1、EMC及浪涌相關(guān)測(cè)試測(cè)試簡(jiǎn)介,1,EMC基本定義,電磁兼容性(Electro-Magnetic Compatibility,簡(jiǎn)稱(chēng):EMC) 裝置、整組設(shè)備或整套系統(tǒng)，在它本身的電磁環(huán)境中，能圓滿(mǎn)地動(dòng)作，而且不會(huì)產(chǎn)生讓其它在此環(huán)境中的設(shè)備難以忍受的電磁干擾。 EMC測(cè)試目的是檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作之電器產(chǎn)品的影響。 EMC包含兩大項(xiàng)：EMI（干擾）和 EMS(敏感度，抗干擾）,2,常見(jiàn)干擾源,3,EMI基本定義:,1.EMI（Electro-Magnetic Interference）-電磁騷擾測(cè)試,裝置、整組設(shè)備或整套系統(tǒng)動(dòng)作時(shí)所產(chǎn)生一種電磁噪聲，或裝置本

2、身不需要的信號(hào)。 EMI測(cè)試主要內(nèi)容： Radiated Emission 輻射騷擾測(cè)試 Conducted Emission傳導(dǎo)騷擾測(cè)試 Harmonic諧波電流騷擾測(cè)試 Flicker電壓變化和閃爍測(cè)試,4,EMS基本定義:,2. EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）-電磁抗擾度測(cè)試，。 此測(cè)試之目的為：在一個(gè)電磁干擾的環(huán)境中，裝置、整組設(shè)備或整套系統(tǒng)不會(huì)因處于此環(huán)境而減損其功能的能力。EMS測(cè)試主要內(nèi)容： ESD靜電抗擾度測(cè)試 RS射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試 CS射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試 DIP電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試 SURGE浪涌

3、（沖擊）抗擾度測(cè)試 EFT電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試 PFMF工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試,5,輻射騷擾測(cè)試(RE),輻射騷擾測(cè)試(Radiated disturbance,簡(jiǎn)稱(chēng)RE)，包含空間輻射和磁場(chǎng)輻射測(cè)試。輻射騷擾主要是指能量以電磁波的形式由產(chǎn)品發(fā)射到空中，或能量以電磁波形式在空間傳播對(duì)周邊產(chǎn)品的影響。 輻射騷擾超標(biāo)的產(chǎn)品可能引起周?chē)b置、設(shè)備或系統(tǒng)性能降低，干擾信息技術(shù)設(shè)備或其他電子產(chǎn)品的正常工作，并對(duì)人體造成一定危害。 電磁輻射分兩個(gè)級(jí)別，其中工頻段的單位是T，如果輻射在0.4 T以上屬于較強(qiáng)輻射，對(duì)人體有一定危害，長(zhǎng)期接觸易患白血病。如果輻射在0.4T以下，相對(duì)安全。而射頻電磁波的單位是W

4、/ 2。,6,諧波電流測(cè)試(Harmonic),諧波電流測(cè)試(Harmonic current emissions,簡(jiǎn)稱(chēng)Harmonic)，又稱(chēng)諧波測(cè)試。諧波電流主要是指當(dāng)產(chǎn)品工作時(shí)，與所加的電壓不呈線性關(guān)系，就形成非正弦電流，即電路中有諧波產(chǎn)生。 諧波電流超標(biāo)的產(chǎn)品可能使電氣設(shè)備過(guò)熱、產(chǎn)生振動(dòng)和噪聲，并使絕緣老化，使用壽命縮短，甚至發(fā)生故障或燒毀。 諧波電流測(cè)試使用的標(biāo)準(zhǔn)為EN 61000-3-2。,7,電源端子傳導(dǎo)騷擾測(cè)試(CE),電源端子傳導(dǎo)騷擾測(cè)試(Conducted disturbance at the mains ports,簡(jiǎn)稱(chēng)CE)，又稱(chēng)傳導(dǎo)測(cè)試。傳導(dǎo)騷擾主要是指產(chǎn)品的電源端子

5、對(duì)整個(gè)公共電網(wǎng)的影響。 傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)的產(chǎn)品可以引起在同一電網(wǎng)的電子設(shè)備性能降低，干擾電子設(shè)備的正常工作。,8,騷擾功率測(cè)試（PE）,騷擾功率測(cè)試（Disturbance power，簡(jiǎn)稱(chēng)PE), 又稱(chēng)功率騷擾。騷擾功率主要是值能量不能以電磁波的形式由產(chǎn)品發(fā)射到空中，只能通過(guò)對(duì)外的較長(zhǎng)引線向外輻射對(duì)周邊產(chǎn)品的影響，設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無(wú)法忍受的電磁干擾的能力。 騷擾功率超標(biāo)的產(chǎn)品可能引起周?chē)b置、設(shè)備或系統(tǒng)性能降低，干擾信息技術(shù)設(shè)備或其他電子產(chǎn)品的正常工作，并對(duì)人體造成一定危害。,9,電壓變化與閃爍測(cè)試(Flicker),電壓變化與閃爍測(cè)試(Volta

