1、晶體光學(xué)及光性礦物學(xué)復(fù)習(xí)提綱第一章晶體光學(xué)基礎(chǔ)1光具有波粒二象性。2光是一種橫波，光的傳播方向與振動(dòng)方向互相垂直。3 可見(jiàn)光：電磁波譜中波長(zhǎng)范圍390770nm的一個(gè)區(qū)段。4 折射定律：Sini（入射角）/Sina（折射角）=Vi（入射速度）/Va（折射速度）=Ni-a5 全反射臨界角和全反射:當(dāng)光波從光密介質(zhì)入射到光疏介質(zhì)時(shí)，入射角i總是小于折射角a，當(dāng)a=90時(shí)，i=，此時(shí)入射角稱(chēng)為全反射臨界角。當(dāng)入射角i時(shí)，折射光波不再進(jìn)入折射介質(zhì)而全部返回到入射介質(zhì)，這種能量的突變稱(chēng)為全反射。6 自然光：在垂直光波傳播方向的斷面內(nèi)，光波作任意方向的振動(dòng)，且振幅相等。7 偏振光：在垂直光波傳播方向的斷面

2、內(nèi)，光波只在某一固定方向上振動(dòng)。自然光轉(zhuǎn)化為偏振光的過(guò)程稱(chēng)偏振化。8 光性均質(zhì)體：指光學(xué)性質(zhì)各方向相同的晶體。包括等軸晶系的礦物和非晶質(zhì)物質(zhì)。光波在均質(zhì)體中的傳播特點(diǎn)：光的傳播速度不因光的振動(dòng)方向不同而發(fā)生改變（各向同性），由折射定律可知，均質(zhì)體的折射率只有一個(gè)。9 光性非均質(zhì)體：光性非均質(zhì)體的光學(xué)性質(zhì)因方向不同而改變（各向異性）。包括中級(jí)晶族（一軸晶）和低級(jí)晶族（二軸晶）的礦物光波在非均質(zhì)體中的傳播特點(diǎn)：光的傳播速度因光波在晶體中的振動(dòng)方向不同而發(fā)生改變。因而非均質(zhì)體的折射率也因光波在晶體中的振動(dòng)方向不同而改變。10 雙折射：光波射入非均質(zhì)體，除特殊方向外，將分解成振動(dòng)方向互相垂直，傳播速度

3、不同，折射率不等的兩種偏光，這種現(xiàn)象稱(chēng)為雙折射。11 雙折射率：兩種偏光的折射率值之差稱(chēng)為雙折射率。許多晶體光學(xué)現(xiàn)象與此有關(guān)。12 光軸：光波沿非均質(zhì)體的特殊方向入射時(shí)，不發(fā)生雙折射，這種特殊的方向稱(chēng)為光軸。13 中級(jí)晶族具有一個(gè)這樣的特殊方向，稱(chēng)為一軸晶礦物；低級(jí)晶族具有兩個(gè)這樣的特殊方向，稱(chēng)為二軸晶礦物。14 光率體：是表示光波在晶體中傳播時(shí)，折射率值隨光波振動(dòng)方向變化的一種立體幾何圖形或一種光性指示體。其作法是設(shè)想自晶體中心起，沿光波振動(dòng)方向按比例截取相應(yīng)的折射率值，再把各個(gè)線段的端點(diǎn)連接起來(lái)便構(gòu)成了光率體。15 均質(zhì)體光率體：其傳播速度不因振動(dòng)方向不同而發(fā)生改變，即折射率值各方向相等。

4、均質(zhì)體光率體是一個(gè)球體，球體的半徑代表該晶體的折射率。16 一軸晶光率體（中級(jí)晶族晶體的光率體）：一軸晶光率體是一個(gè)以C軸為旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)橢球體。17 一軸晶光率體形狀（以C軸為旋轉(zhuǎn)軸的旋轉(zhuǎn)橢球體）：主折射率（Ne、No）,主折射率（Ne、No）18 一軸晶光率體的光性正負(fù)：NeNo正光性光率體（石英，長(zhǎng)行旋轉(zhuǎn)橢球體）NeNmNp為正光性符號(hào)，NgNmNmNp為負(fù)光性符號(hào).。25 二軸晶光率體的五種主要切面：1）垂直一根光軸切面（OA）：圓切面。半徑為Nm,光波垂直該切面入射不發(fā)生雙折射。2）平行光軸面切面（AP）:橢圓切面。長(zhǎng)半徑為Ng,短半徑為Np,光波垂直該切面入3）垂直Bxa切面：橢圓切

