.@:微型BGA與CSP的返工工藝ByThomasW.DalrympleandCynthiaMilkovich包裝尺寸和錫球間距的減少，伴隨PCB上元件密度的增加，帶來(lái)了新的裝配與返工的挑戰(zhàn)。隨著電子裝配變得越來(lái)越小，密間距的微型球柵列陣(microBGA)和片狀規(guī)模包裝(CSP)滿足了更小、更快和更高性能的電子產(chǎn)品的要求。這些低成本的包裝可在許多產(chǎn)品中找到，如：膝上型電腦、蜂窩電話和其它便攜式設(shè)備。包裝尺寸和錫球間距的減少，伴隨PCB上元件密度的增加，帶來(lái)了新的裝配與返工的挑戰(zhàn)。如果使用傳統(tǒng)的返工工藝而不影響鄰近的元件，緊密的元件間隔使得元件的移動(dòng)和更換更加困難，CSP提供更密的引腳間距，可能引起位置糾正和準(zhǔn)確元件貼裝的問(wèn)題，輕重量、低質(zhì)量的元件恐怕會(huì)中心不準(zhǔn)和歪斜，因?yàn)闊犸L(fēng)回流會(huì)使元件移位。本文描述的工藝是建立在一個(gè)自動(dòng)熱風(fēng)系統(tǒng)上，用來(lái)返工一些microBGA和CSP元件。返工元件的可靠性和非返工元件的可靠性將作一比較。工藝確認(rèn)本方案的目的是檢驗(yàn)工業(yè)中流行的microBGA和CSP的標(biāo)準(zhǔn)SMT裝配和返工工藝。最初的CSP裝配已在工業(yè)中變得越來(lái)越流行，但是元件返工的作品卻很少發(fā)表。由于小型元件尺寸、減少的球間距和其它元件的緊密接近，對(duì)板級(jí)返工的挑戰(zhàn)要求返工工藝的發(fā)展和優(yōu)化。本研究選擇了幾種元件(表一)。這些元件代表了各種輸入/輸出(I/O)數(shù)量、間距和包裝形式。內(nèi)存芯片包裝通常是低I/O包裝，如包裝1、2和4。通常這些包裝用于雙面或共享通路孔的應(yīng)用。包裝3，有144個(gè)I/O，典型地用于高性能產(chǎn)品應(yīng)用。所以CSP都附著有錫/鉛(Sn/Pb)共晶焊錫球，其范圍是從0.013"到0.020"。所有包裝都縫合以允許可靠性測(cè)試。為裝配準(zhǔn)備了兩個(gè)測(cè)試板設(shè)計(jì)。一個(gè)設(shè)計(jì)是標(biāo)準(zhǔn)的FR-4PCB，表面有用于線出口的"dogbone"焊盤(pán)設(shè)計(jì)。第二個(gè)設(shè)計(jì)使用了表層電路(SLC,SurfaceLaminarCircuit)技術(shù)*，和為線出口使用捕捉照相通路孔設(shè)計(jì)，而不是dogbone設(shè)計(jì)。板是1mm厚度。圖一所示為典型的144I/O包裝的焊盤(pán)形式。試驗(yàn)程序該返工工藝是在一臺(tái)帶有定制的偏置底板的熱風(fēng)返工工具**上完成的：使用BGA噴嘴熱風(fēng)加熱適于小型microBGA和CSP返工的低氣流能力在定制偏置底板上對(duì)板底面加熱計(jì)算機(jī)控制溫度曲線校正的視覺(jué)系統(tǒng)自動(dòng)真空吸取和元件貼裝接下來(lái)的特殊工業(yè)流程是典型的用于BGA返工的。用熱風(fēng)噴嘴加熱元件到焊錫回流溫度，然后拿走。板座上的焊錫使用焊錫真空工具移去，直到座子平坦。然后座上上助焊劑，新的元件對(duì)中和貼裝，焊錫回流焊接于板上。要求作出元件移去和重新貼裝的溫度曲線。曲線參數(shù)必須符合錫膏制造商推薦的回流溫度和保溫時(shí)間。返工的每個(gè)元件座單獨(dú)地作曲線，由于板面吸熱的不同，內(nèi)層和相鄰元件的不同。以這種方式，將過(guò)熱或加熱不足或焊盤(pán)起脫的危險(xiǎn)減到最小。一旦得到溫度曲線，對(duì)將來(lái)所有相同位置的返工使用相同的條件。