1、DIN4768-1990用電接觸式記錄儀測(cè)定粗糙度特征值Ra、Rz、Rmax術(shù)語測(cè)量條件中文譯文DK62-408.8:621.9.05德國標(biāo)準(zhǔn)1990年5月用電接觸式記錄儀測(cè)定粗糙度特征值Ra、DINR、Rzmax4768術(shù)語，測(cè)量條件用電接觸式（鐵筆）記錄儀測(cè)定表面粗糙度數(shù)值R、R、R:替代DIN4768第1azmax術(shù)語，測(cè)量條件部分-08.74與國際化標(biāo)準(zhǔn)組織發(fā)布的國際標(biāo)準(zhǔn)ISO3274:1975和ISO4288之間的關(guān)系見注釋。單位:mm應(yīng)用范圍該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過具有電傳輸、高通濾波和分析功能的接觸式尖筆記錄儀來測(cè)定技術(shù)表面的可比粗糙度測(cè)量值的術(shù)語和測(cè)量條件。備注:波紋度和其它的形狀偏差

2、不屬本標(biāo)準(zhǔn)范疇。但是在某些功能情況，它對(duì)表面適用性的影響比起其對(duì)表面粗糙度的影響來說可能會(huì)更大。術(shù)語按照DIN4760、DIN4762以及DIN4777中用相位校正濾波器測(cè)量粗糙度中的術(shù)語。此外，按照2.1和2.2中的術(shù)語。濾波器（高通濾波器）1濾波器為輪廓濾波器，根據(jù)濾波器特性曲線，實(shí)際輪廓的長波部分只有部分或根本就不計(jì)入粗糙度輪廓或測(cè)量結(jié)果。按照極限波長稱之為濾波器。備注:在文獻(xiàn)中，濾波器也叫做波分離器或斬波器。圖1:表面粗糙度輪廓的平均峰谷高度圖Rz測(cè)量段2.2.1初試段（見圖1）初試段是投影垂直于中線、不用來分析的接觸段的長度。剛開始的瞬態(tài)過程必須在初試段內(nèi)逐漸消失。2.2.2總測(cè)量段

3、lm（見圖1）總測(cè)量段是投影垂直于中線、直接用來分析表面粗糙度輪廓部分的長度。2.2.3各具體的測(cè)量段l（見圖1）e各具體的測(cè)量段為總測(cè)量段lm的五分之一。備注:各具體的測(cè)量段le相當(dāng)于DIN4762/01.89中的基準(zhǔn)段l。2.2.4后續(xù)段（見圖1）后續(xù)段是投影垂直于中間直線、不再用來分析的描畫段的表面粗糙度輪廓的最后一部1按照DIN4777/05.90中的概念分的長度。2.2.5描畫段l（見圖1）r描畫段等于初試段、總測(cè)量段lm和后續(xù)段的總和。粗糙度特征值1）本標(biāo)準(zhǔn)意義中的粗糙度特征值從表面粗糙度輪廓中得出。2.3.1算術(shù)平均粗糙度值Ra2算術(shù)平均粗糙度值是基準(zhǔn)段內(nèi)輪廓偏差ly的絕對(duì)值的算

4、術(shù)平均值。l1，R,yxdxa,l0備注1:這相當(dāng)于長等于基準(zhǔn)段長度且面積等于l表面粗糙度輪廓和中線之間面積之和的矩形的高。A,A,oiuig,A，A,oiui圖2:算術(shù)平均粗糙度值Ra備注2:按照DIN4775和ISO4288:1985,Ra和Rz直至16，時(shí)表面上所測(cè)的各具體值允許大于規(guī)定的極限值。2.3.2各表面峰谷高度Z（ZAZZ）（見圖1）ii15具體的粗糙高度為平行于中心線的兩條直線之間的距離,它在具體的測(cè)量段內(nèi)在最高點(diǎn)或最低點(diǎn)與表面粗糙輪廓接觸。2.3.3平均峰谷高度Rz平均峰谷高度為5段彼此相鄰的測(cè)量段的表面峰谷高度的算術(shù)平均值。備注1:按照ISO4287/1:1984和DIN

5、4762,該特征參數(shù)的縮寫符號(hào)為R。ys備注2:本標(biāo)準(zhǔn)中的RO4287/1:1984中的定義不一致。如有必要，使用縮寫符號(hào)定義與zISRzDIN或R,以示區(qū)別。因測(cè)量技術(shù)的原因，測(cè)量ISO4287/1:1984中的特性參數(shù)Rz應(yīng)用zISODIN4768中適用于R條件變得越來越普遍。這也適用于ISO4288:1985中的規(guī)定。的測(cè)量zDIN當(dāng)規(guī)定的Rz不超過R,該規(guī)定的Rz遵守規(guī)定。詳細(xì)說明見DIN4762/01.89最大值可視為ISOzDINISO第5.7至5.9中的說明。備注3:見2.3.1中的備注。2.3.4最大的表面峰谷高度Rma（見圖1）x最大的表面峰谷高度為整個(gè)測(cè)量段所測(cè)得的表面峰谷

6、高度的最大值。Zi備注1：按照DIN4775和ISO4288:1985，各測(cè)量所得的Rmax值不得超過所規(guī)定的極限值。這在諸如交互變化的表面也必須滿足。備注2:按照ISO4287/1:1984和ISO4288:1985，該特征參數(shù)的縮寫符號(hào)為R。ymax3測(cè)量條件3.1描畫記錄方向2按照DIN4762/01.89中的概念必須在出現(xiàn)最大粗糙度值的方向進(jìn)行描畫記錄。特殊情況時(shí)務(wù)必就描畫記錄方向進(jìn)行協(xié)商。3.2極限波長入c，測(cè)量段長度le3.2.1周期性外形輪廓（車削和刨削等）的極限波長，測(cè)量段長度入l度l和總測(cè)量長cem為周期性外形輪廓時(shí)，適用于表1中的規(guī)定。表1:表面波紋間距配合表面波紋間距S入

