標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法》與《GB/T 15244-2002 玻璃的電子探針定量分析方法》相比,主要存在以下幾個(gè)方面的差異和更新:
-
適用范圍擴(kuò)展:2013版標(biāo)準(zhǔn)不僅限于一般玻璃的分析,而是特別針對(duì)硅酸鹽玻璃,明確了分析對(duì)象的特定類型,提高了針對(duì)性和專業(yè)性。
-
分析方法的增加:2002版標(biāo)準(zhǔn)主要聚焦于電子探針(EPMA)這一種分析技術(shù),而2013版則擴(kuò)展到了波譜法(可能是X射線熒光光譜法等)及能譜法(SEM-EDS),為硅酸鹽玻璃的定量分析提供了更多樣化的技術(shù)手段,提高了分析的靈活性和準(zhǔn)確性。
-
技術(shù)細(xì)節(jié)的更新:新版標(biāo)準(zhǔn)在測(cè)量原理、儀器校準(zhǔn)、樣品制備、數(shù)據(jù)處理等方面可能包含了更先進(jìn)的技術(shù)和更詳細(xì)的操作指導(dǎo),以適應(yīng)科技進(jìn)步和分析技術(shù)的發(fā)展,確保分析結(jié)果的可靠性和可比性。
-
質(zhì)量控制要求提升:2013版標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)分析過(guò)程中的質(zhì)量控制措施提出了更嚴(yán)格的要求,包括但不限于空白試驗(yàn)、重復(fù)性測(cè)試、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對(duì)照等,以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
-
標(biāo)準(zhǔn)化語(yǔ)言和格式的優(yōu)化:隨著標(biāo)準(zhǔn)化工作的發(fā)展,2013版標(biāo)準(zhǔn)在表述、術(shù)語(yǔ)定義、符號(hào)使用等方面可能更加規(guī)范和清晰,便于使用者理解和執(zhí)行。
-
參考標(biāo)準(zhǔn)的更新:新版標(biāo)準(zhǔn)引用了最新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)文獻(xiàn),反映了該領(lǐng)域最新研究成果和技術(shù)進(jìn)展,提高了標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)效性和科學(xué)性。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2013-07-19 頒布
- 2014-03-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS7104040
G04..
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T15244—2013
代替
GB/T15244—2002
微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析
波譜法及能譜法
Microbeamanalysis—Quantitativeanalysisofsilicateglassbywavelength
dispersiveX-rayspectrometryandenergydispersiveX-rayspectrometry
2013-07-19發(fā)布2014-03-01實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T15244—2013
前言
本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標(biāo)準(zhǔn)代替玻璃的電子探針定量分析方法
GB/T15244—2002《》
本標(biāo)準(zhǔn)與相比主要內(nèi)容變化如下
GB/T15244—2002:
增加了標(biāo)準(zhǔn)樣品的選擇原則見(jiàn)和
———(5.15.2);
刪除中和
———5.3(K-44)(K-45);
增加了試樣制備后的要求見(jiàn)
———(6.1);
修改了試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品蒸鍍導(dǎo)電膜的具體要求見(jiàn)
———(6.3);
修改了儀器定量分析前開(kāi)機(jī)時(shí)間的要求見(jiàn)
———(7.1.1);
增加了分析區(qū)域較大時(shí)也可以用電子探針的同軸光學(xué)顯微鏡確定分析部位見(jiàn)
———“,”(7.14);
加速電壓選擇中增加了過(guò)壓比的要求修改了不同原子序數(shù)的加速電壓選擇方法見(jiàn)
———,(7.2.1);
增加了硅漂移能譜儀的束流選擇方法見(jiàn)
———(SDD)(7.2.2);
增加了用電子束掃描的方法分析不穩(wěn)定玻璃見(jiàn)
———(7.2.3);
修改了射線線系的原子序數(shù)選擇范圍見(jiàn)
———X(7.2.4);
增加了能譜儀的測(cè)量條件見(jiàn)
———SDD(7.3.3);
增加了射線強(qiáng)度在測(cè)量時(shí)間內(nèi)變化量小于的要求見(jiàn)
———X1%(7.3.5);
增加了輕元素的差值法測(cè)量見(jiàn)
———(8.2);
增加了無(wú)標(biāo)樣定量分析方法見(jiàn)
———EDS(8.4)。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口
(SAC/TC38)。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
:。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人李香庭曾毅吳偉
:、、。
本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T15244—2002。
Ⅰ
GB/T15244—2013
微束分析硅酸鹽玻璃的定量分析
波譜法及能譜法
1范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子探針儀和掃描電子顯微鏡的射線波譜儀和能譜儀
(EPMA)(SEM)X(WDS)
對(duì)硅酸鹽玻璃的定量分析方法
(EDS)。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅酸鹽玻璃試樣包括堿金屬的硅酸鹽玻璃的波譜法和能譜法的定
()(WDX)(EDX)
量分析
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則
GB/T4930—2008
微束分析能譜法定量分析
GB/T17359—2012
礦物巖石的電子探針?lè)治鲈嚇拥闹苽浞椒?/p>
GB/T17366
微束分析電子探針顯微分析塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析
GB/T28634—2012
3術(shù)語(yǔ)和定義
下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件
。
31
.
場(chǎng)致遷移field-inducedmigration
在絕緣體中由電子或離子轟擊造成的內(nèi)部電場(chǎng)使原子發(fā)生遷移的效應(yīng)
。
32
.
硅酸鹽玻璃silicateglass
以二氧化硅為主要成分的玻璃最常用的有鈉鈣硅酸鹽玻璃鈉鋁硅酸鹽玻璃鈉硼硅酸鹽玻璃
。、、、
建筑玻璃日用玻璃大部分光學(xué)玻璃玻璃纖維等
、、、。
33
.
離子遷移ionmigration
在電子束照射下試樣中某些元素的離子向電子束轟擊點(diǎn)移動(dòng)的現(xiàn)象
,。
34
.
遷移組分migrationcomposition
在電子束照射下試樣中發(fā)生離子遷移的元素
,。
3
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