5、面。對(duì)于正光性，長(zhǎng)半徑為Nm,短半徑為Np,雙折射率等于Nm-Np；對(duì)于負(fù)光性，長(zhǎng)半徑為Ng,短半徑為Nm,雙折射率等于Ng-Nm。4）垂直Bxo切面：橢圓切面。正光性和負(fù)光性的長(zhǎng)短半徑的特點(diǎn)與垂直Bxa切面相反。5）斜交切面：橢圓切面。長(zhǎng)短半徑分別為Ng和Np（Ng大小介于Ng與Nm之間；Np大小介于Nm與Np之間），雙折射率等于Ng-Np。26 光性方位：指光率體在晶體中的位置，即光率體主軸（No、Ne軸或Ng、Nm、Np軸）與結(jié)晶軸（a、b、c軸）之間的相互關(guān)系。對(duì)低級(jí)晶族（二軸晶）礦物具有重要的鑒定意義。第二章偏光顯微鏡（透射）偏光顯微鏡是巖礦綜合鑒定的精密光學(xué)儀器，與一般生物顯微鏡的

6、主要區(qū)別在于安裝有兩個(gè)偏光鏡。本章教學(xué)目的是結(jié)合實(shí)物使學(xué)生了解偏光顯微鏡的基本構(gòu)成、必備附件、使用方法及養(yǎng)護(hù)規(guī)則。1、 偏光顯微鏡的構(gòu)成機(jī)械系統(tǒng)主要部件（1）鏡座與鏡臂：支撐顯微鏡及連接光源、物臺(tái)、鏡筒。（2）鏡筒：連接目鏡和物鏡的部件.（3）物鏡轉(zhuǎn)換器：用于安裝、選擇不同倍數(shù)的物鏡。（4）載物臺(tái)：放置薄片用的可3600轉(zhuǎn)動(dòng)的圓形平臺(tái)（5）焦準(zhǔn)設(shè)備（升降系統(tǒng)）：分粗調(diào)和微調(diào)，作用是調(diào)節(jié)焦距，使物象清晰。（6）聚光鏡架：連接聚光鏡、下偏光鏡、上鎖光圈等的部件。（7）上、下鎖光圈：控制光的通過(guò)量。光學(xué)系統(tǒng)主要部件（1）光源：分為自然光源和人工光源，目前多數(shù)顯微鏡采用人工光源。（2）下偏光鏡：在聚光

7、鏡架底部，作用是把自然光轉(zhuǎn)變?yōu)槠?。其振?dòng)方向一般為東西向。（3）聚光鏡：在聚光鏡架上部，作用是把偏光轉(zhuǎn)變?yōu)殄F光，使顯微鏡處于偏光系統(tǒng)。（4）物鏡：由多組透鏡組成，連接在物鏡轉(zhuǎn)換器上，是決定放大倍數(shù)及成像質(zhì)量的重要部件。按放大倍數(shù)分為三類(lèi)：高倍鏡（40倍和100倍）中彳鏡（10倍和20倍）、低倍鏡（2.5稠四倍）。（5）目鏡：由眼透鏡和場(chǎng)透鏡組成。目鏡中附有十字絲，倍數(shù)有10倍和8倍兩種。（6）上偏光鏡：位于目鏡和物鏡間，振動(dòng)方向與下偏光振動(dòng)方向垂直，可自由推入或拉出。（7）勃氏鏡：位于目鏡和上偏光鏡間，可自由的推入或拉出，與聚光鏡和高倍鏡配合使用。2、 偏光顯微鏡的調(diào)節(jié)與校正選擇并裝配物鏡和

