1、 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用1第六章 紅外輻射測量儀器及基本參數(shù)測量掌握紅外輻射基本參數(shù)掌握紅外輻射基本參數(shù)6.5 紅外吸收比和透射比測量紅外吸收比和透射比測量6.4 紅外反射比測量紅外反射比測量6.3 紅外發(fā)射率測量紅外發(fā)射率測量6.2 基本輻射量的測量基本輻射量的測量6.1 紅外輻射測量儀器紅外輻射測量儀器 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用2光譜學(xué)發(fā)展史 1、形成階段：1666年牛頓在研究三棱鏡時(shí)發(fā)現(xiàn)將太陽光通過三棱鏡太陽光分解為七色光。1814年夫瑯和費(fèi)設(shè)計(jì)了包括狹縫、棱鏡和視窗的光學(xué)系統(tǒng)并發(fā)現(xiàn)了太陽光譜中的吸收譜線（夫瑯和費(fèi)譜線）。 2、研究室和應(yīng)用階段：1860年基爾霍夫和本生為研究金

2、屬光譜設(shè)計(jì)成較完善的現(xiàn)代光譜儀光譜學(xué)誕生。由于棱鏡光譜是非線性的，人們開始研究光柵光譜儀。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用36.1 紅外輻射測量儀器紅外輻射測量儀器 1. 單色儀 v定義：單色儀是利用分光元件（棱鏡或光柵）從復(fù)雜輻射中獲得紫外、可見和紅外光譜且具有一定單色程度光束的儀器。 v組成：由狹縫、準(zhǔn)直鏡和分光元件按一定排列方式組合而成。 v應(yīng)用：單色儀作為獨(dú)立的儀器使用時(shí)，可用于物體的發(fā)射、吸收、反射和透射特性的分光輻射測量和光譜研究，也可用于各種探測器的光譜響應(yīng)測量。若把單色儀與其他體系組合在一起，則可構(gòu)成各種光譜測量儀器，如紅外光譜輻射計(jì)和紅外分光光度計(jì)等。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及

3、應(yīng)用4 一般的單色儀由入射狹縫、準(zhǔn)直物鏡、色散元件、入射狹縫、準(zhǔn)直物鏡、色散元件、成像物鏡及出射狹縫成像物鏡及出射狹縫組成。 單色儀的種類較多，有通用型和專用型之分。主要性能指標(biāo)包括如下內(nèi)容： 工作波段范圍 線色散率 光譜寬度或光譜分辨率 波長重復(fù)性 波長準(zhǔn)確度 波長掃描速度 物鏡視場角等 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用5 v早期的單色儀多采用棱鏡作為色散元件如圖6-1 v角色散為 （6-1） v棱鏡的材料和形狀最終決定了棱鏡的分辨本領(lǐng)。 v分辨本領(lǐng)是指分離開兩條鄰近譜線的能力。v則其理論分辨本領(lǐng)R即： （6-2）ddnAnAdd21222sin12sin2圖6-1 棱鏡對(duì)單色光的折射ddnbR

4、 1、棱鏡 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用6v閃耀光柵主極大的位置服從光柵方程式 （6-3） vm為衍射級(jí)次級(jí)，m=0，1，2，b為光柵常數(shù)；i為入射角；為衍射角。 v將式（6-3）對(duì)微分即可求出角色散率d/d為 （6-4）)sin(sinibmcosbmdd圖6-2 閃耀光柵的橫剖面圖2、光柵 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用7-6-4-20246 -6-4-20246 j=0j=0 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用8-6-4-20246 j=0j=0 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用9v光柵的分辨本領(lǐng)R也具有式（6-2）的形式，即 （6-5）v式中W是有效孔徑寬度，W=bNcos，其中b是一條劃線的寬度

