1、數(shù)電實(shí)驗(yàn)箱面包板面包板Led燈燈電源電源IC底座底座脈沖源脈沖源74ls00撥開關(guān)撥開關(guān)集成塊、集成塊（IC）底座 三角形、圓形標(biāo)志開始逆時(shí)針數(shù)。從第1個(gè)管腳到第n個(gè)管腳。 DIP（daul in-line package）雙列直插式封裝。 BGA（Bsll grid array package）球柵陣列封裝。 例：cup，賽揚(yáng)366。 前圖，反面； 后圖，正面。撥開關(guān) 位置“1”接5V電源的“+”； 位置“2”接5V電源的“-”； 位置“3”接各種“輸入” 小撥桿 位置1、2、3穩(wěn)壓源、導(dǎo)線 最右邊兩個(gè)接線柱，左“+”，右“”。 粗導(dǎo)線，連接電源和實(shí)驗(yàn)箱。 細(xì)導(dǎo)線，連接箱子里面的接線柱。模擬

2、萬用表表頭和表盤實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 1 1熟悉熟悉TTLTTL與非門外形和管腳引線排列。與非門外形和管腳引線排列。2 2通過測試了解與非門的直流參數(shù)。通過測試了解與非門的直流參數(shù)。一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模阂?、?shí)驗(yàn)?zāi)康模簩?shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 集成電路的二大系列：集成電路的二大系列：(1)TTLTransistor-transistor Logic (1)TTLTransistor-transistor Logic 三極管三極管- -三極管邏三極管邏輯電路。輯電路。74LS74LS系列集成電路系列集成電路( (低功耗肖特基低功耗肖特基TT

3、LTTL電路電路) )是一種比較理想的是一種比較理想的和使用最廣的器件。和使用最廣的器件。(2)CMOSComplementary-Symmetery Metal-Oxide-(2)CMOSComplementary-Symmetery Metal-Oxide-Semiconductor Circuit Semiconductor Circuit 互補(bǔ)對稱式金屬互補(bǔ)對稱式金屬- -氧化物氧化物- -半導(dǎo)體電路。半導(dǎo)體電路。二、實(shí)驗(yàn)原理：二、實(shí)驗(yàn)原理：實(shí)物接線圖實(shí)物接線圖實(shí)物接線圖實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 Ui(V)00.50.70.91.01.11.21.31.4

4、1.51.82.03.5Uo(V)表表4.1 4.1 電壓傳輸特性測量表電壓傳輸特性測量表三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及步驟：三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及步驟：圖圖4.10 4.10 電壓傳輸特性曲線電壓傳輸特性曲線電壓輸入（V）ABY電壓輸出（V）0010-1.00114.0-3.81011.1-4.01100.16實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 TTLTTL與非門直流參數(shù)的定義在教材中已有介紹。與非門直流參數(shù)的定義在教材中已有介紹。現(xiàn)將測試電路繪出：現(xiàn)將測試電路繪出：圖圖4.14.1是低電平輸出電源電流是低電平輸出電源電流ICCLICCL測試電路（當(dāng)輸入端全為高電平測試電路（當(dāng)輸入端全為高電平時(shí)

5、，流入電源端的電流）；圖時(shí)，流入電源端的電流）；圖4.24.2是低電平輸入電流是低電平輸入電流IILIIL測試電路測試電路（當(dāng)某一輸入端接低電平、其余輸入端接高電平時(shí)，從該輸入端流（當(dāng)某一輸入端接低電平、其余輸入端接高電平時(shí)，從該輸入端流出的電流）；出的電流）；圖圖4.2 IIL4.2 IIL測試電路測試電路 二、實(shí)驗(yàn)原理：二、實(shí)驗(yàn)原理：1 1TTLTTL與非門直流參數(shù)的測量與非門直流參數(shù)的測量圖圖4.1 ICCL4.1 ICCL測試電路測試電路實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 圖圖4.34.3是高電平輸入電流是高電平輸入電流IIHIIH測試電路（當(dāng)某一輸入端接高電平、測

6、試電路（當(dāng)某一輸入端接高電平、其余輸入端接低電平時(shí)，流入該輸入端的電流）；圖其余輸入端接低電平時(shí)，流入該輸入端的電流）；圖4.44.4是測量是測量電壓傳輸特性的電路（輸出電壓電壓傳輸特性的電路（輸出電壓UOUO與輸入電壓與輸入電壓UiUi之間的關(guān)系，將之間的關(guān)系，將某一輸入端的電壓從零逐漸增大某一輸入端的電壓從零逐漸增大, ,而將其它輸入端接高電平）。而將其它輸入端接高電平）。圖圖4.4 4.4 電壓傳輸特性測試電路電壓傳輸特性測試電路二、實(shí)驗(yàn)原理：二、實(shí)驗(yàn)原理：1 1TTLTTL與非門直流參數(shù)的測量與非門直流參數(shù)的測量圖圖4.3 IIH4.3 IIH測試電路測試電路實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL

7、與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 圖圖4.7 4.7 平均傳輸延遲時(shí)間平均傳輸延遲時(shí)間t tpdpd2 2測平均傳輸延遲時(shí)間測平均傳輸延遲時(shí)間 在與非門輸入端加上一個(gè)脈沖電壓，則輸出電壓將有一定的在與非門輸入端加上一個(gè)脈沖電壓，則輸出電壓將有一定的時(shí)間延遲，表明延遲時(shí)間的輸入、輸出電壓波形如圖時(shí)間延遲，表明延遲時(shí)間的輸入、輸出電壓波形如圖4.74.7所示。所示。從輸入脈沖上升沿的從輸入脈沖上升沿的50%50%處起到輸出脈沖下降沿的處起到輸出脈沖下降沿的50%50%處的時(shí)間稱處的時(shí)間稱為上升延遲時(shí)間為上升延遲時(shí)間t tpd1pd1；從輸入脈沖下降沿的；從輸入脈沖下降沿的50%50%處起到輸出脈沖上處

