1、AUO Proprietary & ConfidentialModule Final Display Test pattern eaglemeng2007 /04/16AUO Proprietary & ConfidentialVersion (程式相關(guān)資訊)Basic Test pattern(Luster R 255,G 255,B 255 Luster W 0,W 255)Flicker (Gray Black Flicker )Cross talk (B Window )Gray pattern (Luster W 50%, V Gray Scale, H Gray Scale)Col

2、or Bar Gray Scale Pattern(8 Color Bar + 8 Gray Scale)Special Test Pattern(vertical_BW, 3 color bar 1/2 Luster,壓力點(diǎn)測(cè)試, Luster W 0 1/2 Hz, H Gomi1&H Gomi2)程式相關(guān)資訊 Level 0 / Black Inspection Standard : 1. 程式版本是否正確 。 2. 上下左右白之邊框是否有斷或變色。 Inspctioin Method：正視00General AV 因程式寫法問(wèn)題，無(wú)法像MD 產(chǎn)品寫非常多的資訊，故只寫版本序號(hào)。00dr

3、aw_square(0,0,175,219,0,0); /BlackBitmap(6,8,“00$,0 x00,0 x00,0 x00,0 x1F,1,1);draw_square(0,0,175,0,0 xFF,0 xFF); /whitedraw_square(0,131,175,131,0 xFF,0 xFF); /whitedraw_square(0,0,0,131,0 xFF,0 xFF); /whitedraw_square(175,0,175,131,0 xFF,0 xFF); /white break; Program : Inspection Principle : 1.黑底

4、白字益于觀察。 2.防止遮光膠帶遮擋住AA區(qū)光源程式相關(guān)資訊 Level 0 / Black Inspection Standard : 1. 程式版本是否正確 。 2. 上下左右白之邊框是否有斷或變色。 3. panel穩(wěn)定性，字正常顯示，無(wú)雜訊。 Inspctioin Method：正視MD產(chǎn)品因是CPU 架構(gòu)的語(yǔ)法，寫文字較為容易，所以可寫產(chǎn)品型號(hào)、版本日期、IC資訊、使用站別等較詳細(xì)的資訊。 產(chǎn)品型號(hào)版本日期IC 資訊使用站別程式相關(guān)資訊Luster R 255 Level 63 / Red Inspection Standard : 線缺陷、區(qū)塊缺陷、灰階缺陷、bit缺陷、雜訊、 綠

5、藍(lán)亮點(diǎn)、紅暗點(diǎn)、紅書面色不均、飽和度不足、 紅色色偏(偏暗 or 偏淡、偏亮)、水波紋。 Inspctioin Method：正視、上10下30左右45Full Screen 純色的 pattern，主要在看整個(gè)panel 在純一顏色上的飽和度與2個(gè)純色是否能有效關(guān)閉，是整個(gè)panel 的檢測(cè)基礎(chǔ)。Luster R 255 Program : Inspection Principle : 1.檢測(cè)光阻R對(duì)應(yīng)的TFT驅(qū)動(dòng)狀態(tài) draw_square(0,0,175,131,0 xF8,0 ); /Redbreak; 紅Luster G 255 Program : draw_square(0,0,

6、175,131,0 x07,0 xE0); /Greenbreak; Inspection Principle : 1.檢測(cè)光阻G對(duì)應(yīng)的TFT驅(qū)動(dòng)狀態(tài) 綠Luster B 255 Level 63 / Blue Inspection Standard : 線缺陷、區(qū)塊缺陷、灰階缺陷、bit缺陷、雜訊、 紅綠亮點(diǎn)、藍(lán)暗點(diǎn)、藍(lán)書面色不均、飽和度不足、 藍(lán)色色偏(偏暗 or 偏淡、偏亮)、水波紋。 Inspctioin Method：正視、上10下30左右45Full Screen 純色的 pattern，主要在看整個(gè) panel 在純一顏色上的飽和度與2個(gè)純色是否能有效關(guān)閉，是整個(gè)panel 的檢

7、測(cè)基礎(chǔ)。Luster B 255 Program : draw_square(0,0,175,131,0 ,0 x1F); /Bluebreak; 藍(lán) Inspection Principle : 1.檢測(cè)光阻B對(duì)應(yīng)的TFT驅(qū)動(dòng)狀態(tài) Luster W 0 Program : Inspection Principle : 1.檢測(cè)Full Screen光阻R、G、B對(duì)應(yīng)的TFT驅(qū)動(dòng)狀態(tài) draw_square(0,0,175,131,0,0); /Blackbreak;黑Luster W 255 Level 63 / White Inspection Standard : 線缺陷、區(qū)塊缺陷、灰階

