實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2_第1頁
實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2_第2頁
實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2_第3頁
實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2_第4頁
實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2_第5頁
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文檔簡介

一、目的要求1.認(rèn)識礦物多色性現(xiàn)象，了解同一礦物不同方向切面上多色性的表現(xiàn)情況。2.利用黑云母確定下偏光振動方向3.觀察礦物突起等級，認(rèn)識不同等級突起特征4.學(xué)會利用貝克線移動規(guī)律確定礦物折射率的相對大小，確定突起正負(fù)實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2 1二、方法原理 多色性和吸收性觀察 實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2 多色性公式：No=深藍(lán)色， Ne=淺紫色吸收性公式：No Ne2實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2 二、方法原理貝克線的移動規(guī)律貝克線的觀察方法：適當(dāng)縮小光圈和使用中倍物鏡。貝克線的移動規(guī)律：提升鏡筒，貝克線向折射率大的物質(zhì)移動。下降鏡筒，貝克線向折射率小的物質(zhì)移動。3實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2 二、方法原理貝克線的移動規(guī)律4三、主要實(shí)驗(yàn)儀器和材料XP-213型偏光顯微鏡（每人1臺）電氣石、普通輝石、石英閃長巖、石榴子石白云母石英片巖、螢石、大理巖薄片各一片（每組） 實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2 5四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容1.觀察黑云母和普通角閃石的多色性2.觀察石榴子石、電氣石、螢石、石英、普通輝石及方解石的糙面、貝克線和突起等級，利用貝克線移動規(guī)律確定它們與樹膠的相對折射率大小。實(shí)驗(yàn)二 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察1 6五、實(shí)驗(yàn)報(bào)告實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體光學(xué)性質(zhì)觀察2 1.觀察黑云母和普通角閃石的多色性7實(shí)驗(yàn)三 單偏光鏡下晶體

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