標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 1557-2006 硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測(cè)量方法》相比于《GB/T 1557-1989》和《GB/T 14143-1993》,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了更新與調(diào)整:
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適用范圍擴(kuò)展:新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)適用的硅晶體類(lèi)型或樣品條件進(jìn)行了更明確或更廣泛的定義,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和產(chǎn)業(yè)發(fā)展的需要。
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測(cè)量技術(shù)改進(jìn):引入了更為精確和先進(jìn)的紅外吸收測(cè)量技術(shù),這可能包括對(duì)測(cè)量設(shè)備的要求提升、測(cè)量過(guò)程的優(yōu)化或數(shù)據(jù)處理方法的革新,以提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。
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校準(zhǔn)與標(biāo)準(zhǔn)化:新標(biāo)準(zhǔn)可能提供了更加詳細(xì)和嚴(yán)格的校準(zhǔn)程序,確保不同實(shí)驗(yàn)室間測(cè)試結(jié)果的一致性。同時(shí),可能引入了新的參考物質(zhì)或校準(zhǔn)曲線,以更好地適應(yīng)當(dāng)前硅材料中氧含量變化的測(cè)量需求。
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測(cè)試程序細(xì)化:對(duì)樣品的預(yù)處理、測(cè)試環(huán)境控制、以及測(cè)試步驟的描述可能更加詳盡和具體,有助于減少操作中的不確定性,提高測(cè)試效率。
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結(jié)果表述與判定準(zhǔn)則:新標(biāo)準(zhǔn)可能對(duì)測(cè)試結(jié)果的表述方式、精度要求及判定氧含量是否符合規(guī)格的準(zhǔn)則進(jìn)行了修訂,使得判定結(jié)果更加科學(xué)合理。
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質(zhì)量控制與不確定度評(píng)估:增加了對(duì)測(cè)量不確定度評(píng)估的要求,以及質(zhì)量控制措施的指導(dǎo),幫助實(shí)驗(yàn)室建立更為嚴(yán)格的質(zhì)量管理體系。
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術(shù)語(yǔ)與定義更新:隨著行業(yè)的發(fā)展,一些專業(yè)術(shù)語(yǔ)可能有了新的定義或解釋,新標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此進(jìn)行了相應(yīng)的更新,以保證技術(shù)交流的準(zhǔn)確無(wú)誤。
這些變更反映了隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步和行業(yè)實(shí)踐的積累,對(duì)硅晶體中間隙氧含量測(cè)量的精度、一致性和可操作性要求的提升。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1557-2018
- 2006-07-18 頒布
- 2006-11-01 實(shí)施
文檔簡(jiǎn)介
ICS77.040.01H17中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1557—2006代替GB/T1557--1989、GB/T14143-1993硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測(cè)量方法Themethodofdetermininginterstitialoxygencontentinsiliconbyinfraredabsorption2006-07-18發(fā)布2006-11-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T1557—2006本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)GB/T1557—1989、GB/T14143-1993進(jìn)行的整合修訂。本標(biāo)準(zhǔn)在原標(biāo)準(zhǔn)基礎(chǔ)上.修改采用ASTMF1188:2000《用紅外吸收法測(cè)量硅中間隙氧原于含量的標(biāo)準(zhǔn)方法》.本標(biāo)準(zhǔn)與ASTMF1188:2000的一致性程度為修改,其差異如下:-刪去了ASTMF1188:2000第1章“范圍”中涉及方法原理、安全的1.3、1.4條及第5章“意義和用途”:將將ASTMF1188:2000第8章“儀器測(cè)試”和第10章“測(cè)量步驛”并為第8章“測(cè)量步驃”:本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比主要變動(dòng)如下:采用ASTMF1188:2000第7章“儀器"(刪去其中7.2條)作為第6章“測(cè)量?jī)x器"用ASTMF1188:2000第11章“計(jì)算”中的計(jì)算公式替代原(B/T1557—1989.GB/T14143-1993的計(jì)算公式;參照ASTMF1188:2000增加了"術(shù)語(yǔ)”章和"干擾因素”章;參照ASTMF1188:2000增加了采用經(jīng)認(rèn)證的硅中氧含量標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對(duì)光譜儀進(jìn)行校準(zhǔn)的內(nèi)容:參照ASTMF1188:2000將原GB/T1557-1989、GB/T14143—1993規(guī)定的“本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫電阻率大于0.1Q·cm的硅品體”改為“本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫電阻率大于0.1Q·cm的n型硅單品和室溫電阻率大于0.5·cm的p型硅單品";-采用ASTMF1188:2000中規(guī)定的0.04cm~0.4cm樣品厚度范圍替代原GB/T15571989、GB/T14143-1993規(guī)定的樣品厚度范圍:規(guī)定的氧含量測(cè)量范圍替代原GB/T1557—1989、GB/T14143—1993的測(cè)量范圍:刪去了原GB/T1557—1989、GB/T14143-1993的附錄,采用ASTMF1188:2000的附錄X1作為本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A.本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是資料性附錄本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起,同時(shí)代替GB/T1557—1989、GB/T14143-1993.本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:峨眉半導(dǎo)體材料廠。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:梁洪、草銳兵、王炎本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GB/T1557-1989、—GB/T14143-1993
GB/T1557—2006硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測(cè)量方法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用紅外光譜法測(cè)定硅單品中的間隙氧含量的方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫電阻率大于0.12·cm的n型硅單品和室溫電阻率大于0.52·cm的p型硅單品中間隙氧含量的測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量氧含量的有效范圍從1×10*at·cm-到硅中間隙氧的最大固溶度2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T14264半導(dǎo)體材料術(shù)語(yǔ)ASTME131分分子光譜有關(guān)術(shù)語(yǔ)術(shù)語(yǔ)和定義GB/T14264和ASTME131確立的以下術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)31色散型紅外光譜儀dispersiveinfraredspectrophotometer-種使用棱鏡或光柵作為色散元件的紅外光譜儀。它通過(guò)振幅-波數(shù)(或波長(zhǎng))光譜圖獲取數(shù)據(jù)3.2傅立葉變換紅外光譜儀Fouriertransforminfraredspectrophotometer一種通過(guò)傅立葉變換將由干涉儀得到的干涉譜圖轉(zhuǎn)換為振幅-波數(shù)(或波長(zhǎng))光譜圖來(lái)獲取數(shù)據(jù)的紅外光譜儀。3.3參比光譜referencespectrum參比樣品的光譜。當(dāng)用雙光束光譜儀測(cè)量時(shí),它可以通過(guò)直接將參比樣品放人樣品光路.讓參比光路空著獲得;在用單光束光譜儀測(cè)量時(shí),它可以通過(guò)由紅外光路中獲得的參比樣品的光譜計(jì)算扣除背景光譜后獲得3.4洋品光譜sampleSPectrum測(cè)試樣品的光譜。當(dāng)用雙光束光譜儀測(cè)量時(shí),它可以通過(guò)直接將測(cè)試樣品放入樣品光路,讓參比光路空著獲得;在用單光束光譜儀測(cè)量時(shí),它是由測(cè)試樣品放入紅外光路獲得的光譜扣除背景光譜后算出的4方法原理使用經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的紅外光譜儀和適當(dāng)?shù)膮?/p>
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