8、缺陷、bit缺陷、雜訊、 紅綠藍(lán)暗點(diǎn)、 色不均、飽和度不足、 色偏(偏暗 or 偏其他顏色)、水波紋、背光板刮傷、 背光板白點(diǎn)、上下左右BM內(nèi)的漏光檢測(cè)。 Inspctioin Method：正視、上10下30左右45這個(gè) pattern，可看整個(gè) panel 在白書面上的表現(xiàn)，主要再于整個(gè)BLU 的狀態(tài)可由這個(gè)pattern 去作掌控。Gray Black Flicker Level 0 / black & 50%亮度 / gray Inspection Standard :畫面閃動(dòng) Inspctioin Method：正視用于檢測(cè) panel 的閃爍，目前廠內(nèi)有3種模式：第一種 Flick

9、er 的調(diào)整在 control board 上去作調(diào)整，這方面維修間都已先調(diào)整過(guò)，若有出現(xiàn)嚴(yán)重閃爍，就有可能是array 出問(wèn)題。第二種 直接燒進(jìn)drive IC內(nèi)，F(xiàn)D check 燒錄后的結(jié)果。第三種 與大尺寸相同于PCB 上調(diào)整32Gray Black Flicker Program : flageven=1; for(j=0;j T1假設(shè)輸出最大功率為P，VCOM的U固定，根據(jù)公式P=UI，最大電流Imax確定。然當(dāng)需求的電流大于Imax時(shí)，U一定會(huì)被拉低。當(dāng)電壓變化在50%灰階時(shí)，對(duì)穿透率的影響很大，如圖所示。如圖灰色框設(shè)置在50%灰階，黑色框目的是影響vcom驅(qū)動(dòng)能力。因此當(dāng)Vco

10、m出現(xiàn)不良時(shí)，就會(huì)發(fā)生Cross Talk.Soure驅(qū)動(dòng)能力不足是同樣的道理。Luster W 50% Level 50%亮度 / gray Inspection Standard : 線缺陷、區(qū)塊缺陷、灰階缺陷、bit缺陷、雜訊、殘影、 紅綠藍(lán)的弱亮點(diǎn)、 書面色不均、飽和度不足、 色偏(偏暗 or 偏淡、偏亮)、水波紋。 Inspctioin Method：正視、上10下30左右4532Chess Pattern chess pattern Inspection Standard : 影像殘留 Inspctioin Method：正視(檢查上下左右反轉(zhuǎn))Chess Pattern Prog

11、ram : row=1;col=1; start_y=0; end_y=19; start_x=0; end_x=15; for(yy=0;yy11;yy+) /col=col; for(xx=0;xx11;xx+) row=row; flagBW=rowcol; if (flagBW) draw_square(start_x,start_y,end_x,end_y,0 xFF,0 xFF); else draw_square(start_x,start_y,end_x,end_y,0 x00,0 x00); start_x=end_x+1; end_x=start_x+15; start_x

12、=0; end_x=15; start_y=end_y+1; end_y=start_y+19; break;Chess Pattern Inspection Principle : 1.檢測(cè)液晶反轉(zhuǎn)的效果 -PolarizerLiquid CrystalTFT面板LCD面板LightITO電極下偏光片上偏光片如圖所示，液晶兩種翻轉(zhuǎn)狀態(tài)在書面上表現(xiàn)為黑白棋盤格畫面，棋盤格畫面的下一個(gè)畫面一般為灰階，液晶翻轉(zhuǎn)表現(xiàn)為中間狀態(tài)。當(dāng)黑白液晶狀態(tài)向灰畫面液晶狀態(tài)過(guò)度時(shí)，如果不同步，則出現(xiàn)殘影。8 Color Bar + 8 Gray Scale Level 63/color & gray Inspect