5、，N是劃線總數(shù)，是衍射角。將式（6-4）代入上式得 （6-6）v由式（6-6）可知，光柵的分辨本領(lǐng)與劃線總數(shù)N和光譜的級(jí)數(shù)m成正比。ddWR mNR 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用10v單色儀的工作原理可用圖6-3所示的反射式單色儀光路系統(tǒng)加以說明。來自輻射源的輻射束穿過入射狹縫S1后，經(jīng)拋物面準(zhǔn)直反射鏡M1反射變成平行光束投射到平面反射鏡M2，再被反射進(jìn)入色散棱鏡P，于是被分解為不同折射角的單色平行光束，經(jīng)另一拋物面反射鏡M3反射，并聚焦于出射狹縫S2輸出。圖6-3 反射式單色儀光路系統(tǒng)略圖 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用11常見單色儀光學(xué)系統(tǒng)常見單色儀光學(xué)系統(tǒng)MNO 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)

6、用12 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用13 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用14 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用15 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用16 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用17 v2. 光譜輻射計(jì)光譜輻射計(jì) v定義和組成：光譜輻射計(jì)是在窄光譜區(qū)間測量光譜輻射通量的裝置。輻射計(jì)是在寬光譜區(qū)間測量輻射通量的裝置。 v 圖6-4 輻射計(jì)原理 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用18v圖6-5給出了光譜輻射計(jì)的結(jié)構(gòu)示意圖。光譜輻射計(jì)主要由兩個(gè)部分組成：產(chǎn)生窄譜帶輻射的單色儀和測量此輻射通量的輻射計(jì)。圖6-5 光譜輻射計(jì)的結(jié)構(gòu)示意圖 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用193. 紅外分光光度計(jì)紅外分光光度計(jì) v定義和組

7、成：紅外分光光度計(jì)也稱紅外光譜儀，是進(jìn)行紅外光譜測量的基本設(shè)備，結(jié)構(gòu)如圖6-6所示。主要由輻射源、單色儀、探測器、電子放大器和自動(dòng)記錄系統(tǒng)等構(gòu)成 v 圖6-6 色散型雙光束紅外分光光度計(jì)結(jié)構(gòu)方框圖 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用20v分類：紅外分光光度計(jì)根據(jù)其結(jié)構(gòu)特征可分為單光束分光光度計(jì)和雙光束分光光度計(jì)兩種。圖6-7 紅外分光光度計(jì)光路圖 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用21v典型的雙光束電學(xué)平衡式紅外光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)，如圖6-8所示。 圖6-8 雙光束電學(xué)平衡式紅外光譜儀的光學(xué)系統(tǒng) 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用22 4. 傅里葉變換紅外光譜儀傅里葉變換紅外光譜儀 功能功能：是使光源發(fā)出的光分為

8、兩束后造成一定的光程差，再使之復(fù)合以產(chǎn)生干涉，所得到的干涉圖函數(shù)包含了光源的全部頻率和強(qiáng)度信息。用計(jì)算機(jī)將干涉圖函數(shù)進(jìn)行傅里葉變換，就可計(jì)算出原來光源的強(qiáng)度按頻率的分布。如果在復(fù)合光束中放置一個(gè)能吸收紅外輻射的試樣，由所測得的干涉圖函數(shù)經(jīng)過傅里葉變換后與未放試樣時(shí)光源的強(qiáng)度按頻率分布之比值，即可得到試樣的吸收光譜。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用23 組成組成：邁克爾遜干涉儀和計(jì)算機(jī)組成。傅里葉變換紅外光譜儀由以下四部分組成。 （1）光源 （2）分束器 （3）探測器 （4）數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用24圖6-9 邁克耳遜干涉儀工作原理M M1 1BSBSI IIIIIM M2 2

9、D D 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用25v由傅里葉變換紅外光譜儀獲得所需光譜，一般必須遵循如下步驟： （1）當(dāng)干涉儀動(dòng)鏡M1隨時(shí)間作勻速移動(dòng)時(shí)，記錄相應(yīng)的信號(hào)，測出I(x)值（等間隔取樣）； （2）由實(shí)驗(yàn)測定光程差x=0時(shí)的I(0)； （3）將I(x)I(0)/2代入方程，對(duì)于選定的頻率計(jì)算出積分； （4）對(duì)于每一頻率完成方程的積分，即可得到S()與的光譜曲線圖。 vxdxvSIdvvxvSxI2cos)(2) 0(2cos1 )()(0vxdxIxIvS2cos2) 0()(4)(0 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用26傅里葉變換紅外光譜儀有以下優(yōu)點(diǎn)： 1）掃描時(shí)間短，信噪比高 2）光通量大 3