8、目鏡：按需要選擇物鏡和目鏡，在安裝目鏡時(shí)注意其內(nèi)十字絲的方向。2調(diào)節(jié)照明：打開(kāi)光源燈，調(diào)節(jié)變壓器旋扭，直到亮度適度為止。焦準(zhǔn)：將薄片置于物臺(tái)上，在教師指導(dǎo)下，用粗調(diào)或微調(diào)調(diào)焦至物象清晰。在此過(guò)程中，千萬(wàn)注意，物鏡前透鏡不要與薄片接觸，以免打碎薄片或損壞鏡頭。物鏡中心的校正：物臺(tái)旋轉(zhuǎn)軸、物鏡中軸、鏡筒中軸、目鏡中軸必須保持在一條直線上，偏光顯微鏡才能正常使用，目前有關(guān)物鏡中心的校正將由指導(dǎo)教師來(lái)完成。下偏光鏡的檢查：下偏光鏡的振動(dòng)為東西向。當(dāng)黑云母的解理平行下偏光鏡的振動(dòng)方向時(shí)顏色最深，據(jù)此可以檢查、調(diào)節(jié)下偏光鏡的振動(dòng)方向。2上偏光鏡的檢查：移去薄片，視域黑暗，說(shuō)明上偏光振動(dòng)方向與下偏光振動(dòng)方向

9、互相垂直。否則，需要進(jìn)行調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)工作由指導(dǎo)教師來(lái)完成。第三章單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)1 單偏光鏡下載物臺(tái)上放置礦片時(shí)視域的光學(xué)特點(diǎn)；（1）放置均質(zhì)體礦片當(dāng)物臺(tái)上放置均質(zhì)體礦（物）片時(shí)，透出礦片的偏光振動(dòng)方向仍然平行偏光振動(dòng)方向，礦片顯示偏光透過(guò)礦片時(shí)的光學(xué)性質(zhì)。由于均質(zhì)體光性各向同性，旋轉(zhuǎn)物臺(tái)時(shí)光學(xué)性質(zhì)不變。（2）放置非均質(zhì)體礦片；非均質(zhì)體垂直光軸切面的礦片（除礦物形態(tài)，旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)礦物光學(xué)性質(zhì)沒(méi)有變化）；非均質(zhì)體斜交光軸切面的礦片（除礦物形態(tài)，旋轉(zhuǎn)載物臺(tái)礦物光學(xué)性質(zhì)有變化）；2 礦物形態(tài)礦物的形態(tài)是幾何特征，不屬于光學(xué)性質(zhì)。顯微鏡下觀察到的礦物形態(tài)與礦物本身的結(jié)晶習(xí)性與切片方向有關(guān)，確定一種

10、礦物的整體外形，必須考慮不同的切片方向的形狀及綜合手標(biāo)本上礦物的形態(tài)。（切面形態(tài)，單體形態(tài)，集合體形態(tài)）。3 解理：礦物受外力作用后沿一定結(jié)晶學(xué)方向裂成光滑平面的性質(zhì)，是鑒定礦物的特征之一。在顯微鏡下見(jiàn)到的不是解理面本身，而是解理面與薄片平面的交線，這些交線一般為明顯的黑線，稱(chēng)為解理縫。4 .解理的完善程度分為三級(jí)：（ 1） .極完全解理：解理縫細(xì)，密，長(zhǎng)，貫穿整個(gè)晶體；如云母類(lèi)的解理（ 2） .完全解理：解理縫之間間距較寬，不完全連續(xù)；如角閃石和輝石類(lèi)的解理（ 3） .不完全解理：解理縫斷斷續(xù)續(xù)，有時(shí)僅見(jiàn)解理縫痕跡；如橄欖石5 解理縫可見(jiàn)臨界角：解理面與切面有交線，理論上會(huì)見(jiàn)到解理紋，但由于