13、ion Standard : 1.色條排列順序是否正確 2. 灰階數(shù)量與灰度是否正確、上下左右反轉(zhuǎn)是否正常 Inspctioin Method：正視(檢測(cè)上下左右反轉(zhuǎn))8 Color Bar + 8 Gray Scale Program : draw_square(0 ,0, 21 ,131,0 ,0 );/Black draw_square(22 ,0, 43 ,131,0 ,0 x1F);/Bdraw_square(44 ,0, 65 ,131,0 xF8,0 );/Rdraw_square(66 ,0, 87 ,131,0 xF8,0 x1F);/B+Rdraw_square(88 ,0

14、, 109 ,131,0 x07 ,0 xE0);/Gdraw_square(110 ,0,131 ,131,0 x07 ,0 xFF);/B+Gdraw_square(132 ,0,153 ,131,0 xFF,0 xE0);/R+Gdraw_square(154 ,0,175 ,131,0 xFF,0 xFF);/White draw_square(0 ,90, 21 ,131,0 x21,0 x04 );/32 0 x61,0 x0C);/96 /gray-scale bardraw_square(22 ,90, 43 ,131,0 x42,0 x08);/64draw_square(4

15、4 ,90, 65 ,131,0 x63,0 x0C);/96 draw_square(66 ,90, 87 ,131,0 x84,0 x10);/128draw_square(88 ,90, 109 ,131,0 xA5,0 x14);/160draw_square(110 ,90,131 ,131,0 xC6,0 x18);/19222draw_square(132 ,90,153 ,131,0 xE7,0 x1C);/224draw_square(154 ,90,175 ,131,0 xFF,0 xFF);/25531 break; Inspection Principle : 1.顏色

16、鮮明，益于觀察 V Gray Scale Level 063/gray Inspection Standard : 灰階排列是否平順 Inspctioin Method：正視主要測(cè)試source IC bit 腳位，若有bit 缺少或故障short ，書面會(huì)有block的出現(xiàn)， curve 電壓錯(cuò)誤時(shí)亦需使用此 pattern 才可檢出 。檢測(cè)原理請(qǐng)見(jiàn)H Gray Scale。V Gray Scale Program : for (j=0;j25;j+) unsigned char dataR, dataG, dataB; Grayscale=j ; /5 bits dataR=Graysca

17、le; dataG=Grayscale; dataB=Grayscale; HbyteR=(dataR2)&0 x07; H_byte=HbyteR | HbyteG; LbyteG=(dataG6)&0 xC0; LbyteG=LbyteG | ( dataG1)&0 x20); LbyteB=(dataB)&0 x1F; L_byte= LbyteG | LbyteB; draw_square(5*j,0,5*j+4,131,H_byte,L_byte); break; Inspection Principle : 1.檢測(cè)信號(hào)傳輸和GAMMA電壓，詳情請(qǐng)見(jiàn)H Gray Scale. H

18、Gray Scale Level 063/gray Inspection Standard : 灰階排列是否平順 Inspctioin Method：正視其功能與 V gray scale 相近，但可以再檢出 gate IC 串接時(shí)訊號(hào)的一致性，若一致性有問(wèn)題時(shí)會(huì)在交接處出現(xiàn)雜訊與色差、block 。H Gray Scalefor (j=0;j32;j+) unsigned char dataR, dataG, dataB; Grayscale=j ; /5 bits dataR=Grayscale; dataG=Grayscale; dataB=Grayscale; HbyteR=(data

19、R2)&0 x07; H_byte=HbyteR | HbyteG; LbyteG=(dataG6)&0 xC0; LbyteG=LbyteG | ( dataG1)&0 x20); LbyteB=(dataB)&0 x1F; L_byte= LbyteG | LbyteB; draw_square(0,4*j,175,4*j+3,H_byte,L_byte); draw_square(0,128,175,131,0 xFF,0 xFF); /white break; Program : Inspection Principle : 1.檢測(cè)信號(hào)傳輸和GAMMA電壓 H Gray ScaleT

20、FT Array Array MatrixGate line Signal lineTFT device Pixel(Switch)(Scan line)(Data line)Gate IC缺陷多產(chǎn)生水平向線缺陷，因此設(shè)置水平灰階；Source IC多產(chǎn)生垂直向線缺陷，因此設(shè)置垂直灰階。Gate ICSource IC TFT Driving : H Gray Scale Gamma voltage : H Gray Scale Gamma voltage : Gamma voltage 調(diào)節(jié)不良會(huì)引起灰階不平順排列Common WaveformCommon WaveformGray-leve