10、）具有很高的波數(shù)準(zhǔn)確度 4）具有較高的和恒定的分辨能力 5）具有很寬的光譜范圍和極低的雜質(zhì)輻射 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用27v5. 多通道光譜儀多通道光譜儀 v多通道光譜儀與單色儀的相同之處在于均采用棱鏡或光柵作為色散元件，與單色儀的不同之處在于能同時(shí)在很多波長的通道內(nèi)收集色散能量。 圖6-10 多通道光譜儀的基本結(jié)構(gòu) 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用286.2 基本輻射量的測量基本輻射量的測量v1. 輻射亮度的測量輻射亮度的測量 v 假定用下角標(biāo)“s”表示與標(biāo)準(zhǔn)輻射源有關(guān)的量，而下角標(biāo)“x”表示與待測輻射源有關(guān)的量。很顯然，若定義儀器的光譜輻射亮度響應(yīng)度RL()為，則 v （6-7） v v

11、其中V()為在波長處儀器的光譜輸出電壓；Le()為入瞳處的被測光譜輻射亮度。借助此關(guān)系式，可以寫出在12波段內(nèi)的響應(yīng)度為 v （6-8）)()()(eLLVR2121)()()(dLdRLLVReLeeL 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用29v此時(shí)，用標(biāo)準(zhǔn)輻射源在處測得的電壓為 v （6-9） v在12波長內(nèi)測得的電壓為 v （6-10） v式中Ls()為標(biāo)準(zhǔn)輻射源的光譜輻射亮度。同樣，用待測輻射源所測得的電壓為Vx和Vx，則 v （6-11） v )()(LssRLV21)()(dRLVLss)()(LxxRLV 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用30v （6-12） v其中Lx()為待測樣品的光譜輻

12、射亮度，于是可求得待測輻射源的輻射亮度為 v （6-13） v v （6-14） v v其中Ls和Ls為標(biāo)準(zhǔn)輻射源在入射光瞳處的光譜輻射亮度和總輻射亮度。 v在運(yùn)用式（6-13）和式（6-14）的最終結(jié)果時(shí)，不必考慮儀器的響應(yīng)度，僅僅要求知道輻射源的光譜輻射亮度，以及儀器的輸出電壓信號(hào)就可以了。 v。21)()(dRLVLxx ssxLxxLVVRVL)(ssxssxLxxLVVdLVVRVL21)( 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用31v2. 輻射強(qiáng)度的測量輻射強(qiáng)度的測量 v輻射源的輻射強(qiáng)度是通過輻射照度的測量來獲得的。假設(shè)輻射穿過透射率為a的大氣后，在距離為d處產(chǎn)生的輻射照度為E，當(dāng)d遠(yuǎn)大于輻

13、射源的線度時(shí)，輻射強(qiáng)度為 v v （6-15） vEd2為表觀輻射強(qiáng)度。 v如果輻射源是擴(kuò)展輻射源， v （6-16） aEdI2AdALIcos 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用32 3. 總輻射通量的測量總輻射通量的測量 積分球也稱積分光度計(jì)。它是一個(gè)內(nèi)壁涂白色漫反射涂層，球內(nèi)放待測光源的完整球殼。由光源發(fā)射并經(jīng)球壁漫反射的一部分輻射通過球壁上的一個(gè)小孔（窗口）射到測量用的接收器上。這部分輻射通量應(yīng)正比于光源所發(fā)出的總輻射通量。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用33圖6-11 積分球原理 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用34v如圖6-11所示為一個(gè)半徑為R的積分球，其中C v是待測輻射源，可以放在球內(nèi)

14、任意位置。假設(shè)球內(nèi)壁各點(diǎn)都能產(chǎn)生均勻的漫反射，其漫反射比為，球心在O處，輻射源所發(fā)出的總輻射通量為。如果在C和球壁上一點(diǎn)B之間放一檔屏，擋去直接射向B點(diǎn)的輻射，則在B點(diǎn)的輻射照度為 v v （6-17） v球壁上任何位置的輻射照度與輻射源的總輻射通量成正比。如果在圖6-11的C處依次放入標(biāo)準(zhǔn)源和待測源，由它們分別在窗口處產(chǎn)生的輻射照度為Es和Ex，則待測源的總輻射通量為 v v （6-18） v式中s為標(biāo)準(zhǔn)源的總輻射通量。142REssxxEE 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用35v如果所選用的探測器是無光譜選擇性的，而且是均勻響應(yīng)的，那么就可以用相應(yīng)的電信號(hào)表示待測源的輻射通量，即 v （6-1