11、光學(xué)原理，交角增大到某一極限值時(shí)，顯微鏡下就見(jiàn)不到它了，這個(gè)極限值就叫做解理紋可見(jiàn)臨界角。即當(dāng)小于臨界角時(shí)才能見(jiàn)到解理縫。解理縫紋可見(jiàn)臨界角取決于N礦與N膠的差值，差值愈大，臨界角愈大；差值愈小，臨界角愈小。6 解理夾角的測(cè)定：解理夾角即兩個(gè)解理面的夾角。定解理夾角，必須選擇同時(shí)垂直兩組解理面的切面，在此切面上測(cè)量?jī)山M解理紋的夾角。測(cè)量解理夾角的操作步驟如下：（1）選擇同時(shí)垂直兩組解理面的切面，其特征是：兩組解理紋同時(shí)最細(xì)、最清晰，且兩組解理紋寬度、清晰度相同，升降鏡筒，兩組解理紋都不平行移動(dòng)；（2）將選好的切面置于視域中心，并使其中的任意兩條解理紋的交點(diǎn)（最好靠礦物中心）與十字絲交點(diǎn)重合；（

12、3）旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，使一條解理紋與縱絲（或橫絲）一致，記錄物臺(tái)讀數(shù)量；（4）旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，使另一條解理紋與縱絲（或橫絲）一致，記錄物臺(tái)讀數(shù)；（5）計(jì)算解理夾角=以上讀數(shù)之差。7 多色性和吸收性（公式）均質(zhì)體礦物，光性上表現(xiàn)為各向同性，對(duì)光波的選擇性吸收不隨方向的改變而改變。因此，旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，均質(zhì)體礦物的顏色色彩和濃度不會(huì)發(fā)生改變。非均質(zhì)體礦物，光性上表現(xiàn)為各向異性，對(duì)光波的選擇性吸收隨方向的不同而改變。在顯微鏡下旋轉(zhuǎn)物臺(tái)時(shí)，非均質(zhì)體礦物的顏色色彩和濃度一般情況下都會(huì)發(fā)生改變。非均質(zhì)體礦物顏色色彩發(fā)生改變、呈現(xiàn)多種色彩的現(xiàn)象稱(chēng)為多色性，顏色深淺發(fā)生改變的現(xiàn)象稱(chēng)為吸收性。非均質(zhì)體礦物，若在偏光顯微鏡下能見(jiàn)到顏

13、色，一般都能觀察到多色性和吸收性，只是多色性和吸收性的明顯程度不同而己。8 礦物的邊緣和貝克線的概念邊緣：巖石薄片中，在兩個(gè)折射率不同的物質(zhì)接觸處，可以看到一條比較黑暗的邊緣，稱(chēng)礦物的邊緣。貝克線：在邊緣的鄰近不可見(jiàn)到一條比較明亮的細(xì)線，成為貝克線9 貝克線的移動(dòng)規(guī)律：下降物臺(tái)（或提升鏡筒），貝克線相對(duì)邊緣向折射率大的介質(zhì)一方移動(dòng)；提升物臺(tái)（或下降鏡筒），貝克線相對(duì)向折射率小的一方移動(dòng)；即“下降物臺(tái)，貝克線向折射率大的介質(zhì)一方移動(dòng)”。10 假貝克線：若礦物折射率比樹(shù)膠折射率大得多時(shí)，觀察礦物的貝克線，發(fā)現(xiàn)提升鏡筒貝克線不是移向礦物一方，而是移向樹(shù)膠一方；有時(shí)又發(fā)現(xiàn)有兩條亮帶，提升鏡筒，一條向礦

14、物一方移動(dòng)，另一條向樹(shù)膠一方移動(dòng)。這些移動(dòng)規(guī)律異常的“貝克線”，稱(chēng)為“假貝克線”。產(chǎn)生假貝克線的原因：主要與兩介質(zhì)折射率差值太大和接觸面不規(guī)整有關(guān)。排除產(chǎn)生假貝克線方法：放棄對(duì)這一部位的觀察，而改選其他合適的部位進(jìn)行觀察，或改用中心明暗法和斜照法比較折射率相對(duì)大小。中心明暗法：下降物臺(tái)，礦物中心變亮，范圍變小、變清晰，則礦物折射率大于樹(shù)膠折射率；下降物臺(tái)，礦物中心變暗，范圍變小、變模糊，則礦物折射率小于樹(shù)膠折射率。11 礦物糙面：即偏光顯微鏡下所見(jiàn)礦物的粗糙表面，是光線通過(guò)礦片后產(chǎn)生的一種光學(xué)效應(yīng)，是人對(duì)礦片表面粗糙程度的一種視覺(jué)，并不代表礦片真實(shí)的物理粗糙程度。12 礦物糙面的成因：磨制的礦