6、ge fluctuations and flicker,簡(jiǎn)稱(chēng)Flicker)，又稱(chēng)閃爍測(cè)試。電壓變化與閃爍主要是指產(chǎn)品工作時(shí)，所加的電壓不呈線性關(guān)系從而造成的電壓變化。 電壓變化與閃爍超標(biāo)的產(chǎn)品可能使電氣設(shè)備發(fā)生故障或燒毀，并會(huì)引起照明燈具的燈光閃爍。電壓變化與閃爍測(cè)試使用的標(biāo)準(zhǔn)為EN 61000-3-3。 目的：為了保證產(chǎn)品不對(duì)與其連接在一起的照明設(shè)備造成過(guò)度的閃 爍影響(燈光閃爍)。,10,靜電放電抗擾度測(cè)試(ESD),靜電放電抗擾度測(cè)試(Electrostatic discharge immunity test，簡(jiǎn)稱(chēng) ESD)，又稱(chēng)靜電測(cè)試。靜電放電是普遍存在的自然現(xiàn)象（當(dāng)充有電荷的物體

7、靠近或接觸一個(gè)導(dǎo)體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉(zhuǎn)移，這就是靜電放電）。靜電放電抗擾度測(cè)試主要是模擬人體帶電直接接觸被試物品或者靠近被試物品，所進(jìn)行的接觸放電或空氣放電。 靜電放電抗擾度測(cè)試不通過(guò)的電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)死機(jī)，復(fù)位，發(fā)生故障或燒毀等。靜電放電抗擾度測(cè)試使用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)為IEC/EN61000-4-2.,11,射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度(RS),射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度(Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test，簡(jiǎn)稱(chēng) RS)，又稱(chēng)輻射抗擾度測(cè)試. 射頻電磁場(chǎng)輻射是由電磁輻射源（電子設(shè)備）產(chǎn)生的有意發(fā)射或者無(wú)意發(fā)射電磁波

8、，射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度主要是模擬電磁波通過(guò)空間傳遞對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)生的射頻輻射干擾. 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試不通過(guò)的電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)死機(jī)，復(fù)位，發(fā)生故障等。射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度使用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)為IEC/EN 61000-4-3。,12,射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度(CS),射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度(Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields，簡(jiǎn)稱(chēng)CS),又稱(chēng)傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試. 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾是由電磁輻射源（電子設(shè)備）產(chǎn)生的無(wú)意發(fā)射電磁波，射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾測(cè)試主要是模擬電磁能量通過(guò)連接線

9、纜（電源線等）對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)生的干擾. 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試不通過(guò)的電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)死機(jī)，復(fù)位，發(fā)生故障等。射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度使用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)為IEC/EN 61000-4-6,13,電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試(EFT),電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試(Electrical fast transient/burst Immunity test, 簡(jiǎn)稱(chēng)EFT),測(cè)試波形為5/50nS電壓波。又稱(chēng)快速脈沖測(cè)試. 電快速瞬變脈沖群是由電路中來(lái)自切換瞬態(tài)過(guò)程（切斷感性負(fù)載、繼電器觸點(diǎn)彈掉等）產(chǎn)生的能量，電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試主要是模擬上述能量通過(guò)連接線纜（電源線等）對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)

10、生的干擾. 電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試不通過(guò)的電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)死機(jī)，復(fù)位，發(fā)生故障或燒毀等.電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試使用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)為IEC/EN 61000-4-4. 目的：考察單個(gè)設(shè)備或系統(tǒng)抗快速瞬變干擾的能力,14,浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試(Surge),浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試(Surge immunity test,簡(jiǎn)稱(chēng)Surge),又稱(chēng)雷擊測(cè)試. 浪涌(沖擊)是由設(shè)備組合對(duì)地系統(tǒng)的短路和電弧故障和外界雷電耦合，或直接擊于外部（戶(hù)外）電路，注入的大電流流過(guò)接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生的能量，浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試主要是模擬上述能量通過(guò)連接線纜（電源線等）對(duì)電子產(chǎn)品產(chǎn)生的干擾.

11、浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試不通過(guò)的電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)死機(jī)，復(fù)位，發(fā)生故障或燒毀等。浪涌(沖擊)抗擾度測(cè)試使用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)為IEC/EN 61000-4-5,15,電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試(DIPs),電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試(Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests,簡(jiǎn)稱(chēng)DIPs),又稱(chēng)電壓跌落測(cè)試. 電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試主要是模擬產(chǎn)品經(jīng)歷電壓下降后的干擾. 電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試不通過(guò)的電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)死機(jī)，復(fù)位，發(fā)生故障或燒毀。電壓暫降,短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試使用的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)為IEC/EN 61000-4-11。 目的：考察EUT抗電壓跌落和暫降的能力。,16,工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試(PFMF),工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試(Power frequency magnetic field immunity test,簡(jiǎn)稱(chēng)PFMF). 工頻磁場(chǎng)是由工頻電流所產(chǎn)生的穩(wěn)定磁場(chǎng)相對(duì)較小，但在故障狀態(tài)下，電流所產(chǎn)生