15、9） v vix為用待測輻射源時(shí)所產(chǎn)生的光電流；is為用標(biāo)準(zhǔn)輻射源時(shí)所產(chǎn)生的光電流。 v如果C位于球心，設(shè)輻射源的最大尺寸為2b，窗口的直徑為2a，則擋屏的半徑為d=a+2(b-a)/3。 v通常要求輻射源的最大尺寸不超過球殼直徑的1/10。尺寸較大的輻射源應(yīng)選用直徑較大的積分球。 ssxxii 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用36 實(shí)際的積分球并不滿足上述的理想條件，其主要原因如下： （1）球內(nèi)壁不可能發(fā)出理想的漫反射； （2）球內(nèi)壁各點(diǎn)的漫反射率不可能是嚴(yán)格相同的； （3）擋屏不僅遮擋了源的輻射，而且也在球壁上形成了一定的陰影； （4）落在輻射源、懸浮裝置以及擋屏上的輻射要被它們反射或吸收；

16、（5）在窗口或接收器處不可能完全像朗伯余弦定律那樣傳輸輻射或吸收輻射，對(duì)于掠入射和正入射的情況也是不同的，等等。 因此，在使用積分之前，應(yīng)該對(duì)積分球的測試精度進(jìn)行檢驗(yàn)。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用376.3 紅外發(fā)射率測量紅外發(fā)射率測量v（1）根據(jù)定義，發(fā)射率是實(shí)際物體與黑體在相同條件（溫度、光譜范圍和幾何條件）下的輻射之比。因此，報(bào)道測量結(jié)果時(shí)應(yīng)指明測試條件，并把測量結(jié)果嚴(yán)格地說成是在某溫度、光譜范圍和方向上的發(fā)射率。如500K時(shí)的半球全發(fā)射率h（500K）或800K時(shí)5m處的法向光譜發(fā)射率n（5m，800K）等。 v（2）必須對(duì)樣品狀態(tài)有完整的描述：因?yàn)椴牧习l(fā)射率的測量受一系列因素影響，

17、所以，報(bào)道測量結(jié)果時(shí)，應(yīng)盡可能詳盡地說明測試樣品的成分、厚度、表面的形貌特征和結(jié)構(gòu)特征。否則將會(huì)降低測量結(jié)果與報(bào)道的價(jià)值。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用38v（3）對(duì)光學(xué)不均勻的樣品必須考慮反射作用：關(guān)于發(fā)射、透射和反射的相互關(guān)系的許多論述，都只適用于光學(xué)均勻的材料。因此，在發(fā)射率測量中，應(yīng)用基本關(guān)系式+=1時(shí)，必須注意式中的三個(gè)量要有一致的幾何條件。例如，當(dāng)從反射率和透射率計(jì)算法向發(fā)射率時(shí)，反射率和透射率必須屬于均勻漫照射和法向觀測的值。v（4）樣品溫度問題：測量發(fā)射率必須準(zhǔn)確知道樣品溫度。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用391. 半球全發(fā)射率測量半球全發(fā)射率測量 v當(dāng)研究輻射熱傳遞和熱損耗問

18、題時(shí)，最關(guān)心的是物體表面的半球全發(fā)射率。對(duì)它的測量，絕大多數(shù)的方法是采用量熱法。 v這種方法的基本原理和裝置如圖6-12所示。圖6-12 熱絲法測量半球全發(fā)射率裝置示意圖41422TATAIVh 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用40 2. 法向光譜發(fā)射率測量法向光譜發(fā)射率測量 在各種具體方案中，可有如下幾方面的變化： （1）比較的方法，包括單光路和雙光路； （2）加熱樣品的方法，其中包括輻射、附加電阻加熱器的熱傳導(dǎo)、對(duì)流或旋轉(zhuǎn)樣品爐等樣品加熱； （3）分光計(jì)的類型，棱鏡或光柵式單色儀、濾光片等； （4）測量的光譜范圍，取決于分光計(jì)和探測器的工作波帶； （5）溫度測量和控制方法，有熱電偶、光學(xué)或輻射