7、llmcem進(jìn)給min0.1?0.040.080.080.40.4?0.130.250.251.250.13?0.40.80.840.4?1.32.52.512.5?48840可以通過表面輪廓簡圖或?qū)ぜ?0個(gè)表面波紋寬度進(jìn)行測(cè)量確定表面波紋間距。3.2非周期性外形輪廓（研磨、圓周銑削、無過梁端面銑削、鉸孔、成型等見表2或表3）的極限波長入，測(cè)量段長度l度l和總測(cè)量長cem表2:平均表面峰谷高度Rz配合入Rllczemummin0.10.080.080.40.1?0.50.250.251.250.5?100.80.8410?502.52.512.5508840表3:平均粗糙度值R配合a入Rl

8、camummin0.020.080.40.02?0.10.251.250.1?20.842?102.512.510840非周期性外形輪廓時(shí)，表2中的配合適用于Rz的測(cè)量，表3中的配合適用于Ra的測(cè)量。周期性外形輪廓Rmax的測(cè)量時(shí)，極限波長取決于R。a對(duì)于表2和表3的實(shí)際應(yīng)用來說，可通過目測(cè)法估計(jì)工件或外形輪廓記錄中的粗糙度值，以得出極限波長。當(dāng)表面含有重疊的波紋時(shí)，可能出現(xiàn):極限波長為0.25mm時(shí)所測(cè)得的平均表面峰谷高度R0.5um，極限波長為0.8mm時(shí)所測(cè)得的平均表面峰谷高度0.5Rm。在這種zz極限情況，適用較小的粗糙度值。同樣適用于0.1口m、10m、50口m的Rz值和相應(yīng)極限情況

9、下相關(guān)的R。a測(cè)量段如果工件不符合表1至表3總測(cè)量段為5的規(guī)定，也可以應(yīng)用各.l具體測(cè)量段數(shù)較少的e總測(cè)量段。隨后在給出粗糙度值時(shí)必須對(duì)此做出說明，例如當(dāng)=3.ll時(shí)，R1.1umomea=如果因特殊原因必須給出不同于表1至表3中的極限波長配合，在給出粗糙度值時(shí)必須規(guī)定，例如入，0.25mm時(shí)，R=1.1口m。ca適用于仲裁情況的附加條件如果預(yù)計(jì)的粗糙度值大于Rz=2口m或大于R=0.4口m時(shí)，仲裁時(shí)需使用按照DINa4772標(biāo)準(zhǔn)、描畫記錄最大半徑為5口m的參考面描畫記錄系統(tǒng)。小于預(yù)計(jì)的粗糙度值時(shí)使用描畫記錄最大半徑為2口m的描畫記錄系統(tǒng)。引用標(biāo)準(zhǔn)DIN4760外形輪廓偏差;術(shù)語，分級(jí)系統(tǒng)DI

10、N4762表面粗糙度;術(shù)語，表面及其特性參數(shù);等同于ISO4287/1:1984DIN4772按照描畫記錄法測(cè)量表面粗糙度用電描畫記錄器DIN4775工件表面粗糙性檢測(cè);目檢和描畫記錄比較，描畫記錄法DIN4777表面測(cè)量技術(shù);電描畫記錄器中所使用的外形輪廓濾波器;相校正濾波器3ISO4287/1:1984英文版:表面粗糙度;術(shù)語，第1部分:表面及其特性參數(shù)德文版:表面粗糙度;術(shù)語，第1部分:表面及其特性參數(shù)3)ISO4288:1985英文版:使用接觸式記錄儀測(cè)量表面粗糙度的規(guī)則和程序德文版:使用電描畫記錄器測(cè)量表面粗糙度的固定和程序其它標(biāo)準(zhǔn)3）ISO3274:1975英文版:輪廓法表面粗糙度

11、測(cè)量用儀器，接觸尖筆記錄儀，具有連續(xù)的外形輪廓傳輸?shù)拿璁嬘涗泝x，描畫記錄儀，M系統(tǒng)德文版:輪廓法表面粗糙度測(cè)量用儀器;具有連續(xù)的外形輪廓傳輸?shù)拿璁嬘涗泝x，描畫記錄儀，M系統(tǒng)舊版本:DIN4768第1部分:1970年10月，1974年8月。修訂:較之DIN4768第1部分/08.74，做了以下修正：a）刪除了有關(guān)濾波器的規(guī)定，相關(guān)規(guī)定見DIN4777。b）為使用DIN4777標(biāo)準(zhǔn)中相校正的濾波器或至今常用的2RC-濾波器時(shí)得到可比結(jié)論，僅對(duì)表面波紋距的分級(jí)做了極小修正。詳見說明。c）增加了3.4仲裁調(diào)節(jié)。d）編輯上的修訂。注釋：在DIN4768Teil1/08.74標(biāo)準(zhǔn)化的濾波器為2RC-濾波器，從此被符合DIN4777標(biāo)準(zhǔn)的相校正濾波器所取代。從而互補(bǔ)濾波器既可用于粗糙度測(cè)量，又可用于DIN4774中波紋度測(cè)量。對(duì)表1中的極限波長配合做了一些修改，以便同一配合適用于波紋度測(cè)量。符合DIN4777標(biāo)準(zhǔn)的相校正濾波器方面的修訂以及表1中的配合變動(dòng)實(shí)際上對(duì)粗糙度特征參數(shù)Rma、Rz和Ra沒有