由于一個(gè)修正的回流工藝，開(kāi)發(fā)出元件取下和元件回流貼附的分開(kāi)的工藝步驟。圖二所示，是使用返工工具的減少流量能力(50SCFH)的溫度曲線例子。圖三所示，是使用正?？諝饬髁吭O(shè)定(90SCFH)的對(duì)較大元件的溫度曲線。對(duì)取下元件，工具的偏置底板設(shè)定到150°C，以均勻地加熱機(jī)板，將返工位置的溫度斜率減到最小。(大的溫度斜率可能引起局部板的翹曲。)板放于框架的對(duì)中定位銷上，支持高于底板面0.250"。支持塊粘貼于板返工座的背面，以加熱期間防止翹曲。板被覆蓋并加熱到135°C溫度。返工工具使用無(wú)力移動(dòng)技術(shù)來(lái)從板上移去元件。當(dāng)過(guò)程開(kāi)始，真空吸取管降低來(lái)感應(yīng)元件的高度，然后升到特定的高度進(jìn)行加熱過(guò)程。當(dāng)元件達(dá)到回流溫度，真空吸嘴降低到預(yù)定高度，打開(kāi)真空，移去元件而不破壞共晶焊錫接點(diǎn)。丟棄取下的元件，加熱板上的下一個(gè)點(diǎn)。元件移去后接下來(lái)是座子修飾。這個(gè)是使用返工工具的自動(dòng)焊錫清道夫來(lái)完成的。板放在偏置底板上，預(yù)熱到大約130°C。返工座在開(kāi)始過(guò)程前加助焊劑。焊錫清道夫?qū)LC預(yù)熱到420°C，對(duì)FR-4預(yù)熱到330°C，檢查板的高度，然后一次過(guò)橫移過(guò)焊盤(pán)的每一排，當(dāng)其移動(dòng)時(shí)把焊錫吸上到真空管。反復(fù)試驗(yàn)得出對(duì)較小元件座的焊錫高于板面0.010"，對(duì)較大元件座0.012"。使用異丙醇清潔座，檢查是否損壞。典型的可避免的觀察是焊錫污斑和阻焊的損壞。元件貼放和回流步驟如下進(jìn)行。板預(yù)熱到135°C，使用無(wú)麻刷擦過(guò)板面來(lái)給座加助焊劑。助焊劑起著將元件保持在位和回流前清潔焊盤(pán)表面的作用。使用返工工具的分離光學(xué)能力來(lái)將元件定位在板，完成元件貼裝。元件貼裝后，真空吸取管感覺(jué)元件高度，向上移到預(yù)定高度。這允許吸取管保持與熱風(fēng)噴嘴內(nèi)面的元件接觸，當(dāng)熱風(fēng)預(yù)熱步驟開(kāi)始時(shí)保持元件在位置上。跟著預(yù)熱保溫后，吸取管向上移動(dòng)另外0.015"或0.020"，以防止焊錫回流期間元件倒塌。結(jié)果與討論為了成功的CSP元件移動(dòng)和更換，過(guò)程調(diào)整是需要的。在峰值溫度，真空吸取管要降低到元件表面，損壞焊接點(diǎn)和濺錫到板上周圍區(qū)域。盡管返工工具據(jù)說(shuō)是使用無(wú)力移動(dòng)技術(shù)，元件上輕微的壓力足以損壞一小部分的共晶焊接點(diǎn)。板也看到去向上翹曲，使情況惡化。為了防止這個(gè)，在移去步驟中增加額外的高度，使得真空吸取管在移去時(shí)不會(huì)壓縮焊接點(diǎn)。自動(dòng)元件座清理工藝成功地使焊盤(pán)上的焊錫變平。這個(gè)步驟是關(guān)鍵的，因?yàn)楹副P(pán)必須平坦以防止貼裝時(shí)的歪斜。留下的焊錫覆蓋層在任何焊盤(pán)上典型地小于0.001"高。圖四是在元件移去和座子清理后的典型的元件座的一個(gè)例子。元件貼放和回流是最困難的。在給座子上助焊劑后，貼放元件和回流座子，通常元件會(huì)偏斜。在不同情況下，元件錫球在板上焊盤(pán)內(nèi)熔濕不均勻。人們相信，元件太輕，在熱風(fēng)噴嘴內(nèi)移來(lái)移去。這種現(xiàn)象甚至發(fā)生在返工工具所允許的低氣流量情況。