19、高溫計(jì)，手動(dòng)或自動(dòng)控制； 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用41 （6）數(shù)據(jù)處理方法，一個(gè)波長一個(gè)波長地測量比較，或在一個(gè)寬的波長范圍內(nèi)自動(dòng)記錄； （7）所用比較黑體的類型，有獨(dú)立的實(shí)驗(yàn)室黑體源、加熱樣品的爐子或在樣品中開的參比黑體腔孔。 雙光路法向光譜發(fā)射率測量系統(tǒng)，廣泛采用雙光束比率記錄的紅外分光光度計(jì)工作模式，它以實(shí)驗(yàn)用黑體源和待測樣品作為兩個(gè)光束的輻射源。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用42 為能直接記錄樣品的法向光譜發(fā)射率，上述雙光路測試系統(tǒng)能夠必須滿足如下條件： （1）被測樣品和比較黑體必須控制在相同溫度，樣品表面的溫度梯度應(yīng)盡可能?。?（2）為使兩光束有相同的大氣吸收，并使這種吸收降到最

20、低，兩光束的光路長度必須相等，或使儀器保持在無吸收條件或真空中工作； 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用43 （3）除分光棱鏡外，必須始終采用前表面反射系統(tǒng)，并在兩光路中使用完全對(duì)等的光學(xué)元件，以使兩光束在光學(xué)上有相等的吸收衰減； （4）兩光束的源面積的場孔徑必須相等，以保障兩光束中的輻射功率來自相同的源面積和發(fā)射立體角。 v 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用44v若儀器對(duì)比率記錄模式工作，得到的法向光譜發(fā)射率為: v （6-20） v v測量方法和步驟：v 測量前首先應(yīng)對(duì)儀器進(jìn)行定標(biāo)，即波長定標(biāo)和儀器線性響應(yīng)定標(biāo)。在不同波長范圍，可用不同方法對(duì)單色儀進(jìn)行波長定標(biāo)。v 另外，利用大氣吸收曲線也可在0.4

21、15m范圍找出52個(gè)吸收峰，從而得到更長波長的定標(biāo)曲線。 v )()()()()(ZHZSn 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用45圖6-13 單光路測試系統(tǒng)示意圖 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用466.4 紅外反射比測量紅外反射比測量v1. 反射比的定義反射比的定義 v根據(jù)入射及收集反射輻射的幾何關(guān)系，分別有不同的定義和表示方法。 v（1）雙向反射比 v（2）方向-半球反射比 v（3）半球-方向反射比 v（4）雙半球反射比 v除上述各種反射比以外，如果入射或接收反射輻射限制在某個(gè)有限的錐角i或r內(nèi)，則又有下列五種反射比之分：方向-錐角反射比、錐角-方向反射比、雙錐反射比、半球-錐角反射比、錐角-半球

22、反射比。 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用47 在測量反射比時(shí)，應(yīng)依不同的情況用不同的方法。目前常用的室內(nèi)反射比測量系統(tǒng)主要分為四種：積分球反射計(jì)、熱腔反射計(jì)、半球反射計(jì)、橢球鏡或拋物鏡反射計(jì)。 2. 積分球反射計(jì)積分球反射計(jì) 積分球是個(gè)內(nèi)壁涂有MgO、BaSO4或BaCO3等漫反射涂層的球形腔體。因這些涂層有近似理想漫反射性能，所以，若有一輻射束照射球的內(nèi)壁，則反射輻射將按余弦定律分布 紅外技術(shù)及應(yīng)用紅外技術(shù)及應(yīng)用48 （1）將待測樣品置于球壁或球心，把光束引入球內(nèi)，并依次照射樣品和球內(nèi)壁的高漫反射涂層（或已知反射比的標(biāo)準(zhǔn)反射體），從樣品及球內(nèi)壁反射的光束，經(jīng)球內(nèi)多次反射后，在球壁產(chǎn)生的輻射照度與樣品及球內(nèi)首次被照面的反射比有