15、片表面，一般總不同程度地有顯微凹凸不平。當(dāng)覆蓋其上的樹(shù)膠折射率與礦物折射率存在差異時(shí)，該表面即是一個(gè)光學(xué)界面，光線通過(guò)該界面時(shí)要發(fā)生折射，使光線發(fā)生聚卒呻分散。光線聚斂的區(qū)域變亮，光線分散的區(qū)域變暗，礦片表面明暗不均，給人一種粗糙的感覺(jué)13 突起：礦物表面“高出”薄片平面，類(lèi)似于“正地形”的現(xiàn)象。突起就是礦物這種“高低不平”的現(xiàn)象的。突起也是光線通過(guò)礦片后產(chǎn)生的一種光學(xué)效應(yīng)，是人對(duì)礦物邊緣和糙面的一種綜合視覺(jué)，并不代表礦物表面的實(shí)際高低。因?yàn)檫吘壓筒诿娴娘@著程度取決于N礦和N膠的差值，所以實(shí)際上突起的高低主要取決于N礦與N膠的差值，差值愈大，突起愈高；差值愈小，突起愈低。14 突起正負(fù)及等級(jí)的

16、劃分（突起正負(fù)是以加拿大樹(shù)膠的折射率為標(biāo)準(zhǔn)）根據(jù)N礦、N膠的相對(duì)大小，突起分為正突起和負(fù)突起：N礦N膠，為正突起；N礦N膠，為負(fù)突起。即負(fù)突起礦物，折射率小于1.54;正突起礦物，折射率大于154?！罢?、負(fù)”是指礦物折射率是“大于”還是“小于”樹(shù)膠的折射率，并不是指突起是向上還是向下。突起分為6個(gè)等級(jí)。15 閃突起：在單偏光鏡下，轉(zhuǎn)動(dòng)載物臺(tái)，非均質(zhì)體礦物的邊緣、糙面及突起高低發(fā)生明顯改變的現(xiàn)象稱(chēng)為閃突起。第四章正交偏光鏡間的晶體光學(xué)性質(zhì)1 消光現(xiàn)象：礦片在正交偏光鏡間呈現(xiàn)黑暗的現(xiàn)象。2 全消光（永久消光）：旋轉(zhuǎn)物臺(tái)一周，均質(zhì)體或非均質(zhì)體垂直光軸切片的消光現(xiàn)象（黑暗）不改變。*所有均質(zhì)體任意方向

17、的切片、非均質(zhì)體垂直光軸的切片3 四次消光：旋轉(zhuǎn)物臺(tái)一周，非均質(zhì)體晶體非垂直光軸切片的光率體橢圓半徑有四次與下偏光鏡平行的機(jī)會(huì)，故出現(xiàn)四次黑暗（消光）現(xiàn)象。*非均質(zhì)體除垂直光軸外其它方向的切片，當(dāng)橢圓切面的長(zhǎng)短半徑平行上、下偏光鏡振動(dòng)方向時(shí)消光，當(dāng)橢圓切面的長(zhǎng)短半徑斜交上、下偏光鏡振動(dòng)方向時(shí)明亮4 消光位：非均質(zhì)體非垂直光軸切片在正交偏光鏡間處于消光現(xiàn)象時(shí)的位置記為消光位。*非均質(zhì)體除垂直光軸外其它方向的切片，處于消光位時(shí)一定是橢圓切面的長(zhǎng)短半徑與上下偏光鏡的振動(dòng)方向平行。礦片不消光時(shí)，發(fā)生干涉現(xiàn)象。5光程與光程差光程差R=d-AN:d為礦片厚度；為礦物的雙折射率：N1N2。6 干涉現(xiàn)象及干涉