為了防止元件移動(dòng)，返工工具設(shè)定程序，在貼裝之后把真空吸取管留在元件頂上，直到通過(guò)溫度曲線的預(yù)熱部分。當(dāng)回流周期開(kāi)始時(shí)，真空管回輕輕縮回，允許元件熔濕焊盤(pán)而不損壞焊接點(diǎn)。這個(gè)方法使用很好，但有一些缺點(diǎn)。回流期間，元件上的吸取管的高度和重量有時(shí)會(huì)造成錫橋。真空吸取管似乎也會(huì)降低BGA的自對(duì)中能力。面對(duì)的另一個(gè)問(wèn)題是板的翹曲。因?yàn)榘搴鼙?，翹曲是一個(gè)很大的關(guān)注。使用特殊的支持塊來(lái)防止翹曲，在每個(gè)步驟，板被預(yù)熱以減少可能引起翹曲的溫度差。盡管如此，還有問(wèn)題。板會(huì)在高度讀數(shù)的壓力下向下弓，隨后在加熱過(guò)程中向上翹曲。這意味著，不得不在每一步中增加額外的高度。甚至這還不足夠。相同的拆卸參數(shù)會(huì)破壞拆卸中的元件，并且還不精確到足以拆卸另一塊板上的相同位置的元件。另外，使用的板的上助焊劑技術(shù)招徠問(wèn)題；它是很主觀的，一個(gè)技術(shù)員與另一個(gè)技術(shù)員差別很大。太多的助焊劑產(chǎn)生一層液體，回流期間CSP元件可能漂移。同時(shí)，太少助焊劑意味著當(dāng)熱空氣第一次開(kāi)動(dòng)時(shí)，沒(méi)有粘性的東西來(lái)保持元件在位置上。較近的論文指出，只對(duì)BGA本身而不是板的焊接點(diǎn)上助焊劑改進(jìn)了返工工藝的效率。最終返工焊接點(diǎn)與非返工焊接點(diǎn)是可以比較的，如圖五所示?？煽啃匝b配的測(cè)試板進(jìn)行從-40°C到125°C和從0°C到100°C的加速溫度循環(huán)(ATC,acceleratedtemperaturecycling)試驗(yàn)。也進(jìn)行絕緣電阻(IR,Insulationresistance)測(cè)試。對(duì)任何的包裝都沒(méi)有發(fā)現(xiàn)IR失效。包裝4有早期ATC失效(100~200個(gè)周期，-40°C~125°C)，后來(lái)發(fā)現(xiàn)，該包裝的供應(yīng)商由于可靠性問(wèn)題沒(méi)有繼續(xù)該包裝。包裝1~3在0°C~100°C的測(cè)試中表現(xiàn)良好(大多數(shù)情況經(jīng)受大于1000次循環(huán))，而-40°C~125°C的試驗(yàn)有混合的結(jié)果。這個(gè)溫度循環(huán)范圍可能太進(jìn)取一點(diǎn)。包裝1和2的返工元件的循環(huán)壽命比非返工元件稍微低一點(diǎn)，而包裝3具有可比較的循環(huán)壽命。結(jié)論MicroBGA和CSP元件可用傳統(tǒng)的熱風(fēng)返工工藝進(jìn)行返工。為得到高效率，返工工藝參數(shù)的調(diào)節(jié)是需要的。因?yàn)镃SP元件小型，重量輕，要求對(duì)熱風(fēng)流量和真空吸管高度的調(diào)節(jié)以避免元件對(duì)不準(zhǔn)或元件損壞。使用優(yōu)化的返工工藝返工的元件，保證了另外的可靠性測(cè)試。ThisarticleisadaptedfromapresentationoriginallygivenatAPEX2000.

*SurfaceLaminateCircuit(SLC)isatrademarkofIBMCorp.

**SRTSummit2000.

***SenjuSP230Csolderpasteflux.ACKNOWLEDGMENTS

TheauthorswouldliketothankNadiaTonsiandsupporte