的靈敏常

23、數(shù)Ca,短接試樣，加適當(dāng)電壓； 逐級改變分流比，直到檢流計(jì)有明顯讀數(shù)為止，記下電壓值、偏轉(zhuǎn)數(shù)及分流比； 改變電源極性，重復(fù)測量一次，取平均值。,測量材料的絕緣電阻,將試樣接入，其余測試步驟與測量檢流計(jì)靈敏常數(shù)相同。,誤差來源,估算可測的絕緣電阻的最大值,測量方法上，保護(hù)電阻Rk的分壓作用； 表達(dá)式中各參數(shù)的測量準(zhǔn)確度，比如檢流計(jì)刻度和偏轉(zhuǎn)讀數(shù)的誤差。,比較法,原理：利用標(biāo)準(zhǔn)電阻Rs來代替被測電阻Rx進(jìn)行再測量，可相應(yīng)的得到讀數(shù)s、ns與接入被測試樣的讀數(shù)s 、nx，從而可確定被測試樣的Rx。 s ，檢流計(jì)的偏轉(zhuǎn)數(shù)；n，分流比。,試樣短接時（即K2閉合）， 試樣不短結(jié)時 兩式相除，并轉(zhuǎn)化得,比較

24、法的測試原理與步驟,比較法的特點(diǎn),優(yōu)點(diǎn)：不需要測出檢流計(jì)常數(shù)Ca，與施加電壓U無關(guān)，也不要加保護(hù)電阻RK，減小了方法本身和測試時許多因素造成的誤差。 （直接偏轉(zhuǎn)法 ） 缺點(diǎn)：需要測試兩次（試樣短接和不短接），所需時間較長。 Rx的測量準(zhǔn)確度僅取決于Rs和的誤差，從而提高了測量的精度。,充電法,可測Rx的最大值比直接偏轉(zhuǎn)法高一個數(shù)量級，可測10131014歐。 結(jié)構(gòu)：充電法比直接偏轉(zhuǎn)法多一個標(biāo)準(zhǔn)電容器C0，并且用沖擊檢流計(jì)來代替靈敏度檢流計(jì)。,由得：,上式代入式，整理得：,齊次解：,特解：,通解：,初始條件：,充電法的原理,充電法的原理,充電法的原理,對比：不是直接測量通過試樣的穩(wěn)態(tài)電流，而是測

25、量電容器上所積累的電荷大小。 原理：讓通過試樣的穩(wěn)態(tài)電流對與試樣串連的標(biāo)準(zhǔn)電容器C0充電，測出在一定時間內(nèi)C0上的電壓（或C0上所積累的電荷），即可計(jì)算出試樣的絕緣電阻。,標(biāo)準(zhǔn)電容器C0的選擇,C0的絕緣電阻比試樣電阻至少大2個數(shù)量級； C0的既要有適當(dāng)?shù)碾娙萘浚忠凶銐虻慕^緣電阻，即要求C0有較大的時間常數(shù)。 C0的充電時間也不能過短。 一般選擇C0的時間常數(shù)大于30分鐘，電容量為0.20.5微法。通常，標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的充電時間為5分鐘。,測試步驟,首先測量沖擊檢流計(jì)常數(shù)，式（1-32）； 其次，測量待測電阻的阻值，式（1-31）。,自放電法,自放電法原理,“O”點(diǎn)電流節(jié)點(diǎn)方程：,自放電法原理

26、,Rx,C,自放電法,測量范圍，可測10131014歐，與充電法相一致。 原理：將絕緣材料試樣或電容器充電達(dá)電源電壓U0，然后切斷電源，讓電荷通過試樣或電容器本身絕緣電阻放電，測量試樣兩端電壓的變化，從而確定其絕緣電阻值。 適用對象：電容量大并且電容值已知的試樣或電容器絕緣電阻的測量，也可用于測量絕緣介質(zhì)薄膜的體積電阻。,要求：使開關(guān)K1、K2和靜電電壓表的絕緣電阻比試樣電阻大兩個數(shù)量級以上；靜電電壓表的電容遠(yuǎn)小于試樣電容。,高阻計(jì)法,高阻計(jì)法,原理：利用電子放大原理，將通過試樣的微小直流電流經(jīng)放大后再測量。已制成專用的測量儀器，稱為高阻計(jì)。,為了能測得更高的電阻，可提高試驗(yàn)電壓；選用較靈敏的電流表；增大內(nèi)阻Rs；提高線路靈敏度。,弱點(diǎn)： 增大內(nèi)阻Rs是有限度的，與Rs并聯(lián)的放大器輸入電阻不夠高，將產(chǎn)生分流作用。放大器前級多采用場效應(yīng)晶體管或電測電子管。 采用多級放大器，提高線路靈敏度S0，但S0增高，放大器的噪聲干擾和零點(diǎn)漂移的影響顯得突出，這是直流放大器的最大弱點(diǎn)。,交流放大法,交流放大法