18、色（1）干涉現(xiàn)象：非均質(zhì)體晶體非垂直光軸的礦片，其光率體橢圓半徑與上、下偏光鏡振動(dòng)方向斜交（即礦片不在消光）時(shí)，透過(guò)晶體分解的兩束光波，頻率相等，具有固定的光程差且在同一平面內(nèi)振動(dòng)（上偏光鏡振動(dòng)面），因此必然發(fā)生干涉現(xiàn)象。（2）干涉色及其成因：如果光源為單色光，隨著光程差的逐漸增大，將依次出現(xiàn)明亮相間的干涉條帶。改變光程差的方法是利用石英楔。如果光源為白光,干涉結(jié)果就是一系列復(fù)雜彩色條帶的組合，即干涉色。7 干涉色級(jí)序用白光做光源，在正交偏光鏡間450緩慢推入石英楔，隨著石英楔的慢慢推入，光程差連續(xù)地增大，視域內(nèi)出現(xiàn)的干涉色由低到高有規(guī)律的變化，這種規(guī)律性變化叫做干涉色色序。通?？梢詣澐譃樗?

19、五個(gè)級(jí)序（干涉色色譜表）0550nm;550-1100nm;1100-1650nm;1650nm-。當(dāng)光程差非常大時(shí)，將出現(xiàn)一種與珍珠表面類(lèi)似的亮白色，稱(chēng)高級(jí)白干涉色。8 消色：若RI=R2,則當(dāng)光率體橢圓異名半徑平行時(shí)，總光程差為0,礦片黑暗，這種現(xiàn)象稱(chēng)為消色。9 消光和消色的區(qū)別：消色和消光雖然都是表現(xiàn)為黑暗，但它們的成因不同。消光是由于礦片光率體橢圓半徑與PP一致，沒(méi)有光透出上偏光鏡而使礦片呈現(xiàn)黑暗；而消色是由于兩礦片產(chǎn)生的干涉色正好抵消而使礦片呈現(xiàn)黑暗。消光說(shuō)明礦片光率體橢圓半徑與PP、AA一致；消色說(shuō)明兩礦片光程差相等，而且它們的光率體橢圓異名半徑平行。10 消光角的測(cè)定（1）選定待

20、測(cè)的切面（單斜晶系一般選擇平行（010）方向的切面，三斜晶系選擇垂直（010）切面或同時(shí)垂直（010）與（001）切面）；（2）將待測(cè)礦片移至視域中心，轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)，使礦片上的解理縫或雙晶縫或晶面跡線平行目鏡十字絲，并記下載物臺(tái)上的讀數(shù)a；（3）順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)至消光位，記下臺(tái)物讀數(shù)b；（4）測(cè)定消光位時(shí)十字絲縱絲的光率體橢圓切面的半徑名稱(chēng)（利用前面所學(xué)的知識(shí)）（5）計(jì)算a、b間的夾角，并記錄消光角。11 晶體延性符號(hào)的測(cè)定，其測(cè)定方法如下：（1）將欲測(cè)礦片置視域中心，使礦片的延長(zhǎng)方向平行目鏡十字絲縱絲，此時(shí)礦片消光（因系平行消光），礦片上光率體橢圓半徑與目鏡十字絲平行。（2）轉(zhuǎn)動(dòng)物臺(tái)450，使礦片

21、延長(zhǎng)方向與目鏡十字絲成450夾角，此時(shí)礦片干涉色最亮。（3）.加入試板，觀察干涉色的變化，當(dāng)干涉色級(jí)序降低（圖69B）,試板與礦片的光率體橢圓切面的異名半徑平行，證明正延性；當(dāng)干涉色級(jí)序升高，試板與礦片的光串體橢圓切面的同名半徑平行，證明負(fù)延性。第五章錐光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)1 錐光鏡的裝置在正交偏光鏡基礎(chǔ)上，于下偏光鏡之上，載物臺(tái)之下，加上一個(gè)聚光鏡，換用高倍物鏡（45X或63）,加入勃氏鏡或去掉目鏡，便完成了錐光鏡的裝置。2 干涉圖的概念：如在錐偏光鏡下就能同時(shí)觀察到不同方向切面的消光和干涉現(xiàn)象。這些方向不同，且方向連續(xù)過(guò)渡變化的所有切面的消光和干涉現(xiàn)象形成的整體圖形就稱(chēng)為干涉圖。換用高倍物

