檢驗結(jié)果匯總受檢樣品概述：VX1612-C型網(wǎng)絡(luò)存儲設(shè)備具有3個千兆以太網(wǎng)口，2個USB3.0接口，1個RS232接口，1個VGA接口，1個PCIE插槽和12個硬盤插槽，1個防腐蝕檢測預(yù)警模塊。序號檢驗項目技術(shù)要求檢驗結(jié)果單項判定1產(chǎn)品外觀結(jié)構(gòu)檢驗產(chǎn)品的外構(gòu)和結(jié)構(gòu)應(yīng)符合GB/T9813－2000中4.3的要求數(shù)字錄像主機(jī)應(yīng)有顯示主機(jī)工作狀態(tài)的燈光指示數(shù)字錄像主機(jī)機(jī)殼內(nèi)應(yīng)有接線座，外接引線須有數(shù)據(jù)或字符標(biāo)識。交流電源引入線，采用插頭座或焊接（加防護(hù)隔離）形式企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：外觀結(jié)構(gòu)表面應(yīng)無銹蝕，涂層剝落，毛刺起泡，劃痕沙孔等現(xiàn)象；機(jī)械結(jié)構(gòu)、緊固件應(yīng)無松動；各機(jī)械轉(zhuǎn)動部分應(yīng)靈活，鎖定可靠性；各種標(biāo)志應(yīng)清晰2磁盤類型/容量檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可接入SATA盤(1TB/2TB/3TB4TB/5TB/6TB)、SSD盤3資源刪除恢復(fù)功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：恢復(fù)被刪除的RAID,RAID上的數(shù)據(jù)恢復(fù)，原有的視頻錄像可讀4PCIE插槽支持類型檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可接入4端口萬兆網(wǎng)卡、4端口千兆網(wǎng)卡5冗余部件，熱插拔功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)具有冗余電源，支持電源熱插拔6BBU電池接入檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可接入BBU電池模塊7RAID功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可通過客戶端軟件創(chuàng)建JBOD，RAID0,1,5,6，RAID陣列可以即建即用；可通過客戶端軟件對已創(chuàng)建的RAID陣列磁盤進(jìn)行定位；可通過客戶端軟件設(shè)置RAID陣列自動巡檢；RAID陣列中硬盤發(fā)生故障時，設(shè)備中空白硬盤可自動轉(zhuǎn)換為熱備盤，以替換故障硬盤并重建RAID陣列；可通過客戶端軟件設(shè)置專有熱備盤，RAID中硬盤發(fā)生故障時，專有熱備盤可自動加入并重建RAID陣列；當(dāng)RAID陣列中的一塊硬盤拔掉后，10分鐘內(nèi)再插上，該硬盤能恢復(fù)到原有RAID中，RAID陣列恢復(fù)正常；RAID重建過程中設(shè)備重啟或異常掉電，供電恢復(fù)后，重建過程應(yīng)繼續(xù)；根據(jù)業(yè)務(wù)壓力不同，樣機(jī)RAID陣列可自動動態(tài)調(diào)整重建速率；RAID中磁盤發(fā)生故障，RAID處于降級、重建狀態(tài)并同時寫入200路2M視頻業(yè)務(wù)，不影響數(shù)據(jù)寫入；8SAN功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：可通過客戶端軟件創(chuàng)建SAN資源，在業(yè)務(wù)不中斷的情況下支持SAN資源在線擴(kuò)容9數(shù)據(jù)直存功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：無需流媒體服務(wù)器，可將視頻流直接寫入存儲10信息安全性功能檢驗接入城市監(jiān)控報警聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)時，應(yīng)符合GB/T28181-2011中第8章的相關(guān)規(guī)定11iSCSI訪問功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：可通過客戶端軟件將存儲資源分配給iSCSItarget，在客戶端服務(wù)器上建立iSCSItarget和initiator的連接，在客戶端服務(wù)器上發(fā)現(xiàn)存儲資源，并可以對存儲資源進(jìn)行讀寫操作12性能檢驗樣機(jī)可在寫入200路2Mbps視頻流同時，讀取200路2Mbps視頻流13磁盤檢測/預(yù)拷貝功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可對磁盤S.M.A.R.T信息進(jìn)行檢驗，對RAID陣列中S.M.A.R.T信息有異常的磁盤主動進(jìn)行數(shù)據(jù)拷貝及替換14磁盤漫游檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)支持硬盤漫游功能，磁盤更換槽位后可在圖形界面上顯示磁盤新的所在槽位，且不影響RAID使用15磁盤休眠功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可將不使用的硬盤進(jìn)行休眠16網(wǎng)口功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)支持網(wǎng)口聚合、負(fù)載均衡，支持多個網(wǎng)口設(shè)置同一IP地址，實現(xiàn)數(shù)據(jù)鏈路冗余，當(dāng)其中任意一條鏈路失效，不影響數(shù)據(jù)存儲17定時功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：可通過客戶端軟件設(shè)置定時開關(guān)機(jī)18數(shù)據(jù)保護(hù)功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)異常掉電后存儲在緩存中的數(shù)據(jù)應(yīng)不丟失，可通過數(shù)碼管顯示緩存數(shù)據(jù)的保存進(jìn)度，可查看斷電前1s的視頻錄像19管理方式檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