21、l VoltageV0V1V2V3V4V5V6V7V7V6V5V4V3V2V1V01Frame / 1 Linevertical_BW Level 0/black & 50%/gray Inspection Standard : 線缺陷、區(qū)塊缺陷、灰階缺陷、bit缺陷。 Inspctioin Method：正視主要是檢測(cè) 3 data 設(shè)計(jì)的 panel，在laser cut 不完全時(shí)，書面會(huì)出現(xiàn)一 block 的顏色異常 。vertical_BW Program : Inspection Principle : 1.檢測(cè)Laser cut 造成線缺陷 flageven=1; for(j=0;

22、j175;j+) /flicker pattern if (flageven) draw_square(j,0,j,175,0 x00,0 x00); elsedraw_square(j,0,j,175,0 x84,0 x30); flageven=flageven; break;Vertical_BW pattern inspectR1 G1 B1 R2 G2 B2IC output1.在R,G,B 黑、白等純色pattern 下，因R1,G1,B1與R2,G2,B2 兩組是同時(shí)動(dòng)作，所以就算沒(méi)laser cut 亦看不出異常。2.當(dāng)R1,G1,B1 為 Hi，R2,G2,B2為L(zhǎng)o，此時(shí)H

23、i 的訊號(hào)會(huì)經(jīng)由SB，與Lo的訊號(hào)short 造成 2條線的訊號(hào)皆異常。R SBG SBB SBLaser cut 假設(shè)此6條雷射未切到 Inspect no laser cut : 以黑灰奇偶交替掃描線書寫畫面攔檢Laser不良最為合適。3 color bar 1/2 Luster Level 31 / Red、Green、Blue Inspection Standard : 缺陷、區(qū)塊缺陷、灰階缺陷、bit缺陷、雜訊、 紅綠藍(lán)暗亮點(diǎn) Inspctioin Method：正視、上10下30左右45主要是檢測(cè) source IC output 端，有高阻抗的short 時(shí)，書面會(huì)出現(xiàn)一明顯的線

24、缺陷 。3 color bar 1/2 Luster Program : draw_square(0 ,44, 175 ,87,0 xF8,0 ); /Rdraw_square(0 ,88, 175 ,132,0 x07 ,0 xE0);/Gdraw_square(0 ,0, 175 ,43 ,0 x1F , 0); /B Inspection Principle : 1.檢測(cè)source IC output 端，有高阻抗的short 時(shí)，書面會(huì)出現(xiàn)明顯的線缺陷 3 color bar 1/2 Luster pattern inspectB1G1R1如左圖之G1 & B1 有一高阻值的shor

25、t ，此時(shí)電壓只有偏移一些。在此時(shí)如以R、G、B純色pattern作為這一個(gè)function 的檢測(cè)，此時(shí)會(huì)如上圖T-V curve 所示，在正常的點(diǎn)亮為T=100% (如 點(diǎn)的位置)，當(dāng)G,B short 電位偏移(如上圖 點(diǎn)) ，在此狀態(tài)下short 電位與正常電位十分接近，而T值的變化亦非常的小，所以線缺陷變得非常的不明顯。B2Vth4.3V黑0%T100%RVth4.3V黑0%T100%GVth4.3V黑0%T100%B電壓偏移量視覺(jué)偏移量電壓偏移量視覺(jué)偏移量3 color bar 1/2 Luster pattern inspectB1G1R14. 如果將原本點(diǎn)亮改為50% (如上圖

26、 點(diǎn)) 。5. 在此時(shí)對(duì)這一個(gè)function 的檢，此時(shí)會(huì)如上圖T-V curve 所示， 電位偏移(如上圖 點(diǎn)) 仍舊十分接近，而T值的變化卻比之前的純色相對(duì)增加非常多，所以線缺陷變得非常的顯眼。6. 同理在R1與B2之間有一高阻抗存在時(shí)，便會(huì)出現(xiàn)右下照片的現(xiàn)象。B2Vth4.3V黑0%T100%RVth4.3V黑0%T100%GVth4.3V黑0%T100%B電壓偏移量視覺(jué)偏移量電壓偏移量視覺(jué)偏移量壓力點(diǎn)測(cè)試 Level 0 / black & 63 / white Inspection Standard : 壓力點(diǎn)、壓力線 Inspctioin Method：正視壓力點(diǎn)的測(cè)試，利用加壓使隱