22、鏡就是為了接納較大范圍的錐形光波，以觀察到范圍較大、圖形較完整的干涉圖。3 一軸晶干涉圖及光性正負(fù)的測(cè)定（1）、垂直光軸切面的干涉圖（a）、圖像特點(diǎn)（黑十字和同心干涉色色圈，且黑十字的黑臂平行上下偏光鏡的振動(dòng)方向，交點(diǎn)位于AA、PP的交點(diǎn)，該點(diǎn)為光軸出露點(diǎn)）。載物臺(tái)旋轉(zhuǎn)一周，圖像不變。（b）成因：波向圖即是以不同方向入射晶體的光波所分解的兩束偏光的振動(dòng)方向在水平面上的投影圖。一軸晶垂直0A切面波向圖由同心圓和放射線組成，同心圓線與放射線的交點(diǎn)為錐形光束在礦片的出露點(diǎn)，放射線方向?yàn)镹e光振動(dòng)方向，同心圓線的切線方向?yàn)镹o光振動(dòng)方向，圓心為0A出露點(diǎn)。2） 垂直光軸切面干涉圖的應(yīng)用:（a） .確定

23、軸性和切面方向根據(jù)干涉圖的圖像特點(diǎn)，可確定為一軸晶垂直光軸切面。一軸晶其它方向切面及二軸晶礦物不具這種特征的干涉圖。（b） .測(cè)定光性符號(hào).確定切面方向(3) 斜交光軸切面的干涉圖圖像特點(diǎn):在斜交光軸的切片中，光軸在礦片中的位置是傾斜的。軸在礦片平面上的出露點(diǎn)，即黑十字交點(diǎn)不在視域中心。所以斜交光軸切面的干涉圖是由不完整的黑十字和不完整的干涉色圈組成。(4) 斜交光軸切面干涉圖的應(yīng)用(a) 當(dāng)光軸傾角不很大時(shí)，可以確定軸性及切面方向。(b) 測(cè)定光性符號(hào)。(c) 測(cè)定光軸角大小。4 二軸晶干涉圖及光性正負(fù)的測(cè)定(1)垂直銳角等分線(Bxa)切面的干涉圖(a)圖像特點(diǎn)：0度位時(shí)，干涉圖由黑十字和

24、女”形干涉色圈組成。黑十字交點(diǎn)與十字絲交點(diǎn)重合，并代表Bxa出露點(diǎn)。黑十字兩個(gè)黑帶一粗一細(xì)。當(dāng)光軸角較小(2V45度)時(shí)，在10X40倍的偏光鏡下，兩個(gè)0A出露點(diǎn)位于視域內(nèi)，并位于較細(xì)的黑帶上，且OA出露點(diǎn)處更細(xì)。當(dāng)?shù)V物最大雙折射率較大時(shí)，干涉色分別以兩個(gè)OA出露點(diǎn)為中心呈圈層狀分布。由于干涉色圈向外較密，向內(nèi)較疏，色圈呈橢圓狀，外層干涉色圈相連呈笈”字形，笈”字形的走向與細(xì)黑帶走向平行。旋轉(zhuǎn)物臺(tái)，黑十字從中心開(kāi)始分裂成兩個(gè)彎曲的黑帶。笈”字形色圈隨之旋轉(zhuǎn)。45度位時(shí)，兩個(gè)黑帶呈對(duì)稱(chēng)的雙曲線，相距最遠(yuǎn)，兩條黑帶的頂點(diǎn)即為兩OA的出露點(diǎn)，黑帶凸向Bxa出露點(diǎn)(十字絲交點(diǎn))。90度位時(shí)干涉圖與0度位干涉圖相似135度位干涉圖與45度位相似，180度位干涉圖與0度位相似.(2)垂直銳角等分線(Bxa)切面的干涉圖應(yīng)用(a)確定軸性和切面方向干涉圖的特殊性。(b)測(cè)定光性正負(fù)加入試板，根據(jù)視域中部干涉色出現(xiàn)升降，判斷Nm是光率體橢圓的長(zhǎng)半徑還是短半徑，隨之礦物光性符號(hào)即可確定。如果Nm是光率體橢圓的長(zhǎng)半徑，垂直切面的主軸為Ng,礦物光性符號(hào)為正。如果Nm是光率體橢圓的短半徑，則垂直Nm方向?yàn)殚L(zhǎng)半徑Ng,礦物光性符號(hào)為負(fù)。(3