可通過圖形化管理方式、命令行管理方式和多設(shè)備集中監(jiān)控管理工具20頁面圖形化展示檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：客戶端軟件可圖形化顯示：磁盤狀態(tài)、RAID狀態(tài)、RAID容量使用狀態(tài)、系統(tǒng)CPU、內(nèi)存、每網(wǎng)口帶寬使用率、當(dāng)前系統(tǒng)中邏輯卷資源的讀寫流量信息、CPU/主板溫度，CMOS電池電壓、AUX3.3V電壓、BBU電池電壓，CPU風(fēng)扇狀態(tài)、BBU電池狀態(tài)、電源狀態(tài)、系統(tǒng)風(fēng)扇狀態(tài)、系統(tǒng)指示燈、告警指示燈、數(shù)碼管、PCIE插槽狀態(tài)，BBU電池使用時間、系統(tǒng)風(fēng)扇轉(zhuǎn)速等硬件狀態(tài)信息顯示21告警功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可通過數(shù)碼管、指示燈、蜂鳴器告警、郵件告警、SNMPTrap、短信等告警方式對IP沖突、網(wǎng)口降速、電源故障、風(fēng)扇故障、電池故障及RAID故障、磁盤故障、降級RAID無熱備盤等進(jìn)行告警22維護(hù)功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)可通過遠(yuǎn)程圖形界面、USB接口、RS232接口升級；客戶端軟件可進(jìn)行診斷日志收集、事件日志收集，系統(tǒng)配置保存、恢復(fù)。23CPU調(diào)頻功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)CPU在不同業(yè)務(wù)壓力下智能調(diào)頻24風(fēng)扇調(diào)速功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)風(fēng)扇在不同溫度下智能調(diào)速25順序加電功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)啟動時，硬盤可按預(yù)設(shè)順序加電26自動恢復(fù)功能檢驗企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)異常掉電后,供電恢復(fù)后業(yè)務(wù)自動恢復(fù)27非法訪問告警檢驗當(dāng)某客戶端登錄密碼輸入錯誤次數(shù)超過設(shè)定次數(shù),則鎖定登錄IP并觸發(fā)告警,在一定時間內(nèi)都無法登錄設(shè)備28強(qiáng)密碼設(shè)置檢驗登錄提示修改默認(rèn)密碼，提示設(shè)置密碼復(fù)雜度，支持特殊字符密碼29高溫試驗（工作狀態(tài)）溫度40±2℃、持續(xù)時間16h，樣機(jī)處于工作狀態(tài)。在試驗過程的最后0.5h，測試樣品的基本功能應(yīng)用正常。試驗后，至少恢復(fù)1h，測試樣品的基本功能應(yīng)用正常30低溫試驗（工作狀態(tài)）溫度0±3℃、持續(xù)時間16h，樣機(jī)處于工作狀態(tài)。在試驗過程的最后0.5h，測試樣品的基本功能應(yīng)用正常。試驗后，至少恢復(fù)1h，測試樣品的基本功能應(yīng)用正常31恒定濕度試驗相對濕度93％、溫度40±2℃，持續(xù)時間48h。樣機(jī)處于非工作狀態(tài)。在試驗過程的最后0.5h，測試樣品的基本功能應(yīng)用正常。試驗后，至少恢復(fù)1h，測試樣品的基本功能應(yīng)用正常32絕緣電阻試驗電源（a.c.）引入端子與外殼裸露金屬部件之間的絕緣電阻在正常大氣條件下應(yīng)≥10MΩ，濕熱條件下應(yīng)≥5MΩ33沖擊試驗沖擊加速度為150m/s、持續(xù)時間11ms、在X、Y、Z三軸向各試驗三次。樣機(jī)處于非工作狀態(tài)。試驗后測試樣品的基本功能應(yīng)正常，然后目視檢測樣品的外部和內(nèi)部應(yīng)無機(jī)械損傷34正弦振動試驗頻率10－55Hz、1倍頻程/min、振幅0.35mm，X、Y、Z三個方向各振動5min。樣機(jī)處于非工作狀態(tài)。試驗后測試樣品的基本功能應(yīng)正常，然后目視檢測樣品的外部和內(nèi)部應(yīng)無機(jī)械損傷35電源線檢驗電源（AC）引出線必須使用三芯電源線，其中地線必須與設(shè)備的保護(hù)接地端連接牢固，其接觸電阻不應(yīng)大于0.5Ω，并應(yīng)能承受19.6N的拉力作用60s不損傷和脫落36抗電強(qiáng)度試驗電源插頭或電源引入端與外殼裸露金屬部件之間，應(yīng)能承受1.5kV交流電壓，歷時1min的抗電強(qiáng)度試驗，應(yīng)無擊穿和飛弧現(xiàn)象37泄漏電流試驗AC：≤5mA（峰值）38穩(wěn)定性試驗產(chǎn)品在正常條件下連續(xù)工作168h，不應(yīng)出現(xiàn)電氣、機(jī)械或軟件的故障39靜電放電抗擾度試驗按GB/T17799.1表1中1.4的要求進(jìn)行。

接觸放電：4kV

空氣放電：8kV40射頻電磁場輻射抗擾度試驗按GB/T17799.1表1中1.2的要求進(jìn)行。

80～1000MHz；

3V/m；

80％AM（1kHz）41電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗按GB/T17799.1表2中2.2和表4中4.5的要求進(jìn)行。

信號、數(shù)據(jù)和控制端口：

0.5kV（峰值）；5kHz（重復(fù)頻率）

交流電源端口：

1kV（峰值）；5kHz（重復(fù)頻率）42浪涌（沖擊）抗擾度試驗按GB/T17799.1表4中4.4的要求進(jìn)行。

交流電源輸入端口：

線-線：1.0kV（開路試驗電壓）；

線-地：2.0kV（開路試驗電壓）43射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗按GB/T17799.1表2中2.1和表3中3.1的要求進(jìn)行。

電源輸入、信號、數(shù)據(jù)和控制端口：

0.15～80MHz；3V；80％AM（1kHz）44電壓暫降、短時中斷抗擾度試驗按GB/T17799.1表4中4.2、4.3的要求進(jìn)行。

電壓暫降：30％UT持續(xù)時間0.5周期；60％U