8、起到輸出脈沖上升沿的升沿的50%50%處的時(shí)間稱為下降延遲時(shí)間處的時(shí)間稱為下降延遲時(shí)間t tpd2pd2。t tpd1pd1 與與t tpd2pd2的平均值的平均值稱為平均傳輸延遲時(shí)間稱為平均傳輸延遲時(shí)間tpd tpd ，此值愈小愈好。，此值愈小愈好。二、實(shí)驗(yàn)原理：二、實(shí)驗(yàn)原理：實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 由圖由圖4.64.6所示的環(huán)形振蕩器測出平均傳輸延遲時(shí)間所示的環(huán)形振蕩器測出平均傳輸延遲時(shí)間t tpdpd，如果每，如果每個(gè)與非門的個(gè)與非門的t tpdpd都相等，則振蕩信號(hào)的周期都相等，則振蕩信號(hào)的周期T=6tT=6tpdpd，于是：，于是： t tpdpd=T

9、/6=T/62 2測平均傳輸延遲時(shí)間測平均傳輸延遲時(shí)間二、實(shí)驗(yàn)原理：二、實(shí)驗(yàn)原理：圖圖4.6 4.6 環(huán)形振蕩器電路環(huán)形振蕩器電路 實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 2 2測平均傳輸延遲時(shí)間測平均傳輸延遲時(shí)間二、實(shí)驗(yàn)原理：二、實(shí)驗(yàn)原理： 為了證明上述自激振蕩過程，將圖為了證明上述自激振蕩過程，將圖4.64.6中的反饋線中的反饋線ADAD斷開，斷開，如圖如圖4.84.8所示，然后在門所示，然后在門1 1的輸入端加入一個(gè)頻率合適的方波的輸入端加入一個(gè)頻率合適的方波V Vi i，同時(shí)觀察同時(shí)觀察V Vi i、V Vo o和和V VF F波形波形( (以以ViVi作同步信號(hào)作同步

10、信號(hào)) )，如圖，如圖4.94.9所示，所示，V Vo o是是ViVi反相后右移反相后右移tpdtpd波形，如果波形，如果ViVi的頻率符合振蕩所需的相移條件，的頻率符合振蕩所需的相移條件，即即V Vi i比比V Vo o恰好右移恰好右移2t2tpdpd，則，則3t3tpdpd=t=tp p。 式中式中t tp p為為ViVi的脈沖寬度，則圖的脈沖寬度，則圖4.64.6將輸出周期為的方波，顯然將輸出周期為的方波，顯然 2 23t3tpdpd=6t=6tpdpd 故得：故得：tpd=T/6tpd=T/6電路依靠合閘時(shí)的擾動(dòng)電壓起振。電路依靠合閘時(shí)的擾動(dòng)電壓起振。圖圖4.8 4.8 斷開反饋線的環(huán)

11、形振蕩器斷開反饋線的環(huán)形振蕩器 圖圖4.9 Vi4.9 Vi、VOVO和和VFVF波形波形 實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 2 2測平均傳輸延遲時(shí)間測平均傳輸延遲時(shí)間二、實(shí)驗(yàn)原理：二、實(shí)驗(yàn)原理：實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 1 1根據(jù)與非門的邏輯功能檢查與非門是否良好。根據(jù)與非門的邏輯功能檢查與非門是否良好。2 2測量下列各直流參數(shù)測量下列各直流參數(shù)（1 1）低電平輸出電源電流）低電平輸出電源電流ICCL(ICCL(圖圖4.1)4.1)。（2 2）低電平輸入電流）低電平輸入電流IIL(IIL(圖圖4.2)4.2)。（3 3）高電平輸入電流）高電

12、平輸入電流IIH(IIH(圖圖4.3)4.3)。（4 4）電壓傳輸特性）電壓傳輸特性( (圖圖4.4)4.4)，完成表，完成表4.14.1，并畫出電壓傳輸特，并畫出電壓傳輸特性曲線性曲線( (完成圖完成圖4.10)4.10)。（5 5）扇出系數(shù)）扇出系數(shù)NO(NO(圖圖4.5)4.5)。（6 6）平均傳輸延遲時(shí)間）平均傳輸延遲時(shí)間tpd(tpd(圖圖4.6)4.6)。 三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及步驟：三、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及步驟：實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 1 1閱讀所用與非門（閱讀所用與非門（74LS0074LS00）的說明書，了解其線路、引線）的說明書，了解其線路、引線排列邏輯功能和

13、參數(shù)。排列邏輯功能和參數(shù)。2 2與非門什么情況下輸出高電平？什么情況下輸出低電平？與非門什么情況下輸出高電平？什么情況下輸出低電平？其不用的輸入端如何處理？其不用的輸入端如何處理？四、預(yù)習(xí)要求：四、預(yù)習(xí)要求：實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 五、實(shí)驗(yàn)報(bào)告五、實(shí)驗(yàn)報(bào)告1 1列出直流參數(shù)的實(shí)測數(shù)據(jù)表格。畫出傳輸特性，確定列出直流參數(shù)的實(shí)測數(shù)據(jù)表格。畫出傳輸特性，確定V VOFFOFF、V VONON、V VOLOL、V VOHOH值，與出廠參數(shù)相比，判斷所測的電參數(shù)是否合格。值，與出廠參數(shù)相比，判斷所測的電參數(shù)是否合格。實(shí)驗(yàn)一實(shí)驗(yàn)一 TTLTTL與非門參數(shù)測試與非門參數(shù)測試 1 1YB4320Y